專利名稱：三軸測斜儀校驗臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及檢測設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種三軸測斜儀校驗臺。
背景技術(shù)：
三軸測斜儀校驗臺是人們在油田深井探測過程中經(jīng)常應(yīng)用到的一種探測儀器。但 是現(xiàn)有的探測儀器往往都是一相可調(diào)節(jié)，存在使用不便的缺陷。

實用新型內(nèi)容本實用新型第一目的在于提供一種三軸測斜儀校驗臺，其使用更加簡便。本實用新型提供的一種三軸測斜儀校驗臺，包括可調(diào)節(jié)水平的圓柱形的底座，在所述圓柱形的底座端面上安裝有底盤，在所述底 盤的外周標(biāo)有刻度，在所述底盤的端面上設(shè)置有用于指示探管方向角的指針，在所述底盤上設(shè)置有垂直于所述底盤端面的兩立柱，在所述兩立柱的上端部設(shè)置 有臺體，所述臺體可沿本臺體與所述兩立柱的相交線為軸線旋轉(zhuǎn)，所述軸線與所述底盤端 面平行，在所述機臺的外周設(shè)置有刻度；在所述臺體的中心安裝有用于安裝探管的卡夾，所述卡夾的軸線與所述臺體的端
面垂直?？蛇x地，本三軸測斜儀校驗臺的各部件均由無磁材料制成?？蛇x地，在所述卡夾的表面設(shè)置有兩段，所述兩段V型槽的形狀相同。由上可見，應(yīng)用本實用新型實施例的技術(shù)方案，將探管安裝在卡夾上，在調(diào)整的過 程中根據(jù)實際的場景旋轉(zhuǎn)底座的水平位置以及角度，旋轉(zhuǎn)臺體，而帶動卡夾旋轉(zhuǎn)，從而可以 調(diào)整設(shè)置在卡夾上的探管的Z軸方向，以及Y軸位置。從而可以多角度地進行調(diào)整，方便人 們的使用。綜上，應(yīng)用本實施例技術(shù)方案，在測量時，用戶可以利用底座的旋轉(zhuǎn)以及水平調(diào) 節(jié)、機臺的旋轉(zhuǎn)實現(xiàn)三相調(diào)整，使得人們的使用更加方便。

此處所說明的附圖用來提供對本實用新型的進一步理解，構(gòu)成本申請的一部分， 并不構(gòu)成對本實用新型的不當(dāng)限定，在附圖中圖1為本實用新型實施例1提供的一種三軸測斜儀校驗臺的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合附圖以及具體實施例來詳細說明本實用新型，在此本實用新型的示意 性實施例以及說明用來解釋本實用新型，但并不作為對本實用新型的限定。實施例1 參見圖1所示，本實施例提供的一種三軸測斜儀校驗臺，主要包括底座101、底盤 102、指針108、立柱103、臺體104、卡夾105。[0016]其中，該底盤102為圓柱形，在該底盤102上設(shè)置有可以調(diào)整底盤102端面水平位 置、以及程度的調(diào)整裝置，在底座101的外周標(biāo)有刻度106(0-359度)。在底座101端面上 安裝有底盤102，在使用的過程中可以通過調(diào)整底座101的水平而調(diào)整底盤102的水平，在 底盤102的端面上設(shè)置有用于指示探管方向角的指針108，在測量的過程中可以使用指針 108以及底座101上的刻度106而標(biāo)示探管的方位角(相對式絕對角)。該兩立柱103設(shè)置于底盤102端面上，與底座101端面相垂直，臺體104設(shè)置于兩 立柱103的上方，位于兩立柱103之間，且臺體104可以沿本臺體104與兩立柱103的相交 線為軸線旋轉(zhuǎn)，軸線與所述底盤102端面平行，在該臺體104的外周設(shè)置有刻度106(0-359 度)。在臺體104的中心安裝有卡夾105，卡夾105的軸線與臺體104的端面垂直，該卡夾 105用于安裝探管。本三軸測斜儀校驗臺的工作原理是，將探管安裝在卡夾105上，在調(diào)整的過程中 根據(jù)實際的場景旋轉(zhuǎn)底座101的水平位置以及角度，旋轉(zhuǎn)臺體104，而帶動卡夾105旋轉(zhuǎn)，從 而可以調(diào)整設(shè)置在卡夾105上的探管的Z軸方向，以及Y軸位置。從而可以多角度地進行 調(diào)整，方便人們的使用。由上可見，應(yīng)用本實施例技術(shù)方案，在測量時，用戶可以利用底座101的旋轉(zhuǎn)以及 水平調(diào)節(jié)、機臺的旋轉(zhuǎn)實現(xiàn)三相調(diào)整，使得人們的使用更加方便。另外，在本實施例中，本三軸測斜儀校驗臺的各部件可以均由無磁材料制成，這樣 能夠避免由于油田深井的地磁、以及其他的電磁干擾而導(dǎo)致其測量精度受到影響，有利于 提高測量的精確性。在本實施例中可以在卡夾的表面設(shè)置兩段形狀相同的V型槽109，在安裝探管時， 使得探管與該兩段V型槽109完全吻合，使用壓緊螺釘將該探管固定在該卡夾上，使得該探 管與卡夾的軸線相重合。其中本實施例的刻度106盤采用無磁光柵刻度106盤，卡夾采用差分技術(shù)。以上對本實用新型實施例所提供的技術(shù)方案進行了詳細介紹，本文中應(yīng)用了具體 個例對本實用新型實施例的原理以及實施方式進行了闡述，以上實施例的說明只適用于幫 助理解本實用新型實施例的原理；同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本實用新型實施 例，在具體實施方式
以及應(yīng)用范圍上均會有改變之處，均屬于本專利的保護范圍。
權(quán)利要求一種三軸測斜儀校驗臺，其特征是，包括可調(diào)節(jié)水平的圓柱形的底座，在所述圓柱形的底座端面上安裝有底盤，在所述底盤的外周標(biāo)有刻度，在所述底盤的端面上設(shè)置有用于指示探管方向角的指針，在所述底盤上設(shè)置有垂直于所述底盤端面的兩立柱，在所述兩立柱的上端部設(shè)置有臺體，所述臺體可沿本臺體與所述兩立柱的相交線為軸線旋轉(zhuǎn)，所述軸線與所述底盤端面平行，在所述機臺的外周設(shè)置有刻度；在所述臺體的中心安裝有用于安裝探管的卡夾，所述卡夾的軸線與所述臺體的端面垂直。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三軸測斜儀校驗臺，其特征是， 本三軸測斜儀校驗臺的各部件均由無磁材料制成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三軸測斜儀校驗臺，其特征是， 在所述卡夾的表面設(shè)置有兩段，所述兩段V型槽的形狀相同。
專利摘要本實用新型涉及檢測設(shè)備領(lǐng)域，公開了一種三軸測斜儀校驗臺。其包括可調(diào)節(jié)水平的圓柱形的底座，在圓柱形的底座端面上安裝有底盤，在底盤的外周標(biāo)有刻度，在底盤的端面上設(shè)置有用于指示探管方向角的指針，在底盤上設(shè)置有垂直于底盤端面的兩立柱，在兩立柱的上端部設(shè)置有臺體，臺體可沿本臺體與兩立柱的相交線為軸線旋轉(zhuǎn)，軸線與底盤端面平行，在機臺的外周設(shè)置有刻度；在臺體的中心安裝有用于安裝探管的卡夾，卡夾的軸線與臺體的端面垂直。其使用更加簡便。
文檔編號G01C9/02GK201589611SQ20092006132
公開日2010年9月22日 申請日期2009年7月28日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月28日
發(fā)明者佘磊 申請人:北京深度科技有限責(zé)任公司