專利名稱：管線式元件測試系統(tǒng)及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)及其方法，特別是涉及一種錯開裝載或卸除元件于兩測 試設(shè)備的時間，使兩測試設(shè)備以管線形式執(zhí)行元件測試作業(yè)的管線式元件測試系統(tǒng)及其方法。
背景技術(shù)：
先前技術(shù)中，廠商在制造受測元件后，對每一受測元件進行一測試作業(yè)。請參照圖1，其為先前技術(shù)的元件測試系統(tǒng)的方框示意圖，其是由一儀器驅(qū)動模塊 11、一測試主機12、一功率計(Power Meter ；PM) 15與一信號收發(fā)器16。其中，測試主機12 連接儀器驅(qū)動模塊11，并透過耦合器14接連功率計15與信號收發(fā)器16。功率計15用以 偵測受測元件13發(fā)出的信號(如Radio Frequency Signal，射頻信號)的信號強度與信號 傳送的資料穩(wěn)定性。在此說明，信號收發(fā)器16指一個具有標準的信號收發(fā)、調(diào)制、解調(diào)能力的標準樣 本元件，用以根據(jù)接收信號，并根據(jù)信號收發(fā)器16是否能正確、完整、調(diào)制或解調(diào)受測元件 13發(fā)出的無線信號，測試受測元件13輸出的信號的可調(diào)制性與受測元件13的傳輸效能，并 將信號接收結(jié)果提供給測試主機12，供測試主機12判斷受測元件13是否正常運行。先前技術(shù)的系統(tǒng)中，先以人工、或機械手臂夾持受測元件13以裝載于測試主機 12的一載具，如受測元件13為一受測芯片(或稱為晶片)時，載具為配置有芯片插槽 (Socket)的測試電路板；亦或，受測元件13為一受測網(wǎng)路卡時，載具為配置有卡片插槽 (Slot)。耦合器14先被切換以連通測試主機12與功率計15，測試主機12從儀器驅(qū)動模塊 11取得一驅(qū)動程序以設(shè)定受測元件13，再控制受測元件13發(fā)出一受測信號至功率計15。功率計15分析受測信號的信號強度以回傳一信號強度資料至儀器驅(qū)動模塊11， 儀器驅(qū)動模塊11修正提供的驅(qū)動程序的工作參數(shù)以形成一修正程序，再提供給測試主機 12來重新設(shè)定受測元件13的工作參數(shù)。耦合器14再被切換以連通測試主機12與信號收發(fā)器16，測試主機12控制受測元 件13發(fā)出一測試資料。信號收發(fā)器16接收此測試資料，并將測試資料的接收結(jié)果回傳給 測試主機12。測試主機12根據(jù)取得的接收結(jié)果以判斷受測元件13是否正常運作。就上述得知，先前技術(shù)中，一套測試系統(tǒng)同一時間僅能測試一個受測元件。廠商為 短時間增加產(chǎn)能，多會增設(shè)相同的測試系統(tǒng)，以一次性測試多個受測元件。然而，廠商每購 置一套測試系統(tǒng)，僅是多增設(shè)一條受測元件的元件測試線，所制造出的受測元件的結(jié)構(gòu)與 受測元件進行的測試流程皆相同，即受測元件測試效率提升了，廠商所付出的測試成本也 相對提升。因此，如何有效的降低生產(chǎn)成本，與提升受測元件的產(chǎn)能，為廠商應(yīng)思考的問題。由此可見，上述現(xiàn)有的測試系統(tǒng)在產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、測試方法與使用上，顯然仍存在有不 便與缺陷，而亟待加以進一步改進。為了解決上述存在的問題，相關(guān)廠商莫不費盡心思來謀 求解決之道，但長久以來一直未見適用的設(shè)計被發(fā)展完成，而一般產(chǎn)品及方法又沒有適切 的結(jié)構(gòu)及方法能夠解決上述問題，此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新的管線式元件測試系統(tǒng)及其方法，實屬當前重要研發(fā)課題之一，亦成為當前業(yè)界極需 改進的目標。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，克服現(xiàn)有的元件測試系統(tǒng)存在的缺陷，而提供一種新的管線 式元件測試系統(tǒng)及其方法，所要解決的技術(shù)問題是使其可降低設(shè)備成本，并保持一定受測 元件測試效率。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出 的一種管線式元件測試系統(tǒng)，其包含一第一測試設(shè)備，用以進行一第一測試，并于該第一 測試完成時輸出一第一觸發(fā)信號；一第二測試設(shè)備，用以進行一第二測試；一裝卸模塊；以 及一儀器驅(qū)動模塊，是控制該裝卸模塊裝載一第一元件于該第一測試設(shè)備，以對該第一元 件進行該第一測試，及該儀器驅(qū)動模塊取得該第一觸發(fā)信號時，控制該裝卸模塊將該第一 元件從該第一測試設(shè)備卸除以裝載于該第二測試設(shè)備，以對該第一元件進行該第二測試， 且裝載一第二元件于該第一測試設(shè)備以對該第二元件進行該第一測試。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進一步實現(xiàn)。前述的管線式元件測試系統(tǒng)，其中當該第二測試設(shè)備對該第一元件執(zhí)行該第二測 試時，該第一測試設(shè)備對該第二元件執(zhí)行該第一測試，以達成平行執(zhí)行。前述的管線式元件測試系統(tǒng)，其中所述的第二測試設(shè)備完成對該第一元件的該第 二測試時，是發(fā)出一第二觸發(fā)信號，該儀器驅(qū)動模塊是控制該裝卸模塊從該第二測試設(shè)備 卸除該第一元件。前述的管線式元件測試系統(tǒng)，其中所述的儀器驅(qū)動模塊判斷該第一測試設(shè)備完 成對該第二元件的該第一測試，且該第二測試設(shè)備未完成對該第一元件的該第二測試時， 是等待該第二測試設(shè)備完成對該第一元件的該第二測試，以控制該裝卸模塊卸除該第一元 件，再控制該裝卸模塊從該第一測試設(shè)備卸除該第二元件并裝載至該第二測試設(shè)備。前述的管線式元件測試系統(tǒng)，其中所述的儀器驅(qū)動模塊是裝載一第三元件于該第 一測試設(shè)備，當該第二測試設(shè)備對該第二元件執(zhí)行該第二測試時，該第一測試設(shè)備對該第 三元件執(zhí)行該第一測試，以達成平行執(zhí)行。前述的管線式元件測試系統(tǒng)，其中所述的儀器驅(qū)動模塊包含多個驅(qū)動程序，并從 所述多個驅(qū)動程序中取出一程序給予該第一測試設(shè)備，供該第一測試設(shè)備設(shè)定所裝載的該 第一元件的工作參數(shù)或設(shè)定所裝載的該第二元件的工作參數(shù)。前述的管線式元件測試系統(tǒng)，其中所述的該第一測試設(shè)備包含一第一主機，連接 該儀器驅(qū)動模塊，在裝載該第一元件時控制該第一元件輸出一第一信號，及取得一第一修 正程序時調(diào)整該第一元件的至少一工作參數(shù)并輸出對應(yīng)該第一元件的該第一觸發(fā)信號，以 及在裝載該第二元件時控制該第二元件輸出一第二信號，及取得一第二修正程序時調(diào)整該 第二元件的至少一工作參數(shù)并輸出對應(yīng)該第二元件的該第一觸發(fā)信號；以及一功率計，分 析該第一信號以輸出一第一信號強度資料，該儀器驅(qū)動模塊根據(jù)該第一信號強度資料提供 該第一修正程序給該第一主機，以及分析該第二信號以輸出一第二信號強度資料，該儀器 驅(qū)動模塊根據(jù)該第二信號強度資料提供該第二修正程序給該第一主機。前述的管線式元件測試系統(tǒng)，其中所述的第一元件的該至少一工作參數(shù)選自于由該第一元件輸出該第一信號的至少一控制設(shè)定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率 所組成的群組，而該第二元件的該至少一工作參數(shù)選自于由該第二元件輸出該第二信號的 至少一控制設(shè)定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成的群組。前述的管線式元件測試系統(tǒng)，其中所述的第二測試設(shè)備包含一第二主機，連接該 第一主機，在裝載該第一元件時從該第一主機取得該第一元件的該至少一工作參數(shù)并控制 該第一元件輸出一第一測試資料，及在裝載該第二元件時從該第一主機取得該第二元件的 該至少一工作參數(shù)并控制該第二元件輸出一第二測試資料，以及取得一第一結(jié)果資料時決 定該第一元件是否運作正常，與取得一第二結(jié)果資料時決定該第二元件是否運作正常；以 及一信號收發(fā)器，接收該第一測試資料以輸出該第一結(jié)果資料至該第二主機，以及接收該 第二測試資料以輸出該第二結(jié)果資料至該第二主機。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出的 一種管線式元件測試方法，是應(yīng)用一管線式元件測試系統(tǒng)，該管線式元件測試系統(tǒng)包含一 儀器控制模塊、一裝卸模塊、一第一測試設(shè)備與一第二測試設(shè)備，該管線式元件測試方法包 括以下步驟經(jīng)由該儀器驅(qū)動模塊控制該裝卸模塊裝載一第一元件于該第一測試設(shè)備；該 第一測試設(shè)備對該第一元件執(zhí)行一第一測試后，輸出一第一觸發(fā)信號；該儀器驅(qū)動模塊取 得該第一觸發(fā)信號時，控制該裝卸模塊卸除該第一元件并裝載于該第二測試設(shè)備執(zhí)行一第 二測試，并裝載一第二元件于該第一測試設(shè)備執(zhí)行該第一測試；以及當該第二測試設(shè)備對 該第一元件執(zhí)行該第二測試時，則該第一測試設(shè)備對該第二元件執(zhí)行該第一測試，以達成 平行執(zhí)行。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進一步實現(xiàn)。前述的管線式元件測試方法，其中還包含以下步驟該第二測試設(shè)備完成對該第 一元件執(zhí)行該第二測試后，是輸出一第二觸發(fā)信號；以及經(jīng)由該儀器驅(qū)動模塊取得該第二 觸發(fā)信號時，控制該裝卸模塊從該第二測試設(shè)備卸除該第一元件。前述的管線式元件測試方法，其中還包含以下步驟該第一測試設(shè)備對該第二元 件執(zhí)行該第一測試后，輸出對應(yīng)該第二元件的該第一觸發(fā)信號；當該儀器驅(qū)動模塊取得對應(yīng)該第二元件的該第一觸發(fā)信號，判斷是否已取得對應(yīng) 該第一元件的該第二觸發(fā)信號；當該儀器驅(qū)動模塊取得對應(yīng)該第二元件的該第一觸發(fā)信號 但未取得對應(yīng)該第一元件的該第二觸發(fā)信號時，是返回該判斷是否取得對應(yīng)該第一元件的 該第二觸發(fā)信號的步驟；以及當該儀器驅(qū)動模塊取得對應(yīng)該第二元件的該第一觸發(fā)信號且 已取得對應(yīng)該第一元件的該第二觸發(fā)信號時，是控制該裝卸模塊從該第一測試設(shè)備卸除該 第二元件并裝載至該第二測試設(shè)備。前述的管線式元件測試方法，其中還包含以下步驟經(jīng)由該第二測試設(shè)備對該第 二元件進行該第二測試；經(jīng)由該儀器驅(qū)動模塊控制該裝卸模塊裝載一第三元件至該第一測 試設(shè)備執(zhí)行該第一測試；以及經(jīng)由該第一測試設(shè)備對該第三元件進行該第一測試時，則該 第二測試設(shè)備對該第二元件進行該第二測試以達成平行執(zhí)行。前述的管線式元件測試方法，其中所述的第一測試設(shè)備對該第一元件執(zhí)行該第一 測試的該步驟包含從該儀器驅(qū)動模塊取得一第一程序；根據(jù)該第一程序控制該第一元件 輸出一第一信號；利用一功率計分析該第一信號以輸出一第一信號強度資料至該儀器驅(qū)動 模塊，該儀器驅(qū)動模塊根據(jù)該第一信號強度資料產(chǎn)生一第一修正程序；以及從該儀器驅(qū)動模塊取得該第一修正程序以設(shè)定該第一元件的至少一工作參數(shù)。前述的管線式元件測試方法，其中所述的第二測試設(shè)備對該第一元件執(zhí)行該第二 測試的該步驟包含從該第一測試設(shè)備取得該第一元件的該至少一工作參數(shù)；控制該第一 元件輸出一第一測試資料；利用一信號收發(fā)器接收該第一測試資料以產(chǎn)生一第一結(jié)果資 料；以及根據(jù)該第一結(jié)果資料決定該第一元件是否運作正常。前述的管線式元件測試方法，其中所述的第一元件的工作參數(shù)選自于由該第一元 件輸出該第一信號的至少一控制設(shè)定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成的 群組。前述的管線式元件測試方法，其中所述的第一測試設(shè)備對該第二元件執(zhí)行該第一 測試的該步驟包含從該儀器驅(qū)動模塊取得一第二程序；根據(jù)該第二程序控制該第二元件 輸出一第二信號；分析該第二信號以輸出一第二信號強度資料至該儀器驅(qū)動模塊，該儀器 驅(qū)動模塊根據(jù)該第二信號強度資料產(chǎn)生一第二修正程序；以及從該儀器驅(qū)動模塊取得該第 二修正程序以設(shè)定該第二元件的至少一工作參數(shù)。前述的管線式元件測試方法，其中所述的第二測試設(shè)備對該第二元件執(zhí)行該第二 測試的該步驟包含從該第一測試設(shè)備取得該第二元件的該至少一工作參數(shù)；控制該第二 元件輸出一第二測試資料；利用一信號收發(fā)器接收該第二測試資料以產(chǎn)生一第二結(jié)果資 料；以及根據(jù)該第二結(jié)果資料分析該第二元件是否運作正常。前述的管線式元件測試方法，其中所述的第二元件的工作參數(shù)選自于由該第二元 件輸出該第二信號的至少一控制設(shè)定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成之 群組。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點和有益效果。借由上述技術(shù)方案，本發(fā)明 管線式元件測試系統(tǒng)及其方法至少具有下列優(yōu)點及有益效果本發(fā)明所揭露的管線式元件 測試系統(tǒng)與方法，第一測試設(shè)備執(zhí)行第一測試的時間，與第二測試設(shè)備執(zhí)行第二測試的時 間形成平行或同步。因此可于一時間內(nèi)，由一管線式元件測試系統(tǒng)同時測試第η元件的第 二測試與第η+1元件的第一測試，以有效降低所需設(shè)備，并提升受測元件測試的執(zhí)行效率。上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段， 而可依照說明書的內(nèi)容予以實施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能夠 更明顯易懂，以下特舉較佳實施例，并配合附圖，詳細說明如下。


圖1是先前技術(shù)的元件測試系統(tǒng)的方框示意圖。圖2Α是本發(fā)明管線式元件測試系統(tǒng)較佳實施例的架構(gòu)示意圖。圖2Β是本發(fā)明管線式元件測試系統(tǒng)較佳實施例的方框示意圖。圖2C是本發(fā)明管線式元件測試系統(tǒng)較佳實施例的元件裝卸示意圖。圖2D是本發(fā)明管線式元件測試系統(tǒng)較佳實施例的平行測試方框示意圖。圖3是本發(fā)明管線式元件測試方法較佳實施例的流程圖。圖4Α是本發(fā)明管線式元件測試流程實施例的一時序圖。圖4Β是本發(fā)明管線式元件測試流程實施例的另一時序圖。圖5Α是本發(fā)明管線式元件測試方法中的第二測試設(shè)備裝卸元件判斷流程圖。
圖5B是本發(fā)明管線式元件測試方法中的第一測試設(shè)備裝卸元件判斷流程圖。
圖6是本發(fā)明管線式元件測試方法中的第一測試的流程示意圖。
圖'7是本發(fā)明管線式元件測試方法中的第二測試的流程示意圖。
11儀器驅(qū)動模塊12測試主機
13受測元件14華禹合器
15功率計16 信號收發(fā)器
20儀器驅(qū)動模塊21功率計
22信號收發(fā)器31第一主機
32第一載具41第二主機
42第二載具51第一元件
52第二元件53第三元件
60裝卸模塊
具體實施例方式為更進一步闡述本發(fā)明為達成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合 附圖及較佳實施例，對依據(jù)本發(fā)明提出的管線式元件測試系統(tǒng)及其方法其具體實施方式
、 結(jié)構(gòu)、步驟、特征及其功效進行詳細說明。請同時參照圖2A與圖2B所示，圖2A是本發(fā)明管線式元件測試系統(tǒng)較佳實施例的 架構(gòu)示意圖，圖2B是本發(fā)明管線式元件測試系統(tǒng)較佳實施例的方框示意圖。本發(fā)明較佳實 施例的管線式元件測試系統(tǒng)包含一儀器驅(qū)動模塊20、一裝卸模塊60、一第一測試設(shè)備與一 第二測試設(shè)備。第一測試設(shè)備包含一第一主機31與一功率計21，第二測試設(shè)備包含一第二主機 41與一信號收發(fā)器22。第一主機31與第二主機41各自具有用以裝載受測元件(Device Under Test)的第一載具32與第二載具42，如受測元件為一受測芯片(或稱為晶片)時， 第一載具32與第二載具42為配置有芯片插槽(Socket)的測試電路板；亦或，受測元件為 一受測網(wǎng)路卡時，第一載具32與第二載具42為配置有卡片插槽(Slot)。功率計21是用以 測試受測元件輸出信號的信號強度。在本實施例中，受測元件的輸出信號是射頻信號(Radio FrequencySignal)但不 以此為限。信號收發(fā)器22在此是指一已根據(jù)接收信號與發(fā)送信號的反應(yīng)，調(diào)整出最適合 于此測試作業(yè)的設(shè)定參數(shù)值，并根據(jù)此設(shè)定參數(shù)值進行信號接收與發(fā)送作業(yè)的元件標準樣 本，其具有標準化、接近理想數(shù)值的工作參數(shù)與運行狀態(tài)，主要是用以接收受測元件輸出的 信號，并受測元件輸出的信號接收狀態(tài)判斷受測元件的信號傳輸效能與對輸出信號可調(diào)制 性。儀器驅(qū)動模塊20儲存有多個驅(qū)動程序，并從所有驅(qū)動程序中取出一程序給予第 一測試設(shè)備，供第一測試設(shè)備設(shè)定所裝載的受測元件的工作參數(shù)。裝卸模塊60用于將受測元件裝載與卸除在第一載具32與第二載具42。裝卸模 塊60可根據(jù)受測元件的形態(tài)而配置不同的結(jié)構(gòu)類型，如受測元件為一受測芯片時，裝卸模 塊60可為真空式吸盤以吸引受測芯片；亦或，受測元件為一受測網(wǎng)路卡時，裝卸模塊60可 為具有夾持物體能力的機械手臂，以夾持受測網(wǎng)路卡，本實施例中，裝卸模塊60是機械手臂進行說明。如圖2A與圖2B，儀器驅(qū)動模塊20是控制裝卸模塊60將一第一元件51裝載于第 一主機31連接的第一載具32。第一主機31偵測第一元件51已被裝載時，會從儀器驅(qū)動模 塊20取得一第一程序以驅(qū)動、設(shè)定與控制第一元件51。第一主機31是控制第一元件51發(fā)出一第一信號，此第一信號是由功率計21所接 收，功率計21是分析第一信號的信號強度，以產(chǎn)生一第一信號強度資料，并傳輸?shù)谝恍盘?強度資料至儀器驅(qū)動模塊20。儀器驅(qū)動模塊20是根據(jù)第一信號強度資料提供一第一修正 程序給第一主機31，第一主機31根據(jù)第一修正程序調(diào)整第一元件51的至少一工作參數(shù)。 第一元件51的工作參數(shù)是選自于由第一元件51輸出第一信號的至少一控制設(shè)定值、一工 作電壓、一工作電流與一運作功率所組成的群組。請同時參照圖2C與圖2D，圖2C是本發(fā)明管線式元件測試系統(tǒng)較佳實施例的元件 裝卸示意圖，圖2D是本發(fā)明管線式元件測試系統(tǒng)較佳實施例的平行測試方框示意圖。當?shù)?一主機31判斷第一元件51已完成第一測試時，是輸出一第一觸發(fā)信號至儀器驅(qū)動模塊20。 儀器驅(qū)動模塊20是判斷第一元件51已完成受測，以控制裝卸模塊60從第一測試設(shè)備卸除 第一元件51并裝載至第二測試設(shè)備，并裝載一第二元件52于第一測試設(shè)備。進一步說明， 即是儀器驅(qū)動模塊20控制裝卸模塊60從第一載具32卸除第一元件51，以裝載第一元件 51于第二載具42，且裝載第二元件52于第一載具32。當?shù)诙鳈C41偵測第一元件51已被裝載時，第二主機41是從第一主機31取得 第一元件51的工作參數(shù)，以控制第一元件51輸出一第一測試資料。此第一測試資料由信號收發(fā)器22所接收，如前所述。信號收發(fā)器22為一元件標準 樣本，具有標準化的工作參數(shù)與信號收發(fā)模式。信號收發(fā)器22接收第一測試資料后，即將 第一測試資料的接收結(jié)果形成一第一結(jié)果資料，此第一結(jié)果資料會被傳送至第一主機31， 并由第一主機31轉(zhuǎn)送至第二主機41，第二主機41即根據(jù)此第一結(jié)果資料決定第一元件51 運作是否正常，即完成第二測試設(shè)備對第一元件51的第二測試。第二測試設(shè)備完成對第一 元件51的第二測試時，第二主機是發(fā)出一第二觸發(fā)信號至儀器驅(qū)動模塊20，儀器驅(qū)動模塊 20會從第二載具42卸除第一元件51。至此完成測試第一元件51的全程測試。當?shù)诙y試設(shè)備對第一元件51進行第二測試期間，第一主機31是偵測第二元件 52已被裝載于第一載具32時，第一主機31會從儀器驅(qū)動模塊20取得一第二程序以驅(qū)動、 設(shè)定與控制第二元件52。在此說明，本實施例中，第一元件51與第二元件52是相同架構(gòu)、 功能的受測元件，故儀器驅(qū)動模塊20提供第一程序與第二程序是相同。第一主機31是控制第二元件52發(fā)出一第二信號，此第二信號是由功率計21所接 收，功率計21是分析第二信號的信號強度，以產(chǎn)生一第二信號強度資料，并傳輸?shù)诙盘?強度資料至儀器驅(qū)動模塊20。儀器驅(qū)動模塊20是根據(jù)第二信號強度資料提供一第二修正 程序給第一主機31，第一主機31根據(jù)第二修正程序調(diào)整第二元件52的至少一工作參數(shù)。 第二元件52的工作參數(shù)是選自于由第一元件51用以輸出第二信號的至少一控制設(shè)定值、 一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成的群組。當?shù)谝恢鳈C31完成對第二元件52的第一測試后，即發(fā)出對應(yīng)第二元件52的第一 觸發(fā)信號。儀器驅(qū)動模塊20是控制裝卸模塊60從第一測試設(shè)備卸除第二元件52，并裝載 于第二測試設(shè)備。當一第三元件53存在時，儀器驅(qū)動模塊20是裝載第三元件53于第一測試設(shè)備，第二測試設(shè)備會對第二元件52進行第二測試，則第一測試設(shè)備對第三元件53進行 第一測試，以達成平行執(zhí)行第三元件53的第一測試與第二元件52的第二測試。在此假設(shè)，第二測試的時間比第一測試的時間長時，當儀器驅(qū)動模塊20判斷第一 測試設(shè)備完成對第二元件52的第一測試，第二測試設(shè)備未完成對第一元件51的第二測試 時(取得第一觸發(fā)信號但未取得第二觸發(fā)信號)，儀器驅(qū)動模塊20會等待第二測試設(shè)備完 成對第一元件51的第二測試(即取得第二觸發(fā)信號)，以控制裝卸模塊60卸除第一元件 51，再控制裝卸模塊60從第一測試設(shè)備卸除第二元件52并裝載至第二測試設(shè)備。同理，當儀器驅(qū)動模塊20判斷第一測試設(shè)備完成對第三元件的第一測試，且第二 測試設(shè)備未完成對第二元件52的第二測試時(取得第一觸發(fā)信號但未取得第二觸發(fā)信 號)，儀器驅(qū)動模塊20會等待第二測試設(shè)備完成對第二元件52的第二測試(即取得第二觸 發(fā)信號)，以控制裝卸模塊60卸除第二元件52，再控制裝卸模塊60從第一測試設(shè)備卸除第 三元件53并裝載至第二測試設(shè)備。由此得知，儀器驅(qū)動模塊20判斷第一測試設(shè)備已完成第一測試，但第二測試設(shè)備 仍在執(zhí)行第二測試時，需等待第二測試完成再進行元件卸除作業(yè)。相反假設(shè)，第二測試的時間比第一測試的時間短。當儀器驅(qū)動模塊20判斷第二測 試設(shè)備完成對第一元件51的第二測試時，儀器驅(qū)動模塊20會控制裝卸模塊60卸除第一元 件51。則第一測試設(shè)備完成對第二元件52的第一測試時，第二測試設(shè)備已完成對第一元件 51的第二測試，儀器驅(qū)動模塊20會在第一元件51完成卸除后，控制裝卸模塊60從第一測 試設(shè)備卸除第二元件52并裝載至第二測試設(shè)備。同理，當儀器驅(qū)動模塊20判斷第二測試設(shè)備完成對第二元件52的第二測試時，儀 器驅(qū)動模塊20會控制裝卸模塊60卸除第二元件52。則第一測試設(shè)備完成對第三元件53 的第一測試時，第二測試設(shè)備已完成對第二元件52的第二測試，儀器驅(qū)動模塊20會在第二 元件52完成卸除后，控制裝卸模塊60從第一測試設(shè)備卸除第三元件53并裝載至第二測試 設(shè)備。至此得知，第二測試設(shè)備執(zhí)行第二測試的動作，與第一測試設(shè)備執(zhí)行第一測試的 動作，是形成平行執(zhí)行，于一時間內(nèi)，由一管線式元件測試系統(tǒng)同時對兩連續(xù)順序的測試元 件進行不同的測試項目，以有效降低所需設(shè)備，并維持一定程度的受測元件測試的執(zhí)行效率。請參照圖3，其為本發(fā)明管線式元件測試方法較佳實施例的流程圖，請同時參照圖 4A或圖4B以利于了解，圖4A是本發(fā)明實施例的管線式元件測試流程時序圖的一例，圖4B 是本發(fā)明實施例的管線式元件測試流程時序圖的另一例，圖4A中，第一測試的時間高于第 二測試的執(zhí)行時間，圖4B中，第一測試的時間低于第二測試的執(zhí)行時間。圖3所示的管線 式元件測試流程是應(yīng)用于圖2A與圖2B所示的管線式元件測試系統(tǒng)。此管線式元件測試方 法包含經(jīng)由儀器驅(qū)動模塊20控制裝卸模塊60裝載一第一元件51于第一測試設(shè)備(步 驟 Sl10)。在本實施例中，將每一元件的受測流程劃分為數(shù)個作業(yè)。假設(shè)裝卸模塊裝載受測 元件至第一測試設(shè)備的時間為8秒，從第二測試設(shè)備卸除受測元件的時間也為8秒，將受測 元件從第一測試設(shè)備卸除并裝載至第二測試設(shè)備的時間同為8秒。圖4A中，第一測試設(shè)備執(zhí)行第一測試的時間為32. 8秒，第二測試設(shè)備執(zhí)行第二測試的時間為21. 2秒。圖4B中， 第一測試設(shè)備執(zhí)行第一測試的時間為21. 2秒，第二測試設(shè)備執(zhí)行第二測試的時間為32.8秒。如圖4A與圖4B，從0秒時，儀器驅(qū)動模塊20是控制裝卸模塊60裝載第一元件51 至第一主機31所連接的第一載具32，并在8秒左右完成第一元件51的裝載作業(yè)。然而，為 使作業(yè)時間更為精準，第一主機31可于偵測到任一受測元件被裝載于第一載具32時，輸出 一第一告知信號提示儀器驅(qū)動模塊20 元件已被裝載完成。第一測試設(shè)備對第一元件51執(zhí)行一第一測試后，輸出一第一觸發(fā)信號(步驟 S120)。就圖4A與圖4B所示，第一主機31會在8秒時，開始對第一元件51的第一測試。 第一主機31會告知儀器驅(qū)動模塊20所裝載的第一元件51的規(guī)格，以取得儀器驅(qū)動模塊20 提供的第一程序。第一主機31會根據(jù)第一程序設(shè)定第一元件51的至少一個工作參數(shù)，以 開始對第一元件51進行第一測試。第一主機31會在第一測試完成后，輸出第一觸發(fā)信號 至儀器驅(qū)動模塊20。儀器驅(qū)動模塊20取得第一觸發(fā)信號時，控制裝卸模塊卸除第一元件51并裝載于 第二測試設(shè)備執(zhí)行一第二測試，并裝載一第二元件52于第一測試設(shè)備執(zhí)行該第一測試(步 驟 S130)。就圖4A而言，第一測試時間需要32. 8秒的時間，因此儀器驅(qū)動模塊20會在40. 8 秒時取得第一觸發(fā)信號。此時，儀器驅(qū)動模塊20會控制裝卸模塊60從第一載具32將第一 元件51卸除(unload)以裝載(load)于第二主機41連接的第二載具42，再裝載一第二元 件52于第一主機31連接的第一載具32。就圖4B而言，第一測試時間需要21. 8秒的時間，因此儀器驅(qū)動模塊20會在29. 2
秒時取得第一觸發(fā)信號。第二測試設(shè)備于第一元件被裝載完成時執(zhí)行一第二測試(步驟S140)。從圖4A得知，裝卸模塊60將第一元件51從第一載具32卸除，并裝載至第二載具42的時間需要8 秒。因此第一元件51完成裝載于第二載具42的時間為48. 8秒，而第二主機41偵測到第 一元件51被完整裝載于第二載具42的時間同為48. 8秒。因此，第二主機41會在48. 8秒 開始對第一元件51進行第二測試，并在70. 0秒完成。在48. 8秒左右，儀器驅(qū)動模塊20會在第一元件51裝載完成后，立即控制裝卸模塊60裝載一第二元件52于第一載具32中，第二元件52會在56. 8秒左右被裝載完成。從圖4B得知，第一元件51完成裝載于第二載具42的時間為37.2秒左右，而第二主機41偵測到第一元件51被完整裝載于第二載具42的時間同為37. 2秒左右。因此，第 二主機41會在37. 2秒開始對第一元件51進行第二測試，并在70.0秒完成。在37. 2秒時，儀器驅(qū)動模塊20會在第一元件51裝載完成后，立即控制裝卸模塊60裝載一第二元件52于第一載具32中，第二元件52會在45. 2秒被裝載完成。然而，為使作業(yè)時間更為精準，第二主機41可于偵測到任何受測元件被裝載于第二載具42時，輸出一第二告知信號提示儀器驅(qū)動模塊20元件已被裝載完成。當?shù)诙y試設(shè)備對第一元件51執(zhí)行一第二測試時，則第一測試設(shè)備對第二元件52執(zhí)行第一測試，以達成平行執(zhí)行(步驟S150)。
從圖4A得知，第二元件52會在56. 8秒被裝載完成，第一測試設(shè)備會在56. 8秒開 始測試對第二元件52進行第一測試，并在89. 6秒完成。從圖4B得知，第二元件52會在45. 2秒左右被裝載完成，第一測試設(shè)備會在45. 2 秒開始測試對第二元件52進行第一測試，并在66. 4秒完成。第二測試設(shè)備對第一元件51 執(zhí)行一第二測試的動作，與第一測試設(shè)備對第二元件52執(zhí)行第一測試的動作是形成平行 執(zhí)行。當?shù)诙鳈C41判斷對第一元件51完成執(zhí)行第二測試后，第二主機41會輸出一第 二觸發(fā)信號。當儀器驅(qū)動模塊20取得第二觸發(fā)信號時，儀器驅(qū)動模塊20是優(yōu)先控制卸除 模塊60從第二測試設(shè)備卸除第一元件51。請同時參照圖5A與圖5B，圖5A為本發(fā)明管線式元件測試方法較佳實施例的第二 測試設(shè)備裝卸元件流程圖，圖5B為本發(fā)明管線式元件測試方法較佳實施例的第二測試設(shè) 備裝卸元件流程圖。請同時協(xié)同圖4A與圖4B以利于了解。此等裝卸作業(yè)是由儀器驅(qū)動模 塊20所判斷執(zhí)行，第二測試設(shè)備卸除元件方式如圖5A所示當?shù)诙y試設(shè)備完成對第一元件執(zhí)行一第二測試后，是輸出一第二觸發(fā)信號(步 驟S201)。儀器驅(qū)動模20組取得此第二觸發(fā)信號時，控制裝卸模塊60從第二測試設(shè)備卸除 第一元件(步驟S202)。此兩步驟即代表第二測試設(shè)備告知儀器驅(qū)動模塊20完成第一元件51的第二測 試，請儀器驅(qū)動模塊20對第一元件51進行元件卸除作業(yè)，即完成第一元件51的全程測試 作業(yè)。就圖4A與圖4B，第二測試設(shè)備會于70秒時請儀器驅(qū)動模塊20卸除第一元件51，于 78秒時卸除完成。另一方面，第一測試設(shè)備卸除元件方式如圖5B所示當儀器驅(qū)動模塊20取得對應(yīng)第二元件52的第一觸發(fā)信號時，是判斷是否已取得 對應(yīng)第一元件51的第二觸發(fā)信號(步驟S210)。當儀器驅(qū)動模塊20取得對應(yīng)第二元件52的第一觸發(fā)信號，可得知第一測試設(shè)備 已完成對第二元件52的第一測試，而判斷是否已先取得對應(yīng)第一元件51的第二觸發(fā)信號， 以判斷第二測試設(shè)備是否完成對第一元件51的第二測試。當儀器驅(qū)動模塊20取得對應(yīng)第二元件52的第一觸發(fā)信號，但未取得對應(yīng)第一元 件51的第二觸發(fā)信號時，即代表第二測試設(shè)備未完成對第一元件51的第二測試。此時，儀 器驅(qū)動模塊20不會對裝卸模塊60輸出任何的控制指令，裝卸模塊60是處于停止情形。儀 器驅(qū)動模塊20會持續(xù)判斷是否取得對應(yīng)第一元件51的第二觸發(fā)信號。在此說明，此等類 型是應(yīng)用于第二測試的測試時間比第一測試的測試時間較長的測試系統(tǒng)。如圖4B所示，第 二元件完成第一測試的時間在66. 4秒，儀器驅(qū)動模塊20尚未取得對應(yīng)第一元件51的第二 觸發(fā)信號，故不會作任何動作，直至70秒取得第一元件51的第二觸發(fā)信號后，并在第一元 件51被完成卸除后，即78. 0秒時，再控制裝卸模塊60裝載第二元件52至第二測試設(shè)備。當儀器驅(qū)動模塊20取得對應(yīng)第二元件52的第一觸發(fā)信號且已取得對應(yīng)第一元件 51的第二觸發(fā)信號時，是控制裝卸模塊60從第一測試設(shè)備卸除第二元件52并裝載至第二 測試設(shè)備，經(jīng)由第二測試設(shè)備對第二元件52進行第二測試(步驟S220)。如圖4A，儀器驅(qū) 動模塊20在70. 0秒取得對應(yīng)第一元件51的第二觸發(fā)信號時，代表第二測試設(shè)備已完成之 前執(zhí)行的第二測試，儀器驅(qū)動模塊20會在完成對第二測試設(shè)備的元件卸除作業(yè)后，即89. 6秒時，控制裝卸模塊60將第二元件52從第一測試設(shè)備卸除并裝載于第二測試設(shè)備。當有一第三元件存在時，儀器驅(qū)動模塊20會控制裝卸模塊60裝載第三元件至第一測試設(shè)備在第二測試執(zhí)行期間，以供第一測試設(shè)備對第三元件53進行第一測試(步驟 S230)。然而，當?shù)诙y試設(shè)備對第二元件52進行第二測試時，則第一測試設(shè)備對第三元件53進行第一測試的動作，以達成平行執(zhí)行。請參照圖6，其為本發(fā)明管線式元件測試方法較佳實施例的第一測試的流程示意圖，在此是以第一元件51進行說明，但適用于各裝載于第一測試設(shè)備的受測元件。此方法 包含第一測試設(shè)備從儀器驅(qū)動模塊20取得一第一程序(步驟S121)，以藉由第一程序來驅(qū)動、設(shè)定與控制第一元件51。第一測試設(shè)備控制第一元件51輸出一第一信號(步驟S122)。第一主機31在取得第一程序后，是根據(jù)第一程序設(shè)定第一元件51的工作參數(shù)，并控制第一元件51輸出一第
一信號。利用一功率計21分析第一信號以輸出一第一信號強度資料至儀器驅(qū)動模塊20，儀器驅(qū)動模塊20是根據(jù)第一信號強度資料產(chǎn)生一第一修正程序(步驟S123)。功率計21會接收第一信號，并分析第一信號的強度與第一元件51傳輸?shù)谝恍盘柕姆€(wěn)定度，根據(jù)分析結(jié)果產(chǎn)生一第一信號強度資料，此第一信號強度資料會被傳輸至儀器 驅(qū)動模塊20。儀器驅(qū)動模塊20根據(jù)第一信號強度資料對先前的第一程序進行修正形成第 一修正程序，再輸出第一修正程序至第一測試設(shè)備。在此說明，儀器驅(qū)動模塊20是具有第一元件51的一最佳運作資料，儀器驅(qū)動模塊20會將第一信號強度資料與此最佳運作資料相比對，決定第一元件51較適當?shù)墓ぷ鲄?shù)， 根據(jù)此工作參數(shù)調(diào)整第一程序形成第一修正程序，再輸出給第一主機31。第一測試設(shè)備從儀器驅(qū)動模塊20取得第一修正程序，以設(shè)定第一元件51的至少一工作參數(shù)(步驟S124)，再根據(jù)第一修正程序調(diào)整第一元件51的工作參數(shù)。第一元件51的工作參數(shù)是選自于由第一元件51輸出第一信號的至少一控制設(shè)定值、一工作電壓、一工作電流與一運作功率所組成的群組。請參照圖7，其為本發(fā)明管線式元件測試方法較佳實施例的第二測試的流程示意圖，在此是以第一元件51進行說明，但適用于各裝載于第二測試設(shè)備的受測元件。此方法 包含第二測試設(shè)備從第一測試設(shè)備取得第一元件51的至少一工作參數(shù)(步驟S141)。從第一測試設(shè)備取得第一元件51的工作參數(shù)的原因有二，一為第二主機41可以相同的控 制參數(shù)來控制第一元件51進行工作；另一者為，從第一主機31取得第一元件51的所有資 料，以進行資料匹配比對，避免第二主機41使用到其它受測元件的工作參數(shù)來控制第一元 件51。第二測試設(shè)備控制第一元件51輸出一第一測試資料(步驟S142)。第二主機41是根據(jù)上述的工作參數(shù)來設(shè)定與控制第一元件51輸出第一測試資料。利用一信號收發(fā)器22接收第一測試資料以產(chǎn)生一第一結(jié)果資料(步驟S143)。如前所述，信號收發(fā)器22本身就是標準規(guī)格的元件標準樣本，信號收發(fā)器22在取得此第一測試資料時，根據(jù)第一測試資料的接收情形產(chǎn)生第一結(jié)果資料，第一結(jié)果資料會被回傳給第 二主機41。第二測試設(shè)備根據(jù)第一結(jié)果資料決定第一元件51是否運作正常(步驟S144)。第 二主機41取得第一結(jié)果資料時，會將其與輸出的第一測試資料相比較，以判斷第一元件51 是否為可正常運作的元件。就圖4A或圖4B所示時間流程而言，至此，第一元件51的全數(shù) 測試作業(yè)完成，并完成于70秒。同理，第二元件52于兩測試的流程如下說明第一測試設(shè)備從儀器驅(qū)動模塊20取得一第二程序，以藉由第二程序來驅(qū)動、設(shè)定 與控制第二元件52。第一主機31在取得第二程序后，是根據(jù)第二程序設(shè)定第二元件52的 工作參數(shù)，并控制第二元件52輸出一第二信號。功率計21會接收第二信號，并分析第二信號的強度與第二元件52傳輸?shù)诙盘?的穩(wěn)定度，根據(jù)分析結(jié)果產(chǎn)生一第二信號強度資料，此第二信號強度資料會被傳輸至儀器 驅(qū)動模塊20。儀器驅(qū)動模塊20根據(jù)第二信號強度資料對先前的第二程序進行修正形成第 二修正程序，再輸出第二修正程序至第一測試設(shè)備。而且第二元件52的第一測試會與第一 元件51的第二測試達成平行執(zhí)行。第二測試設(shè)備從儀器驅(qū)動模塊20取得第一修正程序，以設(shè)定第二元件52的至少 一工作參數(shù)，再根據(jù)第二修正程序調(diào)整第二元件52的工作參數(shù)。第二元件52的工作參數(shù) 是選自于由第二元件52輸出第二信號的至少一控制設(shè)定值、一工作電壓、一工作電流與一 運作功率所組成的群組。當?shù)诙?2被裝載于第二測試設(shè)備后，第二測試設(shè)備從第一測試設(shè)備取得第 二元件52的至少一工作參數(shù)。第二主機41是根據(jù)上述的工作參數(shù)來設(shè)定與控制第二元件 52輸出第二測試資料。信號收發(fā)器22在取得此第二測試資料時，根據(jù)第二測試資料的接收情形產(chǎn)生第 二結(jié)果資料，第二結(jié)果資料會被回傳給第二主機41。第二主機41取得第二結(jié)果資料時，會將其與輸出的第二測試資料相比較，以判斷 第二元件52是否為可正常運作的元件。就圖4A或圖4B所示流程而言，至此，第二元件52 的全數(shù)測試作業(yè)完成，并完成于118. 8秒。從圖4得知，儀器驅(qū)動模塊20是將裝載元件于第一測試設(shè)備的時間穿插于第二測 試設(shè)備執(zhí)行第二測試的時間，將從第二測試設(shè)備卸除元件的時間穿插于第一測試設(shè)備執(zhí)行 第一測試的時間，以及將轉(zhuǎn)移裝載元件的時間穿插于第一測試的時間與第二測試的時間的空檔。就本實施例來說，將管線式元件測試設(shè)備的執(zhí)行時間劃分為多個相同時間單位， 在第一時間單位單獨執(zhí)行第一測試設(shè)備的第一測試，與最后一個時間單位單獨執(zhí)行第二測 試設(shè)備的第二測試外。在其它時間單位中，每一時間單位是同步、或平行執(zhí)行第一測試設(shè)備 的第一測試與第二測試設(shè)備的第二測試，使得一個時間單位內(nèi)可實質(zhì)上完成多個受測元件 的測試行為。就圖4A來說，每一時間間隔約為48. 8秒。在0秒至8秒時完成第一元件51裝載 于第一測試設(shè)備，在8秒至40. 8秒完成第一元件51的第一測試。而40. 8秒至48. 8秒期 間，第一元件51從第一測試設(shè)備轉(zhuǎn)移裝載至第二測試設(shè)備，此時，第一個時間單位完結(jié)。
48. 8秒時，第二測試設(shè)備開始第一元件51的第二測試，至70. 0秒完成第一元件 51的第二測試，并于78秒完成第一元件51的卸除。第二元件52會在48. 8秒至56. 8秒 期間，完成被裝載于第一測試設(shè)備的動作，第一測試設(shè)備是于56. 8秒開始對第二元件52進 行第一測試，在89. 6秒完成對第二元件52的第一測試。而89. 6秒至97. 6秒期間，第二元 件52是完成被轉(zhuǎn)移裝載于第二測試設(shè)備，此時，第二個時間單位完結(jié)。而第二個時間單位 起算，每一個時間單位是符合上述平行執(zhí)行第一測試設(shè)備的第一測試與第二測試設(shè)備的第 二測試。就圖4B來說，除第一個時間間隔為37. 2秒外，其它的時間間隔約為40. 8秒。在 0秒至8秒時完成第一元件51裝載于第一測試設(shè)備，在8秒至29. 2秒完成第一元件51的 第一測試。而29. 2秒至37. 2秒期間，第一元件51從第一測試設(shè)備轉(zhuǎn)移裝載至第二測試設(shè) 備，此時，第一個時間單位完結(jié)。37. 2秒時，第二測試設(shè)備開始第一元件51的第二測試，至70. 0秒完成第一元件 51的第二測試，并于78秒完成第一元件51的卸除。第二元件52會在37. 2秒至45. 2秒期 間，完成被裝載于第一測試設(shè)備的動作，第一測試設(shè)備是于45. 2秒開始對第二元件52進行 第一測試，在66. 4秒完成對第二元件52的第一測試。但第一元件在78. 0秒才完成卸除， 故78. 0秒至86. 0秒期間，第二元件52才會被轉(zhuǎn)移裝載于第二測試設(shè)備，此時，第二個時間 單位完結(jié)。而第二個時間單位起算，每一個時間單位是符合上述平行執(zhí)行第一測試設(shè)備的 第一測試與第二測試設(shè)備的第二測試。從圖4A與圖4B得知，每一個受測元件完成受測時間為78秒，以兩個受測元件而 言，一般的元件測試系統(tǒng)需要156秒。而本發(fā)明揭露的管線式元件測試方法與系統(tǒng)，兩個受 測元件的受測時間僅需126. 8秒，縮短將近30秒。以四個受測元件而言，一般的元件測試 系統(tǒng)需要316秒，而本發(fā)明揭露的管線式元件測試方法與系統(tǒng)，四個受測元件的受測時間 僅需要224. 6秒，縮短將近92秒。因此，受測元件越多，實質(zhì)上可縮短比一般元件測試系統(tǒng)更多的測試時間。而且無 需增設(shè)硬件設(shè)備，確實有效降低所需設(shè)備成本，并維持一定程度的受測元件測試的執(zhí)行效率。以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖 然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人 員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當可利用上述揭示的方法及技術(shù)內(nèi)容作出些許的更 動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的 技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案 的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
一種管線式元件測試系統(tǒng)，其特征在于包含一第一測試設(shè)備，用以進行一第一測試，并于該第一測試完成時輸出一第一觸發(fā)信號；一第二測試設(shè)備，用以進行一第二測試；一裝卸模塊；以及一儀器驅(qū)動模塊，是控制該裝卸模塊裝載一第一元件于該第一測試設(shè)備，以對該第一元件進行該第一測試，及該儀器驅(qū)動模塊取得該第一觸發(fā)信號時，控制該裝卸模塊將該第一元件從該第一測試設(shè)備卸除以裝載于該第二測試設(shè)備，以對該第一元件進行該第二測試，且裝載一第二元件于該第一測試設(shè)備以對該第二元件進行該第一測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的管線式元件測試系統(tǒng)，其特征在于其中當該第二測試設(shè)備對 該第一元件執(zhí)行該第二測試時，該第一測試設(shè)備對該第二元件執(zhí)行該第一測試，以達成平 行執(zhí)行。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的管線式元件測試系統(tǒng)，其特征在于其中所述的第二測試設(shè) 備完成對該第一元件的該第二測試時，發(fā)出一第二觸發(fā)信號，該儀器驅(qū)動模塊是控制該裝 卸模塊從該第二測試設(shè)備卸除該第一元件，當所述的儀器驅(qū)動模塊判斷該第一測試設(shè)備完 成對該第二組件的該第一測試，且該第二測試設(shè)備未完成對該第一組件的該第二測試時， 是等待該第二測試設(shè)備完成對該第一組件的該第二測試，以控制該裝卸模塊卸除該第一組 件，再控制該裝卸模塊從該第一測試設(shè)備卸除該第二組件并裝載至該第二測試設(shè)備，之后 所述的儀器驅(qū)動模塊還裝載一第三元件于該第一測試設(shè)備，當該第二測試設(shè)備對該第二元 件執(zhí)行該第二測試時，該第一測試設(shè)備對該第三元件執(zhí)行該第一測試，以達成平行執(zhí)行。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的管線式元件測試系統(tǒng)，其特征在于其中所述的儀器驅(qū)動模塊 包含多個驅(qū)動程序，并從所述多個驅(qū)動程序中取出一程序給予該第一測試設(shè)備，供該第一 測試設(shè)備設(shè)定所裝載的該第一元件的工作參數(shù)或設(shè)定所裝載的該第二元件的工作參數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的管線式元件測試系統(tǒng)，其特征在于其中所述的該第一測試設(shè) 備包含一第一主機，連接該儀器驅(qū)動模塊，在裝載該第一元件時控制該第一元件輸出一第一 信號，及取得一第一修正程序時調(diào)整該第一元件的至少一工作參數(shù)并輸出對應(yīng)該第一元件 的該第一觸發(fā)信號，以及在裝載該第二元件時控制該第二元件輸出一第二信號，及取得一 第二修正程序時調(diào)整該第二元件的至少一工作參數(shù)并輸出對應(yīng)該第二元件的該第一觸發(fā) 信號；以及一功率計，分析該第一信號以輸出一第一信號強度資料，該儀器驅(qū)動模塊根據(jù)該第一 信號強度資料提供該第一修正程序給該第一主機，以及分析該第二信號以輸出一第二信號 強度資料，該儀器驅(qū)動模塊根據(jù)該第二信號強度資料提供該第二修正程序給該第一主機。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的管線式元件測試系統(tǒng)，其特征在于其中所述的第二測試設(shè)備 包含一第二主機，連接該第一主機，在裝載該第一元件時從該第一主機取得該第一元件的 該至少一工作參數(shù)并控制該第一元件輸出一第一測試資料，及在裝載該第二元件時從該第 一主機取得該第二元件的該至少一工作參數(shù)并控制該第二元件輸出一第二測試資料，以及 取得一第一結(jié)果資料時決定該第一元件是否運作正常，與取得一第二結(jié)果資料時決定該第二元件是否運作正常；以及一信號收發(fā)器，接收該第一測試資料以輸出該第一結(jié)果資料至該第二主機，以及接收 該第二測試資料以輸出該第二結(jié)果資料至該第二主機。
7.一種管線式元件測試方法，是應(yīng)用一管線式元件測試系統(tǒng)，該管線式元件測試系統(tǒng) 包含一儀器控制模塊、一裝卸模塊、一第一測試設(shè)備與一第二測試設(shè)備，其特征在于該管線 式元件測試方法包括以下步驟經(jīng)由該儀器驅(qū)動模塊控制該裝卸模塊裝載一第一元件于該第一測試設(shè)備； 該第一測試設(shè)備對該第一元件執(zhí)行一第一測試后，輸出一第一觸發(fā)信號； 該儀器驅(qū)動模塊取得該第一觸發(fā)信號時，控制該裝卸模塊卸除該第一元件并裝載于該 第二測試設(shè)備執(zhí)行一第二測試，并裝載一第二元件于該第一測試設(shè)備執(zhí)行該第一測試；以 及當該第二測試設(shè)備對該第一元件執(zhí)行該第二測試時，則該第一測試設(shè)備對該第二元件 執(zhí)行該第一測試，以達成平行執(zhí)行。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的管線式元件測試方法，其特征在于其中還包含以下步驟 該第二測試設(shè)備完成對該第一元件執(zhí)行該第二測試后，是輸出一第二觸發(fā)信號；以及 經(jīng)由該儀器驅(qū)動模塊取得該第二觸發(fā)信號時，控制該裝卸模塊從該第二測試設(shè)備卸除該第一元件。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的管線式元件測試方法，其特征在于其中還包含以下步驟該第一測試設(shè)備對該第二元件執(zhí)行該第一測試后，輸出對應(yīng)該第二元件的該第一觸發(fā) 信號；當該儀器驅(qū)動模塊取得對應(yīng)該第二元件的該第一觸發(fā)信號，判斷是否已取得對應(yīng)該第 一元件的該第二觸發(fā)信號；當該儀器驅(qū)動模塊取得對應(yīng)該第二元件的該第一觸發(fā)信號但未取得對應(yīng)該第一元件 的該第二觸發(fā)信號時，是返回該判斷是否取得對應(yīng)該第一元件的該第二觸發(fā)信號的步驟； 以及當該儀器驅(qū)動模塊取得對應(yīng)該第二元件的該第一觸發(fā)信號且已取得對應(yīng)該第一元件 的該第二觸發(fā)信號時，是控制該裝卸模塊從該第一測試設(shè)備卸除該第二元件并裝載至該第 二測試設(shè)備。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的管線式元件測試方法，其特征在于其中還包含以下步驟 經(jīng)由該第二測試設(shè)備對該第二元件進行該第二測試；經(jīng)由該儀器驅(qū)動模塊控制該裝卸模塊裝載一第三元件至該第一測試設(shè)備執(zhí)行該第一 測試；以及經(jīng)由該第一測試設(shè)備對該第三元件進行該第一測試時，則該第二測試設(shè)備對該第二元 件進行該第二測試以達成平行執(zhí)行。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)于一種管線式元件測試系統(tǒng)及其方法。該系統(tǒng)包含一第一測試設(shè)備、一第二測試設(shè)備、一裝卸模塊與一儀器驅(qū)動模塊。第一測試設(shè)備用以進行一第一測試，第二測試設(shè)備用以進行一第二測試。儀器驅(qū)動模塊利用裝卸模塊裝卸元件于第一測試設(shè)備與第二測試設(shè)備，以控制第一測試設(shè)備與第二測試設(shè)備進行元件測試的執(zhí)行時間，使得第二測試設(shè)備對元件執(zhí)行第二測試與第一測試設(shè)備對次一元件執(zhí)行第一測試為平行執(zhí)行，以對連續(xù)順序的受測元件形成管線式的測試作業(yè)。
文檔編號G01R31/28GK101988947SQ20091016086
公開日2011年3月23日 申請日期2009年7月29日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月29日
發(fā)明者施云嚴, 蔡定一, 駱文彬 申請人:寶定科技股份有限公司