專利名稱：軸雙平面對稱度檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種軸雙平面對稱度檢測裝置，屬于軸加工檢測裝置的技 術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
在某些情況下，需要在軸上加工出平行于軸線的兩個平面用以與齒輪等傳 動部件傳動配合。通常情況下兩個平面要求對稱于軸線設(shè)置，而現(xiàn)有技術(shù)中并 沒有用于檢測上述軸雙平面對稱度的專用裝置，故給軸雙平面的對稱度檢測帶 來了不便和困難，從而影響了軸雙平面加工的順利進(jìn)行。
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型目的在于提供一種檢測方便容易，可保證軸雙平面加工順利進(jìn) 行的軸雙平面對稱度檢測裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)存在的軸雙平面的對稱度檢測 不便和困難而影響了軸雙平面的加工等問題。
本實用新型的上述技術(shù)目的主要是通過以下技術(shù)方案解決的它包括底座， 所述底座上設(shè)有相對設(shè)置的固定頂尖和活動頂尖，所述活動頂尖可相對固定頂 尖軸向移動，底座對應(yīng)于固定頂尖和活動頂尖的一側(cè)設(shè)置有千分表，千分表的 表頭端面為一平面，千分表的表頭指向固定頂尖和活動頂尖之間且垂直于固定 頂尖和活動頂尖的軸線。
檢測時，將加工有兩個平面的需檢測的軸通過其兩端的頂尖孔定位在固定 頂尖和活動頂尖之間，使千分表面的表頭端面先與軸一個平面貼合，讀取此時 千分表的讀數(shù)為第一讀數(shù)，再將軸繞圓周方向轉(zhuǎn)動180度使軸的另一個平面與 表頭的端面貼合，讀取千分表的讀數(shù)為第二讀數(shù)，通過第一讀數(shù)和第二讀數(shù)即可判斷軸上兩個平面關(guān)于軸線的對稱度，兩者的差值越小對稱度越高，反之越 低。上述測量操作簡單易行，大大簡化了軸雙平面對稱度的檢測，從而保證了 軸雙平面加工進(jìn)行。
作為優(yōu)選，所述千分表的表頭呈水平設(shè)置，從而便于讀數(shù)和操作。
因此，本實用新型具有檢測方便容易，便于軸雙平面的加工等特點。


圖1是本實用新型的一種使用結(jié)構(gòu)示意圖2是圖1的A處局部放大圖3是采用本實用新型測量的一種軸的結(jié)構(gòu)示意圖4是圖3的C-C放大視圖。
具體實施方式
下面通過實施例，并結(jié)合附圖，對本實用新型的技術(shù)方案作進(jìn)一步具體的 說明。
實施例l:如圖1和圖2所示，包括底座(圖中未表示出)，底座上設(shè)有相
對設(shè)置的固定頂尖1和活動頂尖2，活動頂尖2可相對固定頂尖1軸向移動， 底座對應(yīng)于固定頂尖1和活動頂尖2的一側(cè)設(shè)置有千分表3，千分表3的表頭4 的端面5為一平面，千分表3的表頭4指向固定頂尖1和活動頂尖2之間且垂 直于固定頂尖1和活動頂尖2的軸線，千分表3的表頭4呈水平設(shè)置。
檢測時，將如圖3和圖4所示的加工有兩個平面6的需檢測的軸7通過其 兩端的頂尖孔定位在固定頂尖1和活動頂尖2之間，使千分表3的表頭端面先 與軸7的一個平面貼合，讀取此時千分表的讀數(shù)為第一讀數(shù)，再將軸繞圓周方 向轉(zhuǎn)動180度使軸的另一個平面與表頭的端面貼合，讀取千分表的讀數(shù)為第二 讀數(shù)，通過第一讀數(shù)和第二讀數(shù)即可判斷軸上兩個平面關(guān)于軸線的對稱度，兩 者的差值越小對稱度越高，反之越低。
權(quán)利要求1、一種軸雙平面對稱度檢測裝置，包括底座，其特征在于所述底座上設(shè)有相對設(shè)置的固定頂尖和活動頂尖，所述活動頂尖可相對固定頂尖軸向移動，底座對應(yīng)于固定頂尖和活動頂尖的一側(cè)設(shè)置有千分表，千分表的表頭端面為一平面，千分表的表頭指向固定頂尖和活動頂尖之間且垂直于固定頂尖和活動頂尖的軸線。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的軸雙平面對稱度檢測裝置，其特征在于所述千分 表的表頭呈水平設(shè)置。
專利摘要本實用新型涉及一種軸雙平面對稱度檢測裝置，屬于軸加工檢測裝置的技術(shù)領(lǐng)域。它包括底座，所述底座上設(shè)有相對設(shè)置的固定頂尖和活動頂尖，所述活動頂尖可相對固定頂尖軸向移動，底座對應(yīng)于固定頂尖和活動頂尖的一側(cè)設(shè)置有千分表，千分表的表頭端面為一平面，千分表的表頭指向固定頂尖和活動頂尖之間且垂直于固定頂尖和活動頂尖的軸線。它檢測方便容易，可保證軸雙平面加工順利進(jìn)行，解決了現(xiàn)有技術(shù)存在的軸雙平面的對稱度檢測不便和困難而影響了軸雙平面的加工等問題。
文檔編號G01B5/02GK201387306SQ20092011773
公開日2010年1月20日 申請日期2009年4月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月16日
發(fā)明者斌 沈, 胡宏元 申請人:許曉華