專利名稱：復(fù)合校準/驗證規(guī)及其制造方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于校準具有一測量精度的測量器具的復(fù)合校準/驗證規(guī)。更具 體地，本發(fā)明涉及一種多功能、多維度長度標準，并且作為工作標準工作以在工作場所與各 種測量器具進行比較。
背景技術(shù)：
當測量準確的長度尺寸時，采用規(guī)塊作為最常用的長度標準。規(guī)塊需要具有出色 的抗磨損和抗腐蝕性，因為它是尺寸的準確測量的標準。如果規(guī)塊被磨損或腐蝕，則不能再 被用作標準。然而，根據(jù)這種常規(guī)方法，規(guī)塊存在問題，它們較昂貴，具有多種形狀/尺寸，諸如 以5、10、19、34、47、88、103、112、122件套等。需要將規(guī)塊組合以形成不同尺寸，需要被稱為 緊配合的特殊技術(shù)來組合它們，有時在規(guī)塊的組合過程中出現(xiàn)錯誤，因為所有尺寸計算過 程是依賴于人的，并且是耗時的工作。除了由于最大規(guī)塊用于外部平面測量，因此內(nèi)徑測量 是困難的操作之外，另外有時為了在使用規(guī)塊的測量中獲得希望的結(jié)果，需要其它器具，諸 如規(guī)塊配件、正弦板、標準圓柱(master cylinder)等?？捎糜谑沟媚軌蜻M行校準的規(guī)組件的特征當然需要與規(guī)的整體構(gòu)造兼容，并且在 由不同制造商以各種設(shè)置完成的任何已知規(guī)構(gòu)造之內(nèi)。已針對機器提出多種可調(diào)節(jié)規(guī)塊， 其中規(guī)塊能夠被設(shè)置以建立要將工件切割/設(shè)置到的希望的尺寸。這些規(guī)塊中的一些通常 被可滑動地安裝在桌子上并被固定螺絲保持在所選擇的位置處。雖然這些規(guī)塊已經(jīng)能夠滿足其預(yù)期目的，但是它們的特征是具有某些缺點，S卩，將 塊滑動到特定位置并隨后上緊固定螺絲以將規(guī)塊固定在鄰近桌子上的刻度的準確位置以 建立期望的尺寸可能是耗時的。在相當多的研究和實驗之后，設(shè)計出了本發(fā)明的本質(zhì)上通 用的、復(fù)合的規(guī)塊，其不包含松開的配件/組件并且易于在工作場所校準/驗證不同的測量 器具。BROWN禾Π SHARPE TESA SA在日本說明書JP2003194501中公開了用于校準測量機 器的參考規(guī)以及用于測量機器的校準方法。作為主要部件，被校準過的校準叉體包括三 個塊規(guī)、基座、以及蓋，三個塊規(guī)重疊在一起，而中間塊規(guī)從其它兩個塊規(guī)較大地移位。三個 塊規(guī)的組件被對著已校準過的校準叉體對稱地定位，布置在中間的塊規(guī)突出。由于三個塊 規(guī)的組件，能夠通過被測量的校準叉體的該突出部的外部尺寸以及內(nèi)部尺寸來測量參考尺 寸。KRISTENSEN,Gerhard在PCT公開W08602993中公開了用于制備具有1 ‘mu，大小 的精度的所謂的工作規(guī)或標準(master)的方法和測量單元系統(tǒng)。該發(fā)明提供一種系統(tǒng)，包 括特殊標準規(guī)塊和特殊工作規(guī)構(gòu)件以及相關(guān)的專用測量裝置，利用該系統(tǒng)，可以通過兩個 可相互固定的可位移單元的簡單長度調(diào)整來產(chǎn)生工作規(guī)，通過與事先在該測量裝置中測量 的標準規(guī)塊的尺寸進行比較，在該測量裝置中實現(xiàn)該調(diào)整。該規(guī)塊和工作規(guī)可以是簡單成 形的，即，由圓柱體以及從其突出的測量定義銷組成，這為規(guī)塊的廉價設(shè)計以及工作規(guī)的簡單可調(diào)性提供了條件。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的是提供一種測量單元系統(tǒng)，其可以廣泛地簡化并保證以高精 度的正確長度測量來制造工件，并且其本質(zhì)上是通用的和復(fù)合的。根據(jù)本發(fā)明，為了提供一種工作標準或者標準(master)，使用由一個或更多個長 度可變且可固定的標準單元，在測量規(guī)中并且不在實驗室條件下，其被調(diào)節(jié)和固定在與經(jīng) 校準的規(guī)的長度相對應(yīng)的長度尺寸，該經(jīng)校準的規(guī)被相同或相應(yīng)的測量器具測量，由此該 經(jīng)校準的規(guī)包括放置在一起的常規(guī)規(guī)塊。該測量器具包括游標卡尺、數(shù)字卡尺、千分尺、高 度規(guī)、深度規(guī)、孔徑規(guī)、內(nèi)卡尺、外卡尺、千分尺頭、刻度盤指示器、刻度盤測試指示器、量角 規(guī)、曲尺、V形塊和角板等。因此，諸如這里所描述的，提供一種用于在工作場所校準不同測量器具的復(fù)合校 準/驗證規(guī)，包括在前部的多個臺階；在臺階上的不同方向上的多個橢圓孔；在頂端臺階 上的至少一個銷；在規(guī)的側(cè)部的與底平行的至少一個中央臺階孔；與頂端臺階上的銷的基 底排成一行的多個小臺階；以及形成在前部的臺階的一側(cè)的至少一個尖角。另外提供一種用于制造復(fù)合校準/驗證規(guī)的方法，包括步驟提供需要的塊的原 料；檢查原料的化學(xué)成分；根據(jù)所公開的設(shè)計切割原料；對所切割的材料進行基本銑削；進 行熱處理以得到材料的需要的硬度；進行零度以下處理用于更好的尺寸穩(wěn)定性；檢查材料 的硬度；對規(guī)的不同部分進行研磨操作；對規(guī)的不同部分進行精研和收尾操作；以不同標 準/標準規(guī)校準該規(guī)；在規(guī)的不同部分做標記；對完成的校準/驗證規(guī)進行包裝和發(fā)送。根據(jù)本發(fā)明的另一個目的，提供一種復(fù)合校準/驗證規(guī)，其為通用的，具有多個尺 寸標準、孔標準和角標準。根據(jù)本發(fā)明的另一個目的，提供一種獨特巧妙設(shè)計的校準/驗證規(guī)，其不包括松 動的配件/組件。根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，提供一種復(fù)合校準/驗證規(guī)，其不需要特殊技 巧來操作，任何具有檢測和測量的基本知識的人都能夠非常容易地進行操作。根據(jù)本發(fā)明的另一個目的，提供一種復(fù)合校準/驗證規(guī)，其構(gòu)造簡單，并且全部相 關(guān)尺寸都根據(jù)需要適當?shù)貥擞浽谝?guī)上。根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，提供一種用于制造復(fù)合校準/驗證規(guī)的方法。根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，其中，該方法還根據(jù)需要提供復(fù)合校準/驗證 規(guī)的全部側(cè)均可用并且被精確地研磨并適當?shù)貥擞浧湎鄳?yīng)尺寸。根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，提供一種復(fù)合校準/驗證規(guī)，其包括多個測量 臺階，最好的適合于用于不同應(yīng)用的具有不同量程、模型和最小讀數(shù)的大量測量器具，這些 測量器具由全世界的領(lǐng)先標準器具制造商提供。根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，提供一種復(fù)合校準/驗證規(guī)，其由具有較小磨 損的硬化鋼材料制成。根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，提供一種復(fù)合校準/驗證規(guī)，其成本低，對于小 型工業(yè)、工作間以及不能在定期校準、備用器具、熟練人員以及具有用于校準的受控環(huán)境的 標準房間方面投入大量資金的人非常有用。
根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，提供一種復(fù)合校準／驗證規(guī)，其中用戶能夠調(diào)整其器具或者其能夠使用乘系數(shù)來補償偏差
根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，提供一種復(fù)合校準／驗證規(guī)，其中規(guī)能夠用于在工作場所評估測量系統(tǒng)誤差，諸如偏差1可重復(fù)性1穩(wěn)定性1線性等，以分析與測量系統(tǒng)相關(guān)的測量變化。
根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，提供一種復(fù)合校準／驗證規(guī)，其中全部非功能區(qū)域在工作表面以下o．2mm，這適用于規(guī)的全部側(cè)。
根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，提供一種復(fù)合校準／驗證規(guī)，其中不需要特殊的環(huán)境來維護校準／驗證規(guī)，因為其由硬化鋼制成，該硬化鋼與市場上可獲得的最多的器具的材料相同，因此熱膨脹系數(shù)相同。
根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，提供一種復(fù)合校準／驗證規(guī)，其需要較少的空間，因為其相對于諸如規(guī)塊組1高度規(guī)1檢查標準1臺階規(guī)等的其它標準相比的獨特的設(shè)計，因此其易于在工作區(qū)域維護。
根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性目的，提供一種復(fù)合校準／驗證規(guī)，其能夠通過諸如“o”級規(guī)塊組或通用長度測量機(ULM)等的任意高精度的長度標準來校準。
根據(jù)以下具體描述1附圖以及所附權(quán)利要求，本發(fā)明的這些和其它方面1優(yōu)點和顯著特征將變得明顯。


下面參照附圖更詳細地描述本發(fā)明。
圖l示出可用的現(xiàn)有技術(shù)校準／驗證規(guī)；
圖2(a)示出根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)的透視 圖2(b)示出根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)的側(cè)視 圖2(C)示出根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)的后視 圖2(d)示出根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)的另外的側(cè)視 圖3示出用于制造根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)的方法；
圖4示出能夠通過使用該校準／驗證規(guī)在工作場所進行校準的具有不同量程1最小讀數(shù)和模型多種測量器具；
圖5示出圖解對根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)的不同部分的多種測量的示例；
圖6(a)示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)校準量角規(guī)的方法的示例；
圖6(b)示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)校準曲尺的方法的示例；
圖6(C)示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)校準高度規(guī)的方法的示例；
圖6(e)示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)校準內(nèi)／外刻度盤卡尺的方法的示例；
圖6(f)示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)校準刻度盤測試指示器的方法的示例；
圖6(g)示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準／驗證規(guī)校準柱塞式刻度盤指示器的方法的示例；
圖 6(h)例；
圖6⑴
圖 6(j)
圖 6(k)示例；
圖ea)示例；
圖 6(m)例；
圖 6 (η)示例；
圖 6 (ο)
圖 6 (ρ)
說明書
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示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準/驗證規(guī)校準內(nèi)徑校對規(guī)的方法的示
示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準, 示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準, 示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準
驗證規(guī)驗證V形塊的方法的示例； 驗證規(guī)校準深度規(guī)的方法的示例； ‘驗證規(guī)校準游標卡尺的外爪的方法的
示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準/驗證規(guī)校準數(shù)字卡尺的外爪的方法的
示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準/驗證規(guī)校準數(shù)字卡尺內(nèi)爪的方法的示
示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準/驗證規(guī)校準數(shù)字卡尺深度桿的方法的
示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準/驗證規(guī)校準千分尺的方法的示例； 示出圖解使用根據(jù)本發(fā)明的校準/驗證規(guī)校準千分尺頭的方法的示例。
具體實施例方式如這里所描述的，本公開涉及用于根據(jù)需要在工作場所校準測量器具的校準/驗 證規(guī)。參照圖1，其示出用于不同器具的多個校準規(guī)的使用，其具有很大的缺點，本領(lǐng)域技術(shù) 人員將認識到在工作場所使用具有寬且平的平行表面的單個校準規(guī)對各種測量器具/子 規(guī)進行校準的重要性。因此使用具有多個寬支撐表面以及多個測量表面和形狀的塊構(gòu)件是 有優(yōu)勢的，在形成的塊構(gòu)件中可以具有非常小的區(qū)域或者甚至幾乎是銷狀的，或者可能是 具有固定長度的寬闊表面、尖角以及多個孔/臺階。所公開的這種規(guī)是為適應(yīng)在多種測量器具中使用的一些通常的長度、孔徑、角度 而特別設(shè)計的。本發(fā)明的一個顯著特征是本發(fā)明提供一種新型的“規(guī)塊”，其由可在制造階 段過程中(而不是之后)調(diào)節(jié)，并且能夠以高精度使用的多種長度標準組成，并且其能夠用 于測量器具或標準(master)以及用于針對絕對測量而預(yù)先調(diào)節(jié)的規(guī)。關(guān)于本發(fā)明，已經(jīng)認 識到對于經(jīng)校準的規(guī)的相關(guān)使用，沒有對具有寬闊和平的平行表面的塊的實際需要，因為 使用具有多個寬闊支撐表面和測量表面的塊規(guī)是完全可能的，并且甚至是有優(yōu)勢的。規(guī)不 具有任何可能導(dǎo)致校準中的誤差的松動配件或任何裝配件。如所公開的，該校準/驗證規(guī)的新設(shè)計包括多個平的表面，并且還包括圓形和橢 圓形的孔。該規(guī)還包括頂部豎直銷。在圖2(a)到圖2(d)中示出了所公開的規(guī)的不同視 圖。校準規(guī)的前部包括至少五個不同高度的臺階。第一和第二臺階包括相同周長尺寸的橢 圓孔。第四臺階的一端以45度呈尖角。第五臺階還包括七個小臺階以及期望高度的銷。第 四和第五臺階還包括存在于前部的圓孔。如圖所示，規(guī)還包括側(cè)表面上的階梯孔，用于校準內(nèi)徑測量器具。關(guān)于本發(fā)明的預(yù) 期目標，校準/驗證規(guī)被設(shè)計為具有很小的復(fù)雜性，并且適應(yīng)最大數(shù)量的測量器具。以最大 精度使得校準規(guī)的所有側(cè)與相鄰側(cè)垂直，并且使得頂側(cè)與底側(cè)平行。將該底表面打磨到高 精度，并且將中央階梯孔設(shè)置在側(cè)面，其與該底面精確平行。該銷精確地垂直于該底面，并 且為圓柱形。規(guī)的全部工作面經(jīng)倒角，以防止小的機械損壞/凹陷，并且避免銳利邊緣。
所述規(guī)的最頂部臺階還包括多個小臺階，其用于校對杠桿式刻度盤指示器、柱塞 式刻度盤指示器、電子探針等。在設(shè)計所公開的規(guī)時，可以根據(jù)客戶的具體要求改變各個臺 階和尺寸以給予其對其設(shè)計的具體尺寸或者其在工作場所日常校對的尺寸的常規(guī)交叉校 對。換句話說，利用該校準/驗證規(guī)的獨特設(shè)計，很可能實現(xiàn)高度的定制化。除此之外，該 規(guī)還能夠有助于在工作場所進行各種測量研究以分析與其測量系統(tǒng)相關(guān)的測量變化。關(guān)于本設(shè)計的另一個目標，單個標準規(guī)不包括其它松動配件/組件。此外，校準 /驗證規(guī)的全部側(cè)都是可用的，其被精確地研磨和適當?shù)貥擞洖樗枰南鄳?yīng)尺寸。由于 其簡單的構(gòu)造，該規(guī)本身能夠根據(jù)一些關(guān)鍵應(yīng)用或用戶規(guī)范而被一定程度地定制。(例如， 孔徑、臺階高度、臺階寬度、角度、銷直徑等)另外，該規(guī)是非常經(jīng)濟的，并且與諸如規(guī)塊組、 ULM以及刻度盤校準測試儀等其它長度標準相比，任何人都能夠很容易地負擔(dān)得起。該規(guī)的 沒有哪個部分是針對特定器具的，因為該規(guī)的全部側(cè)/臺階能夠用于針對具有不同量程、 模型、最小讀數(shù)的多種測量器具的校準/驗證的多種應(yīng)用，因此其作為多功能和多用途規(guī) 工作。例如，臺階W. 0,50. 0,75. Omm等能夠用于校準千分尺、游標卡尺、數(shù)字卡尺、柱塞刻 度盤指示器和高度規(guī)。不需要具有很多標準用于每個工作器具類別以及受控的實驗室環(huán)境 條件，其在圖4中示出?？梢酝ㄟ^任何長度標準以更高的精度，諸如“0”級規(guī)塊或通用長度 測量機(ULM)等來校準該校準/驗證規(guī)。此外，如圖3所示，用于制造所公開的規(guī)的方法包括步驟提供需要的塊的原料； 檢查該原料的化學(xué)成分；按照所公開的設(shè)計切割該原料；對所切割的材料進行基本銑削； 進行熱處理和零度以下處理以獲得該材料的希望的硬度和更好的尺寸穩(wěn)定性；檢查材料的 硬度；對規(guī)的不同部分進行研磨操作；對規(guī)的不同部分進行精研和收尾操作；以不同標準 規(guī)校準該規(guī)；標注所需要的尺寸，對完成的規(guī)進行清潔、包裝和發(fā)送。被選擇用于校準規(guī)的原料是高碳、高鉻、超硬鋼，其在操作過程中發(fā)生較少的磨 損。通過驗證所需要的材料，根據(jù)規(guī)的設(shè)計標記原料塊，然后將其切割為希望的形狀。對于 所公開的規(guī)的步驟設(shè)計，執(zhí)行銑削操作，并且在預(yù)加熱的爐中對原料進行熱處理，然后進行 回火以及零度以下處理以得到希望的硬度(值)和尺寸穩(wěn)定性。器具的硬度是希望的，因 為硬材料具有較小的磨損并且能夠長時間使用。為使表面光滑，對全部表面執(zhí)行研磨操作， 然后是對全部表面的精研和拋光。在拋光操作之后，規(guī)已準備好，然后使用標準規(guī)針對不同 可工作點進行校準。然后經(jīng)校準的規(guī)在不同部分被標記以用于實際尺寸的可視化，然后被 包裝以及發(fā)送到目的地。在此可以注意到校準/驗證規(guī)不包含任何部件的組裝，因此其不 包含任何松動配件。校準/驗證規(guī)可以用于在工作場所評估測量系統(tǒng)誤差，諸如偏差、可重復(fù)性、穩(wěn)定 性、線性等，以分析與測量系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)的測量變化的類型。另外，該規(guī)材料可以根據(jù)不同應(yīng) 用或客戶要求而改變，諸如碳化物、陶瓷等。示例此外，圖5示出圖解對根據(jù)本發(fā)明的校準/驗證規(guī)的不同部分的多種測量的示例。 另外，圖6(a)到圖6 (ρ)示出用于校準/驗證多種測量器具的方法?！ば室?guī)在其設(shè)計中具有許多臺階，以這種方式選擇這些臺階，通過該方式，它們 能夠一定程度地覆蓋器具的整個工作范圍，并且用戶能夠通過覆蓋其器具的整個工作范圍 來在最少兩個或三個范圍中校準其器具。
示例用戶能夠在以下臺階中校準以下量程的外徑千分尺量程(0_25mm)，在5、 10、25mm 的臺階；量程 O5_50mm)，在 25、30、50mm 的臺階；量程(50_75mm)，在 50、60、70 和 75mm的臺階；以及量程(75_100mm)，在75、90、IOOmm的臺階。·在一側(cè)，臺階為30、60、90、110和130mm，以在不同的臺階中檢查多種器具，諸如
游標卡尺、數(shù)字卡尺、千分尺和高度規(guī)。示例用戶能夠在10、25、30、50、60、70、90、110、130mm的臺階中校準游標卡尺、數(shù)
字卡尺和高度規(guī)。·在頂側(cè)具有直徑5. 0士0. 003mm的銷，其用于針對游標卡尺、數(shù)字卡尺、千分尺校 準等的快速參考?！ぴ陧敳坑衅邆€小臺階，其用于檢查杠桿式刻度盤指示器、柱塞式刻度盤指示器和 電子探針等。示例用戶能夠在以下臺階中校準以下杠桿式刻度盤指示器量程量程 (0-0. 140mm)，在 0. 03,0. 1 的臺階；以及量程(0-1. (torn)，在 0. 03,0. 1、0. 5 和 1. Omm 的臺階。示例用戶能夠在以下臺階中校準以下柱塞式刻度盤指示器量程(O-IOmm)，在 0. 03,0. 1、0.5、1、3、5 和 IOmm 的臺階；以及量程(0_50mm)，在 0. 03,0. 1、0. 5、1、3、5、10、25、 30 和 50mm 的臺階；以及量程(O-IOOmm)，在 0. 03,0. 1,0. 5、1、3、5、10、25、30、50、60、70、75、 90和IOOmm的臺階。 在30和60mm的臺階上有橢圓槽，以檢查游標卡尺、數(shù)字卡尺和深度規(guī)的的深度 桿。示例用戶能夠在30、60mm的臺階中校準卡尺的深度桿。 在110和130mm的臺階處有Φ8. 5mm的孔，它們用于校準10和25mm深的千分尺頭。 在第四臺階中除了能夠用作垂直和平行面的面之外，有45°的角，以檢查角度裝 置，諸如量角規(guī)、組合角尺等。示例用戶能夠在45°、90°、180°角的臺階中校準量角規(guī)。 在另一側(cè)，臺階尺寸為10、25、50、75和100mm，以在不同的臺階中檢查千分尺、游
標卡尺、數(shù)字卡尺、高度規(guī)、外卡尺等。 在側(cè)面有兩個孔，其尺寸為30和40mm，用于設(shè)置/校準孔徑規(guī)、內(nèi)徑千分尺(hole test)、內(nèi)卡尺、游標卡尺的內(nèi)爪等，除此之外能夠以70mm深度檢查深度規(guī)?！ぴ撘?guī)的后側(cè)用于驗證V形塊、角板、曲尺等。·校準/驗證規(guī)的全部非功能區(qū)域在工作表面之下0. 2mm，這適用于該規(guī)的各側(cè)。已經(jīng)參照附圖主要地描述了示例性實施例/示例，這些附解實施例的相關(guān)部 件。應(yīng)認識到，并非實際系統(tǒng)的完整實施的全部部分都必須詳細地被圖解和描述，也并非全 部變化的部件布局方案都被描述。因此，關(guān)于以上說明，應(yīng)理解本發(fā)明的不同要素或部分的 最優(yōu)關(guān)系，包括功能和操作方式的許多改變，組裝和使用，被認為對于本領(lǐng)域技術(shù)人員是清 楚的和明顯的，并且對于在附圖中示出的和在說明書中描述的內(nèi)容的全部等同關(guān)系旨在被 包含在本發(fā)明中。因此，上述內(nèi)容僅被認為是本發(fā)明的例證。另外，由于本領(lǐng)域技術(shù)人員將容易地想 到許多修改和改變，不希望將本發(fā)明限制到所示出和描述的確切的構(gòu)造和操作，并且因此，包括被選擇用于該校準規(guī)的材料在內(nèi)的全部可采用的適合的修改和等同物均在本發(fā)明的 范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種用于在工作場所校準不同測量器具的復(fù)合校準/驗證規(guī)，包括 在前部的多個臺階；在所述臺階上的不同方向上的多個橢圓孔； 在頂端臺階上的至少一個銷；與底平行并且在所述規(guī)的側(cè)部呈現(xiàn)的至少一個中央臺階孔； 與所述頂端臺階上的所述銷的基底排成一行的多個小臺階；以及 在呈現(xiàn)于所述前部的所述臺階的一側(cè)形成的至少一個尖角。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準/驗證規(guī)，其中，用于所述規(guī)的材料是高碳高鉻鋼。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準/驗證規(guī)，其中，以最大準確度使所述規(guī)的全部側(cè)與相鄰 側(cè)垂直并且使頂側(cè)平行于底側(cè)，并且所述規(guī)的全部非功能區(qū)域在工作表面以下0. 2mm，其適 用于所述規(guī)的全部側(cè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準/驗證規(guī)，其中，優(yōu)選的尖角為45度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準/驗證規(guī)，其中，所述前部中的臺階的優(yōu)選數(shù)量為5。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準/驗證規(guī)，其中，所述頂端臺階部分中的小臺階的優(yōu)選數(shù) 量為7。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準/驗證規(guī)，其中，所述銷精確垂直于所述底面，并且為圓 柱形，所述銷的頂端被形成為平面的。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準/驗證規(guī)，其中，通過諸如“0”級規(guī)塊組或通用長度測量 機(ULM)的任意高準確度長度標準來校準所述規(guī)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準/驗證規(guī)，其中，所述規(guī)不具有松動配件/組件。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準/驗證規(guī)，其中，所述規(guī)的全部工作側(cè)被倒角以防止小 的機械損壞/凹陷以及避免尖銳邊緣。
11.一種用于制造復(fù)合校準/驗證規(guī)的方法，包括步驟 提供需要的塊的原料；檢查所述原料的化學(xué)成分；根據(jù)所公開的設(shè)計切割所述原料；對所切割的材料進行基本銑削；進行熱處理以得到所述材料的需要的硬度；進行零度以下處理以得到更好的尺寸穩(wěn)定性；檢查所述材料的硬度；對所述規(guī)的不同部分進行研磨操作；對所述規(guī)的不同部分進行精研和收尾操作；以不同標準/標準規(guī)校準所述規(guī)；在所述規(guī)的不同部分進行標記；對完成的校準/驗證規(guī)進行包裝和發(fā)送。
12.一種用于在工作場所校準不同測量器具的校準/驗證規(guī)，其基本如這里具體參照 附圖描述的。
13.一種用于制造基本如這里具體參照附圖描述的校準/驗證規(guī)的方法。
全文摘要
本發(fā)明涉及用于校準具有一測量精度測量器具的混合校準/驗證規(guī)。更具體地，本發(fā)明涉及一種多功能、多維度長度標準，并且作為工作標準工作以與工作場所的各種測量器具進行比較。
文檔編號G01B3/46GK102124298SQ200880130832
公開日2011年7月13日 申請日期2008年9月29日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月18日
發(fā)明者沙拉卜·庫馬爾·拉斯托吉 申請人:沙拉卜·庫馬爾·拉斯托吉