專利名稱：用于光子計數(shù)探測器的事件共享恢復的制作方法
用于光子計數(shù)探測器的事件共享恢復
本發(fā)明涉及斷層攝影領(lǐng)域。具體而言，本發(fā)明涉及一種用于執(zhí)行并發(fā) 探測和校正的探測器裝置、用于檢驗感興趣對象的檢驗設(shè)備、檢驗感興趣 對象的方法、計算機可讀介質(zhì)、程序單元和信號處理裝置。
具有能量區(qū)分的光子計數(shù)探測器是將來頻譜計算機斷層攝影(CT)系 統(tǒng)的關(guān)鍵部件。當前基于鎘/鋅/碲(CZT)作為基本轉(zhuǎn)換器的探測器設(shè)計被 設(shè)計成用于探測和計數(shù)入射的光子，光子與CZT交互作用，從而產(chǎn)生電子 云。所生成的電子朝著陽極陣列加速，產(chǎn)生脈沖。
有兩種導致所測量信號劣化的公知效應(yīng)。第一種是所謂的脈沖共享效 應(yīng)。如果X射線光子撞擊在兩個陽極之間某處的CZT，所產(chǎn)生的電子會在
兩個陽極之間共享。電子線路會將信號解釋為兩個具有共享能量的獨立事 件。如果X射線光子產(chǎn)生所謂的熒光光子，可能會發(fā)生另一種導致類似錯 誤解釋的效應(yīng)。在這種情況下，X射線光子的能量部分給予了熒光光子， 而其余被沉積在局部。熒光光子的能量相對較高，且到達相鄰單元的可能 性很高。同樣，單個入射的X射線光子可以產(chǎn)生兩個具有共享能量當量的 信號。
這兩種效應(yīng)的可能性可能依賴于單元尺寸。較大的單元受兩種效應(yīng)影 響較小。
然而，另一個嚴峻的挑戰(zhàn)是實現(xiàn)高計數(shù)速率?？梢岳眯卧獊韺崿F(xiàn) 高計數(shù)速率，因為計數(shù)工作負荷被分擔在多個單獨計數(shù)速率要求較低的較 小單元上。必需要在這兩個競爭性耍求之間找到平衡。
希望光子計數(shù)探測器的測量信號劣化有所降低。
本發(fā)明提供一種探測器裝置、 一種檢驗設(shè)備、 一種檢驗感興趣對象的 方法、 一種計算機可讀介質(zhì)、 一種程序單元和一種具有根據(jù)獨立權(quán)利要求 所述特征的信號處理裝置。
應(yīng)當指出，以下描述的本發(fā)明示范性實施例也適用于檢驗感興趣對象 的方法、計算機可讀介質(zhì)、程序單元和信號處理裝置。種用于執(zhí)行并發(fā)探測和校正(CDC)
的探測器裝置，所述探測器裝置包括第一探測器單元和第二探測器單元， 所述第一探測器單元適于探測第一脈沖，產(chǎn)生第一探測數(shù)據(jù)，所述第二探 測器單元適于探測第二脈沖，產(chǎn)生第二探測數(shù)據(jù)；以及并發(fā)探測和校正單 元(CDC單元)，耦合到所述第一和第二探測器單元并適于探測所述第一和 第二脈沖的并發(fā)；其中，如果探測到并發(fā)，所述并發(fā)探測和校正單元還適 于對所述第一探測數(shù)據(jù)進行校正。
換言之，所述探測器裝置可以包括多個適于探測從入射光子產(chǎn)生的電 脈沖的探測器單元。每個探測器單元可以耦合到相應(yīng)的電子單元，電子單 元不僅注意相應(yīng)探測器單元探測到的電脈沖，還注意相鄰探測器單元探測 到的脈沖。在電子單元探測到由相鄰單元探測到的兩個脈沖并發(fā)的情況下， 根據(jù)并發(fā)校正所探測到的數(shù)據(jù)。可以通過不在一個單元中計數(shù)，而在另一 單元中計數(shù)能量水平為ei+e2的事件來進行這種校正(其中ei為在第一單元 中探測到的能量，e2為在第二相鄰單元中探測到的能量)。
這可以實現(xiàn)專門的并發(fā)探測和校正，于是實現(xiàn)降低脈沖共享和熒光效 應(yīng)所導致的串擾。
根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，基于對所述第一和第二探測數(shù)據(jù)的 分析進行所述并發(fā)的探測。
例如，根據(jù)該示范性實施例，分析基礎(chǔ)物理效應(yīng)(underlying physical effects)的特征。這種特定的特征是，脈沖共享事件的兩個脈沖是在相同的 吋間探測到的具有相似的脈沖形狀，但可能有不同的幅值。對于熒光而 言，可以分析熒光事件的相應(yīng)能量組。
這可以實現(xiàn)嚴格的并發(fā)探測。
根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，所述第一探測器單元適于產(chǎn)生對應(yīng) 于所述第一脈沖的第一測量結(jié)果和第二測量結(jié)果，其中所述第一測量結(jié)果 對應(yīng)于所述第一脈沖的第一時間，且其中所述第二測量結(jié)果對應(yīng)于所述第 一脈沖的第一能量。此外，所述第二探測器單元適于產(chǎn)生對應(yīng)于所述第二 脈沖的第三測量結(jié)果和第四測量結(jié)果，其中所述第三測量結(jié)果對應(yīng)于所述 第二脈沖的第二時間，且其中所述第四測量結(jié)果對應(yīng)于所述第二脈沖的第 二能量?；谒龅谝?、第二、第三和第四測量結(jié)果進行所述分析。于是，對于每對脈沖探測事件而言(在一個探測器單元探測到的每個 事件)，可以測量脈沖的探測時間和能量并彼此比較。
無論是否發(fā)生脈沖共享效應(yīng)或熒光光子產(chǎn)生，這都可以實現(xiàn)嚴格的判斷。
根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，所述并發(fā)探測和校正單元由一組閾 值進行參數(shù)化。
例如，所述一組閾值可以包括脈沖共享的允許時間窗口、熒光的允許
時間窗口、探測脈沖共享和x射線光子最大能量的相似測量結(jié)果的閾值。
此外，根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，基于并發(fā)的優(yōu)先級分配進行 所述第一探測數(shù)據(jù)的校正。
這些優(yōu)先級可以被靜態(tài)地、動態(tài)地或通過計算每次并發(fā)的可能性測量 結(jié)果以及可能性最高的并發(fā)的選擇來系統(tǒng)地加以定義。
根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，所述第一脈沖和所述第二脈沖對應(yīng) 于入射到所述探測器裝置上的電磁輻射。
換言之，所述探測器裝置可以適于探測單個光子。
根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，所述電磁輻射為x射線輻射。此外，
可以將所述探測器裝置用于醫(yī)療應(yīng)用的檢驗設(shè)備，例如計算機斷層攝影檢
驗設(shè)備或旋轉(zhuǎn)x射線設(shè)備。
此外，根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，所述探測器裝置包括適于探 測第三脈沖的第三探測器單元，其中所述第一、第二和第三探測器單元的 形狀使得所述第一和第二脈沖的并發(fā)可能性大于所述第一和第三脈沖的并 發(fā)可能性。
因此，具有四個相鄰單元的單元可能不需要用于四個相鄰單元的四個
CDC單元。CDC單元的數(shù)量可以減少到用于探測器單元長邊的相鄰單元的 兩個單元。
此外，根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，提供了一種具有探測器裝置 的檢驗設(shè)備，所述探測器裝置用于檢驗感興趣對象并執(zhí)行并發(fā)探測和校正，
其中所述探測器裝置包括第一探測器單元和第二探測器單元，所述第一 探測器單元適于探測第一脈沖，產(chǎn)生第一探測數(shù)據(jù)，所述第二探測器單元
適于探測第二脈沖，產(chǎn)生第二探測數(shù)據(jù)；以及并發(fā)探測和校正單元，耦合到所述第一和第二探測器單元并適于探測所述第一和第二脈沖的并發(fā)，其 中，如果探測到并發(fā)，所述并發(fā)探測和校正單元還適于對所述第一探測數(shù) 據(jù)進行校正。
這可以實現(xiàn)減少測量信號劣化的檢驗設(shè)備。
根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，所述檢驗設(shè)備被配置為由材料測試 設(shè)備、行李檢查設(shè)備和醫(yī)療應(yīng)用設(shè)備構(gòu)成的組的其中之一。
此外，根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，所述檢驗設(shè)備被改造為計算
機斷層攝影設(shè)備和旋轉(zhuǎn)x射線設(shè)備之一。
根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，提供了一種檢驗感興趣對象的方法，
其中由第一探測器單元探測第一脈沖，產(chǎn)生第一探測數(shù)據(jù)；并且其中由第 二單元探測第二脈沖，產(chǎn)生第二探測數(shù)據(jù)。此外，例如由耦合到第一和第 二探測器單元的并發(fā)探測和校正 單元探測第一和第二脈沖的并發(fā)。此外， 如果探測到并發(fā)，進行所述第一探測數(shù)據(jù)的校正。
應(yīng)當指出在該語境中，不僅可以進行第一探測數(shù)據(jù)的校正，而且可以 進行第二探測數(shù)據(jù)的校正，或者反之亦然。校正的形式可以取決于探測到 的并發(fā)的質(zhì)量。
根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，提供了一種計算機可讀介質(zhì)，其中 用于檢驗感興趣對象的計算機程序存儲在所述計算機可讀介質(zhì)中，在處理 器執(zhí)行所述計算機程序時，所述計算機程序使處理器執(zhí)行上述方法的步驟。
此外，根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，提供了一種用于檢驗感興趣 對象的程序單元，在處理器執(zhí)行所述程序單元時，所述程序單元令處理器 執(zhí)行上述方法的步驟。
本領(lǐng)域的技術(shù)人員將容易認識到，檢驗感興趣對象的方法可以實現(xiàn)為 計算機程序，即由軟件實現(xiàn)，或者可以利用一個或多個特定電子優(yōu)化電路， 即在硬件中實現(xiàn)，或者可以將該方法實現(xiàn)為混合形式，即借助軟件部件和 硬件部件實現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明示范性實施例的程序單元可以優(yōu)選地被加載到數(shù)據(jù)處理器 的工作存儲器中。于是可以裝備數(shù)據(jù)處理器以執(zhí)行本發(fā)明的方法的實施例。 計算機程序可以用任何適當?shù)某绦蛟O(shè)計語言，例如C十+寫成，且可以存儲 于諸如CD-ROM的計算機可讀介質(zhì)上。而且，可以從諸如萬維網(wǎng)的網(wǎng)絡(luò)上得到該計算機程序，可以從網(wǎng)絡(luò)上將該計算機程序下載到圖像處理單元或 處理器或任何適當?shù)挠嬎銠C中。
此外，根據(jù)本發(fā)明的另一示范性實施例，提供了一種用于檢驗感興趣 對象的圖像處理或信號處理裝置，所述信號處理裝置包括用于存儲所述感 興趣對象的數(shù)據(jù)組的存儲器，所述數(shù)據(jù)組包括關(guān)于第一脈沖的第一探測數(shù)
據(jù)和關(guān)于第二脈沖的第二探測數(shù)據(jù)；其中所述信號處理裝置適于探測所述 第一和第二脈沖的并發(fā)并且如果探測到并發(fā)則進行第一探測數(shù)據(jù)的校正。
可以將以下特征視為本發(fā)明示范性實施例的要點使用專門的并發(fā)探 測和校正方法來減輕脈沖共享和熒光導致的串擾效應(yīng)。根據(jù)本發(fā)明示范性 實施例的探測器裝置可以包括多個探測器單元，其中相應(yīng)探測器單元的并 發(fā)探測和校正單元注意在相鄰單元探測到的信號。如果同時在相鄰單元中 有脈沖，分析脈沖并可以對數(shù)據(jù)進行校正?？梢韵鄬τ诨A(chǔ)物理效應(yīng)的特 征優(yōu)化對脈沖的分析。
參考下文所述的實施例，本發(fā)明的這些和其他方面將變得顯見且得到 闡述。
將在下文中參考以下附圖描述本發(fā)明的示范性實施例。


圖1示出了根據(jù)本發(fā)明示范性實施例的CT檢驗設(shè)備的簡化示意圖。
圖2示出了 CZT探測器的簡化示意圖。
圖3示出了根據(jù)本發(fā)明示范性實施例的探測器幾何形狀的簡化示意圖。 圖4示出了根據(jù)本發(fā)明另一示范性實施例的探測器幾何形狀的簡化示意圖。
圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的示范性方法的流程圖。
圖6示出了根據(jù)本發(fā)明的圖像處理裝置的示范性實施例，用于執(zhí)行根 據(jù)本發(fā)明的方法的示范性實施例。
附圖中的圖示是示意性的。在不同附圖中，類似或相同的元件擁有相 同的附圖標記。
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的計算機斷層攝影掃描機系統(tǒng)的示范性實施例。 圖1所示的計算機斷層攝影設(shè)備100為錐形束CT掃描機。不過，也可
以利用扇形朿幾何形狀執(zhí)行本發(fā)明。為了產(chǎn)生基本扇形束，可以將孔徑系
統(tǒng)105配置為狹縫準直儀。圖1所示的CT設(shè)備包括臺架101，臺架可以繞旋轉(zhuǎn)軸102旋轉(zhuǎn)。通過 電動機103來驅(qū)動臺架101。附圖標記104表示諸如X射線源的輻射源， 根據(jù)本發(fā)明的一方面，輻射源發(fā)射多色或單色輻射。
附圖標記105表示孔徑系統(tǒng)，孔徑系統(tǒng)將輻射源發(fā)射的輻射束形成為 錐形輻射束106。引導錐形束106，使其穿透設(shè)置于臺架101中央，即CT 掃描機的檢査區(qū)域中的感興趣對象107，并入射到探測器108上。如從圖l 可以看出的，探測器108設(shè)置于臺架101上，與輻射源104相對，使得探 測器108的表面被錐形束106覆蓋。圖1所示的探測器108包括多個探測 器元件123，每個探測器元件都能夠探測已經(jīng)被感興趣對象107散射或透過 感興趣對象107的X射線。
下面參考圖2更詳細地描述探測器108。
在掃描感興趣對象107期間，沿著臺架101，在箭頭116表示的方向上 旋轉(zhuǎn)輻射源104、孔徑系統(tǒng)105和探測器108。為了旋轉(zhuǎn)帶有輻射源104、 孔徑系統(tǒng)105和探測器108的臺架101，將電動機103連接到電動機控制單 元117，電動機控制單元連接到重構(gòu)單元118 (也可以將其表示為判斷計算
單元)。
在圖1中，感興趣對象107是位于操作臺119上的人。在掃描例如人 107的心臟130期間，在臺架101繞著人107旋轉(zhuǎn)的同時，操作臺119使人 沿著平行于臺架101的旋轉(zhuǎn)軸102的方向位移。通過這樣做，沿著螺旋掃 描路徑掃描心臟130。在掃描期間也可以使操作臺119停止，由此測量單個 切片。應(yīng)當注意，在所有描述的情況下，也可以進行圓形掃描，其中，沒 有沿平行于旋轉(zhuǎn)軸102的方向上的位移，而僅有繞著旋轉(zhuǎn)軸102的臺架101 的旋轉(zhuǎn)。
此外，可以提供心電圖裝置135，在探測器108探測因通過心臟130而 衰減的X射線的同吋，心電圖裝置測量人107的心臟130的心電圖。將與 測得的心電圖相關(guān)的數(shù)據(jù)發(fā)送到重構(gòu)單元118。
探測器108連接到重構(gòu)單元118。重構(gòu)單元118接收來自探測器108的 探測器元件123的探測結(jié)果，即讀出，并基于這些讀出判斷掃描結(jié)果。此 外，邁構(gòu)單元118與電動機控制單元117通信，以便使臺架101的運動與 屯動機103和120，與操作臺119協(xié)調(diào)。
ii重構(gòu)單元118可以適于從探測器108的讀出重構(gòu)圖像。可以經(jīng)由接口 122將重構(gòu)單元118產(chǎn)生的重構(gòu)圖像輸出到顯示器(圖1中未示出)。
可以由數(shù)據(jù)處理器實現(xiàn)重構(gòu)單元118，以處理來自探測器108的探測器 元件123的讀出。
此外，如可以從圖1看出的，計算單元可以是連接到擴音器121以自 動輸出聲音信號。
重構(gòu)單元118處理測量數(shù)據(jù)，即心臟的計算機斷層攝影數(shù)據(jù)和心電圖數(shù) 據(jù)，可以經(jīng)由圖形用戶界面140進一步控制重構(gòu)單元118。這種回顧性 (retrospective)分析可以基于利用回顧性ECG選通的螺旋心臟錐形束重構(gòu) 方案。不過，應(yīng)當指出，本發(fā)明不限于特定的數(shù)據(jù)采集和構(gòu)建。
圖2示出了CZT探測器200的簡化示意圖，可以在諸如圖1的探測器 108的CT檢驗設(shè)備中實施該CZT探測器。
探測器200包括襯底208和鎘/鋅/碲(CZT)層209。此外，提供陰極 207和陽極陣列，包括陽極或探測器單元201、 202、 205。
入射的光子206與CZT 209交互作用并產(chǎn)生電子云。頂層207和底層 208之間的強電場使得該電子云朝下電極201、 202、 205加速。探測并計數(shù) 相關(guān)的脈沖。脈沖高度可以允許探測光子的能量。
圖3示出了探測器幾何形狀的簡化示意圖。圖3中所示的探測器裝置 包括9個探測器單元，例如探測器單元201、 202。此外，探測器裝置包括 十二個并發(fā)探測和校正單元，即CDC單元203和301-311。應(yīng)當指出，根 據(jù)本發(fā)明的探測器裝置可以包括更多探測器單元和CDC單元。
如從圖3可以看出的，每個探測器單元具有將單元耦合到相鄰單元的 CDC單元。因此，實現(xiàn)并發(fā)探測，使得每個探測器單元的電子線路注意相 鄰單元中探測到的信號。如果同吋在相鄰小區(qū)中有脈沖，可以分析脈沖并 可以對數(shù)據(jù)進行校正?？梢韵鄬τ诨A(chǔ)物理效應(yīng)的特征對脈沖的分析進行 優(yōu)化。這種特定的特征例如是，脈沖共享事件的兩個脈沖出現(xiàn)在恰相同的 吋間并具有非常相似的脈沖形狀但可能有不同的幅值。在熒光中，可能非 常精確地知道熒光事件的可能能量組。例如，如果使用CZT探測器，鎘和 碲的熒光能量是已知的。
應(yīng)當指出，可以利用模擬或數(shù)字部件(或其混合)實現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明的并發(fā)探測和校正。下面借助獨立于硬件實現(xiàn)的算法詳述給出對并發(fā)探測和 校正的描述。相應(yīng)的并發(fā)探測和校正單元可以置于預計會發(fā)生并發(fā)的每兩 個相鄰單元之間。例如，每個探測器單元每輸入脈沖產(chǎn)生兩個測量結(jié)果。
這些測量結(jié)果包括事件的吋間t和事件的能量e。此外，CDC單元包括用于 測量兩相鄰單元的脈沖形狀相似性的測量裝置。除了測量結(jié)果(t,， t2， ei， e2)之外，由一組閾值對CDC單元進行參數(shù)化。 四個示范性閾值為
T,，即用于脈沖共享的允許時間窗口，T2，即用于熒光的允許時間窗口， Ts，即用于探測脈沖共享的相似性測量的閾值，Te，即用于X射線光子的
最大能量。
可能會發(fā)生兩個單獨X射線光子在同一時間擊中兩個相鄰單元的情 況。在這種情況下，必須注意不要將這些事件作為脈沖共享或熒光處理。 可以定義參數(shù)和閾值，使得并發(fā)探測和校正的優(yōu)點勝過誤報探測的缺點或 計數(shù)速率能力的間接限制。
在單元探測超過一個相鄰單元的并發(fā)時，可以為特定并發(fā)分配優(yōu)先級。 這些優(yōu)先級可以被靜態(tài)地(例如，與右側(cè)鄰居之間的并發(fā)比與左側(cè)鄰居之 間的并發(fā)優(yōu)先級更高)、動態(tài)地(例如，交替的優(yōu)先級，隨機選擇)或通過 計算每次并發(fā)的可能性測量結(jié)果并選擇可能性最高的并發(fā)來系統(tǒng)地加以定 義。
為了通過使CDC單元保持簡單并通過使CDC單元的數(shù)量最小化來使 建立和布置CDC單元的工作量最小，可以實施優(yōu)化的單元幾何形狀。如圖 3所示，常規(guī)的探測器單元幾何形狀可以使用正方形電極。
圖4示出了根據(jù)本發(fā)明另一示范性實施例的單元幾何形狀的示意圖。 這里，諸如探測器單元201、 202、 204的探測器單元被改造成與圖3的正 方形電極具有相同面積的矩形電極形式。因此，對于探測器單元201的短 邊處的相鄰單元404、 204減小了脈沖共享和熒光的可能性。在這種設(shè)計中， 可以將CDC單元203、 402的數(shù)量減少到長邊處相鄰單元202、 403的兩個 單元。因此，不再需要CDC單元401。
應(yīng)當指出，也可以將所提出的CDC方案應(yīng)用于不同于圖3和4所示那 些的其他幾何形狀。圖5示出了根據(jù)本發(fā)明示范性實施例的方法的流程圖。方法始于步驟1 ， 輻射源發(fā)射電磁輻射。然后，在步驟2中，由第一探測器單元探測第一脈 沖，第一脈沖產(chǎn)生第一探測數(shù)據(jù)。大約同時，第二探測器單元探測第二脈 沖，產(chǎn)生第二探測數(shù)據(jù)(步驟3)。然后，在步驟4中，由連接到第一和第 二探測器單元的并發(fā)探測和校正單元探測第一和第二脈沖的并發(fā)。
如果脈沖的相似性測量結(jié)果超過閾值(Ts)且脈沖時間"，t2)的絕 對差低于閾值(TO，且脈沖的能量(eP e2)之和不超過閾值(Te)，則假 設(shè)是脈沖共享。
如果脈沖時間(tP t2)的絕對差低于閾值(T2)，且e,或e2對應(yīng)于所 采取的熒光能量水平之一，且脈沖的能量(ei, e2)之和不超過閾值(Te)， 則假設(shè)是熒光。
如果探測到并發(fā)(脈沖共享或熒光)且并發(fā)具有最高的優(yōu)先級，則在 步驟5中校正兩個單元的測量結(jié)果。校正由如下方面構(gòu)成
a) 不在一個單元中計數(shù)事件，以及
b) 在其他單元中計數(shù)能量水平為e,+e2的事件。
可以靜態(tài)地或動態(tài)地(例如交替或隨機地)定義必需要根據(jù)哪種校正 方案校正哪個單元的問題。
圖6示出了根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)處理裝置600的示范性實施例，用于執(zhí) 行根據(jù)本發(fā)明的方法的示范性實施例。
圖6所示的數(shù)據(jù)處理裝置600包括連接到存儲器602的中央處理單元 (CPU)或諸如圖像處理器601的信號處理器，存儲器602用于存儲探測 器裝置采集的且表示感興趣對象，例如患者或一件行禮的探測數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù) 處理器或圖像處理器601可以連接到多個輸入/輸出網(wǎng)絡(luò)或診斷裝置，例如 CT裝置。數(shù)據(jù)處理器601還可以連接到顯示裝置603，例如計算機監(jiān)視器， 用于顯示數(shù)據(jù)處理器601中計算或修改的信息或圖像。操作者或用戶可以 經(jīng)由鍵盤604和/或其他圖6中未示出的輸入或輸出裝置與數(shù)據(jù)處理器601 交互。
此外，通過總線系統(tǒng)605，也可以將信號處理和控制處理器601連接到 例如運動監(jiān)視器，運動監(jiān)視器監(jiān)測感興趣對象的運動。例如，在對患者的 肺部成像的情況下，運動傳感器可以是呼出氣體傳感器。在對心臟成像的情況下，運動傳感器可以是心電圖。
還可以將本發(fā)明的示范性實施例作為CT掃描機控制臺、圖像工作站或
PACS工作站的軟件選項加以銷售。
應(yīng)當注意，術(shù)語"包括"并不排除其他元件或步驟，"一"并不排除多 個。而且可以對不同實施例描述的相關(guān)元件進行組合。
還應(yīng)當注意，權(quán)利要求中的附圖標記不應(yīng)被解釋為限制權(quán)利要求的范 圍。 '
權(quán)利要求
1、一種用于執(zhí)行并發(fā)探測和校正的探測器裝置(200)，所述探測器裝置(200)包括第一探測器單元(201)和第二探測器單元(202)，所述第一探測器單元適于探測第一脈沖，產(chǎn)生第一探測數(shù)據(jù)，所述第二探測器單元適于探測第二脈沖，產(chǎn)生第二探測數(shù)據(jù)；以及并發(fā)探測和校正單元(203)，耦合到所述第一和第二探測器單元并適于探測所述第一和第二脈沖的并發(fā)；其中，如果探測到并發(fā)，則所述并發(fā)探測和校正單元(203)還適于對所述第一探測數(shù)據(jù)進行校正。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測器裝置(200)，其中，基于對所述第一和第二探測數(shù)據(jù)的分析進行所述并發(fā)的探測。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的探測器裝置(200)，其中，所述第一探測器單元(201)適于產(chǎn)生對應(yīng)于所述第一脈沖的第 一測量結(jié)果和第二測量結(jié)果；其中，所述第一測量結(jié)果對應(yīng)于所述第一脈沖的第一時間，并且其中， 所述第二測量結(jié)果對應(yīng)于所述第一脈沖的第一能量；其中，所述第二探測器單元(202)適于產(chǎn)生對應(yīng)于所述第二脈沖的第 三測量結(jié)果和第四測量結(jié)果；其中，所述第三測量結(jié)果對應(yīng)于所述第二脈沖的第二時間，并且其中， 所述第四測量結(jié)果對應(yīng)于所述第二脈沖的第二能量；其中，基于所述第一、第二、第三和第四測量結(jié)果進行所述分析。
4、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的探測器裝置(200)，其中，所述分析適于判斷是否已發(fā)生脈沖共享事件或熒光光子產(chǎn)生事件。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測器裝置(200)，其中，所述并發(fā)探測和校正單元(203)由一組閾值進行參數(shù)化；并且 其中，基于所述參數(shù)化對所述第一探測數(shù)據(jù)進行校正。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測器裝置(200)，其中，基于并發(fā)的優(yōu)先級分配進行所述第一探測數(shù)據(jù)的校正。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的探測器裝置(200)，其中，基于每個并發(fā)的可能性測量結(jié)果以及具有最高可能性的并發(fā)的 選擇執(zhí)行所述優(yōu)先級分配。
8、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測器裝置(200)，其中，所述第一脈沖和所述第二脈沖對應(yīng)于入射到所述探測器裝置上 的電磁輻射。
9、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的探測器裝置(200)， 其中，所述電磁輻射為x射線輻射。
10、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測器裝置(200)，其中，所述探測器裝置(200)適用于計算機斷層攝影檢驗設(shè)備。
11、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測器裝置(200), 還包括適于探測第三脈沖的第三探測器單元(204);其中，所述第一、第二和第三探測器單元(201， 202， 204)的形狀使 得所述第一和第二脈沖的并發(fā)可能性大于所述第一和第三脈沖的并發(fā)可能 性。
12、 一種具有探測器裝置(200)的檢驗設(shè)備(100)，所述探測器裝置 (200)用于檢驗感興趣對象(107)并進行并發(fā)探測和校正，所述探測器裝置包括第一探測器單元(201)和第二探測器單元(202)，所述第一探測器單 元適于探測第一脈沖，產(chǎn)生第一探測數(shù)據(jù)，所述第二探測器單元適于探測 第二脈沖，產(chǎn)生第二探測數(shù)據(jù)；以及并發(fā)探測和校正單元(203)，耦合到所述第一和第二探測器單元并適 于探測所述第一和第二脈沖的并發(fā)；其中，如果探測到并發(fā)，所述并發(fā)探測和校正單元(203)還適于對所 述第一探測數(shù)據(jù)進行校正。
13、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢驗設(shè)備(100)，所述檢驗設(shè)備(100) 被配置為由材料測試設(shè)備、行李檢查設(shè)備、醫(yī)療應(yīng)用設(shè)備和微型CT系統(tǒng)構(gòu) 成的組的其中之一。
14、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢驗設(shè)備(100)，所述檢驗設(shè)備(100) 被改造為計算機斷層攝影設(shè)備和旋轉(zhuǎn)X射線設(shè)備之一。
15、 一種利用檢驗設(shè)備(100)檢驗感興趣對象(107)的方法，所述 方法包括如下步驟:由第一探測器單元(201)探測第一脈沖，產(chǎn)生第一探測數(shù)據(jù)； 由第二探測器單元(202)探測第二脈沖，產(chǎn)生第二探測數(shù)據(jù)； 探測所述第一和第二脈沖的并發(fā)； 如果探測到并發(fā)，則進行所述第一探測數(shù)據(jù)的校正。
16、 一種計算機可讀介質(zhì)(602)，其中存儲用于檢驗感興趣對象的計 算機程序，在處理器(601)執(zhí)行所述計算機程序時，所述計算機程序使所 述處理器執(zhí)行如下步驟由第一探測器單元(201)探測第一脈沖，產(chǎn)生第一探測數(shù)據(jù)；由第二探測器單元(202)探測第二脈沖，產(chǎn)生第二探測數(shù)據(jù)；探測所述第一和第二脈沖的并發(fā)；如果探測到并發(fā)，則進行所述第一探測數(shù)據(jù)的校正。
17、 一種用于檢驗感興趣對象的程序單元，在處理器(601)執(zhí)行所述程序單元時，所述程序單元使所述處理器執(zhí)行如下步驟由第一探測器單元(201)探測第一脈沖，產(chǎn)生第一探測數(shù)據(jù)； 由第二探測器單元(202)探測第二脈沖，產(chǎn)生第二探測數(shù)據(jù)； 探測所述第一和第二脈沖的并發(fā)；如果探測到并發(fā)，則進行所述第一探測數(shù)據(jù)的校正。
18、 一種用于檢驗感興趣對象(107)的信號處理裝置，所述信號處理 裝置包括用于存儲所述感興趣對象(107)的數(shù)據(jù)組的存儲器，所述數(shù)據(jù)組包括 關(guān)于第一脈沖的第一探測數(shù)據(jù)和關(guān)于第二脈沖的第二探測數(shù)據(jù)； 其中，所述信號處理裝置適于 探測所述第一和第二脈沖的并發(fā)； 如果探測到并發(fā)，則進行所述第一探測數(shù)據(jù)的校正。
全文摘要
光子計數(shù)探測器可能受到脈沖共享效應(yīng)和熒光光子產(chǎn)生的影響，這些效應(yīng)可能會導致測量信號劣化。根據(jù)本發(fā)明的示范性實施例，提供了一種探測器裝置，其適于通過比較相鄰單元的探測事件進行并發(fā)探測和校正，由此實現(xiàn)并發(fā)事件識別，并繼之以個別的并發(fā)校正。為了減少并發(fā)探測和每個探測器裝置的對應(yīng)單元數(shù)量，可以采用特定的探測器單元幾何形狀。
文檔編號G01T1/29GK101600974SQ200880003815
公開日2009年12月9日 申請日期2008年1月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年2月1日
發(fā)明者R·普羅克紹 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司