專利名稱：用于測(cè)試電氣連接拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試設(shè)備內(nèi)部連接的裝置，具體涉及一種非破壞性用于測(cè)試電氣
連接拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的裝置。
背景技術(shù)：
目前，現(xiàn)有的測(cè)試裝置只有針對(duì)小型電纜連接結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備，尚無(wú)針對(duì)大 型電纜連接結(jié)構(gòu)的測(cè)試設(shè)備，尤其是2000點(diǎn)以上的電纜、信號(hào)集中分配器之類的測(cè)試設(shè) 備。測(cè)試點(diǎn)數(shù)較少的測(cè)試設(shè)備，首先在測(cè)試的點(diǎn)上加上被測(cè)信號(hào)，再依次檢測(cè)另一端的信 號(hào)，如果有響應(yīng)的端點(diǎn)表明為連通的點(diǎn)。其缺點(diǎn)在于，此類設(shè)備受規(guī)模的限制，不能任意擴(kuò) 展，無(wú)法解決測(cè)試點(diǎn)數(shù)多的電纜的測(cè)試要求，并且，測(cè)試結(jié)果中的測(cè)試點(diǎn)也不能根據(jù)實(shí)際被 測(cè)體映射到被測(cè)體端的標(biāo)識(shí)號(hào)上。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種用于測(cè)試電氣連接拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的裝置，可非破壞性地測(cè)量大型不帶 電設(shè)備的內(nèi)部連接關(guān)系并以網(wǎng)格形式表現(xiàn)出來(lái)，同時(shí)其測(cè)試點(diǎn)可隨意拓展，滿足不同測(cè)試 要求。 為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種用于測(cè)試電氣連接拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的裝置，該裝置包 含控制模塊、多個(gè)與控制模塊連接的測(cè)試模組、與測(cè)試模組連接的接線端子，以及與接線端 子連接的測(cè)試插座； 上述的測(cè)試模組包含多個(gè)串聯(lián)連接的測(cè)試單元；
上述的測(cè)試插座連接被測(cè)體上的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)；
上述的測(cè)試單元包含信號(hào)控制模塊。 上述的同一測(cè)試模組內(nèi)的多個(gè)測(cè)試單元，其中的一個(gè)測(cè)試單元還包含與信號(hào)控制 模塊連接的接口協(xié)議轉(zhuǎn)譯模塊，以及與接口協(xié)議轉(zhuǎn)譯模塊連接的接口模塊；
上述的測(cè)試模組通過(guò)接口模塊與控制模塊連接。 被測(cè)體的各測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試插座上的各個(gè)腳位連接。控制模塊按照對(duì)測(cè)試點(diǎn)、測(cè)試
單元和測(cè)試模組的編號(hào)列出網(wǎng)表，并依照此網(wǎng)表配置各測(cè)試點(diǎn)，完成后本裝置對(duì)被測(cè)體的
所有測(cè)試點(diǎn)提供一個(gè)高電平，當(dāng)測(cè)試某一單點(diǎn)時(shí)候，本裝置便將該點(diǎn)電平置低，同時(shí)通過(guò)測(cè)
試插座接收被測(cè)體上所有測(cè)試點(diǎn)此時(shí)的電平信號(hào)，并傳輸?shù)娇刂颇K，控制模塊整合所接
收的電平信號(hào)，并在網(wǎng)表中輸出結(jié)果，由此便可得到被測(cè)體內(nèi)部的電路網(wǎng)絡(luò)情況。 本發(fā)明用于測(cè)試電氣連接拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的裝置與現(xiàn)有的裝置相比，其優(yōu)點(diǎn)在于，本發(fā)
明內(nèi)部采用模塊化結(jié)構(gòu)，測(cè)試規(guī)模控制及組織結(jié)構(gòu)靈活，可根據(jù)不同被測(cè)機(jī)箱采用不同聯(lián)
接模塊進(jìn)行測(cè)試，將復(fù)雜的聯(lián)接電路大大簡(jiǎn)化，便于測(cè)試裝置的擴(kuò)展和維護(hù)； 本發(fā)明采用小信號(hào)測(cè)試，避免對(duì)被測(cè)體的破壞，同時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)幾千點(diǎn)大型連接關(guān)系
的快速測(cè)量分析； 本發(fā)明采用高低電平測(cè)試連接點(diǎn)，不需要分解被測(cè)體，直接得到被測(cè)體內(nèi)部的電氣連接； 本發(fā)明的控制模塊可將結(jié)果存儲(chǔ)為網(wǎng)表形式，使結(jié)果更簡(jiǎn)明，通用性強(qiáng)。


圖1為本發(fā)明用于測(cè)試電氣連接拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的裝置的總體連接關(guān)系圖。
具體實(shí)施例方式
以下結(jié)合附圖進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例。 請(qǐng)參見圖1所示，本發(fā)明用于測(cè)試電氣連接拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的裝置包含控制模塊4、多個(gè) 與控制模塊4連接的測(cè)試模組1、與測(cè)試模組1連接的接線端子5，以及與接線端子5連接 的測(cè)試插座6 ;測(cè)試模組1包含多個(gè)串聯(lián)連接的測(cè)試單元2 ;測(cè)試插座6連接被測(cè)體上的多 個(gè)測(cè)試點(diǎn)3。 控制模塊4共擴(kuò)展9個(gè)端口 ，每個(gè)端口連接一個(gè)測(cè)試模組1 ，不同的測(cè)試模組1分 別由4 6個(gè)串聯(lián)連接的測(cè)試單元2構(gòu)成，每個(gè)測(cè)試單元2負(fù)責(zé)49個(gè)測(cè)試點(diǎn)3的測(cè)試，同 時(shí)控制模塊4對(duì)各測(cè)試模組1、測(cè)試單元2和測(cè)試點(diǎn)3進(jìn)行編號(hào)，由此整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)形成了 拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。 不同被測(cè)體上的測(cè)試點(diǎn)3通過(guò)不同的測(cè)試轉(zhuǎn)接頭連接到本裝置的標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試插 座6上，標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試插座6連接到接線端子5，測(cè)試模組1連接出來(lái)的測(cè)試線也連接到接線 端子5。由于將設(shè)有標(biāo)識(shí)號(hào)的各測(cè)試點(diǎn)3和測(cè)試插座6的各個(gè)腳位一一對(duì)應(yīng)連接；而通過(guò) 接線端子5，又使測(cè)試插座6的各個(gè)腳位和各測(cè)試單元2下的連接點(diǎn)一一對(duì)應(yīng)連接，因此，使 測(cè)試單元2下的連接點(diǎn)和各測(cè)試點(diǎn)3的相對(duì)應(yīng)。 控制模塊4通過(guò)此對(duì)應(yīng)關(guān)系，將各測(cè)試模組1、測(cè)試單元2和測(cè)試點(diǎn)3的編號(hào)聯(lián)系 起來(lái)，使整個(gè)系統(tǒng)下每個(gè)測(cè)試點(diǎn)3都賦有特定的編號(hào)，并且按照該編號(hào)配置測(cè)試點(diǎn)3，并控 制相應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)3進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試操作完成后，通過(guò)編號(hào)地址向控制模塊4返回各測(cè)試點(diǎn)3 的測(cè)試結(jié)果，并按照對(duì)應(yīng)的模組號(hào)、單元號(hào)和測(cè)試點(diǎn)號(hào)輸出每個(gè)特定測(cè)試點(diǎn)3的信號(hào)狀態(tài)。 這樣的邏輯結(jié)構(gòu)使得維護(hù)及擴(kuò)展測(cè)試點(diǎn)3非常容易，需要增加測(cè)試點(diǎn)3，則只需要在適當(dāng)?shù)?測(cè)試模組1內(nèi)增加測(cè)試單元2或者新增測(cè)試模組1，并將此測(cè)試模組1連接到控制模塊4上 的新增端口即可。同時(shí)因?yàn)槭歉鱾€(gè)測(cè)試單元2獨(dú)自完成測(cè)試，每個(gè)測(cè)試單元2的測(cè)試時(shí)間 只和該測(cè)試單元2連接的測(cè)試點(diǎn)3數(shù)目有關(guān)，而與整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試點(diǎn)3的總數(shù)并無(wú)直接的 關(guān)系，因此增加整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試點(diǎn)3的數(shù)目，不會(huì)影響到每個(gè)測(cè)試點(diǎn)3的測(cè)試時(shí)間，保證了 測(cè)試的速度。 測(cè)試單元2包含信號(hào)控制模塊21。信號(hào)控制模塊21采用可編程復(fù)雜邏輯芯片 EPM1270TC-144，該芯片負(fù)責(zé)信號(hào)接收控制模塊4的指令，按照指令執(zhí)行相應(yīng)的輸入輸出操 作。 在每個(gè)測(cè)試模組1中，各測(cè)試單元2采用四線串行、TTL電平的串聯(lián)連接，后一測(cè) 試單元2的信號(hào)控制模塊21連接到上一單元的信號(hào)控制模塊21芯片，其中連接在第一個(gè) 的測(cè)試單元2，配備有接口協(xié)議轉(zhuǎn)譯模塊22和接口模塊23，用以接收可編程復(fù)雜邏輯芯片 的輸出信號(hào)，其余測(cè)試單元2僅設(shè)有可編程復(fù)雜邏輯芯片。每個(gè)測(cè)試單元2所接收的測(cè)試 信號(hào)，通過(guò)各測(cè)試單元2的信號(hào)控制模塊21芯片的串聯(lián)轉(zhuǎn)接，最后由信號(hào)控制模塊21芯片轉(zhuǎn)發(fā)給連接在第一個(gè)的測(cè)試單元2的接口協(xié)議轉(zhuǎn)譯模塊22轉(zhuǎn)義芯片，再經(jīng)由接口模塊
23連接傳輸至控制模塊4。其中接口協(xié)議轉(zhuǎn)譯模塊22采用模塊組的接口協(xié)議轉(zhuǎn)義芯片
ATmega8-16AC，負(fù)責(zé)將基于ASCII碼的控制模塊4指令轉(zhuǎn)義為EPM1270TC-144芯片的位操
作指令，并將EPM1270TC-144芯片返回的位操作指令轉(zhuǎn)義為ASCII的指令返回控制模塊4。
接口模塊23為接口芯片MAX3232，實(shí)現(xiàn)TTL電平到RS-232電平的轉(zhuǎn)換，從而實(shí)現(xiàn)和控制模
塊5的物理層連接。 本發(fā)明的工作流程如下 啟動(dòng)本發(fā)明的測(cè)試裝置及控制模塊4，將被測(cè)點(diǎn)連接到本裝置，本發(fā)明中采用對(duì)被 測(cè)體的測(cè)試點(diǎn)3實(shí)現(xiàn)分組組織的方法，每49個(gè)被測(cè)試點(diǎn)3構(gòu)成一個(gè)測(cè)試單元2， 一定數(shù)目 的測(cè)試單元2構(gòu)成一個(gè)測(cè)試模組l，每個(gè)測(cè)試模組1占用控制模塊4的一個(gè)端口，并對(duì)各測(cè) 試點(diǎn)3、測(cè)試單元2和測(cè)試模組1進(jìn)行編號(hào)，由此便可列出相應(yīng)測(cè)試模組1、測(cè)試單元2和測(cè) 試點(diǎn)3的關(guān)系列表。在控制模塊4依照此關(guān)系表，通過(guò)測(cè)試模組號(hào)、測(cè)試單元號(hào)、測(cè)試點(diǎn)號(hào) 配置測(cè)試點(diǎn)3，然后依次按照配置整理測(cè)試點(diǎn)3關(guān)系列表，配置完畢后即開始同步各測(cè)試單 元2對(duì)測(cè)試點(diǎn)3進(jìn)行測(cè)試，本裝置對(duì)已連接上的所有被測(cè)體的測(cè)試點(diǎn)3分別提供一個(gè)高電 平，該電平信號(hào)為小信號(hào)，避免破壞被測(cè)體，當(dāng)測(cè)試某一單點(diǎn)時(shí)候，本裝置將該點(diǎn)電平置低， 則所有與該測(cè)試點(diǎn)3連接的點(diǎn)都會(huì)被拉為低電平，設(shè)備測(cè)試取回所有測(cè)試點(diǎn)3的電平，則所 有低電平點(diǎn)的集合為與該測(cè)試點(diǎn)3的網(wǎng)絡(luò)?？刂颇K4采集了所有的測(cè)試模組1的數(shù)據(jù)以 后，進(jìn)行編組分析，并按照給定的關(guān)系列表進(jìn)行映射，按照給定的模組號(hào)、單元號(hào)和測(cè)試點(diǎn) 號(hào)將結(jié)果進(jìn)行整理并輸出，即得到反映所有被測(cè)點(diǎn)連接情況的網(wǎng)絡(luò)表。在測(cè)試過(guò)程中，每個(gè) 測(cè)試模組1之間的測(cè)試單元2同步、同時(shí)完成測(cè)量工作。通過(guò)控制模塊4的集中控制，保證 各個(gè)測(cè)試模組1之間同步實(shí)現(xiàn)測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果返回給控制模塊4，通過(guò)擴(kuò)展各測(cè)試模組 1包含測(cè)試單元2數(shù)量以及測(cè)試模組1的數(shù)目，實(shí)現(xiàn)需要測(cè)試點(diǎn)3數(shù)的測(cè)量。
盡管本發(fā)明的內(nèi)容已經(jīng)通過(guò)上述優(yōu)選實(shí)施例作了詳細(xì)介紹，但應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到上述的 描述不應(yīng)被認(rèn)為是對(duì)本發(fā)明的限制。在本領(lǐng)域技術(shù)人員閱讀了上述內(nèi)容后，對(duì)于本發(fā)明的 多種修改和替代都將是顯而易見的。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)由所附的權(quán)利要求來(lái)限定。
權(quán)利要求
一種用于測(cè)試電氣連接拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的裝置，其特征在于，該裝置包含控制模塊(4)、多個(gè)與控制模塊(4)連接的測(cè)試模組(1)、與測(cè)試模組(1)連接的接線端子(5)，以及與接線端子(5)連接的測(cè)試插座(6)；所述的測(cè)試模組(1)包含多個(gè)串聯(lián)連接的測(cè)試單元(2)；所述的測(cè)試插座(6)連接被測(cè)體上的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)(3)；所述的測(cè)試單元(2)包含信號(hào)控制模塊(21)。
2. 如權(quán)利要求l所述的用于測(cè)試電氣連接拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的裝置，其特征在于，所述的同 一測(cè)試模組(1)內(nèi)的多個(gè)測(cè)試單元(2)，其中的一個(gè)測(cè)試單元(2)還包含與信號(hào)控制模塊 (21)連接的接口協(xié)議轉(zhuǎn)譯模塊(22)，以及與接口協(xié)議轉(zhuǎn)譯模塊(22)連接的接口模塊(23); 所述的測(cè)試模組(1)通過(guò)接口模塊(23)與控制模塊(4)連接。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用于測(cè)試電氣連接拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的裝置，其包含控制模塊、多個(gè)與控制模塊連接的測(cè)試模組、與測(cè)試模組連接的接線端子，以及與接線端子連接的測(cè)試插座；測(cè)試模組包含多個(gè)串聯(lián)連接的測(cè)試單元；測(cè)試插座連接被測(cè)體上的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)；測(cè)試單元包含信號(hào)控制模塊。本發(fā)明內(nèi)部采用模塊化結(jié)構(gòu)，測(cè)試規(guī)模控制及組織結(jié)構(gòu)靈活，可根據(jù)不同被測(cè)機(jī)箱采用不同聯(lián)接模塊進(jìn)行測(cè)試，將復(fù)雜的聯(lián)接電路大大簡(jiǎn)化，便于測(cè)試裝置的擴(kuò)展和維護(hù)；采用小信號(hào)測(cè)試，避免對(duì)被測(cè)體的破壞，同時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)幾千點(diǎn)大型連接關(guān)系的快速測(cè)量分析。
文檔編號(hào)G01R1/02GK101788624SQ20091020085
公開日2010年7月28日 申請(qǐng)日期2009年12月25日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月25日
發(fā)明者劉齊山, 姜宏, 李建平, 王鳳鳴, 胡剛, 鄔忠勤 申請(qǐng)人:上海磁浮交通發(fā)展有限公司;上海磁浮交通工程技術(shù)研究中心