專利名稱：連接器檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種連接器檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在通訊設(shè)備中，經(jīng)常需要通過(guò)連接器將其與其他設(shè)備相連接，然而檢驗(yàn)現(xiàn)有連接器是否接觸良好，通常是將連接器排線最外側(cè)兩條線的接觸針制作的很短，通過(guò)判斷連接器排線最外側(cè)兩條線是否接觸良好作為依據(jù)，如果連接器排線最外側(cè)兩條線接觸良好，則認(rèn)為連接器插緊，反之，則認(rèn)為連接器沒有插緊。但事實(shí)上，此種判斷方法只能判斷出連接器是否插緊，但無(wú)法判斷排線的其他線是否也全都接觸良好，如果連接器排線中有部分接觸處被空氣氧化，那么此種方法并不能發(fā)現(xiàn)，如果此時(shí)依然進(jìn)行傳輸信號(hào)進(jìn)行通信勢(shì)必會(huì)造成信號(hào)不完整，造成信號(hào)傳輸錯(cuò)誤的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種可以避免信號(hào)線未完全導(dǎo)通時(shí)進(jìn)行傳輸信號(hào)的連接器檢測(cè)系統(tǒng)。 —種連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其用于連接器。所述連接器包括第一連接部與第二連接部，
所述第一連接部與第二連接部分別包括多根對(duì)應(yīng)連接的第一組信號(hào)線及第二組信號(hào)線。所
述連接器檢測(cè)系統(tǒng)包括第一模塊、第二模塊、多個(gè)接地的第一電阻、多個(gè)接高電位的第二
電阻、檢測(cè)模塊及控制器。所述各第一電阻及第一組信號(hào)線均與所述第一模塊連接，所述
各第二電阻及第二組信號(hào)線均與所述第二模塊連接，所述第一模塊與第二模塊相連接，所
述控制器與所述檢測(cè)模塊、所述第一模塊及所述第二模塊均連接。當(dāng)測(cè)試時(shí)，所述控制器控
制所述各第一 電阻通過(guò)所述第一模塊并聯(lián)，所述各第二電阻通過(guò)所述第二模塊并聯(lián)，所述
各第一電阻及所述各第二電阻通過(guò)所述第一模塊及第二模塊串聯(lián)形成測(cè)試電路，所述檢測(cè)
模塊連接于所述第一模塊與第二模塊的連接處，用于檢測(cè)所述連接處的電壓值，所述檢測(cè)
模塊內(nèi)設(shè)置有閾值，當(dāng)測(cè)試電路未全部導(dǎo)通時(shí)，所述電壓值小于所述閾值，所述檢測(cè)模塊輸
出低電平，當(dāng)所述測(cè)試電路完全導(dǎo)通時(shí)，所述電壓值大于所述閾值，所述檢測(cè)模塊輸出高電
平，所述控制器根據(jù)高電平斷開所述第一電阻與所述第一模塊的連通，所述第二電阻與所
述第二模塊的連通，并控制第一模塊及第二模塊將所述第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線
對(duì)應(yīng)導(dǎo)通。 當(dāng)?shù)谝荒K與第二模塊的連接處如果有部分被氧化造成接觸不良時(shí)，該連接器檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試電路就無(wú)法完全導(dǎo)通，從而不將第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線對(duì)應(yīng)導(dǎo)通，只有第一模塊與第二模塊的連接處完全導(dǎo)通時(shí)，該連接器檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試電路才可以完全導(dǎo)通，此時(shí)控制器控制第一模塊與第二模塊斷開第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線的導(dǎo)通。從而避免由于因接觸不良導(dǎo)致信號(hào)傳輸不完整，傳輸錯(cuò)誤的問(wèn)題。


圖1是本發(fā)明連接器檢測(cè)系統(tǒng)的功能模塊圖。
圖2是本發(fā)明連接器檢測(cè)系統(tǒng)的硬件架構(gòu)圖。
圖3是本發(fā)明連接器檢測(cè)系統(tǒng)組成檢測(cè)電路時(shí)的等效電路圖。
具體實(shí)施例方式
下面將結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。 請(qǐng)參閱圖1及圖2，本發(fā)明提供的連接器檢測(cè)系統(tǒng)100用于檢測(cè)一連接器200的第一組信號(hào)線211及第二組信號(hào)線221是否正常通信。所述連接器200包括第一連接部210與第二連接部220，所述第一組信號(hào)線211固定于所述第一連接部210內(nèi)，所述第二組信號(hào)線221固定于第二連接部220內(nèi)。本實(shí)施方式中，所述第一連接部210屬于電腦，所述第二連接部220屬于擴(kuò)展塢。 所述連接器檢測(cè)系統(tǒng)100包括插緊模塊10、第一模塊30、第二模塊40、多個(gè)接地的第一電阻R1、多個(gè)接高電位的第二電阻R2、檢測(cè)模塊70、控制器80、報(bào)警模塊90。本實(shí)施方式中，所述多個(gè)第一電阻Rl相等，所述多個(gè)第二電阻R2相等。所述各第一電阻Rl及第一組信號(hào)線211均與所述第一模塊10連接，所述各第二電阻R2及第二組信號(hào)線221均與所述第二模塊20連接，所述第一模塊10與第二模塊20相連接。所述控制器80與所述插緊模塊10、所述檢測(cè)模塊70、所述第一模塊10及所述第二模塊20均連接。
所述插緊模塊10用于檢測(cè)所述連接器200的第一連接部210及第二連接部220是否插緊。本實(shí)施方式中，所述第一連接部210內(nèi)還安裝有兩條第一插緊線212，所述兩條第一插緊線212安裝于所述第一組信號(hào)線211兩側(cè)。所述第二連接部220內(nèi)還安裝有兩條第二插緊線222，所述兩條第二插緊線222安裝于所述第二組信號(hào)線221兩側(cè)。本實(shí)施方式中，由于第一連接部210屬于電腦，為了方便測(cè)試，將所述兩條第一插緊線212上各連接一個(gè)第三電阻230，所述第三電阻230另一端連接于高電位Vcc。所述兩條第二插緊線222接地。當(dāng)然，所述兩條第一插緊線212也可以接地，同時(shí)所述兩條第二插緊線222接與高電位Vcc連接的電阻。本實(shí)施方式中，當(dāng)?shù)谝贿B接部210與第二連接部220連接時(shí)，所述第一插緊線212與第二插緊線222連接，所述插緊模塊10電連接于所述兩個(gè)第三電阻230與所述第一連接部210的兩條第一插緊線212連接處0，并將所述兩條第一插緊線212上的信號(hào)進(jìn)行邏輯或處理，在運(yùn)算結(jié)果為高電平時(shí)，確定連接器200未插緊并進(jìn)行報(bào)警；本實(shí)施方式中，所述插緊模塊10通過(guò)電腦進(jìn)行報(bào)警。在運(yùn)算結(jié)果為低電平時(shí)，確定連接器200已插緊。本實(shí)施方式中，高電平用"1"表示，低電平用"0"表示，則所述兩條第一插緊線212的信號(hào)運(yùn)算結(jié)果可能出現(xiàn)00、01、10、11四種情況，其中，如為OO，則確定所述連接器200已插緊；如為01 、 10或11 ，則確定所述連接器200未插緊。 所述第一模塊30與第二模塊40相連接。本實(shí)施方式中，所述第一模塊30包括第一組控制開關(guān)31，所述第一組控制開關(guān)31電連接于所述第一組信號(hào)線211及多個(gè)第一電阻Rl之間，所述第二模塊40包括第二組控制開關(guān)41，所述第二組控制開關(guān)41電連接于所述第二組信號(hào)線221及多個(gè)第二電阻R2之間。所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41可以采用快速開關(guān)，也可以采用總線開關(guān)。本實(shí)施方式中采用總線開關(guān)。所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41中的每個(gè)控制開關(guān)分別包括控制端31D、31E、41D、41E，第一輸入端31A、41A、第二輸入端31C、41C以及輸出端31B、41B。可以理解，所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41中的每個(gè)控制開關(guān)也可以由兩個(gè)單控制端開關(guān)組成，這兩個(gè)單控制端開關(guān)均具有一個(gè)控制端、一個(gè)輸入端、一個(gè)輸出端。將這兩個(gè)單控制端開關(guān)的輸出端相連接就可以做成上述具有兩個(gè)控制端的控制開關(guān)。本實(shí)施方式中，當(dāng)所述控制端31D、31E、41D、41E收到低電平信號(hào)時(shí)斷開第一輸入端31A、41A與輸出端31b、41B的連接，第二輸入端31C、41C與輸出端31B、41B的連接。當(dāng)所述控制端31D、31E、41D、41E收到高電平信號(hào)時(shí)導(dǎo)通第一輸入端31A、41A與輸出端31B、41B的連接，第二輸入端31C、41C與輸出端31B、41B的連接。 所述控制端31D、31E、41D、41E與控制器80連接，所述第一輸入端31A、41A分別與所述第一組信號(hào)線211及第二組信號(hào)線221連接，所述第二輸入端31C、41C分別與所述多個(gè)第一電阻Rl及多個(gè)第二電阻R2連接，所述輸出端31B位于所述控制端31D、31E之間，所述輸出端41B位于所述控制端41D、41E之間，輸出端31B與41B相連通。
測(cè)試時(shí)，所述控制器80控制所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41的兩個(gè)控制端31D、41D斷開第一輸入端31A與輸出端31B之間的通路，斷開第一輸入端41A與輸出端41B之間的通路，使得第一組信號(hào)線211及第二組信號(hào)線221的信號(hào)無(wú)法接入第一模塊30及第二模塊40，從而不影響測(cè)試，在沒有完全確定可以通信時(shí)也不會(huì)有信號(hào)損失。然后所述控制器80控制所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41的控制端31E、41E接通輸出端31B與第二輸入端31C之間的通路，輸出端41B與第二輸入端41C之間的通路，使得第一電阻Rl及第二電阻Rl通過(guò)輸出端31B、41B導(dǎo)通，從而組成測(cè)試電路，該測(cè)試電路等效為圖3中的所述多個(gè)第一電阻R1互相并聯(lián)，所述多個(gè)第二電阻R2相互并聯(lián)，所述多個(gè)并聯(lián)后的第一電阻R1與所述多個(gè)并聯(lián)后的第二電阻R2串聯(lián)。 當(dāng)該檢測(cè)電路全部導(dǎo)通時(shí)，所述多個(gè)第一電阻R1將互相并聯(lián)，所述多個(gè)第二電阻R2相互并聯(lián)，所述多個(gè)并聯(lián)后的第一電阻R1與所述多個(gè)并聯(lián)后的第二電阻R2串聯(lián)，所述第一電阻R1與所述多個(gè)第二電阻R2串聯(lián)處將會(huì)存在一個(gè)電壓值V。根據(jù)V二 (Rl/n)/(R1/n+R2/n) X Vcc，如果所述第一模塊30與第二模塊40之間接觸不良，將導(dǎo)致第二電阻R2無(wú)法完全接入檢測(cè)電路，即測(cè)試電路無(wú)法完全導(dǎo)通，有公式可以看出，第二電阻R2接入的越少，電壓值V將變得越小。 所述檢測(cè)模塊70用于在形成檢測(cè)電路時(shí)檢測(cè)所述第一模塊30與第二模塊40連接處的電壓。本實(shí)施方式中，由于所述第一模塊30安裝于電腦內(nèi)，所以為方便測(cè)試，將所述檢測(cè)模塊70電連接于所述第一電阻Rl與第一模塊30的連接處的電壓值V，即第一組控制開關(guān)31的第二輸入端31C處的電壓值V。 所述檢測(cè)模塊70內(nèi)預(yù)先設(shè)置有閾值Vt，該閾值Vt滿足測(cè)試時(shí)，當(dāng)測(cè)試電路未全部導(dǎo)通時(shí)，所述檢測(cè)的電壓值V小于閾值Vt，所述檢測(cè)模塊70輸出低電平。當(dāng)測(cè)試電路全部正常導(dǎo)通時(shí)，所述檢測(cè)的電壓值V大于閾值Vt，所述檢測(cè)模塊70輸出高電平。本實(shí)施方式中，所述閾值Vt預(yù)先進(jìn)行設(shè)置。所述閾值Vt就是當(dāng)測(cè)試電路全部導(dǎo)通時(shí)，即所述第二電阻R2將全部被接入時(shí)，Vt < V，從而所述檢測(cè)模塊70輸出高電平，當(dāng)測(cè)試電路未全部導(dǎo)通時(shí)，即當(dāng)至少有一個(gè)第二電阻R2沒有接入時(shí)，Vt > V，所述檢測(cè)模塊70輸出低電平。
本實(shí)施方式中，所述控制器80初始時(shí)將所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41的控制端31D、41D設(shè)置為低電平，將所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41的
6控制端31E、41E設(shè)置為高電平。本實(shí)施方式中，所述控制器80還獲取所述插緊模塊10的信號(hào)，當(dāng)所述插緊模塊10監(jiān)測(cè)到所述連接器200未插緊時(shí)，所述控制器80不進(jìn)行測(cè)試信號(hào)線的連接狀況。當(dāng)檢測(cè)到所述插緊模塊10發(fā)出的信號(hào)表明所述連接器200已插緊時(shí)。所述控制器80進(jìn)行測(cè)試信號(hào)線的連接狀況。 所述控制器80先僅向兩個(gè)控制端31E、41E輸出高電平信號(hào)，接通輸出端31B與第二輸入端31C之間的通路，輸出端41B與第二輸入端41C之間的通路，將第一電阻R1及第二電阻R2通過(guò)輸出端31B、41B導(dǎo)通，從而組成測(cè)試電路。 當(dāng)所述控制器80接收到所述檢測(cè)模塊70的高電平信號(hào)時(shí)，證明信號(hào)線已全部導(dǎo)通，所述控制器80向控制端31E、41E輸出低電平信號(hào)，斷開輸出端31B與第二輸入端31C之間的通路，斷開輸出端41B與第二輸入端41C之間的通路，斷開第一電阻Rl及第二電阻R2與第一模塊30及第二模塊40導(dǎo)通，以免影響后續(xù)的信號(hào)正常傳輸。所述控制器80再向控制端31D、41D輸出高電平信號(hào)，接通第一輸入端31A與輸出端31B之間的通路，接通第一輸入端41A與輸出端41B之間的通路，輸出端31B、41B導(dǎo)通，將第一組信號(hào)線211與第二組信號(hào)線221的信號(hào)接入第一模塊30及第二模塊40，并通過(guò)輸出端31B、41B導(dǎo)通，實(shí)現(xiàn)信號(hào)的正常通信。 所述報(bào)警模塊90與所述檢測(cè)模塊70連接，用于檢測(cè)時(shí)當(dāng)所述檢測(cè)模塊70輸出低
電平時(shí)，輸出報(bào)警信號(hào)。本實(shí)施方式中所述報(bào)警模塊90用于根據(jù)上述測(cè)試模塊70的高低
電平的輸出規(guī)則輸出的電信號(hào)判斷所述第一組信號(hào)線211與第二組信號(hào)線221是否全部導(dǎo)
通。本實(shí)施方式中，當(dāng)所述報(bào)警模塊90檢測(cè)到檢測(cè)模塊70輸出低電平時(shí)，通過(guò)電腦報(bào)警。 當(dāng)?shù)谝荒K與第二模塊的連接處如果有部分被氧化造成接觸不良時(shí)，該連接器檢
測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試電路就無(wú)法完全導(dǎo)通，從而不將第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線對(duì)應(yīng)導(dǎo)
通，只有第一模塊與第二模塊的連接處完全導(dǎo)通時(shí)，該連接器檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試電路才可以
完全導(dǎo)通，此時(shí)控制器控制第一模塊與第二模塊斷開第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線的
導(dǎo)通。從而避免由于因接觸不良導(dǎo)致信號(hào)傳輸不完整，傳輸錯(cuò)誤的問(wèn)題。 可以理解的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思做
出其它各種相應(yīng)的改變與變形，而所有這些改變與變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
一種連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其用于連接器，所述連接器包括第一連接部與第二連接部，所述第一連接部與第二連接部分別包括多根對(duì)應(yīng)連接的第一組信號(hào)線及第二組信號(hào)線，其特征在于，所述連接器檢測(cè)系統(tǒng)包括第一模塊、第二模塊、多個(gè)接地的第一電阻、多個(gè)接高電位的第二電阻、檢測(cè)模塊及控制器，所述各第一電阻及第一組信號(hào)線均與所述第一模塊連接，所述各第二電阻及第二組信號(hào)線均與所述第二模塊連接，所述第一模塊與第二模塊相連接，所述控制器與所述檢測(cè)模塊、所述第一模塊及所述第二模塊均連接，當(dāng)測(cè)試時(shí)，所述控制器控制所述各第一電阻通過(guò)所述第一模塊并聯(lián)，所述各第二電阻通過(guò)所述第二模塊并聯(lián)，所述各第一電阻及所述各第二電阻通過(guò)所述第一模塊及第二模塊串聯(lián)形成測(cè)試電路，所述檢測(cè)模塊連接于所述第一模塊與第二模塊的連接處，用于檢測(cè)所述連接處的電壓值，所述檢測(cè)模塊內(nèi)預(yù)設(shè)置有閾值，當(dāng)測(cè)試電路未全部導(dǎo)通時(shí)，所述電壓值小于所述閾值，所述檢測(cè)模塊輸出低電平，當(dāng)所述測(cè)試電路完全導(dǎo)通時(shí)，所述電壓值大于所述閾值，所述檢測(cè)模塊輸出高電平，所述控制器根據(jù)高電平斷開所述第一電阻與所述第一模塊的連通，所述第二電阻與所述第二模塊的連通，并控制第一模塊及第二模塊將所述第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線對(duì)應(yīng)導(dǎo)通。
2. 如權(quán)利要求1所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述連接器檢測(cè)系統(tǒng)還包括報(bào)警模塊及插緊模塊，所述報(bào)警模塊與所述檢測(cè)模塊相連接，所述插緊模塊與所述控制器相連接，所述報(bào)警模塊用于所述測(cè)試模塊在測(cè)試中輸出低電平時(shí)發(fā)出報(bào)警信號(hào)，插緊模塊用于檢測(cè)所述連接器是否插緊，所述控制器還根據(jù)所述插緊模塊檢測(cè)到所述連接器插緊時(shí)對(duì)第一模塊及第二模塊進(jìn)行控制，所述連接器第一連接部與第二連接部還分別對(duì)應(yīng)包括兩條插緊線，兩個(gè)連接于高電位的第三電阻，所述第一連接部的插緊線電連接于所述第三電阻，所述第二連接部的插緊線接地。
3. 如權(quán)利要求2所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述插緊模塊電連接于所述兩個(gè)第三電阻與所述第一連接部的插緊線連接處，并將所述第一連接部的兩根插緊線上的信號(hào)進(jìn)行邏輯或處理，在運(yùn)算結(jié)果為高電平時(shí)，確定連接器未插緊并進(jìn)行告警；在運(yùn)算結(jié)果為低電平時(shí)，確定連接器已插緊。
4. 如權(quán)利要求1所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述多個(gè)第一電阻阻值相同，所述多個(gè)第二電阻阻值相同。
5. 如權(quán)利要求1所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述第一模塊包括第一組控制開關(guān)，所述第二模塊包括第二組控制開關(guān)，所述第一組控制開關(guān)電連接于所述第一組信號(hào)線及多個(gè)第一電阻之間，所述第二組控制開關(guān)電連接于所述第二組信號(hào)線及多個(gè)第二電阻之間，所述第一組控制開關(guān)及第二組控制開關(guān)中的每個(gè)控制開關(guān)均包括兩個(gè)控制端、兩個(gè)輸入端以及一個(gè)輸出端，所述兩個(gè)控制端與控制器相連接，所述第一組控制開關(guān)的兩個(gè)輸入端分別與所述第一組信號(hào)線及多個(gè)接地的第一電阻連接，所述第二組控制開關(guān)的兩個(gè)輸入端分別與所述第二組信號(hào)線及多個(gè)接高電位的第二電阻連接，所述第一組控制開關(guān)的輸出端與所述第二組控制開關(guān)的輸出端相導(dǎo)通。
6. 如權(quán)利要求5所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測(cè)模塊電連接于所述第一組控制開關(guān)與第一電阻連接處。
7. 如權(quán)利要求5所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述第一組控制開關(guān)及第二組控制開關(guān)的每個(gè)控制開關(guān)由兩個(gè)單控制端開關(guān)組成，所述兩個(gè)單控制端開關(guān)均具有一個(gè)控制端、一個(gè)輸入端、一個(gè)輸出端，所述兩個(gè)單控制端開關(guān)的輸出端相連接。
8.如權(quán)利要求5所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述第一組控制開關(guān)及第二組控制開關(guān)采用快速開關(guān)或總線開關(guān)。
全文摘要
本發(fā)明提供檢測(cè)連接器的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，連接器有第一、二組信號(hào)線。系統(tǒng)包括第一、二模塊、第一、二電阻、檢測(cè)模塊及控制器。第一電阻及第一組信號(hào)線與第一模塊連接，第二電阻及第二組信號(hào)線與第二模塊連接，第一、二模塊連接，控制器與各模塊連接。測(cè)試時(shí)控制器控制第一電阻通過(guò)第一模塊并聯(lián)，第二電阻通過(guò)第二模塊并聯(lián)，兩電阻通過(guò)兩模塊串聯(lián)成測(cè)試電路，檢測(cè)模塊連接第一、二模塊連接處，檢測(cè)連接處電壓值，檢測(cè)模塊預(yù)設(shè)閾值，當(dāng)測(cè)試電路未全部導(dǎo)通電壓值小于閾值，檢測(cè)模塊輸出低電平，否則輸出高電平?？刂破鞲鶕?jù)高電平斷開第一、二電阻與第一、二模塊，用第一、二模塊將第一、二組信號(hào)線導(dǎo)通。系統(tǒng)當(dāng)?shù)谝弧⒍K不完全導(dǎo)通時(shí)不接入信號(hào)。
文檔編號(hào)G01R31/02GK101769977SQ20081030666
公開日2010年7月7日 申請(qǐng)日期2008年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月30日
發(fā)明者聶劍揚(yáng) 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司