專利名稱：晶體硅太陽能電池微光圖像檢測儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種檢測晶體硅太陽能電池板質(zhì)量的儀器，尤其是能檢測 出可反映晶體硅太陽能電池板內(nèi)在缺陷的晶體硅太陽能電池微光圖像檢測儀。
技術(shù)背景
目前，對(duì)晶體硅太陽能電池板的檢測，主要是采用常規(guī)的光電性能檢測， 即在模擬標(biāo)準(zhǔn)光的照射下，測量電池板的負(fù)載特性。但即使常規(guī)檢測合格的硅
光電池，也可能存在致命的內(nèi)在缺陷，包括無法觀察到的微裂紋、PN結(jié)擴(kuò)散工 藝質(zhì)量、導(dǎo)電網(wǎng)格柵及引線質(zhì)量等，這就嚴(yán)重影響硅光電池成品組件的質(zhì)量。
國內(nèi)外都在探索識(shí)別晶體硅電池內(nèi)在質(zhì)量的技術(shù)手段，從而全面控制晶體 硅單片及其組件的工藝質(zhì)量，直至成品檢測的分檔。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決目前對(duì)晶體硅太陽能電池板的常規(guī)光電性能檢測的不足，亦即在 模擬標(biāo)準(zhǔn)光照射下，所測量到的晶體硅太陽能電池板的負(fù)載特性不能反映電池 板中的微裂紋、PN結(jié)擴(kuò)散工藝質(zhì)量、導(dǎo)電網(wǎng)格柵及引線質(zhì)量等問題，而這些問 題影響成品組件的內(nèi)在質(zhì)量。本實(shí)用新型提供了一種能檢測晶體硅太陽能電池 板內(nèi)在缺陷的晶體硅太陽能電池微光圖像檢測儀。
本實(shí)用新型的采用的技術(shù)方案一是整個(gè)圖像檢測儀由暗室2、 CCD攝像頭 3、監(jiān)視器5、激勵(lì)電源8和微機(jī)4、標(biāo)準(zhǔn)鍵盤7及打印機(jī)6組成，CCD攝像頭3 的鏡頭和被檢測的晶體硅太陽能電池板1封閉在暗室2內(nèi)，CCD攝像頭3的鏡頭 對(duì)準(zhǔn)晶體硅太陽能電池板l準(zhǔn)確調(diào)整焦距，晶體硅太陽能電池板l與暗室外激 勵(lì)電源8連接，CCD攝像頭3與微機(jī)4連接，微機(jī)4與監(jiān)視器5、標(biāo)準(zhǔn)鍵盤7、 打印機(jī)6連接。
本實(shí)用新型的采用的技術(shù)方案二是將CCD攝像頭3安裝在X、 Y、 Z坐標(biāo) 可以自動(dòng)或手動(dòng)的攝像頭定位機(jī)構(gòu)上，并借助不同焦距鏡頭的切換或變焦，實(shí) 現(xiàn)對(duì)單電池板或大幅面晶體硅太陽能電池板組件的攝像。本實(shí)用新型的技術(shù)效果是該檢測儀能攝取到切實(shí)反映晶體硅太陽能電池 板內(nèi)在缺陷的清晰圖像，利于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測和分選，并可以提供對(duì)晶體硅太陽 能電池板生產(chǎn)具有指導(dǎo)意義的信息。


附圖是本實(shí)用新型的整體結(jié)構(gòu)示意圖。 圖1是本實(shí)用新型的整體結(jié)構(gòu)示意圖。 圖2是本實(shí)用新型的攝像頭定位機(jī)構(gòu)示意圖。
圖中1是被檢測的晶體硅太陽能電池板，2是暗室，3是CCD攝像頭，4 是微機(jī)，5是監(jiān)視器，6是打印機(jī)，7是標(biāo)準(zhǔn)鍵盤，8是激勵(lì)電源，9是X方向 (左右)移動(dòng)拖板，IO是Y方向(上下)移動(dòng)拖板，，ll是Z方向(前后)移 動(dòng)拖板。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型的基本結(jié)構(gòu)如附圖所示，
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例作詳細(xì)描述 如圖1中所示，被檢測的晶體硅太陽能電池板1放置在暗室2中，由激勵(lì)
電源8按特定要求對(duì)電池板1通電，使之發(fā)出光譜。在暗室2內(nèi)，電池板1的 正上方，超敏感度CCD攝像頭3的鏡頭正對(duì)電池板1。接通攝像頭3、微機(jī)4、 監(jiān)視器5的電源，經(jīng)過一定時(shí)間后，監(jiān)視器5清晰顯示出反映電池板l內(nèi)在缺 陷的圖像。根據(jù)圖像可對(duì)電池板1進(jìn)行質(zhì)量分析，并通過鍵盤7儲(chǔ)存、打印或 傳送圖像信息。
如圖2中所示CCD攝像頭3裝置在X、 Y、 Z三坐標(biāo)攝像頭定位機(jī)構(gòu)上，通 過該機(jī)構(gòu)對(duì)攝像頭的調(diào)整，既可以對(duì)大幅面的晶體硅太陽能電池板1的組件進(jìn) 行檢測，又可以對(duì)晶體硅太陽能電池板1單元件進(jìn)行檢測。數(shù)控自動(dòng)或手動(dòng)調(diào) 節(jié)X、 Y、 Z三座標(biāo)攝像頭定位機(jī)構(gòu)使CCD攝像頭3鏡頭調(diào)整到最佳攝像位置， 其他檢測步驟同上，攝取微光圖像并將圖像信息傳給微機(jī)4進(jìn)行處理?？梢杂?監(jiān)視器5進(jìn)行人工分析圖像，也可以由軟件按圖像的灰度等級(jí)、圖像變異情況 將電池板1按質(zhì)量進(jìn)行分選。
權(quán)利要求1、一種晶體硅太陽能電池微光圖像檢測儀，是由暗室、CCD攝像頭、監(jiān)視器、激勵(lì)電源和微機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)鍵盤及打印機(jī)構(gòu)成，其特征是CCD攝像頭(3)的鏡頭和被檢測的晶體硅太陽能電池板(1)封閉在暗室(2)內(nèi)，晶體硅太陽能電池板(1)與暗室(2)外的激勵(lì)電源(8)連接，CCD攝像頭(3)與微機(jī)(4)連接，微機(jī)(4)與監(jiān)視器(5)、打印機(jī)(6)、標(biāo)準(zhǔn)鍵盤(7)連接。
2、 按權(quán)利要求l所述的晶體硅太陽能電池微光圖像檢測儀，其特征是CCD 攝像頭(3)安裝在X、 Y、 Z三坐標(biāo)攝像頭定位機(jī)構(gòu)上。
專利摘要一種用于檢測晶體硅太陽能電池板內(nèi)在缺陷的晶體硅太陽能電池微光圖像檢測儀，是由暗室、超敏感度CCD攝像頭，監(jiān)視器和微機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)鍵盤、打印機(jī)及激勵(lì)電源構(gòu)成。被檢測的晶體硅太陽能電池板和CCD攝像頭的鏡頭封閉在暗室內(nèi)，激勵(lì)電源給晶體硅太陽能電池板通電，使其發(fā)出光譜。CCD攝像頭將攝取的圖像信息送入微機(jī)進(jìn)行處理識(shí)別，它可通過監(jiān)視器對(duì)圖像進(jìn)行人工分析，也可以由軟件識(shí)別按圖像灰度等級(jí)和圖像變異情況將電池板進(jìn)行判定分選，并可以提供對(duì)晶體硅太陽能電池板生產(chǎn)有指導(dǎo)意義的信息。
文檔編號(hào)G01N21/88GK201233371SQ200820007299
公開日2009年5月6日 申請(qǐng)日期2008年3月17日 優(yōu)先權(quán)日2008年3月17日
發(fā)明者凡 榮 申請(qǐng)人:凡 榮