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一種基于三ccd集成的溫度場測量裝置的制作方法

文檔序號:5851762閱讀:305來源:國知局
專利名稱:一種基于三ccd集成的溫度場測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
涉及光學(xué)測溫技術(shù),尤其涉及一種基于三個CCD(ChargeCoupled Device,電荷耦 合器件)面陣傳感器光譜融合的溫度場測量裝置。
背景技術(shù)
在石油化工、冶金、鋼鐵、水泥、玻璃等工業(yè)生產(chǎn)行業(yè)的高溫檢測領(lǐng)域,輻射測溫儀 器具有巨大的市場需求和廣闊的應(yīng)用空間。例如,冶金行業(yè)的高溫爐膛內(nèi)部溫度測量與控 制對于生產(chǎn)過程有著重要的作用。在這些典型的應(yīng)用領(lǐng)域,傳統(tǒng)的熱電偶接觸式測溫手段, 由于測量的局限性以及高成本的材料消耗,目前正在逐步被價格較低、性能穩(wěn)定、低消耗使 用、非接觸式的光學(xué)測溫設(shè)備所取代,光學(xué)測溫設(shè)備的應(yīng)用將成為高溫測量的主流趨勢。 隨著圖像光電傳感器CCD不斷地更新發(fā)展,基于CCD面陣傳感器的光學(xué)測溫方法 與技術(shù),在溫度場測量方面展現(xiàn)出了極大的優(yōu)勢。許多科研機構(gòu)應(yīng)用CCD傳感器開展了高 溫輻射溫度場的測量研究工作,CCD傳感器在輻射測溫儀器研制領(lǐng)域展現(xiàn)了很好的應(yīng)用前 景,現(xiàn)有技術(shù)已有的應(yīng)用與研究現(xiàn)狀如下所述。 —種是采用單個彩色CCD相機(或攝像機)作為光學(xué)測溫儀器,利用內(nèi)嵌的RGB彩 色濾色器陣列實現(xiàn)彩色復(fù)現(xiàn),提供紅、綠、藍三個顏色通道a、直接利用三個顏色通道的波 段響應(yīng),結(jié)合特定的發(fā)射率模型,進行溫度場的測量計算(中國科學(xué)G輯,34(6) :639-647, 2004)。 b、將三個通道的波段響應(yīng)測量近似地處理為單色響應(yīng)測量(中國電機工程學(xué)報, 20(1) :70-72,2000 ;儀器儀表學(xué)報,24 (6) :653-656, 2003),即將顏色三基色的中心波長作 為測量的三個有效波長,進而利用比色測溫法,實現(xiàn)溫度場的計算;然而,實際上有效波長 并非一個常量,其是隨著測量物體的輻射光譜分布不同而不同,這種有效波長的簡化處理 方法,會給溫度計算帶來誤差。上述方案a和b的應(yīng)用均體現(xiàn)了 一個主要局限性,即內(nèi)嵌RGB 彩色濾色器陣列提供三個顏色通道實現(xiàn)色彩的真實復(fù)現(xiàn),其是基于標準人眼的光譜三剌激 值進行設(shè)計的,因此,三個通道的波段響應(yīng)特性一般是固定不變的,這往往會限制儀器測溫 的應(yīng)用,從而無法自主選擇合適的三個波段光譜響應(yīng)函數(shù)以實現(xiàn)溫度的優(yōu)化測量。 另一種方案是采用單個黑白CCD作為光學(xué)測溫傳感器,將2個具有不同單色波 長的濾色片交替放置于CCD前,測量物體在兩個波長下的相對輻射強度值,再根據(jù)比色 法進行溫度計算(IEEE TRANS-ACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 51 (5): 990-995,2002)。這種方法應(yīng)用時,雖然可以較靈活的選擇所需要的波長,但需要滿足在2 個單色濾色片交替測量的時間段內(nèi)物體溫度場保持穩(wěn)定的條件,對于瞬態(tài)溫度場測量這種 要求往往難以滿足,從而具有應(yīng)用上的局限性。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種基于三CCD集成的溫度場測量裝置,以克服現(xiàn)有技 術(shù)中基于單CCD溫度場測量技術(shù)在應(yīng)用上的局限性。 為了達到上述目的,本實用新型的技術(shù)方案提出一種基于三CCD集成的溫度場測量裝置,該裝置包括光學(xué)鏡頭、分光棱鏡組、三個CCD面陣傳感器及數(shù)據(jù)采集分析單元, 所述光學(xué)鏡頭,用于光學(xué)成像,將待測物體的輻射聚焦在所述分光棱鏡組的入射 面上; 所述分光棱鏡組,將投射的輻射分為三束不同方向、不同波長的單色輻射,分別從 三個出射面出射; 所述三個CCD面陣傳感器,相同型號,分別設(shè)置于所述分光棱鏡組的三個出射面 處; 所述三個CCD面陣傳感器,分別對三路不同波長的出射輻射進行成像,獲得三路 光譜非相關(guān)的CCD圖像; 所述數(shù)據(jù)采集分析單元,對三路CCD圖像數(shù)據(jù)進行采集,并利用多光譜測溫法進 行溫度場計算。 上述的基于三CCD集成的溫度場測量裝置中,所述待測物體為溫度范圍為 1000K 3000K的具有連續(xù)輻射特性的高溫物體。 上述的基于三CCD集成的溫度場測量裝置中,所述分光棱鏡組出射的三束不同波 長的單色輻射的波長范圍為400nm 1100nm。 本實用新型的技術(shù)方案通過三CCD光譜融合采集待測物輻射強度信息,并利用適 用性更強的多光譜測溫法,可以實現(xiàn)溫度場測量,應(yīng)用范圍更為廣泛;通過采用測溫數(shù)據(jù) 庫,提高了溫度求解速度,可應(yīng)用于實時在線溫度計算;且技術(shù)方案實現(xiàn)簡單,集成系統(tǒng)的 成本不高、性能穩(wěn)定,在高溫檢測等工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域易于推廣應(yīng)用。

圖1為本實用新型基于三CCD集成的溫度場測量裝置實施例結(jié)構(gòu)圖。
具體實施方式
以下實施例用于說明本實用新型,但不用來限制本實用新型的范圍。 圖1為本實用新型三CCD溫度場測量裝置實施例結(jié)構(gòu)圖,如圖所示,本實施例的溫 度場測量裝置包括光學(xué)鏡頭11、分光棱鏡組12、三個CCD面陣傳感器131 133及數(shù)據(jù)采 集分析單元14。其中,光學(xué)鏡頭11用于光學(xué)成像,將待測物體10的輻射聚焦在分光棱鏡 組12的入射面上,其可設(shè)計為定焦距或是變焦距的鏡頭。分光棱鏡組12是由多個棱鏡拼 接而成,通過棱鏡鍍膜設(shè)計,使入射輻射在不同的棱鏡結(jié)合面上經(jīng)由透射和反射,最終分解 為三束不同方向、不同波長的單色輻射,分別由棱鏡的三個不同側(cè)面出射出去;三束射出單 色輻射的波長范圍為400nm 1100nm。三個波長的具體選擇可根據(jù)實際測量的需要進行設(shè) 計,即考慮溫度測量范圍、分辨精度、測溫誤差、優(yōu)化測量等諸多因素。三個CCD面陣傳感器 131 133為同一型號的黑白CCD傳感器,分別設(shè)置于分光棱鏡組12的三個出射面處。三 個CCD面陣傳感器131 133的曝光時間設(shè)置相同,并且通過硬件幀采集控制保障傳感器 同步采集,從而分別對三路不同波長的出射輻射進行成像,獲得三路光譜非相關(guān)的CCD圖 像。數(shù)據(jù)采集分析單元14則對三路CCD圖像數(shù)據(jù)進行采集,并利用多光譜測溫法進行溫度 場計算。 上述實施例中,分光棱鏡組12、 CCD面陣傳感器131 133構(gòu)成的分光成像系統(tǒng),還需要進行光路校正,使得三個CCD面陣傳感器131 133可對物體清晰成像,獲得的圖 像能夠點點對應(yīng),共同反應(yīng)同一測量目標物體。至于所述的待測物體則是指溫度范圍在 1000K 3000K之間的具有連續(xù)輻射特性的高溫物體,其在CCD傳感器的波段響應(yīng)區(qū)間內(nèi)的 自發(fā)輻射強度要遠遠大于背景環(huán)境反射輻射強度的干擾,使得CCD傳感器獲得的測量信號 能夠直接定量反映高溫物體自發(fā)輻射強度的大小。 上述的多光譜測溫法為一種常用的輻射測溫方法,通用的表述如下具有連續(xù)輻 射特性的物體發(fā)射率用一個關(guān)于波長的多項式函數(shù)予以描述,在多個波長下測量物體的輻 射強度,結(jié)合光譜發(fā)射率模型,可以求得物體的溫度。通常在有限的波長區(qū)間內(nèi),常用0階 (灰體)、1階(線性)、2階(二次函數(shù))形式。在后續(xù)本實施例中將采用線性發(fā)射率函數(shù) 的表述形式(灰體是其的特例形式),發(fā)射率函數(shù)中共有兩個待定系數(shù),通過3路信號測量 方程的反演計算,可以同時求得溫度及兩個待定系數(shù)。然而,任何包含兩個或小于兩個待定 參數(shù)的發(fā)射率函數(shù),均可以通過本實用新型技術(shù)方案獲得的3路信號測量方程,計算溫度 數(shù)值,其仍然也歸為多光譜測溫法。 繼續(xù)參考圖1所示,應(yīng)用上述本實用新型基于三CCD集成的溫度場測量裝置實施 例的測量方法過程具體如下所述。 首先,高溫待測物體10的輻射通過光學(xué)鏡頭ll,投射在分光棱鏡組12上,分光棱 鏡組12將投射輻射分為三束不同方向、不同波長的單色輻射,波長范圍為400nm 1100nm。 接續(xù),在三束分光光束的三個出射面處(棱鏡上側(cè)、下側(cè)、右側(cè)),分別放置三個相 同型號的、具有數(shù)字傳輸接口的黑白CCD面陣傳感器131 133,三束分光光束分別成像在 CCD面陣傳感器131 133上。在400nm 1100nm波長區(qū)間,三個波長的具體選擇可根據(jù) 實際測量的需要進行設(shè)計,即考慮溫度測量范圍、分辨精度、測溫誤差、優(yōu)化測量等諸多因 素。例如,本實施例可以選擇設(shè)計三個波長分別為600nm、700nm、800nm,半寬度均為10nm,。 接續(xù),CCD傳感器131 133的曝光時間設(shè)置相同,并且通過幀控制保證三路CCD 傳感器同步采集。CCD面陣傳感器131 133將同時獲得三路光譜非相關(guān)的CCD成像圖像, 圖像灰度代表了目標物體相對輻射強度信息。 另外,分光棱鏡組12、黑白CCD面陣傳感器131 133共同構(gòu)成的光學(xué)成像系統(tǒng), 需進行必要的光路校正,使得CCD面陣傳感器131 133可對物體清晰成像,并且使獲得的 圖像能夠點點對應(yīng),實現(xiàn)非失真的融合匹配。 最后,三路圖像信號傳輸至數(shù)據(jù)采集分析系統(tǒng)14,依據(jù)以下a) e)所述的原理實 現(xiàn)溫度場的計算反演。 a).通過分光棱鏡組后,三路黑白CCD面陣傳感器輸出的輻射信號為 <formula>formula see original document page 5</formula> 其中,上角標(i, j)表示傳感器成像焦平面上任一點的坐標;V/'J'、V/'J'、V3i'J'分別 表示所述三個CCD面陣傳感器的相對輻射強度輸出值,為已知量;①"J'為所述CCD面陣傳感 器測量的非光譜因子,與成像距離、角度、光電轉(zhuǎn)換系數(shù)以及棱鏡分光系數(shù)等因素相關(guān),為 未知量;、、、、、分別表示光學(xué)鏡頭、分光棱鏡組以及CCD面陣傳感器合并而成的不同出射面處、三個不同波長(、,、,、)下的光譜透過率,為已知量;Ti'J'表示待測物體在點
(i,j)上的溫度,為未知量;Ib(入,T")為與待測物體相同溫度Ti'J'下的黑體光譜功率分布 函數(shù),Ib( A p f'J') 、 Ib ( A 2, f'J') 、 Ib ( A 3, f'J')則分別代表三個不同波長下的黑體光譜功率。 b).以上方程組(1)中,e ("Ti'J)為待測物體的光譜發(fā)射率函數(shù)。具有連續(xù)輻 射特性的物體光譜發(fā)射率在數(shù)學(xué)上通??梢杂枚囗検胶瘮?shù)予以描述,一般而言,在一個有 限的波長區(qū)間內(nèi)應(yīng)用時,采用線性函數(shù)表征光譜發(fā)射率具有很高的精度,如下式所示 e (入,T") = A+B 入 (2) 光譜發(fā)射率函數(shù)中共有兩個待定系數(shù)(A, B),合并變量,方程組(1)中的 三個方程中共有(T"',①i'"A,①i'"B)三個未知量,因此溫度的數(shù)學(xué)求解是封閉 化",)^)3") O (r力,(D" 乂O" ,從而能夠繼續(xù)實現(xiàn)基于3通道的多光譜輻射測溫。 基于上述原理,在求解過程中,可繼續(xù)如c) e)所述建立測溫數(shù)據(jù)庫,以滿足實 時溫度計算的需要。 c).將光譜發(fā)射率函數(shù)(2)代入方程組(l),得到新的方程組(3):
'r/')=①".v u" 、 "'乂)+。'■J V 5." ","J)' C;①".、.i/"^,r") + (D"、IVA(^T'0 (3)
d).定義公式中僅與溫度Ti'J'相關(guān)的6個量為Pu、 Pu、 13 射
〕、P 2,1、 P 3,0、 P
=、,《.A (&J") , m = 1, 2, 3 ;n = 0, 1. (4) 則將方程組(3)改寫為方程組(5), >/J =①'J . j. A,o +①'J .丑 A,i j C =①'J . ^ A,。 +①'J "2,! ( 5 )
F3"-W.丄A,。+①"'萬./^ e).從d)中可以看出,6個量的運算僅與溫度相關(guān)。因此,可以預(yù)先對于每個溫度 求解上述6個量并建立存儲溫度與6個量對應(yīng)關(guān)系的測溫數(shù)據(jù)庫,之后利用所述測溫數(shù)據(jù) 庫及三個已知量V」'J'、V/'J'、V/'J'對方程組(5)進行迭代運算,反演得到溫度T"'。 參考上述實施例關(guān)于b)的描述,本領(lǐng)域的技術(shù)人員同時可以知悉,黑體、灰體測 量情形(如e (T"J) =^,均是光譜發(fā)射率函數(shù)式(2)的特例形式,這時式(1)的測量方程 組寫為
(6).爿.
〖"W 在式(6)中,僅有兩個未知量(T" J', J' A),利用三個通道測量量(V」'J', V/' j, v/' J')數(shù)學(xué)求解時,未知量的數(shù)目小于方程組的數(shù)目,運用最小二乘法,可以使溫度的求解 誤差更小。[0047] 由上述實施例可知,本實用新型中的光譜發(fā)射率函數(shù)用線性函數(shù)予以表述,但也 不局限于此,任何包含兩個或小于兩個待定參數(shù)的發(fā)射率函數(shù),均可以通過本實用新型獲 得的3路信號測量方程,計算求解逐點溫度場T"J。例如,對于發(fā)光火焰溫度場測量,具有一 個待定參數(shù)的Hottel模型也已被廣泛使用,用以表征火焰光譜發(fā)射率 e A = l-exp(-KL/A " (7) 式(7)是一個半經(jīng)驗公式,其中,a是常數(shù),系數(shù)K正比于粒子濃度,L是光程,其 乘積KL可作為綜合表征濃度的變量。這時式(1)的測量方程組可寫為
、"=O". V (1 — exp(一虹/ O). J)
^ W'、 .(l-exp(-虹/"))./" W) ( 8 )
K" = 0>" .、 .(1-exp(—虹/々》./》(A,r")
在式(8)中,同樣也僅有兩個未知量(T, KL),利用三個通道測量量(V/'J', V/'J, v/'J')可以迭代求解出溫度值。具體過程與上述本實用新型的實施例類似,此處不再加以贅 述。 綜上所述,本實用新型基于三CCD融合的溫度場測量技術(shù),具有以下優(yōu)點 (1)與現(xiàn)有技術(shù)中非成像的單點輻射測溫方法相比,本實用新型將點測量擴展到
了二維場測量,獲得了更為豐富的高溫物體溫度信息。 (2)與現(xiàn)有技術(shù)中CCD成像式溫度場測量方法相比,本實用新型在測量時利用了 三通道分光成像處理方式,可以同時獲取三路光譜非相關(guān)的輻射強度成像數(shù)據(jù),三個測量 通道的具體波長選擇可以根據(jù)需要進行設(shè)計,以更好地滿足溫度優(yōu)化測量等多方面的要 求。 (3)采用了適用性更強的多光譜測溫法,測量物體不僅僅局限于傳統(tǒng)的比色測溫
法所適用的范圍,因而本實用新型的應(yīng)用范圍將更為廣泛,具有更大的通用性。 (4)技術(shù)實現(xiàn)方案較為簡單,三通道分光棱鏡易于光學(xué)加工,CCD面陣傳感器是成
熟的商業(yè)產(chǎn)品,因此系統(tǒng)集成成本不高、性能穩(wěn)定等,在高溫檢測等工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域易于推廣應(yīng)用。 以上為本實用新型的最佳實施方式,依據(jù)本實用新型公開的內(nèi)容,本領(lǐng)域的普通 技術(shù)人員能夠顯而易見地想到一些雷同、替代方案,均應(yīng)落入本實用新型保護的范圍。
權(quán)利要求一種基于三CCD集成的溫度場測量裝置,其特征在于,該裝置包括光學(xué)鏡頭、分光棱鏡組、三個CCD面陣傳感器及數(shù)據(jù)采集分析單元,所述光學(xué)鏡頭,用于光學(xué)成像,將待測物體的輻射聚焦在所述分光棱鏡組的入射面上;所述分光棱鏡組,將投射的輻射分為三束不同方向、不同波長的單色輻射,分別從三個出射面出射;所述三個CCD面陣傳感器,分別設(shè)置于所述分光棱鏡組的三個出射面處;所述三個CCD面陣傳感器,分別對三路不同波長的出射輻射進行成像,獲得三路光譜非相關(guān)的CCD圖像;所述數(shù)據(jù)采集分析單元,對三路CCD圖像數(shù)據(jù)進行采集,并利用多光譜測溫法進行溫度場計算。
2. 如權(quán)利要求1所述的基于三CCD集成的溫度場測量裝置,其特征在于,所述待測物體 為溫度范圍為1000K 3000K的具有連續(xù)輻射特性的高溫物體。
3. 如權(quán)利要求1或2所述的基于三CCD集成的溫度場測量裝置,其特征在于,所述分光 棱鏡組出射的三束不同波長的單色輻射的波長范圍為400nm 1100nm。
專利摘要本實用新型涉及一種三CCD集成的溫度場測量裝置,包括光學(xué)鏡頭,用于光學(xué)成像,將待測物體的輻射聚焦在分光棱鏡組的入射面上;分光棱鏡組,起到分光的作用,將投射的輻射分為三束不同方向、不同波長的單色輻射,分別從三個出射面出射;三個CCD面陣傳感器,與分光棱鏡組共同集成,分別設(shè)置于分光棱鏡組的三個出射面處,對三路不同波長的出射輻射進行成像,獲得三路光譜非相關(guān)的CCD圖像;數(shù)據(jù)采集分析單元,對三路CCD圖像數(shù)據(jù)進行采集,并利用多光譜測溫法進行溫度場計算。本實用新型的技術(shù)方案可以實現(xiàn)溫度場測量,應(yīng)用范圍廣泛;且技術(shù)方案實現(xiàn)簡單,在高溫檢測等工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域易于推廣應(yīng)用。
文檔編號G01J5/10GK201464047SQ20092010801
公開日2010年5月12日 申請日期2009年5月12日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月12日
發(fā)明者史聰靈, 程曉舫, 符泰然, 鐘茂華 申請人:清華大學(xué)
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