專利名稱：一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本技術(shù)主要應(yīng)用于邏輯芯片IC測(cè)試領(lǐng)域，特別是一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法。
背景技術(shù)：
眾所周知，提高測(cè)試效率的關(guān)鍵在于縮短測(cè)試時(shí)間。要保障芯片邏輯功能的 正確性就必須提高故障覆蓋率，為了達(dá)到這個(gè)目的必須創(chuàng)建測(cè)試向量進(jìn)行測(cè)試。 由于測(cè)試向量的容量大導(dǎo)致測(cè)試時(shí)間過長(zhǎng)，是當(dāng)前測(cè)試效率低、成本高的主要原 因。IC功能測(cè)試用于保證被測(cè)器件能夠正確完成預(yù)期功能。為了達(dá)到這個(gè)目的必須先建立測(cè)試向量，才能進(jìn)行檢測(cè)代測(cè)器件的錯(cuò)誤。測(cè)試向量也稱作圖形或者真值表一--由輸入和輸出狀態(tài)組成，具有以下三種狀態(tài)1、 邏輯0，輸入輸出0狀態(tài)；2、 邏輯l，輸入輸出l狀態(tài)；3、 忽略(X)，沒有輸入或者輸出不需要比較狀態(tài)。 測(cè)試向量分為1、 輸入數(shù)據(jù)測(cè)試向量一一需要送入待測(cè)系統(tǒng)的數(shù)據(jù)；2、 標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量--一期望IC回流的數(shù)據(jù)；3、 回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量一一IC實(shí)際回流的數(shù)據(jù)。如圖l所示，在現(xiàn)有的測(cè)試平臺(tái)中是將回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量全部存到存儲(chǔ)器中， 再由后臺(tái)從存儲(chǔ)器中取出回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較。在掃描鏈的測(cè)試中數(shù)據(jù)量大這是眾所周知的，而數(shù)據(jù)量大直接影響測(cè)試時(shí)間。 在現(xiàn)有的測(cè)試方法中是將回流數(shù)據(jù)先放在存儲(chǔ)器中，再由后臺(tái)軟件進(jìn)行處理，這 樣不僅測(cè)試速度慢而且需要較大的存儲(chǔ)空間。同時(shí)，后臺(tái)軟件的處理速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)比不上硬件處理的速度。而現(xiàn)有技術(shù)對(duì)忽略 數(shù)據(jù)位的處理是采用后臺(tái)軟件將標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量中的忽略信息提取出來，當(dāng)檢 測(cè)到是忽略數(shù)據(jù)后控制將其忽略，使之不參與比較。這樣的處理方法使得標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量的比較要慢一個(gè)節(jié)啪，而這部分時(shí)間大都消耗在了后臺(tái)軟件對(duì)忽略數(shù)據(jù)位的處理。這樣又大大增加了測(cè)試的時(shí)間。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明為解決上述問題，提供了一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法，回流數(shù)據(jù)不 需要放回存儲(chǔ)器，忽略數(shù)據(jù)位參與比較，可以大大節(jié)省存儲(chǔ)空間，而且測(cè)試時(shí)間 較短。本發(fā)明的技術(shù)方案如下一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法，將存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)測(cè)試向量輸入至待測(cè)系統(tǒng)， 待測(cè)系統(tǒng)輸出回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量，在存儲(chǔ)器中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量和回流數(shù)據(jù)測(cè) 試向量進(jìn)行對(duì)比的過程中，其特征在于首先判斷標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量是否含有忽 略數(shù)據(jù)，當(dāng)含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼，并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏蔽， 生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量，同時(shí)將回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量相同的位置也屏蔽，然后將屏 蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較判斷是否相同；當(dāng)不含有忽略數(shù)據(jù) 時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量直接進(jìn)行比較判斷是否相同。所述屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量等位寬。實(shí)現(xiàn)上述方法的調(diào)節(jié)對(duì)比電路，其特征在于設(shè)置有一個(gè)忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊，用于判斷忽略數(shù)據(jù)，對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼，并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏蔽，生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量；設(shè)置有一個(gè)比較模塊，用于標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較； 所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行判斷，當(dāng)含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼，并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏蔽，生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量，然后通過比較模塊對(duì)屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行判斷是否相同；當(dāng)不含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，直接通過比較模塊對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較判斷是否相同。所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊包括標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量數(shù)據(jù)通道。 所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊為一個(gè)邏輯電路，永遠(yuǎn)處于激活狀態(tài)。 對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量的忽略數(shù)據(jù)的位置進(jìn)行屏蔽時(shí)，該位置被置成邏輯0，其他位被置成邏輯l;同時(shí)，回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量相同的位置也置成邏輯O，其他位被置成邏輯l。所述比較模塊由兩個(gè)與門組成，屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量、回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量分別輸入至兩個(gè)與門，然后通過異或操作，得出比較結(jié)果，兩個(gè) 數(shù)據(jù)如果相同測(cè)輸出0，相異則輸出為l。本發(fā)明的有益效果如下本方法采用硬件實(shí)時(shí)比較，回流數(shù)據(jù)不需要放回存儲(chǔ)器，從而可以大大節(jié)省 存儲(chǔ)空間；由于是硬件實(shí)時(shí)對(duì)比的方法，忽略數(shù)據(jù)位經(jīng)過特殊處理后參與比較， 這樣測(cè)試時(shí)間較短。


圖1為傳統(tǒng)的測(cè)試向量對(duì)比方法示意2為本發(fā)明的對(duì)比示意3為本發(fā)明的忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊實(shí)現(xiàn)流程4為本發(fā)明對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量忽略位的解碼處理示意5為本發(fā)明的忽略數(shù)據(jù)位處理流程示意圖具體實(shí)施方式
如圖2-3所示， 一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法，將存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)測(cè)試向量 輸入至待測(cè)系統(tǒng)，待測(cè)系統(tǒng)輸出回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量，在存儲(chǔ)器中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試 向量和回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行對(duì)比的過程中，首先判斷標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量是否含 有忽略數(shù)據(jù)，當(dāng)含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼，并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏 蔽，生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量，同時(shí)將回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量相同的位置也屏蔽，然后 將屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較判斷是否相同；當(dāng)不含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量直接進(jìn)行比較判斷是否相同。 所述屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量等位寬。如圖2所示，虛線框?yàn)檎{(diào)節(jié)主要功能模塊，箭頭1為標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量數(shù)據(jù) 通路。實(shí)現(xiàn)上述方法的調(diào)節(jié)對(duì)比電路設(shè)置有一個(gè)忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊，用于判斷忽略數(shù)據(jù)，對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼， 并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏蔽，生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量；設(shè)置有一個(gè)比較模塊，用于標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較； 所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行判斷，當(dāng)含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)， 對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼，并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏蔽，生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量，然后 通過比較模塊對(duì)屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行判斷是否相同；當(dāng)不 含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，直接通過比較模塊對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較判斷是否相同。
所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊包括標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量數(shù)據(jù)通道。 所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊為一個(gè)邏輯電路，永遠(yuǎn)處于激活狀態(tài)。 對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量的忽略數(shù)據(jù)的位置進(jìn)行屏蔽時(shí)，該位置被置成邏輯o，其
他位被置成邏輯l;同時(shí)，回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量相同的位置也置成邏輯O，其他位被
置成邏輯l。
所述比較模塊由兩個(gè)與門組成，屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量、回 流數(shù)據(jù)測(cè)試向量分別輸入至兩個(gè)與門，然后通過異或操作，得出比較結(jié)果，兩個(gè) 數(shù)據(jù)如果相同測(cè)輸出0，相異則輸出為1。
有了忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊和比較模塊兩個(gè)邏輯電路的配合，回流數(shù)據(jù)測(cè)試向 量不需要放回存儲(chǔ)器后再通過后臺(tái)軟件進(jìn)行比較，可以直接進(jìn)行實(shí)時(shí)比較，即將 標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量和回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行異或操作。整個(gè)過程都是由邏輯電路 完成的，而且回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量不需要放會(huì)存儲(chǔ)器忽略數(shù)據(jù)位不需要由后臺(tái)軟件 判斷所以大大節(jié)約的測(cè)試時(shí)間和存儲(chǔ)空間。
如圖4所示，本調(diào)節(jié)對(duì)比方法的具體對(duì)比實(shí)例，標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量是32位寬 度，忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊讀入后進(jìn)行解碼，當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量中兩個(gè)X的位置 包含忽略數(shù)據(jù)時(shí)，該邏輯電路將產(chǎn)生一個(gè)與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量等位寬(32位寬度) 的數(shù)據(jù)，將兩個(gè)X的位置置為O。
如圖5所示，左邊數(shù)據(jù)為標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量，中間數(shù)據(jù)為屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量， 右邊數(shù)據(jù)為回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量。將忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊產(chǎn)生的屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量 通過兩個(gè)與門分別實(shí)現(xiàn)與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量和回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量相與，將標(biāo)準(zhǔn)數(shù) 據(jù)測(cè)試向量和回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量的忽略數(shù)據(jù)位置成0。
權(quán)利要求
1、一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法，將存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)測(cè)試向量輸入至待測(cè)系統(tǒng)，待測(cè)系統(tǒng)輸出回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量，在存儲(chǔ)器中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量和回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行對(duì)比的過程中，其特征在于首先判斷標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量是否含有忽略數(shù)據(jù)，當(dāng)含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼，并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏蔽，生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量，同時(shí)將回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量相同的位置也屏蔽，然后將屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較判斷是否相同；當(dāng)不含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量直接進(jìn)行比較判斷是否相同。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法，其特征在于所述屏 蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量等位寬。
3、 實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求l所述一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法的調(diào)節(jié)對(duì)比電路，其特 征在于 設(shè)置有一個(gè)忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊，用于判斷忽略數(shù)據(jù)，對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼， 并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏蔽，生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量；設(shè)置有一個(gè)比較模塊，用于標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較；所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行判斷，當(dāng)含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)， 對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼，并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏蔽，生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量，然后 通過比較模塊對(duì)屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行判斷是否相同；當(dāng)不 含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，直接通過比較模塊對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn) 行比較判斷是否相同。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的調(diào)節(jié)對(duì)比電路，其特征在于所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié) 模塊包括標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量數(shù)據(jù)通道。
5、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的調(diào)節(jié)對(duì)比電路，其特征在于所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié) 模塊為一個(gè)邏輯電路，永遠(yuǎn)處于激活狀態(tài)。
6、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的調(diào)節(jié)對(duì)比電路，其特征在于對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量 的忽略數(shù)據(jù)的位置進(jìn)行屏蔽時(shí)，該位置被置成邏輯O，其他位被置成邏輯l;同時(shí)， 回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量相同的位置也置成邏輯O，其他位被置成邏輯1。
7、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的調(diào)節(jié)對(duì)比電路，其特征在于所述比較模塊由兩個(gè)與門組成，屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量、回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量分別輸入 至兩個(gè)與門，然后通過異或操作，得出比較結(jié)果，兩個(gè)數(shù)據(jù)如果相同測(cè)輸出0，相異則輸出為1。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法，將存儲(chǔ)器中數(shù)據(jù)測(cè)試向量輸入至待測(cè)系統(tǒng)，待測(cè)系統(tǒng)輸出回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量，標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量和回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行對(duì)比的過程中，判斷標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量是否含有忽略數(shù)據(jù)，當(dāng)含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼并屏蔽忽略數(shù)據(jù)的位置，生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量，同時(shí)將回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量相同的位置也屏蔽，然后將屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較判斷是否相同；當(dāng)不含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量直接進(jìn)行比較；本方法采用硬件實(shí)時(shí)比較，回流數(shù)據(jù)不需放回存儲(chǔ)器，從而可以大大節(jié)省存儲(chǔ)空間；由于是硬件實(shí)時(shí)對(duì)比方法，忽略數(shù)據(jù)位經(jīng)過特殊處理后參與比較，測(cè)試時(shí)間較短。
文檔編號(hào)G01R31/317GK101644744SQ20091006023
公開日2010年2月10日 申請(qǐng)日期2009年8月3日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月3日
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