專利名稱：Led顯示屏像素陣列光強分布測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種LED顯示屏像素陣列光強分布測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
近年來，隨著平板顯示技術(shù)和圖像顯示技術(shù)的發(fā)展，顯示設(shè)備有向大面 積、數(shù)字化，高清晰發(fā)展的趨勢?，F(xiàn)有的顯示設(shè)備特別是戶外大面積、超大 面積LED顯示器，由于分立發(fā)光像素單元(組)本身具有離散性，以及它們 本身的光學(xué)特性、結(jié)構(gòu)形狀及封裝工藝等因素的影響，使得LED顯示屏的光 強分布隨視角變化比較明顯。由于LED發(fā)光的方向性比較強， 一般情況下， 法向光強最強，向四周方向光強逐漸減弱，并且LED的封裝結(jié)構(gòu)對其半視角 大小也有影響。不同基色的LED半視角大小也不相同。在由單色LED為基 本像素點構(gòu)成的平板顯示系統(tǒng)中，不同視角的光強分布是由LED管發(fā)光特性 決定的，這必然會影響到平板顯示屏的亮色度均勻性。因此，有必要對平板 顯示屏在不同角度上的光強分布進(jìn)行較為準(zhǔn)確的測試，并對數(shù)據(jù)進(jìn)行相應(yīng)的 處理分析，進(jìn)而對平板顯示屏的顯示效果進(jìn)行預(yù)評估。然而，LED顯示屏面 積較大，用CCD相機等光色測量器件獲取整屏亮色度信息必然會出現(xiàn)因視角 引起的亮度誤差。
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的要解決的技術(shù)問題是提供一種對平板顯示屏在不同角度上 的光強分布進(jìn)行較為準(zhǔn)確的測試的LED平板顯示屏像素陣列光強分布測試 系統(tǒng)。
為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型的LED平板顯示屏像素陣列光強分 布測試系統(tǒng)包括測試轉(zhuǎn)臺，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，計算機；LED顯示屏模組垂直放 置于測試轉(zhuǎn)臺上；數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)置于測試轉(zhuǎn)臺的正前方，并且數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)通過數(shù)據(jù)傳輸線與計算機連接。
轉(zhuǎn)動測試轉(zhuǎn)臺，LED顯示屏模組隨測試轉(zhuǎn)臺每轉(zhuǎn)動一個角度，數(shù)據(jù)采集系 統(tǒng)對LED顯示屏模組進(jìn)行一次光強數(shù)據(jù)的采集，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集的光強數(shù) 據(jù)錄入計算機數(shù)據(jù)庫。
本實用新型通過改變數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相對于LED顯示屏模組的視角，實現(xiàn) 對LED顯示屏像素陣列多角度光強信息的采集，并將光強數(shù)據(jù)錄入計算機數(shù) 據(jù)庫。這樣就可以在此基礎(chǔ)上分析由視角引起的LED顯示屏光強分布的變化 情況，針對不同的LED顯示屏總結(jié)出其相應(yīng)的變化規(guī)律，從而為LED平板 顯示屏出廠前校正及現(xiàn)場校正提供依據(jù)。并且本實用新型以模組為單位進(jìn)行 光強分布測試，可以減小視角對光強測試結(jié)果的影響。
本實用新型還可以包括轉(zhuǎn)動控制裝置；轉(zhuǎn)動控制裝置包括控制系統(tǒng)和電 機；計算機與控制系統(tǒng)的輸入連接，控制系統(tǒng)的輸出與電機連接，電機的轉(zhuǎn) 軸與測試轉(zhuǎn)臺的轉(zhuǎn)動軸連接。
計算機可以通過控制系統(tǒng)精確控制電機按照設(shè)定的角度轉(zhuǎn)動，從而實現(xiàn)對 LED顯示屏像素陣列多角度光強信息的采集，建立LED顯示屏像素陣列光 強分布數(shù)據(jù)庫。
本實用新型還可以包括固定支架、轉(zhuǎn)動手柄及傳動系統(tǒng)；轉(zhuǎn)動手柄安裝在 固定支架上，其轉(zhuǎn)軸通過傳動系統(tǒng)與測試轉(zhuǎn)臺的轉(zhuǎn)動軸連接；測試轉(zhuǎn)臺的邊 緣帶有角度刻度；指針固定連接在固定支架上。
初始狀態(tài)，指針對準(zhǔn)測試轉(zhuǎn)臺邊緣的O刻度線。指針對準(zhǔn)0刻度線是從 法線方向上對LED顯示屏模組進(jìn)行光強采集。然后轉(zhuǎn)動轉(zhuǎn)動手柄，通過傳動 系統(tǒng)帶動測試轉(zhuǎn)臺在-90度一+90度范圍內(nèi)轉(zhuǎn)動，測試轉(zhuǎn)臺每轉(zhuǎn)過一個設(shè)定的 角度，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)對LED顯示屏模組進(jìn)行一次光強數(shù)據(jù)的采集；數(shù)據(jù)采集 系統(tǒng)采集的光強數(shù)據(jù)錄入計算機數(shù)據(jù)庫。測試轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)過的角度通過其邊緣的 角度刻度及指針讀出。測試轉(zhuǎn)臺采用粗糙的表面，以便在被測試的LED顯示屏模組與測試轉(zhuǎn)臺
之間產(chǎn)生較大的摩擦力，這樣可防止LED顯示屏模組由于轉(zhuǎn)動慣性滑動而不 能和測試轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動角度同步。
本實用新型結(jié)合LED平板顯示屏的特點，采用以模組為單位的方式，實 現(xiàn)對顯示屏模組進(jìn)行多角度的光強分布測試，從而通過對測試數(shù)據(jù)的分析處 理，總結(jié)出不同點間距、封裝形式等的LED平板顯示屏的光強分布特征，針 對戶外超大面積，遠(yuǎn)距離顯示的LED顯示屏對亮度和視角要求比較高的情況， 對其在生產(chǎn)過程中的整體亮度一致性進(jìn)行評估，為模擬現(xiàn)場校正提供可靠依 據(jù)。
以下結(jié)合附圖和具體實施方式
對本實用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。

圖1為本實用新型的LED平板顯示屏像素陣列光強分布測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu) 示意圖。
具體實施方式
如圖1所示，本實用新型的LED平板顯示屏像素陣列光強分布測試系統(tǒng) 包括測試轉(zhuǎn)臺2，轉(zhuǎn)動軸3，指針5，轉(zhuǎn)動手柄6，電機7，固定支架8，數(shù)據(jù) 采集系統(tǒng)10，計算機11，控制系統(tǒng)12。 LED顯示屏模組1垂直放置于測試轉(zhuǎn) 臺2上，其下邊沿與測試轉(zhuǎn)臺2邊緣的士90度刻度線連線對齊。測試轉(zhuǎn)臺2 置于固定支架8上，其轉(zhuǎn)動軸3與安裝在固定支架8內(nèi)的電機7的轉(zhuǎn)軸連接。 測試轉(zhuǎn)臺2的邊緣帶有角度刻度4;指針5固定連接在固定支架8上。轉(zhuǎn)動 手柄6安裝在固定支架8的側(cè)壁上，轉(zhuǎn)動手柄6的轉(zhuǎn)軸通過固定支架8內(nèi)部 的傳動系統(tǒng)與測試轉(zhuǎn)臺2的轉(zhuǎn)動軸3連接；傳動系統(tǒng)可以采用普通的齒輪傳 動系統(tǒng)或其它公知的傳動系統(tǒng)。滾輪底座9在固定支架8的底部，能固定或 移動整個固定支架8。數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)10置于測試轉(zhuǎn)臺2的正前方，并能保證 最佳光強采集效果；數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)10可采用光強測試儀或CCD相機等測試設(shè)備，測試設(shè)備通過數(shù)據(jù)傳輸線與計算機ll相連，并且實時將采集的光強數(shù)
據(jù)錄入計算機11的數(shù)據(jù)庫?？刂葡到y(tǒng)12可以采用單片機、DSP或A躍等微 處理器發(fā)送控制信號；計算機ll通過數(shù)據(jù)傳輸線與該器件連接，該器件通過 電機驅(qū)動器將調(diào)寬波輸出到電機7。
測試轉(zhuǎn)臺2主要是控制顯示屏模組按一定角度水平轉(zhuǎn)動，轉(zhuǎn)動角度范圍是 ±90度，精度可達(dá)1度。測試轉(zhuǎn)臺2每次轉(zhuǎn)過的角度可以作為參數(shù)預(yù)先在計
算機ll中設(shè)置，也可以通過鍵盤輸入。
將LED顯示屏分為mXn的顯示屏模組，以模組為單位進(jìn)行光強分布測試。 將LED顯示屏模組1垂直放置于測試轉(zhuǎn)臺2上，其下邊沿與測試轉(zhuǎn)臺2邊緣 的±90度刻度線連線對齊，這樣可對LED顯示屏模組1在水平方向上士90 度視角范圍內(nèi)的光強分布進(jìn)行測試；將LED顯示屏模組1沿垂直方向上旋轉(zhuǎn) 90度放置，可實現(xiàn)對其在俯仰視角上的多角度光強分布測試。在暗室條件下 對LED顯示屏模組1進(jìn)行光強采集，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)10可采用高精度CCD相機、 光強儀等。轉(zhuǎn)動測試轉(zhuǎn)臺2可對LED顯示屏模組1在不同角度上進(jìn)行光強數(shù) 據(jù)采集。這樣可以確定出LED顯示屏模組1在垂直法線方向左、右不同角度 上的光強分布情況及在垂直法線方向俯、仰不同角度上的光強分布情況，進(jìn) 而得到整屏的視覺半亮度角，建立不同角度光強分布數(shù)據(jù)庫。該數(shù)據(jù)庫可以 用于顯示屏分析評估，及針對顯示屏不同安裝位置、顯示模組角度不同、現(xiàn) 場有遮擋及現(xiàn)場校正時提取顯示模組不同角度的光強數(shù)據(jù)，從而實現(xiàn)模擬現(xiàn) 場校正，使顯示屏獲得最佳的顯示效果。
權(quán)利要求1、一種LED平板顯示屏像素陣列光強分布測試系統(tǒng)，其特征在于包括測試轉(zhuǎn)臺(2)，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(10)，計算機(11)；LED顯示屏模組(1)垂直放置于測試轉(zhuǎn)臺(2)上；數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(10)置于測試轉(zhuǎn)臺(2)的正前方，并且數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(10)通過數(shù)據(jù)傳輸線與計算機(11)連接。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED平板顯示屏像素陣列光強分布測試系統(tǒng)， 其特征在于還包括轉(zhuǎn)動控制裝置；轉(zhuǎn)動控制裝置包括控制系統(tǒng)(12)和電機(7);計算機(11)與控制系統(tǒng)(12)的輸入連接，控制系統(tǒng)(12)的輸出與 電機(7)連接，電機(7)的轉(zhuǎn)軸與測試轉(zhuǎn)臺(2)的轉(zhuǎn)動軸(3)連接。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED平板顯示屏像素陣列光強分布測試系統(tǒng)， 其特征在于還包括固定支架(8)、轉(zhuǎn)動手柄(6)及傳動系統(tǒng)；轉(zhuǎn)動手柄(6)安裝 在固定支架(8)上，其轉(zhuǎn)軸通過傳動系統(tǒng)與測試轉(zhuǎn)臺(2)的轉(zhuǎn)動軸(3)連接；測 試轉(zhuǎn)臺(2)的邊緣帶有角度刻度(4);指針(5)固定連接在固定支架(8)上。
4、根據(jù)權(quán)利要求1、 2或3所述的LED平板顯示屏像素陣列光強分布測 試系統(tǒng)，其特征在于測試轉(zhuǎn)臺(2)采用粗糙的表面。
專利摘要本實用新型涉及一種LED平板顯示屏像素陣列光強分布測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括測試轉(zhuǎn)臺，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，計算機；LED顯示屏模組置于測試轉(zhuǎn)臺上；數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)置于測試轉(zhuǎn)臺的正前方，并且數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)通過數(shù)據(jù)傳輸線與計算機連接。LED顯示屏模組隨測試轉(zhuǎn)臺每轉(zhuǎn)動一個角度，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)在計算機的控制下對LED顯示屏模組進(jìn)行一次光強數(shù)據(jù)的采集，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集的光強數(shù)據(jù)錄入計算機數(shù)據(jù)庫。這樣就可以在此基礎(chǔ)上分析由視角引起的LED顯示屏光強分布的變化情況，針對不同的LED顯示屏總結(jié)出其相應(yīng)的變化規(guī)律，從而為LED平板顯示屏出廠前校正及現(xiàn)場校正提供依據(jù)。
文檔編號G01J1/00GK201247098SQ200820072379
公開日2009年5月27日 申請日期2008年9月3日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月3日
發(fā)明者丁鐵夫, 宋新麗, 鄭喜鳳 申請人:長春希達(dá)電子技術(shù)有限公司