專利名稱：彈簧片孔深測量固定裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測量裝置，特別涉及一種彈簧片孔深測量固 定裝置。
背景技術(shù)：
54cmFS彈簧片孔深是衡量彈簧片技術(shù)性能的非常重要指標(biāo)，孔 深尺寸對框架組件配屏、蔭罩組件熱靈敏度、CPT的三色會聚及色純 裕量均有重大影響。因此孔深測量準(zhǔn)確度的高低顯得異常重要。彈簧 片孔深測量一直使用左手扶握彈簧片焊接部，另一端(翻邊)放在圓 形基座孔內(nèi)，右手調(diào)整百分表測量，顯然，這樣測量孔深時水平度靠 檢驗員左手調(diào)整，測量誤差大，準(zhǔn)確度低，同時孔深測量所需要的時 間長， 一般測一件孔深需要120秒左右。 發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實用新型的目的在于提供一種 彈簧片孔深測量固定裝置，具有測量精確快捷的特點。
為了達到上述目的，本實用新型的技術(shù)方案是
彈簧片孔深測量固定裝置，其特征在于，包括基座1，基座1 的工作曲面上開有讓位槽3和凹槽4，凹槽4內(nèi)裝有磁塊2。
所述的基座1的工作曲面與待測彈簧片曲面相似且平行。
所述的基座1底面平面度為0.01。
本實用新型利用基座1的工作曲面將待測彈簧片固定，克服了人每件提高到80秒每件，降低檢驗員的勞動強度，具有測量精確快捷的特點。


附圖是本實用新型的結(jié)構(gòu)原理圖。
具體實施方式
下面參照附圖對本實用新型的結(jié)構(gòu)原理和工作原理作詳細(xì)敘述。 參照附圖，彈簧片孔深測量固定裝置，包括基座1，基座1的工作曲面上開有讓位槽3和凹槽4，凹槽4內(nèi)裝有磁塊2，基座1的 工作曲面與待測彈簧片曲面相似且平行，基座1底面平面度為0.01。 本實用新型的工作原理是待測彈簧片憑重力及磁塊2的磁力快 速與基座1接觸，待測彈簧片的孔翻邊在重力及磁力作用下導(dǎo)入讓位 槽3中，使得彈簧片穩(wěn)定地形成水平狀態(tài)，水平度依靠基座1的工作 曲面保證，無需檢驗員手工調(diào)整，確保了測量所需要的平面度。
權(quán)利要求1、彈簧片孔深測量固定裝置，包括基座(1)，其特征在于，基座(1)的工作曲面上開有讓位槽(3)和凹槽(4)，凹槽(4)內(nèi)裝有磁塊(2)。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的彈簧片孔深測量固定裝置，其特征在于，所述的基座(1)的工作曲面與待測彈簧片曲面相似且平行。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的彈簧片孔深測量固定裝置，其特征在于，所述的基座(1)底面平面度為0.01。
專利摘要彈簧片孔深測量固定裝置，包括基座1，基座1的工作曲面上開有讓位槽3和凹槽4，凹槽4內(nèi)裝有磁塊2，基座1的工作曲面與待測彈簧片曲面相似且平行，基座1底面平面度為0.01，使用時，將待測彈簧片憑重力及磁塊2的磁力快速與基座1接觸，使得彈簧片穩(wěn)定地形成水平狀態(tài)，無需檢驗員手工調(diào)整，確保了測量所需要的平面度，具有測量精確快捷的特點。
文檔編號G01B5/02GK201407974SQ20092003324
公開日2010年2月17日 申請日期2009年5月21日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月21日
發(fā)明者何永科, 魯東見 申請人:彩虹集團電子股份有限公司