專利名稱：：一種超聲波探傷試塊的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本實(shí)用新型涉及一種超聲波探傷試塊。屬于對(duì)比試塊。技術(shù)背景不同領(lǐng)域、種類的工件超聲波探傷需采用不同的超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)，如壁厚小于等于120毫米的鍋爐集箱焊縫探傷應(yīng)采用JB1152-81《鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫超聲波探傷》，壁厚大于120毫米的鍋爐集箱、鋼結(jié)構(gòu)等焊縫探傷應(yīng)采用GB11345-89《鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)》，管子和管道焊縫探傷采用DL/T820-2002《管道焊接接頭超聲波檢驗(yàn)技術(shù)規(guī)程》，集中下降管角焊縫探傷采用JB3144-82《鍋爐大口徑管座角焊縫超聲波探傷》，壓力容器等承壓部件焊縫探傷采用JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢測》。上述不同的超聲波檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)都對(duì)試塊作了不同的規(guī)定，同時(shí)各標(biāo)準(zhǔn)均認(rèn)為在滿足靈敏度要求的情況下，可以采用其它型式的試塊。各種超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)常用試塊特點(diǎn)分析如下1、JB1152-81標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定試塊JB1152-81《鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫超聲波探傷》標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了CSK-IA、CSK-IIA、CSK-niA三種試塊。另外該標(biāo)準(zhǔn)3.3要求"在滿足靈敏度要求下，可以采用其他型式的試塊"。(1)CSK-IA試塊又稱船形試塊，其主要用途①利用R100曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度。②利用O50和Ol.5圓孔測定斜探頭的折射角。③利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況。④利用厚度尺寸25ram測定探傷儀的水平線性，垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍。⑤利用厚度尺寸25mm調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度。⑥利用R50和R100曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度。⑦利用①50、044、①40三個(gè)臺(tái)階孔，測定斜探頭的分辨力。(2)CSK-IIA試塊含有①2X40的長橫孔，其主要用途①繪制距離一波幅曲線。②調(diào)整探測范圍和掃描速度。③測定斜探頭的K值。(3)CSK-IIIA試塊含有7個(gè)不同深度的①1X6短橫孔，深度間隔10毫米。為了克服試塊側(cè)面和端面反射的影響，在試塊側(cè)面短橫孔處加工了兩個(gè)R10圓弧槽。其主要用途①繪制距離一波幅曲線。②調(diào)整探測范圍和掃描速度。③測定斜探頭的K值。2、GB11345-89標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定試塊GB11345-89《鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)》，標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了CSK-IB、RB—1、RB—2、RB—3共計(jì)四種試塊。(1)CSK-IB試塊的型式同JB1152-81中的CSK-IA試塊，其作用相同。(2)RB—1、RB—2、RB—3為系列試塊，分別適合8。25、8^100、8^150的板厚，其標(biāo)準(zhǔn)反射體為①3X40的橫通孔，其主要用途①繪制距離一波幅曲線。②調(diào)整探測范圍和掃描速度。③測定斜探頭的K值。3、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定試塊DL/T820-2002《電力建設(shè)施工及驗(yàn)收技術(shù)規(guī)范(管道焊接接頭超聲波檢篇)》，標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了CSK-IB、RB—3、SD-m、SD-IV、IIW2共計(jì)五種試塊。(1)CSK-IB試塊的型式同JB1152-81中的CSK-IA試塊，其作用相同。(2)RB—3試塊的型式同GB11345-89中的RB—3試塊，其作用相同。(3)SD-III為對(duì)比試塊，長150，寬50，開有1.5毫米深單邊V形槽，主要用于管道焊接接頭根部缺陷的對(duì)比測定。(4)SD-IV、nw2為攜帶式試塊，其主要用途①利用半圓測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度。②利用05或5圓孔測定斜探頭的折射角。③利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況。④利用厚度尺寸測定探傷儀的水平線性，垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍。⑤利用厚度尺寸調(diào)縱波探測范圍和掃描速度。⑥利用兩個(gè)不同的圓弧面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度。4、JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定試塊JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢測》共有幾十個(gè)超聲試塊。該標(biāo)準(zhǔn)3.5.1.2要求"試塊應(yīng)采用與被探工件相同或近似聲學(xué)性能的材料制成。該材料用直探頭檢測時(shí)，不得有大于02平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。"其主要試塊分述如下。(1)鋼板板厚大于20咖時(shí)，單直探頭檢測鋼板用試塊(CSK-IA試塊，其型式同JB1152-81中的CSK-IA試塊，作用相同)。該試塊為不同深度的100X100方形試塊，底部帶有05平底孔。(2)鍛件探測距離大于等于45mm時(shí)，采用直探頭檢測鍛件用試塊(CSK-IIA試塊，其型式同JB1152-81中的CSK-IIA試塊，作用相同)，該試塊為一圓柱形，帶有不同深度的02平底孔。(3)鍛件探測距離小于45mm時(shí)，采用的雙晶直探頭檢測鍛件用試塊(CSK-IIIA試塊，其型式同JB1152-81中的CSK-IIIA試塊，作用相同)，該試塊為50X50X250的長方形試塊，帶有9個(gè)深度不同的①2或03或04或06平底孔。5、JB3144-82標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定試塊集中下降管采用JB3144-82《鍋爐大口徑管座角焊縫超聲波探傷》，該標(biāo)準(zhǔn)有曲面平底孔試塊和CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA試塊。(1)曲面試塊為一帶有03和06平底孔的長方形試塊，其主要用于探傷靈敏度的調(diào)整。(2)CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA試塊與JB1152-81《鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫超聲波探傷》規(guī)定的CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA試塊相同。綜上所述，各種超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)常用的試塊種類繁多，各種試塊用途各不相同，給從事多領(lǐng)域工作的超聲波探傷工作帶來不便。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種能夠滿足現(xiàn)場常用功能及部分試驗(yàn)室功能需要，可以替代多種標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的試塊，且方便攜帶，使用方便的一種超聲波探傷試塊。本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案本實(shí)用新型包括有試塊，試塊為正方柱體；其特征在于在所述試塊的各側(cè)面上設(shè)有滿足各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試塊的主要功能的反射體，各反射體的具體分布如下(1)在試塊主面上設(shè)有的反射體如下a.在試塊主面右端設(shè)有繪制10mm、20ram、30腿、50mm、60mm深0)1X6距離一波幅曲線用的第一短橫孔和第二短橫孔，并且在第一、第二短橫孔的端口處設(shè)有與該兩個(gè)短橫孔軸線垂直的半圓形圓弧槽；第一短橫孔位于試塊主面的水平中心線上；b.在試塊主面左端面設(shè)有調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度的第一曲面和第二曲面；第一曲面的半徑小于第二曲面的半徑；c.在試塊主面左端設(shè)有繪制10mm、20mm、30mm、50咖、60mm深O3X40距離—波幅曲線的第一長橫孔和第二長橫孔；第一長橫孔位于試塊主面的水平中心線上；(2)在試塊頂面上設(shè)有的反射體如下a.在試塊頂面左端并且與第一、第二長橫孔在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第一線切割槽；第一線切割槽位于試塊頂面的水平中心線上且與其垂直；b.在試塊右端并且與第一、第二短橫孔在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第二線切割槽；第二線切割槽位于試塊頂面的水平中心線上且與其垂直；(3)在試塊底面上設(shè)有的反射體如下a.在試塊底面左端設(shè)有用于檢測鍛件或焊縫時(shí)調(diào)節(jié)靈敏度的第一平底孔；第一平底孔位于試塊底面的水平中心線上；b.在試塊底面右端的水平中心線上設(shè)有用于檢測鋼板時(shí)調(diào)節(jié)探傷靈敏度的第二平底孔；c.在試塊底面右端并且與第一、第二短橫孔在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第三線切割槽；第三線切割槽位于試塊底面的水平中心線上且與其垂直；d在試塊底面左端并且與第一、第二長橫孔在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第四線切割槽；第四線切割槽位于試塊底面的水平中心結(jié)上且與其垂直；(4)在試塊背面上設(shè)有的反射體如下在試塊背面與第二曲面在同一端面的位置處設(shè)有用于測量斜探頭的分辨率的第三曲面、第四曲面；第三、第四、第二曲面的半徑依次由小至大并且形成三個(gè)臺(tái)階。本實(shí)用新型的有益效果是本試塊具有目前常用標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定試塊的反射體，能滿足各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試塊的主要功能，并且體積小、重量輕、攜帶方便，對(duì)于從事多領(lǐng)域工件的超聲波探傷工作，方便現(xiàn)場使用，很有實(shí)際意義。圖l為本實(shí)用新型的主視圖。圖2為圖1的俯視圖。圖3為圖1的仰視圖。圖4為圖1的左視圖。圖5為圖1的后視圖。圖6為圖1的A—A剖視圖。圖7為圖1的B—B剖視圖。圖8為圖3的C一"C剖視圖。圖9為圖3的D"D剖視圖。在圖1一9中，l.試塊，2.第一短橫孔，3.第二短橫孔，4.第二長橫孔，5.第一長橫孔，6.第一曲面，7.第二曲面，8.半圓形圓弧槽，9.第二平底孔，IO.第三線切割槽，ll.第四線切割槽，12.第一平底孔，13.第一線切割槽，14.第二線切割槽，15.第四曲面，16.第三曲面。具體實(shí)施方式由圖l一9所示的實(shí)施例可知，它包括有試塊1，試塊1為正方柱體；其特征在于在所述試塊1的各側(cè)面上設(shè)有滿足各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試塊的主要功能的反射體，各反射體的具體分布如下-(1)在試塊主面上設(shè)有的反射體如下-a.在試塊主面右端設(shè)有繪制10mm、20腿、30mm、50mm、60mra深①1X6距離_波幅曲線用的第一短橫孔2和第二短橫孔3，并且在第一、第二短橫孔2、3的端口處設(shè)有與該兩個(gè)短橫孔軸線垂直的半圓形圓弧槽8;第一短橫孔2位于試塊主面的水平中心線上；b.在試塊主面左端面設(shè)有調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度的第一曲面6和第二曲面7;第一曲面6的半徑小于第二曲面7的半徑；c.在試塊主面左端設(shè)有繪制10mm、20mm、30mm、50mm、60ram深0)3X40距離—波幅曲線的第一長橫孔5和第二長橫孔4;第一長橫孔5位于試塊主面的水平中心線上；(2)在試塊頂面上設(shè)有的反射體如下a.在試塊頂面左端并且與第一、第二長橫孔5、4在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第一線切割槽13;第一線切割槽13位于試塊頂面的水平中心線上且與其垂直；b.在試塊右端并且與第一、第二短橫孔2、3在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第二線切割槽14;第二線切割槽14位于試塊頂面的水平中心線上且與其垂直；(3)在試塊底面上設(shè)有的反射體如下a.在試塊底面左端設(shè)有用于檢測鍛件或焊縫時(shí)調(diào)節(jié)靈敏度的第一平底孔12;第一平底孔12位于試塊底面的水平中心線上；b.在試塊底面右端的水平中心線上設(shè)有用于檢測鋼板時(shí)調(diào)節(jié)探傷靈敏度的第二平底孔9;c.在試塊底面右端并且與第一、第二短橫孔2、3在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第三線切割槽10;第三線切割槽10位于試塊底面的水平中心線上且與其垂直；d在試塊底面左端并且與第一、第二長橫孔5、4在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第四線切割槽11;第四線切割槽11位于試塊底面的水平中心結(jié)上且與其垂直；(4)在試塊背面上設(shè)有的反射體如下在試塊背面與第二曲面7在同一端面的位置處設(shè)有用于測量斜探頭的分辨率的第三曲面16、第四曲面15;第三、第四、第二曲面16、15、7的半徑依次由小至大并且形成三個(gè)臺(tái)階。本實(shí)施例的試塊1選用#20平爐鎮(zhèn)靜鋼，正火處理，晶粒度7—8級(jí)，公差0.1毫米以內(nèi)，光潔度V7。試塊1的尺寸為40X40X220mm。在本實(shí)施例中，各反射體的尺寸及作用如下(1)第一、第二短橫孔2、3，尺寸為CD1X6mm,作用是兩個(gè)短橫孔相互配合可以繪制10mm、20mm、30ram、50mm、60mm深OlX6距離一波幅曲線。(2)第一、第二長橫孔5、4，尺寸為03X40mm，作用是它們相互配合可以繪制10mm、20腿、30腿、50mm、60mra深①3X40距離—波幅曲線。(3)第一曲面6，尺寸為R20咖，作用是與第二曲面7配合調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度。(4)第二曲面7，尺寸為R40mm，作用是測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度；和第一曲面6配合調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度；可以與第四、第三曲面15、16配合測量斜探頭的分辨率。(5)半圓形圓弧槽8，尺寸R10mm，作用是避免第一、第二短橫孔2、3的邊界效應(yīng)。(6)第二平底孔9，尺寸為①5X25ram，作用是可以在檢測鋼板時(shí)調(diào)節(jié)探傷靈敏度。(7)第一、第二、第三、第四線切割槽13、14、10、11，它們的尺寸分別為寬度X深度依次為lX2mm，lX4mm，lXlmm，1X1.5mm;它們的作用中相互配合用于部件裂紋深度的對(duì)比測定。另外，第四深度線切割槽11可用于DL/T820-2002中管道焊接接頭根部觖陷的對(duì)比測定。(8)第一平底孔12，尺寸為02X10mm，作用中可以檢測鍛件或焊縫時(shí)調(diào)節(jié)靈敏度。(9)第三曲面16、第四曲面15，它們的尺寸分別為R35mm，R38ram，其作用是它們分別與第二曲面7配合測量斜探頭分辨率。常用試塊與本試塊比較對(duì)常用試塊與本試塊進(jìn)行了比較，由于下比較可見，本試塊可滿足現(xiàn)場常用功能及部分試驗(yàn)室功能需要，可替代多種標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的試<table>tableseeoriginaldocumentpage12</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage13</column></row><table>權(quán)利要求1、一種超聲波探傷試塊，包括有試塊(1)，試塊(1)為正方柱體；其特征在于在所述試塊(1)的各側(cè)面上設(shè)有滿足各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試塊的主要功能的反射體，各反射體的具體分布如下(1)在試塊主面上設(shè)有的反射體如下a.在試塊主面右端設(shè)有繪制10mm、20mm、30mm、50mm、60mm深Φ1×6距離_波幅曲線用的第一短橫孔(2)和第二短橫孔(3)，并且在第一、第二短橫孔(2、3)的端口處設(shè)有與該兩個(gè)短橫孔軸線垂直的半圓形圓弧槽(8)；第一短橫孔(2)位于試塊主面的水平中心線上；b.在試塊主面左端面設(shè)有調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度的第一曲面(6)和第二曲面(7)；第一曲面(6)的半徑小于第二曲面(7)的半徑；c.在試塊主面左端設(shè)有繪制10mm、20mm、30mm、50mm、60mm深Φ3×40距離_波幅曲線的第一長橫孔(5)和第二長橫孔(4)；第一長橫孔(5)位于試塊主面的水平中心線上；(2)在試塊頂面上設(shè)有的反射體如下a.在試塊頂面左端并且與第一、第二長橫孔(5、4)在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第一線切割槽(13)；第一線切割槽(13)位于試塊頂面的水平中心線上且與其垂直；b.在試塊右端并且與第一、第二短橫孔(2、3)在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第二線切割槽(14)；第二線切割槽(14)位于試塊頂面的水平中心線上且與其垂直；(3)在試塊底面上設(shè)有的反射體如下a.在試塊底面左端設(shè)有用于檢測鍛件或焊縫時(shí)調(diào)節(jié)靈敏度的第一平底孔(12)；第一平底孔(12)位于試塊底面的水平中心線上；b.在試塊底面右端的水平中心線上設(shè)有用于檢測鋼板時(shí)調(diào)節(jié)探傷靈敏度的第二平底孔(9)；c.在試塊底面右端并且與第一、第二短橫孔(2、3)在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第三線切割槽(10)；第三線切割槽(10)位于試塊底面的水平中心線上且與其垂直；d在試塊底面左端并且與第一、第二長橫孔(5、4)在同一剖面上的位置處設(shè)有用于部件裂紋深度的對(duì)比測定的第四線切割槽(11)；第四線切割槽(11)位于試塊底面的水平中心結(jié)上且與其垂直；(4)在試塊背面上設(shè)有的反射體如下在試塊背面與第二曲面(7)在同一端面的位置處設(shè)有用于測量斜探頭的分辨率的第三曲面(16)、第四曲面(15)；第三、第四、第二曲面(16、15、7)的半徑依次由小至大并且形成三個(gè)臺(tái)階。專利摘要本實(shí)用新型涉及一種超聲波探傷試塊，它包括有正方柱體試塊，要所述試塊各側(cè)面上設(shè)有滿足各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試塊的主要功能的反射體。本實(shí)用新型的有益效果是本試塊具有目前常用標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定試塊的反射體，能滿足各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試塊的主要功能，并且體積小、重量輕、攜帶方便，對(duì)于從事多領(lǐng)域工件的超聲波探傷工作，方便現(xiàn)場使用，很有實(shí)際意義。文檔編號(hào)G01N29/22GK201207045SQ20082007649公開日2009年3月11日申請日期2008年3月12日優(yōu)先權(quán)日2008年3月12日發(fā)明者張彥新,敬尚前,李中偉,李樹軍,李瑞峰,牛曉光,郝紅衛(wèi)申請人:河北省電力研究院