專利名稱：存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法及其測試工具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種發(fā)光二極管的測試方法及其測試工具，特別是涉及一種對存儲裝
置的發(fā)光二極管的測試方法及其測試工具。
背景技術(shù)：
隨著信息的快速且大量的成長，使得存儲裝置的容量也逐步的加大及加快。為了 能讓使用者明顯的辨認存儲裝置是否在存取中， 一般而言會在存儲裝置上會設(shè)置有一發(fā)光 二極管。當存儲裝置有數(shù)據(jù)被寫入/讀取時，存儲裝置會驅(qū)動發(fā)光二極管。在數(shù)據(jù)的寫入 過程中，發(fā)光二極管會根據(jù)寫入的頻率/時間影響其發(fā)光的頻率與時間。
對于生產(chǎn)廠商而言，為了測試存儲裝置的發(fā)光二極管的運作狀態(tài)。需要對存儲裝 置進行大量的數(shù)據(jù)存取，使得發(fā)光二極管持續(xù)的運作，測試人員才能判斷是否正常。這樣一 來，存儲裝置的壽命勢必受到損耗。因此，測試人員還提出利用基本輸入/輸出系統(tǒng)(Basic Input/Output System, BIOS)所提供的中斷方法來對發(fā)光二極管進行測試。但是，這種測 試方法有下列缺點1.發(fā)光二極管會出現(xiàn)閃爍的現(xiàn)象，而且在不同測試環(huán)境下閃爍的亮度 也有所不同。2.存儲裝置存取數(shù)據(jù)的方法也會對發(fā)光二極管的發(fā)光亮度產(chǎn)生影響。這是因 為存儲裝置中的緩沖區(qū)會對讀寫數(shù)據(jù)進行保存。所以當緩沖區(qū)中的數(shù)據(jù)量不足時，發(fā)光二 極管的發(fā)光量亦會受到影響。3.如果采用BIOS的中斷方式，會因為BIOS目前不支持存儲 裝置(如硬盤)的狀況較多。即使支持，它上面的發(fā)光二極管所發(fā)出亮度也達不到目標亮 度的要求。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供一種存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，用 于對存儲裝置的發(fā)光二極管進行壓力測試。 為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其特 征在于，對獨立的存儲裝置所屬的一發(fā)光二極管進行發(fā)光測試，該測試方法包括以下步 驟 將該存儲裝置連接于一測試工具，其具有一測試程序與多筆測試數(shù)據(jù)；
初始該存儲裝置； 執(zhí)行一測試程序，用以對該端口發(fā)送該些測試數(shù)據(jù)； 通過對該存儲裝置的存取，使得該存儲裝置驅(qū)動用以該發(fā)光二極管；以及
根據(jù)該發(fā)光二極管的亮度與發(fā)光頻率，用以判斷該發(fā)光二極管的運作狀態(tài)。
所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其中，該存儲裝置為一軟式磁碟機、一 硬式磁碟機、 一 閃存或一光學存儲裝置。 所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其中，在載入該測試程序還包括以下 步驟 從一周邊裝置接口設(shè)置空間中選擇相應(yīng)的一端口 ；
提供不同文件大小的多筆存儲數(shù)據(jù)；以及 分別對該存儲裝置中的各扇區(qū)逐次載入該些存儲數(shù)據(jù)。 所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其中，該些端口為lfOh或170h。
所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其中，在載入該測試程序還包括以下 步驟 從一周邊裝置接口設(shè)置空間中選擇相應(yīng)的該端口 ；
從該周邊裝置中調(diào)用該些存儲數(shù)據(jù)； 再經(jīng)過一預設(shè)時間后，調(diào)整該些存儲數(shù)據(jù)的調(diào)用頻率；以及 根據(jù)該些存儲數(shù)據(jù)的調(diào)用頻率，用以調(diào)整該些測試信號的發(fā)送頻率。 從本發(fā)明的另一觀點，本發(fā)明提出一種測試存儲裝置的發(fā)光二極管的測試工具，
其用以測試獨立的存儲裝置所屬的發(fā)光二極管。 為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種測試存儲裝置的發(fā)光二極管的測試工 具，其用以測試獨立的存儲裝置所屬的一發(fā)光二極管，其特征在于，該測試工具包括有
—連接接口，其用以連接于一存儲裝置的相應(yīng)的該連接接口 ；
—存儲單元，其用以存儲一測試程序與多筆測試數(shù)據(jù)；以及 —處理單元，其電性連接于該連接接口與該存儲單元，該處理單元用以執(zhí)行該測 試程序，用以選擇該存儲裝置的一端口并對該端口發(fā)送該些測試數(shù)據(jù)，通過對該存儲裝置 的該端口的存取，使得該存儲裝置驅(qū)動用以該發(fā)光二極管。 所述的測試存儲裝置的發(fā)光二極管的測試工具，其中，該存儲裝置為一軟式磁碟 機、 一硬式磁碟機、 一 閃存或一光學存儲裝置。 所述的測試存儲裝置的發(fā)光二極管的測試工具，其中，該些端口為lf0h或170h。
本發(fā)明提供一種對存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法。在本發(fā)明中通過訪問存儲 裝置的端口，用以驅(qū)動發(fā)光二極管的發(fā)光。使得測試人員不需通過讀寫文件的方式，也可以 驅(qū)動存儲裝置與其發(fā)光二極管運作。如此一來，除了可以降低存儲裝置的存取次數(shù)，亦可以 達成測試存儲裝置的發(fā)光二極管的目的。 以下結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明進行詳細描述，但不作為對本發(fā)明的限定。


圖1為本發(fā)明的架構(gòu)示意圖2為本發(fā)明的流程示意圖3為另一測試程序的流程示意圖
其中，附圖標記
110測試工具120存儲裝置121連接接口122處理單元123存儲單元124測試程序125測試數(shù)據(jù)
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明的技術(shù)方案作進一步更詳細的描述。
本發(fā)明提供一種對獨立的存儲裝置所屬的發(fā)光二極管進行亮度的測試。除了對存 儲數(shù)據(jù)的寫入進行測試外，還可以對發(fā)光二極管提供亮度與相應(yīng)的測試。請參考圖l所示， 其為本發(fā)明的架構(gòu)示意圖。在本發(fā)明中包括有測試工具110與存儲裝置120。測試工具 110中還包括有連接接口 121、處理單元122與存儲單元123。 存儲單元123用以存儲測試程序124與測試數(shù)據(jù)125。處理單元122用以執(zhí)行 測試程序124，并且根據(jù)測試程序124進行發(fā)送測試數(shù)據(jù)125至存儲裝置120。在本發(fā)明 中所述的存儲裝置120可以是軟式磁碟機、硬式磁碟機、閃存或光學存儲裝置等。在存儲 裝置120中至少包括有連接接口 121與發(fā)光二極管。其中，連接接口 121提供與測試工具 IIO相應(yīng)的硬件連接接口 121。舉例來說，連接接口 121可以是集成設(shè)備電路(Integrated Development Electronics, IDE)接P、串行高技術(shù)配置(Serial Advanced Technology Attachment, SATA)接口或萬用串行總線(Universal Serial Bus, USB)接口。測試工具 IIO通過連接接口 121與存儲裝置120相連接。 請參考圖2所示，其為本發(fā)明的流程示意圖。本發(fā)明所述的對存儲裝置120的發(fā) 光二極管的測試方法包括以下步驟 首先，將存儲裝置連接于測試工具(步驟S210)。 接著，再初始化存儲裝置(步驟S220)。此一步驟用以啟動存儲裝置，藉以開始進 行測試程序124。 再由測試工具執(zhí)行測試程序(步驟S230)。 通過對存儲裝置的存取，使得存儲裝置驅(qū)動用以發(fā)光二極管(步驟S240)。
根據(jù)發(fā)光二極管的亮度與發(fā)光頻率，用以判斷發(fā)光二極管的運作狀態(tài)(步驟 S250)。 在載入測試程序124中除了可以對存儲裝置120大量的存取測試數(shù)據(jù)外，還可以 利用下述不同的方式進行。首先，請參考圖3所示，其為另一測試程序的流程示意圖。
從周邊裝置接口設(shè)置空間(PCI configure space)中選擇相應(yīng)的端口 (步驟 S311)。 提供不同文件大小的多筆存儲數(shù)據(jù)(步驟S312)。 分別對存儲裝置中的各扇區(qū)逐次載入存儲數(shù)據(jù)(步驟S313)。 一般而言，根據(jù)周 邊裝置接口設(shè)置空間所提供的端口為lfOh或170h。當測試工具110通過上述的連接接 口 121傳輸測試數(shù)據(jù)125給存儲設(shè)備時，會同時的通過上述端口產(chǎn)生相應(yīng)的驅(qū)動信號。根 據(jù)該些驅(qū)動信號用以驅(qū)動存儲裝置120所屬的發(fā)光二極管發(fā)光。舉例來說，假設(shè)所找到的 classcode是lh， subclasscode是lh， 4h， 6h的配置空間。并從中獲取目前系統(tǒng)中可以訪 問存儲裝置的端口編號(port皿mber)。接著，再得到存儲裝置對應(yīng)的端口編號后，開始對 存儲裝置進行訪問。訪問存儲裝置的方法按照扇區(qū)進行，將扇區(qū)分為high, middle, low三 種數(shù)據(jù)分別送入對應(yīng)的端口編號中。然后，向端口下命令訪問對應(yīng)的扇區(qū)。例如，向端口下 70h且命令就是對其進行seek訪問。正是不間斷的訪問方式達到led持續(xù)亮的狀態(tài)。
更進一步，本發(fā)明可以利用不同寫入時間對發(fā)光二極管進行閃爍的測試。舉例來說，測試程序124中可以分別設(shè)定不同時間點或不同大小的測試數(shù)據(jù)125來對存儲裝置120 進行存取的動作。因為持續(xù)的寫入/讀取的動作會使得發(fā)光二極管持續(xù)的發(fā)亮。并無法有 效的看出發(fā)光二極管的閃爍。 本發(fā)明提供一種對存儲裝置120的發(fā)光二極管的測試方法。在本發(fā)明中通過訪問 存儲裝置120的端口，用以驅(qū)動發(fā)光二極管。使得測試人員不需通過讀寫文件的方式，也可 以驅(qū)動存儲裝置120與其發(fā)光二極管運作。如此一來，除了可以降低存儲裝置120的存取 次數(shù)，亦可以達成測試存儲裝置120的發(fā)光二極管的目的。 當然，本發(fā)明還可有其他多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟 悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變 形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求
一種存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其特征在于，對獨立的存儲裝置所屬的一發(fā)光二極管進行發(fā)光測試，該測試方法包括以下步驟將該存儲裝置連接于一測試工具，其具有一測試程序與多筆測試數(shù)據(jù)；初始該存儲裝置；執(zhí)行一測試程序，用以對該端口發(fā)送該些測試數(shù)據(jù)；通過對該存儲裝置的存取，使得該存儲裝置驅(qū)動用以該發(fā)光二極管；以及根據(jù)該發(fā)光二極管的亮度與發(fā)光頻率，用以判斷該發(fā)光二極管的運作狀態(tài)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其特征在于，該存儲裝 置為一軟式磁碟機、一硬式磁碟機、一閃存或一光學存儲裝置。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其特征在于，在載入該 測試程序還包括以下步驟從一周邊裝置接口設(shè)置空間中選擇相應(yīng)的一端口； 提供不同文件大小的多筆存儲數(shù)據(jù)；以及 分別對該存儲裝置中的各扇區(qū)逐次載入該些存儲數(shù)據(jù)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其特征在于，該些端口 為lf0h或170h。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其特征在于，在載入該 測試程序還包括以下步驟從一周邊裝置接口設(shè)置空間中選擇相應(yīng)的該端口； 從該周邊裝置中調(diào)用該些存儲數(shù)據(jù)；再經(jīng)過一預設(shè)時間后，調(diào)整該些存儲數(shù)據(jù)的調(diào)用頻率；以及 根據(jù)該些存儲數(shù)據(jù)的調(diào)用頻率，用以調(diào)整該些測試信號的發(fā)送頻率。
6. —種測試存儲裝置的發(fā)光二極管的測試工具，其用以測試獨立的存儲裝置所屬的一 發(fā)光二極管，其特征在于，該測試工具包括有一連接接口，其用以連接于一存儲裝置的相應(yīng)的該連接接口 ； 一存儲單元，其用以存儲一測試程序與多筆測試數(shù)據(jù)；以及一處理單元，其電性連接于該連接接口與該存儲單元，該處理單元用以執(zhí)行該測試程 序，用以選擇該存儲裝置的一端口并對該端口發(fā)送該些測試數(shù)據(jù)，通過對該存儲裝置的該 端口的存取，使得該存儲裝置驅(qū)動用以該發(fā)光二極管。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試存儲裝置的發(fā)光二極管的測試工具，其特征在于，該存 儲裝置為一軟式磁碟機、一硬式磁碟機、一閃存或一光學存儲裝置。
8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試存儲裝置的發(fā)光二極管的測試工具，其特征在于，該些 端口為lf0h或170h。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法及其測試工具，其特征是對獨立的存儲裝置所屬的發(fā)光二極管進行發(fā)光測試。在本發(fā)明中包括有測試工具與存儲裝置。測試工具中還包括有連接接口、處理單元與存儲單元。存儲單元用以存儲測試程序與測試數(shù)據(jù)。處理單元用以執(zhí)行測試程序，并且根據(jù)測試程序進行發(fā)送測試數(shù)據(jù)至存儲裝置。存儲裝置中至少包括有連接接口與發(fā)光二極管。處理單元用以執(zhí)行測試程序，用以選擇存儲裝置的端口并對端口發(fā)送測試數(shù)據(jù)，通過對存儲裝置的端口的存取，使得存儲裝置驅(qū)動發(fā)光二極管。
文檔編號G01R31/26GK101769984SQ20091000150
公開日2010年7月7日 申請日期2009年1月5日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月5日
發(fā)明者丁懷亮, 陳玄同 申請人:英業(yè)達股份有限公司