專利名稱：判斷燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及等離子顯示屏領(lǐng)域，尤其是一種在較短的時(shí)間內(nèi)以及無需停 產(chǎn)的情況下判斷隧道窯式燒成爐，具體地說是等離子顯示屏制備過程中判斷 燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性的方法。
背景技術(shù)：
等離子平板顯示屏Plasma Display Panel,簡稱PDP，是利用兩個(gè)電極間 加高壓，引發(fā)惰性氣體放電產(chǎn)生等離子體，等離子產(chǎn)生的紫外線激發(fā)對(duì)應(yīng)電 極區(qū)涂有的熒光粉發(fā)光進(jìn)行顯示的平面顯示屏。蔭罩式等離子顯示屏Shadow Mask Plasma Display Panel,簡稱SMPDP，是在原有PDP技術(shù)基礎(chǔ)上，利用 彩色陰極射線管CRT中的蔭罩板即金屬柵網(wǎng)板代替?zhèn)鹘y(tǒng)PDP中復(fù)雜的障壁制 造，獨(dú)立加工蔭罩板，并在其上制作熒光粉，最后將前基板、蔭罩板、后基 板以"三明治"的方式裝配起來制作成整屏。目前采用的蔭罩式等離子體顯示屏 主要包括前基板、后基板、蔭罩，如圖l所示。前基板從玻璃基板4起， 分別有掃描電極1、介質(zhì)層2以及在介質(zhì)層表面形成的保護(hù)層3組成；后基板 從玻璃基板5起，分別有與掃描電極1垂直的尋址電極6、介質(zhì)層7、以及在 介質(zhì)層表面形成的保護(hù)層8組成。包含電極的前后基板結(jié)構(gòu)如圖2、 3所示。 蔭罩是由導(dǎo)電材料加工而成的包含網(wǎng)孔陣列的金屬薄網(wǎng)板。其具備經(jīng)高溫?zé)?結(jié)后尺寸增大，再進(jìn)過低溫后蔭罩尺寸不會(huì)完全回縮的特性。R、 G、 B三色 熒光粉漿料分別按順序涂覆在蔭罩孔內(nèi)，如圖4、 5所示。
前后基板的制備過程需要經(jīng)過3~4次的燒結(jié)工藝，而燒成爐顯示溫度與 被燒成材料表面實(shí)際溫度是有差異的，通常為了保證燒成爐爐溫的準(zhǔn)確性和 均勻性是將熱電偶9的一頭貼付在玻璃基板的測(cè)量點(diǎn)上送進(jìn)燒成爐的爐膛10，
另一頭接到顯示溫度的監(jiān)控設(shè)備上進(jìn)行爐溫測(cè)量，如圖6示，在貼有熱電偶9的玻璃基板進(jìn)入每一個(gè)爐溫段時(shí)從監(jiān)控設(shè)備的溫度顯示器11上記錄下此時(shí)的 溫度，將其與設(shè)定溫度比較，再行數(shù)次校調(diào)，以達(dá)到工藝所需爐溫。但是， 運(yùn)用這樣的監(jiān)控方法時(shí)不能進(jìn)行正常的燒結(jié)工藝，而且將熱電偶放入燒成爐 內(nèi)對(duì)爐膛也產(chǎn)生了污染，測(cè)量溫度結(jié)束后還需要用干凈的光玻璃送進(jìn)燒成爐
的爐膛10,將爐膛內(nèi)落在玻璃上的臟物跟隨玻璃一起帶出，用以清潔爐膛，
這樣一條燒結(jié)曲線的監(jiān)控測(cè)量需要花將近一周左右的時(shí)間，既耽誤了生產(chǎn)， 也消耗了人力、物力和財(cái)力。不能達(dá)到準(zhǔn)確、高效、無污染和低成本的要求, 不能滿足現(xiàn)有生產(chǎn)的需要。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)傳統(tǒng)監(jiān)控爐溫的方法既耽誤生產(chǎn)，又造成污染的問 題，提出一種高效率、易實(shí)施、又能準(zhǔn)確反映爐溫的判斷燒成爐爐溫準(zhǔn)確性 和均勻性的方法。
本發(fā)明的技術(shù)方案是
一種判斷燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性的方法，它包括以下步驟
(a) .選一張蔭罩作為標(biāo)準(zhǔn)蔭罩，在標(biāo)準(zhǔn)蔭罩上選取測(cè)量點(diǎn)并記錄測(cè)量點(diǎn)
的中心坐標(biāo)的橫坐標(biāo)X、縱坐標(biāo)Y，在燒成爐爐溫正常的情況下，將標(biāo)準(zhǔn)蔭
罩放入燒成爐燒結(jié)的爐膛內(nèi)，燒結(jié)完成后，記錄標(biāo)準(zhǔn)蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)后的中
心坐標(biāo)X、 Y并記錄；
(b) .將標(biāo)準(zhǔn)蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)前后中心坐標(biāo)X、 Y的測(cè)量值進(jìn)行比較，得 出燒結(jié)前后標(biāo)準(zhǔn)蔭罩的測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)X、 Y的變化量即AX、 AY并將這個(gè) 數(shù)值作為標(biāo)準(zhǔn)值；
(c) .選取一張未燒結(jié)的與標(biāo)準(zhǔn)蔭罩相同的測(cè)量蔭罩，測(cè)量與標(biāo)準(zhǔn)蔭罩同 樣位置的實(shí)際測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)值X1、 Yl，然后放入燒成爐的爐膛內(nèi)燒結(jié)，測(cè) 量蔭罩燒結(jié)完成后，記錄測(cè)量蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)后的中心坐標(biāo)的橫坐標(biāo)X1、縱
坐標(biāo)Yl;
(d) .將測(cè)量蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)前后中心坐標(biāo)Xl、 Yl的測(cè)量值進(jìn)行比較， 得出燒結(jié)前后測(cè)量蔭罩的測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)X1、 Y1的變化量即AX1、 AY1;
4(e).將測(cè)量蔭罩的測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)變化量即AXl、 AY1分別與標(biāo)準(zhǔn)值 △X、 AY進(jìn)行比較得到差值，如果差值在所選蔭罩類型的合理誤差范圍內(nèi)， 誤差范圍是0-50um，爐溫正常，燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性符合要求；否則, 爐溫異常，燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性不符合要求。 本發(fā)明的測(cè)量點(diǎn)為八個(gè)。
本發(fā)明的標(biāo)準(zhǔn)蔭罩的測(cè)量點(diǎn)和測(cè)量蔭罩的測(cè)量點(diǎn)均位于同樣的固定區(qū)域內(nèi)。
本發(fā)明進(jìn)入燒成爐的蔭罩均放在石英墊板上面一起進(jìn)入燒成爐。 本發(fā)明的有益效果 -本發(fā)明利用蔭罩的高溫生長以后低溫尺寸不完全回縮的特性通過對(duì)蔭罩 燒結(jié)前后尺寸的測(cè)量與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較的方法的特性，能在準(zhǔn)確監(jiān)控爐溫的 同時(shí)又不耽誤生產(chǎn)，我們通過測(cè)量蔭罩的數(shù)據(jù)監(jiān)控爐溫的準(zhǔn)確性和均勻性， 提高了生產(chǎn)效率。
本發(fā)明的方法簡單，便于實(shí)施，省去了用熱電偶拉測(cè)爐溫的費(fèi)時(shí)、費(fèi)力。 能夠在生產(chǎn)的過程中隨時(shí)監(jiān)控爐溫的狀況。提高了生產(chǎn)效率，減少了對(duì)燒成 爐環(huán)境的污染，保證了燒成制品的品質(zhì)，達(dá)到了增產(chǎn)降耗的目的。


圖1是蔭罩式等離子顯示屏的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是前基板的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3是后基板的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4是蔭罩網(wǎng)孔的俯視結(jié)構(gòu)圖。
圖5是蔭罩網(wǎng)孔的橫截面示意圖。
圖6是用熱電偶測(cè)量爐溫示意圖。
圖7是本發(fā)明的蔭罩測(cè)量區(qū)域示意圖。
圖8是本發(fā)明的蔭罩送入燒成爐示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。
如圖8所示， 一種判斷燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性的方法，它包括以下
步驟
(a) .選一張蔭罩作為標(biāo)準(zhǔn)蔭罩，在標(biāo)準(zhǔn)蔭罩上選取測(cè)量點(diǎn)并記錄測(cè)量點(diǎn)的中 心坐標(biāo)的橫坐標(biāo)X、縱坐標(biāo)Y，在燒成爐爐溫正常的情況下，將標(biāo)準(zhǔn)蔭罩放 入燒成爐燒結(jié)的爐膛10內(nèi)，燒結(jié)完成后，記錄標(biāo)準(zhǔn)蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)后的中心 坐標(biāo)X、 Y并記錄；
(b) .將標(biāo)準(zhǔn)蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)前后中心坐標(biāo)X、 Y的測(cè)量值進(jìn)行比較，得.出燒 結(jié)前后標(biāo)準(zhǔn)蔭罩的測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)X、 Y的變化量即厶X、 AY并將這個(gè)數(shù)值 作為標(biāo)準(zhǔn)值；
(c) .選取一張未燒結(jié)的與標(biāo)準(zhǔn)蔭罩相同的測(cè)量蔭罩，測(cè)量與標(biāo)準(zhǔn)蔭罩同樣位 置的實(shí)際測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)值X1、 Yl，然后放入燒成爐的爐膛10內(nèi)燒結(jié)，測(cè) 量蔭罩燒結(jié)完成后，記錄測(cè)量蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)后的中心坐標(biāo)的橫坐標(biāo)X1、縱 坐標(biāo)Yl;
(d) .將測(cè)量蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)前后中心坐標(biāo)Xl、 Yl的測(cè)量值進(jìn)行比較，得出 燒結(jié)前后測(cè)量蔭罩的測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)X1、 Y1的變化量即AX1、 AY1;
(e) .將測(cè)量蔭罩的測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)變化量即AXl、 AY1分別與標(biāo)準(zhǔn)值A(chǔ)X、 △Y進(jìn)行比較得到差值，如果差值在所選蔭罩類型的合理誤差范圍內(nèi)，誤差范 圍是0-50um，爐溫正常，燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性符合要求；否則，爐溫 異常，燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性不符合要求。
本發(fā)明的測(cè)量點(diǎn)為八個(gè)，所述的標(biāo)準(zhǔn)蔭罩的測(cè)量點(diǎn)和測(cè)量蔭罩的測(cè)量點(diǎn) 均位于同樣的固定區(qū)域內(nèi)。
本發(fā)明進(jìn)入燒成爐的蔭罩均放在石英墊板12上面一起進(jìn)入燒成爐。
具體實(shí)施時(shí)
實(shí)施例一-
首先取一枚未進(jìn)過燒結(jié)的蔭罩作為標(biāo)準(zhǔn)蔭罩，參照附圖7測(cè)量固定的八 點(diǎn)(A點(diǎn) H點(diǎn))中心坐標(biāo)值(X、 Y)，在爐溫正常的情況下將此測(cè)量的蔭罩 參照附圖8送入燒成爐燒結(jié)，待燒結(jié)完成后同樣參照附圖7測(cè)量固定的八點(diǎn)(A點(diǎn) H點(diǎn))中心坐標(biāo)值(X、 Y)，將燒結(jié)前后八點(diǎn)坐標(biāo)值進(jìn)行比較，得出
(△X、 AY)，將此比較值作為該爐溫的標(biāo)準(zhǔn)值。
在生產(chǎn)過程中，當(dāng)需要監(jiān)控爐溫的準(zhǔn)確性和均勻性時(shí)，只要將一枚未燒 結(jié)的與標(biāo)準(zhǔn)蔭罩相同的蔭罩參照附圖7測(cè)量固定的八點(diǎn)(A點(diǎn) H點(diǎn))中心坐 標(biāo)值(Xl、 Yl),然后放入燒成爐，參照附圖8，燒結(jié)的蔭罩可以隨同生產(chǎn)需 要燒結(jié)的產(chǎn)品一同進(jìn)入燒成爐燒結(jié)。待該蔭罩燒結(jié)完成后同樣參照附圖7測(cè) 量固定的八點(diǎn)(A點(diǎn) H點(diǎn))中心坐標(biāo)值(Xl、 Yl)，將蔭罩燒結(jié)前后八點(diǎn)坐 標(biāo)值進(jìn)行比較，得出(AX1、厶Y1)。最后將(厶X1、 AY1)分別與標(biāo)準(zhǔn)值
(△X、 AY)比較，在等離子顯示器面板的燒結(jié)工藝中，蔭罩尺寸為 1097*618111111時(shí)，與標(biāo)準(zhǔn)值的差值小于50um左右是符合要求的，若超差這個(gè) 范圍那么就需要燒成工藝人員注意，此時(shí)爐溫存在異常，需要采取措施校正 爐溫。
實(shí)施例二
首先取一枚未經(jīng)過燒結(jié)的蔭罩作為標(biāo)準(zhǔn)蔭罩，在爐溫正常的情況下將此
蔭罩參照附圖8送入燒成爐燒結(jié)，待燒結(jié)完成后參照附圖7測(cè)量固定的八點(diǎn) (A點(diǎn) H點(diǎn))中心坐標(biāo)值(X、 Y)，將值作為該爐溫的標(biāo)準(zhǔn)值。
在生產(chǎn)過程中，當(dāng)需要監(jiān)控爐溫的準(zhǔn)確性和均勻性時(shí)，為了避免蔭罩間 本身的差異，只要將一枚未燒結(jié)的與標(biāo)準(zhǔn)蔭罩相同的同一批次的蔭罩放入燒 成爐，參照附圖8，燒結(jié)的蔭罩可以隨同生產(chǎn)需要燒結(jié)的產(chǎn)品一同進(jìn)入燒成爐 燒結(jié)。待該蔭罩燒結(jié)完成后同樣參照附圖7測(cè)量固定的八點(diǎn)(A點(diǎn) H點(diǎn))中 心坐標(biāo)值(Xl、 Yl)。最后將(Xl、 Yl)與標(biāo)準(zhǔn)值(X、 Y)進(jìn)行比較。蔭罩 尺寸為1097*61801111時(shí)，若比較的值小于10um此時(shí)燒成爐的爐溫是符合要求 的，反之，就需要燒成人員注意，此時(shí)爐溫存在異常，需要采取措施校正爐溫。
本發(fā)明未涉及部分均與現(xiàn)有技術(shù)相同或可采用現(xiàn)有技術(shù)加以實(shí)現(xiàn)。
權(quán)利要求
1、一種判斷燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性的方法，其特征是它包括以下步驟(a).選一張蔭罩作為標(biāo)準(zhǔn)蔭罩，在標(biāo)準(zhǔn)蔭罩上選取測(cè)量點(diǎn)并記錄測(cè)量點(diǎn)的中心坐標(biāo)的橫坐標(biāo)X、縱坐標(biāo)Y，在燒成爐爐溫正常的情況下，將標(biāo)準(zhǔn)蔭罩放入燒成爐燒結(jié)的爐膛(10)內(nèi)，燒結(jié)完成后，記錄標(biāo)準(zhǔn)蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)后的中心坐標(biāo)X、Y并記錄；(b).將標(biāo)準(zhǔn)蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)前后中心坐標(biāo)X、Y的測(cè)量值進(jìn)行比較，得出燒結(jié)前后標(biāo)準(zhǔn)蔭罩的測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)X、Y的變化量即ΔX、ΔY并將這個(gè)數(shù)值作為標(biāo)準(zhǔn)值；(c).選取一張未燒結(jié)的與標(biāo)準(zhǔn)蔭罩相同的測(cè)量蔭罩，測(cè)量與標(biāo)準(zhǔn)蔭罩同樣位置的實(shí)際測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)值X1、Y1，然后放入燒成爐的爐膛(10)內(nèi)燒結(jié)，測(cè)量蔭罩燒結(jié)完成后，記錄測(cè)量蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)后的中心坐標(biāo)的橫坐標(biāo)X1、縱坐標(biāo)Y1；(d).將測(cè)量蔭罩測(cè)量點(diǎn)燒結(jié)前后中心坐標(biāo)X1、Y1的測(cè)量值進(jìn)行比較，得出燒結(jié)前后測(cè)量蔭罩的測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)X1、Y1的變化量即ΔX1、ΔY1；(e).將測(cè)量蔭罩的測(cè)量點(diǎn)中心坐標(biāo)變化量即ΔX1、ΔY1分別與標(biāo)準(zhǔn)值ΔX、ΔY進(jìn)行比較得到差值，如果差值在所選蔭罩類型的合理誤差范圍內(nèi)，誤差范圍是0-50um，爐溫正常，燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性符合要求；否則，爐溫異常，燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性不符合要求。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的判斷燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性的方法，其特征是 所述的測(cè)量點(diǎn)為八個(gè)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的判斷燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性的方法，其特征是 所述的標(biāo)準(zhǔn)蔭罩的測(cè)量點(diǎn)和測(cè)量蔭罩的測(cè)量點(diǎn)均位于同樣的固定區(qū)域內(nèi)。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的判斷燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性的方法，其特征是 所述的進(jìn)入燒成爐的蔭罩均放在石英墊板(12)上面一起進(jìn)入燒成爐。
全文摘要
一種判斷燒成爐爐溫準(zhǔn)確性和均勻性的方法，它是主要利用蔭罩的高溫生長以后低溫尺寸不完全回縮的特性通過對(duì)蔭罩燒結(jié)前后尺寸的測(cè)量與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較的方法，從而判斷燒成爐爐溫的準(zhǔn)確性和均勻性。本發(fā)明的測(cè)量方法比較簡單，便于實(shí)施，具有提高了生產(chǎn)效率，減少了資源的浪費(fèi)和節(jié)約了生產(chǎn)成本的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01K5/48GK101526402SQ20091003081
公開日2009年9月9日 申請(qǐng)日期2009年4月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月16日
發(fā)明者朱立鋒, 杭岳琪, 林青園, 王保平 申請(qǐng)人:南京華顯高科有限公司