專利名稱：用于冶金、無損測試的便攜掃描儀設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及掃描器設(shè)備，并且特別地，涉及用于冶金(metallurgical)、無損測試的便攜、獨(dú)立(self-contained)的掃描儀設(shè)備。
背景技術(shù)：
使用無損測試技術(shù)測試受壓部件和大直徑管筒(tube)或者管道(pipe)(例如，直徑大于300mm)是一件困難的工作，尤其是當(dāng)測試周長和縫焊時(shí)。例如，要被測量的部件經(jīng)常被安裝在需要測試人員用手操作的緊湊的手持設(shè)備的區(qū)域。對于安裝進(jìn)這些難以接近的區(qū)域中而言，全自動(dòng)的或者半自動(dòng)的測試設(shè)備是龐大的并且過于笨重。另外，使用高級手持設(shè)備(例如，人工控制的掃描儀)，傳感器(例如，超聲衍射時(shí)差傳感器(time of flightdiffraction sensor)、相控陣(phasedarray)、電石茲聲換會(huì)g器(electromagnetic acoustictransducer)等)被安裝(mount)在所述掃描儀上，并且數(shù)據(jù)采集單元以及顯示單元兩者均與所述掃描儀在物理上分離并且通過布線(cabling)連接(link)到一起。結(jié)果，經(jīng)常需要兩名操作員來實(shí)施(conduct)所述測試一名測試者引導(dǎo)所述掃描儀，并且另一名測試者觀察(observe)所述數(shù)據(jù)采集過程。如果僅使用一名操作員，則所述數(shù)據(jù)采集部件和數(shù)據(jù)顯示單元將需要位于相同的位置，用于同時(shí)掃描和觀察所述數(shù)據(jù)。然而，當(dāng)在有限的空間內(nèi)進(jìn)行測試時(shí)，例如鍋爐裝置，這可能是難以實(shí)現(xiàn)的。 因此，所需要的是一種緊湊的、獨(dú)立的掃描設(shè)備，所述掃描設(shè)備能夠使得單個(gè)操作員實(shí)施關(guān)于冶金、無損測試的測試以及數(shù)據(jù)采集和觀察活動(dòng)兩者

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)此處闡述的多個(gè)方面，提供了一種用于冶金、無損測試的便攜、獨(dú)立的掃描儀設(shè)備。所述便攜、獨(dú)立的掃描儀設(shè)備包括底架，其具有在其較低表面之下延伸的輪子；可拆卸地固定到所述底架的無損測試探頭；和耦合到所述底架的計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備。所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備包括可以被所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備執(zhí)行的應(yīng)用程序，用于在測試對象上執(zhí)行所述冶金、無損測試。所述掃描儀設(shè)備還包括顯示設(shè)備，所述顯示設(shè)備顯示圖像以響應(yīng)于所述冶金、無損測試。所述底架、計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備和顯示設(shè)備作為單個(gè)單元沿所述測試對象移動(dòng)。 根據(jù)此處闡述的多個(gè)其它方面，提供了一種用于冶金無損掃描儀設(shè)備的底架。所述底架包括基底、從所述基底向上延伸的側(cè)壁，和由所述基底和所述側(cè)壁形成的用于接收計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備的開口。所述底架還包括在所述底架的所述基底下面延伸的輪子，固定到所述底架的至少一個(gè)無損測試探頭，和附接到所述底架的接口連接器。所述接口連接器通信地耦合到所述至少一個(gè)探頭。所述接口連接器被配置成連接到所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備的通信端口。 上述的和其他的特征由以下的附圖和詳細(xì)的描述所例示。


現(xiàn)在參考附圖，所述附圖是示例性的實(shí)施例，并且其中相同的元素使用相同的附圖標(biāo)記 圖1是在示例性實(shí)施例中的掃描儀設(shè)備的立體圖，所述掃描儀設(shè)備包括底架和計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備； 圖2是在圖1中示出的底架的立體圖；以及
圖3是示出了圖1的計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備的框圖。
具體實(shí)施例方式
根據(jù)示例性實(shí)施例，提供了一種用于冶金、無損測試的便攜、獨(dú)立的掃描儀設(shè)備。
所述獨(dú)立的掃描儀設(shè)備是緊湊的并且可以與各種傳感器一起使用。所述掃描儀設(shè)備是獨(dú)立
的，以便其集合部件作為單一單元沿測試對象(test subject)移動(dòng)。作為其獨(dú)立的配置的結(jié)果，僅一名測試者就可以將所述掃描儀設(shè)備帶入有限的空間內(nèi)，并且同時(shí)引導(dǎo)所述掃描儀設(shè)備以及通過安裝在其上的顯示器收集和觀察測試數(shù)據(jù)。 現(xiàn)在轉(zhuǎn)到圖l-3，根據(jù)示例性實(shí)施例，現(xiàn)在將描述用于冶金、無損測試的便攜、獨(dú)立的掃描儀設(shè)備。所述便攜、獨(dú)立的掃描儀設(shè)備100包括底架102和耦合到所述底架102上的計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200。在一個(gè)示例性實(shí)施例中，所述底架102包括基底104、從基底104的邊緣向上延伸的側(cè)壁106，以及由所述基底和所述側(cè)壁形成的開口。所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200隨后被布置在所述底架102的所述開口中。然而，應(yīng)當(dāng)理解，為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)，可以對所述底架102采用其它的配置。 所述底架102還包括可拆卸地固定到所述底架102的較低表面(例如，在所述底架102的所述基底104)上的至少一個(gè)探頭118(probe)。如下也是預(yù)期的即所述探頭118可拆卸地被固定到所述底架的側(cè)壁106上，并且被布置成使得所述探頭118在所述底架102的所述較低表面之下延伸。所述探頭108可以是超聲換能器、電磁聲換能器，或者任何其它用于冶金、無損測試的探頭。所述底架102還包括附接到所述底架102上的接口連接器114。所述接口連接器114通過接線(wiring)、印刷電路板及其類似物通信地耦合到所述探頭118。所述接口連接器114可以是小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口 (SCSI)連接器。
所述掃描儀設(shè)備100還包括顯示設(shè)備216，所述顯示設(shè)備216顯示圖像以響應(yīng)于所述測試。在操作所述掃描儀設(shè)備100期間，所述圖像可以被測試者看到。后文將對所述顯示設(shè)備216進(jìn)行描述。 所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200包括耦合到所述接口連接器114的通信(輸入/輸出)端口 214，用于使安裝在所述底架102上的探頭118和所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200之間能夠進(jìn)行通信。在示例性實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200還包括可以被所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200執(zhí)行的軟件應(yīng)用程序(指令)，用于在測試對象109上執(zhí)行冶金無損測試。所述測試對象109可以是管道或者管筒，并且所述測試可以包括測量所述管道或者管筒上的縫焊的周長和/或完整性。所述探頭118通過所述通信端口 214和所述接口連接器114從至少一個(gè)所述應(yīng)用程序接收命令，并且向所述測試對象109傳送測試信號(hào)(例如，超聲脈沖、聲波等)以響應(yīng)于所述命令。探頭118感知來自所述測試對象109的、對所述測試信號(hào)的響應(yīng)，并且依次將所述響應(yīng)信號(hào)提供給所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200。
可以被所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200執(zhí)行的所述應(yīng)用程序可以包括數(shù)據(jù)采集部件206，所述數(shù)據(jù)采集部件206接收由所述探頭118發(fā)射測試信號(hào)而導(dǎo)致的響應(yīng)信號(hào)；編碼器204，用于確定所述掃描儀設(shè)備100在所述測試對象109上的位置，并且在所述測試對象109上定義定位(position location)，在該定位所述響應(yīng)信號(hào)被獲取；數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換部件208，所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換部件208用于數(shù)字化，或相反(or otherwise)處理所述響應(yīng)信號(hào)；和成像部件210，所述成像部件210用于在所述顯示設(shè)備216上呈現(xiàn)處理過的響應(yīng)信號(hào)。在所述掃描儀設(shè)備100中采用的探頭118的類型和使用的數(shù)據(jù)采集部件206的類型依賴于將要實(shí)施的測試的性質(zhì)(例如，超聲衍射時(shí)差、超聲相控陣、電磁聲波等)。 所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備還可以包括存儲(chǔ)器202，用于存儲(chǔ)可以被所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200執(zhí)行的所述應(yīng)用程序，以及其它數(shù)據(jù)，諸如響應(yīng)信號(hào)和其它測試結(jié)果。
在一個(gè)示例性實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200與所述底架102作為單個(gè)單元整體地形成。在可替代的示例性實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200和底架102是可分離的，以便在測試完成之后，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200和底架102可以容易地被分開。在該可替代的示例性實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200被耦合到所述底架102(例如，被布置在所述底架102中)并且通過所述接口連接器114和所述通信端口 214，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200被可拆卸地固定到所述底架102。另外，可以在所述底架102內(nèi)安裝彈性材料(例如，泡沫)、帶子和/或其他固定裝置以防止在操作所述掃描儀設(shè)備100期間對所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200的破壞。另外，如下文將描述的，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200可以通過打開所述底架102的蓋子120而從所述底架102處被移出。 如果所述底架102和所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200是分離的單元(即，不是整體地被形成)，則所述底架102可以被配置成，例如，接受商業(yè)上可獲得的平板計(jì)算機(jī)用作所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200，其允許其顯示設(shè)備216面向外(S卩，使所述顯示設(shè)備216在所述蓋子120(其可能是完全或者部分透明的)之下并且面向所述操作員)并且包括觸摸屏能力。如這里所使用的，"平板計(jì)算機(jī)"是具有的觸敏顯示屏的筆記本計(jì)算機(jī)、膝上計(jì)算機(jī)或者板狀移動(dòng)計(jì)算機(jī)(slate-sh即edmobile computer)，其中，所述觸敏顯示屏允許用戶用指示筆、數(shù)字筆或者指尖來代替鍵盤或鼠標(biāo)(或者除了鍵盤或鼠標(biāo)之外)操作所述計(jì)算機(jī)。平板計(jì)算機(jī)包括通常所說的可變式筆記本計(jì)算機(jī)(convertiblenotebooks)，其具有帶有附接的鍵盤的基體，其中所述基體在被稱作旋轉(zhuǎn)鉸鏈或者回轉(zhuǎn)式鉸鏈的單個(gè)接頭(joint)處附接到所述顯示器上。該接頭允許所述屏幕轉(zhuǎn)動(dòng)180°并折向下到所述鍵盤的上面以提供平的書寫表面。 使用標(biāo)準(zhǔn)輸入/輸出端口，所述掃描儀設(shè)備100可以允許使用任何商業(yè)上可獲得的平板計(jì)算機(jī)，并且所述蓋子120允許在對所述平板計(jì)算機(jī)提供保護(hù)的同時(shí)觀察所述顯示設(shè)備216。所述觸摸屏助益于所述掃描儀設(shè)備100的操作。如此配置，所述平板計(jì)算機(jī)可以被安裝在所述底架102中以獲得數(shù)據(jù)并且隨后從所述底架102處被移出，用于數(shù)據(jù)分析和/或用于上載數(shù)據(jù)到網(wǎng)絡(luò)。所述平板計(jì)算機(jī)不需要是專門用于掃描儀設(shè)備100的昂貴的特定應(yīng)用的計(jì)算機(jī)。其僅需要合適的軟件。 此外，第二顯示設(shè)備可以被通信地耦合到所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200以助益于測試。例如，測試者在所述掃描儀設(shè)備100的操作期間可以佩戴包括顯示能力的眼鏡(eyewear)。所述眼鏡可以是無線的(例如，使用短程無線電波，諸如藍(lán)牙 ，與所述底架進(jìn)行通信)，或者可以通過接線物理地連接到所述底架上。 在示例性實(shí)施例中，所述底架102可以進(jìn)一步包括工具柱119用于支撐每一個(gè)探頭118。所述柱119可以被連接到所述底架102的較低表面(例如，在所述底架102的基底104)上并且可以被置于所述基底104的較低表面和所述探頭118之間?？商娲?，所述柱119可以被附接到所述底架的側(cè)壁106上并且被布置成使得所述探頭118向下延伸，在所述底架102的較低表面之下。另外，所述柱可以包括彈簧承載的(spring-loaded)機(jī)構(gòu)以將所述探頭推向所述測試對象109，用于在所述測試對象109上施加探頭壓力。所述柱119允許所述探頭118從所述底架102處被移出并且用不同的探頭118替換。結(jié)果，通過簡單地改變所述探頭118和所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備216內(nèi)的任意需要的應(yīng)用程序，相同的底架102可以被用于實(shí)施不同形式的冶金測試。 如上所述，所述底架102包括蓋子120。所述蓋子120延伸越過由所述側(cè)壁106和所述基底104形成的所述開口，并且可以在打開位置(圖2中所描繪)和關(guān)閉位置(圖1中所描繪)之間移動(dòng)。在打開位置，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200可以被插入到所述開口內(nèi)或者從所述開口中移出；以及在關(guān)閉位置，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200被穩(wěn)定地固定在所述開口中。在一個(gè)實(shí)施例中，所述透明蓋子120的一側(cè)包括一個(gè)或更多鉸鏈122，用于穩(wěn)定地將所述透明蓋子120的有鉸鏈的一側(cè)固定到所述底架102的所述側(cè)壁106中的一個(gè)上，以允許所述蓋子的打開和關(guān)閉。如下也是預(yù)期的，即所述蓋子可以在打開位置和關(guān)閉位置之間滑動(dòng)，例如通過使用設(shè)置在所述側(cè)壁106上的縫(slots)或者槽(cha皿els)。
所述蓋子120可以完全由透明材料形成以允許所述測試人員觀看所述顯示器216?？商娲?，所述蓋子120可以是部分透明的，例如通過包括一個(gè)或多個(gè)窗口，以允許所述測試人員觀看所述顯示器216。 所述底架102還可以包括設(shè)置在所述底架102的所述較低表面(例如，在所述基底104)的各個(gè)角區(qū)域上的輪子108，以允許所述掃描儀設(shè)備在測試期間沿所述測試對象109移動(dòng)。所述輪子108可以是磁性的，用于在測試期間將所述掃描儀設(shè)備100固定到所述測試對象上。在一個(gè)示例性實(shí)施例中，所述底架102包括馬達(dá)110，用于驅(qū)動(dòng)所述輪子108，以及向所述馬達(dá)110供電的電源106(例如，電池)。在可替代的示例性實(shí)施例中，所述底架102由操作員手動(dòng)地推動(dòng)，并且因此不需要馬達(dá)。有利地，沒有所述馬達(dá)110的增加的重量，所述掃描儀設(shè)備100的便攜性增加了。 所述底架102可以進(jìn)一步包括至少一個(gè)形成在所述底架102上的(例如，在所述底架102的一個(gè)或更多所述側(cè)壁106上)手柄126。所述手柄126能夠使測試者在所述測試對象109上手動(dòng)地引導(dǎo)所述掃描儀設(shè)備100。 在示例性實(shí)施例中，所述掃描儀設(shè)備100可以進(jìn)一步包括與所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200通信的收發(fā)機(jī)124。所述收發(fā)機(jī)124發(fā)送產(chǎn)生于所述測試的數(shù)據(jù)并且接收來自于與所述測試相關(guān)的遠(yuǎn)端源的通信。所述收發(fā)機(jī)124通過一個(gè)或更多無線網(wǎng)絡(luò)與所述遠(yuǎn)端源通信。雖然在圖2中示出的收發(fā)機(jī)124被安裝到所述底架102上，但是如下是預(yù)期的即所述收發(fā)機(jī)124可以可替代地被安裝到所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200上。例如，所述收發(fā)機(jī)124可以是無線局域網(wǎng)收發(fā)機(jī)，諸如Wi-Fi設(shè)備。 如上所述，所述掃描儀設(shè)備IOO是緊湊的并且獨(dú)立的，以致于所述底架102和所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備200形成沿測試對象移動(dòng)的單個(gè)單元。如此配置，僅一名測試者就可以實(shí)施所述測試并且同時(shí)通過安裝在所述掃描儀設(shè)備上的顯示器觀察結(jié)果。在一個(gè)實(shí)施例 中，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備216可以從所述底架102中移出，這允許使用標(biāo)準(zhǔn)的平板計(jì)算機(jī) 來代替昂貴的、特定應(yīng)用的計(jì)算機(jī)。另外，設(shè)置在所述掃描儀設(shè)備上的磁性的輪子與所述緊 湊的設(shè)計(jì)相結(jié)合，防止或者減少了操作笨重的掃描儀設(shè)備而導(dǎo)致的疲勞。而且，通過簡單地 改變所述探頭118和所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備216內(nèi)的任意需要的應(yīng)用程序，相同的底架102
可以被用于實(shí)施不同形式的冶金測試。 雖然已經(jīng)參考各種示例性實(shí)施例描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理 解，可以作出各種改變以及可以用等同方式替換其中的元素，而不脫離本發(fā)明的范圍。另
外，可以作出許多修改以使特定的情況和材料適應(yīng)于本發(fā)明的教導(dǎo)，而不脫離本發(fā)明的實(shí) 質(zhì)范圍。因此，意圖是本發(fā)明不受考慮作為用于實(shí)施本發(fā)明的最佳模式而公開的具體實(shí)施 例的限制，而是，本發(fā)明將包括落在所附權(quán)利要求的范圍內(nèi)的所有實(shí)施例。
權(quán)利要求
一種用于冶金無損測試的便攜、獨(dú)立的掃描儀設(shè)備，所述掃描儀設(shè)備包括底架；輪子，所述輪子在所述底架的較低表面之下延伸；至少一個(gè)探頭，所述至少一個(gè)探頭被固定到所述底架上；計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備被耦合到所述底架上，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備包括可以被所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備執(zhí)行的應(yīng)用程序，用于在測試對象上執(zhí)行所述冶金無損測試，其中所述至少一個(gè)探頭接收來自所述應(yīng)用程序中的至少一個(gè)的命令以將測試信號(hào)傳送到所述測試對象、感知來自所述測試對象的對所述測試信號(hào)的響應(yīng)，并且向所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備提供響應(yīng)信號(hào)；以及顯示設(shè)備，所述顯示設(shè)備被耦合到所述底架上并且與所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備相通信，所述顯示設(shè)備被配置為響應(yīng)于所述響應(yīng)信號(hào)而顯示圖像，在所述掃描儀設(shè)備的操作期間，所述圖像對測試人員是可見的；其中所述底架、所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備和所述顯示設(shè)備作為單個(gè)單元沿所述測試對象移動(dòng)。
2. 如權(quán)利要求1所述的掃描儀設(shè)備，其特征在于，其中所述底架包括基底、從所述基底 向上延伸的側(cè)壁，以及由所述基底和所述側(cè)壁形成的開口 ；其中，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備被設(shè)置在所述底架的所述開口中。
3. 如權(quán)利要求2所述的掃描儀設(shè)備，其特征在于，其中所述底架進(jìn)一步包括延伸越過 所述開口的蓋子，所述蓋子在打開位置和關(guān)閉位置之間是可移動(dòng)的；其中，在所述打開位置，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備可以被插入到所述開口內(nèi)或者從所述 開口中被移出；并且在所述關(guān)閉位置，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備被固定在所述開口內(nèi)，所述蓋 子的至少一部分是透明的以允許所述測試人員在所述蓋子處于所述關(guān)閉位置時(shí)能夠觀看 所述顯示設(shè)備。
4. 如權(quán)利要求1所述的掃描儀設(shè)備，其特征在于，所述掃描儀設(shè)備進(jìn)一步包括接口連接器，所述接口連接器被連接到所述底架上，所述接口連接器被通信地耦合到 所述至少一個(gè)探頭上；禾口通信端口 ，所述通信端口在所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備上，所述通信端口被耦合到所述接 口連接器上；其中來自所述至少一個(gè)應(yīng)用程序的所述命令通過所述通信端口和所述接口連接器而 被傳送。
5. 如權(quán)利要求1所述的掃描儀設(shè)備，其特征在于，其中所述應(yīng)用程序包括 數(shù)據(jù)采集部件，所述數(shù)據(jù)采集部件接收由所述至少一個(gè)探頭的測試信號(hào)發(fā)射導(dǎo)致的響應(yīng)信號(hào)；編碼器，所述編碼器用于確定所述掃描儀設(shè)備在所述測試對象上的位置，并且定義定 位(position location)，在所述定位所述響應(yīng)信號(hào)被獲??；數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換部件，所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換部件用于處理所述響應(yīng)信號(hào)；以及 成像部件，所述成像部件用于在所述顯示設(shè)備上呈現(xiàn)處理過的響應(yīng)信號(hào)。
6. 如權(quán)利要求1所述的掃描儀設(shè)備，其特征在于，其中所述底架進(jìn)一步包括用于支撐 所述至少一個(gè)探頭的柱，以便所述至少一個(gè)探頭從所述柱處是可移出的，以允許所述至少一個(gè)探頭被不同的探頭替換。
7. 如權(quán)利要求1所述的掃描儀設(shè)備，其特征在于，其中所述底架進(jìn)一步包括在所述底 架上形成的至少一個(gè)手柄以允許所述測試人員在所述測試對象上手動(dòng)地引導(dǎo)所述掃描儀 設(shè)備。
8. 如權(quán)利要求1所述的掃描儀設(shè)備，其特征在于，所述掃描儀設(shè)備進(jìn)一步包括與所述 計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備相通信的收發(fā)機(jī)，所述收發(fā)機(jī)可操作地用于發(fā)送產(chǎn)生于所述冶金無損測 試的數(shù)據(jù)并接收來自遠(yuǎn)端源的通信。
9. 如權(quán)利要求1所述的掃描儀設(shè)備，其特征在于，其中所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備是平板 計(jì)算機(jī)，所述平板計(jì)算機(jī)具有設(shè)置在其上的顯示設(shè)備，并且所述平板計(jì)算機(jī)面向外且在所 述測試人員的視線內(nèi)。
10. 如權(quán)利要求1所述的掃描儀設(shè)備，其特征在于，所述掃描儀設(shè)備進(jìn)一步包括通信地 耦合到所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備的第二顯示設(shè)備，所述第二顯示設(shè)備包括由所述測試者佩戴 的眼鏡(eyewear)，所述眼鏡接收所述圖像并且向所述測試者顯示所述圖像。
11. 如權(quán)利要求1所述的掃描儀設(shè)備，其特征在于，其中所述輪子包括設(shè)置在所述底架 的所述較低表面的接近角區(qū)域處的磁性輪子，用于在測試期間將所述掃描儀設(shè)備固定在所 述測試對象上。
12. 如權(quán)利要求1所述的掃描儀設(shè)備，其特征在于，所述掃描儀設(shè)備進(jìn)一步包括 馬達(dá)，所述馬達(dá)用于驅(qū)動(dòng)所述輪子；禾口電源，所述電源向所述馬達(dá)供電。
13. —種用于冶金無損掃描儀設(shè)備的底架，所述底架包括基底、從所述基底向上延伸的側(cè)壁，和由所述基底和所述側(cè)壁形成的用于接收計(jì)算機(jī) 處理器設(shè)備的開口；輪子，所述輪子在所述底架的所述基底之下延伸；至少一個(gè)無損測試探頭，所述至少一個(gè)無損測試探頭被固定到所述底架上；接口連接器，所述接口連接器被附接到所述底架上，所述接口連接器被通信地耦合到所述至少一個(gè)探頭上，所述接口連接器被配置為連接到所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備的通信端口上。
14. 如權(quán)利要求13所述的底架，其特征在于，所述底架進(jìn)一步包括延伸越過所述底架 中的所述開口的蓋子，所述蓋子在打開位置和關(guān)閉位置之間是可移動(dòng)的；其中，在所述打開位置，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備可以被插入到所述開口內(nèi)或者從所述 開口中被移出；并且在所述關(guān)閉位置，所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備被固定在所述開口內(nèi)，所述蓋 子的至少一部分是透明的以允許所述測試人員在所述蓋子處于所述關(guān)閉位置時(shí)能夠觀看 所述顯示設(shè)備。
15. 如權(quán)利要求13所述的底架，其特征在于，所述底架進(jìn)一步包括附接到所述底架上 的柱，所述柱用于將所述至少一個(gè)探頭耦合到所述底架上，以便所述至少一個(gè)探頭從所述 柱處是可移出的，以允許所述至少一個(gè)探頭被不同的探頭替換。
16. 如權(quán)利要求13所述的底架，其特征在于，所述底架進(jìn)一步包括在所述底架上形成 的至少一個(gè)手柄以允許所述測試人員在所述測試對象上手動(dòng)地引導(dǎo)所述掃描儀設(shè)備。
17. 如權(quán)利要求13所述的底架，其特征在于，所述底架進(jìn)一步包括收發(fā)機(jī)，所述收發(fā)機(jī)可操作地用于發(fā)送產(chǎn)生于所述冶金無損測試的數(shù)據(jù)并且接收來自遠(yuǎn)端源的通信。
18. 如權(quán)利要求13所述的底架，其特征在于，其中所述輪子包括設(shè)置在所述底架的所 述較低表面的接近角區(qū)域處的磁性輪子，用于在測試期間將所述底架固定在所述測試對象 上。
19. 如權(quán)利要求13所述的底架，其特征在于，所述底架進(jìn)一步包括 馬達(dá)，所述馬達(dá)用于驅(qū)動(dòng)所述輪子；禾口電源，所述電源向所述馬達(dá)供電。
全文摘要
提供一種用于冶金、無損測試的便攜、獨(dú)立的掃描儀設(shè)備(100)，所述便攜、獨(dú)立的掃描儀設(shè)備(100)包括底架(102)，其具有在其較低表面之下延伸的輪子(108)；可拆卸地固定到所述底架(102)上的無損測試探頭(118)；和耦合到所述底架(102)上的計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備(200)。所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備(200)包括可以由所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備(200)執(zhí)行的應(yīng)用程序，用于在測試對象(109)上執(zhí)行所述冶金無損測試。所述掃描儀設(shè)備(100)還包括顯示設(shè)備(216)，所述顯示設(shè)備響應(yīng)于所述冶金、無損測試而顯示圖像。所述底架(102)、計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備(200)和顯示設(shè)備作為單個(gè)單元沿所述測試對象(109)移動(dòng)。
文檔編號(hào)G01N29/265GK101765770SQ200880100387
公開日2010年6月30日 申請日期2008年7月11日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月27日
發(fā)明者J·L·布里納克, R·R·莫澤 申請人:阿爾斯托姆科技有限公司