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金屬探測(cè)器的制作方法

文檔序號(hào):6030918閱讀:548來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):金屬探測(cè)器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種金屬探測(cè)器。
背景技術(shù)
金屬探測(cè)器因其功能和市場(chǎng)應(yīng)用領(lǐng)域的不同可分為以下幾種通道式金屬探測(cè)器(又稱(chēng) :金屬探測(cè)門(mén)或安檢門(mén))、手持式金屬探測(cè)器、便攜式金屬探測(cè)器、臺(tái)式金屬探測(cè)器、工業(yè) 用金屬探測(cè)器和水下金屬探測(cè)器。其中通道式金屬探測(cè)器和手持式金屬探測(cè)器通常被用作安 檢設(shè)備,工業(yè)用金屬探測(cè)器和水下金屬探測(cè)器各自使用在特定領(lǐng)域,而便攜式金屬探測(cè)器及 臺(tái)式金屬探測(cè)器的應(yīng)用領(lǐng)域則較廣,例如安裝在廢棄物回收箱中分辨可回收金屬垃圾,應(yīng)用 于工廠車(chē)間檢測(cè)金屬元件是否漏裝等等?,F(xiàn)有的便攜式金屬探測(cè)器通常包括發(fā)射線圈、接收 線圈、振蕩器、檢波器、處理器及報(bào)警器等部分,發(fā)射線圈、接收線圈、振蕩器及檢波器產(chǎn) 生的信號(hào)由處理器辨認(rèn)后選擇性報(bào)警,上述金屬探測(cè)器結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜且成本較高,不利于在 工業(yè)生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用,而且電流等模擬信號(hào)在傳輸過(guò)程中受外界環(huán)境影響較大,降低了檢測(cè) 結(jié)果的準(zhǔn)確性。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容,有必要提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單成本低廉且穩(wěn)定性高的金屬探測(cè)器。 一種金屬探測(cè)器,包括依次連接的一探測(cè)電路、 一振蕩器及一檢波器,所述探測(cè)電路、 振蕩器及檢波器產(chǎn)生一具有特定頻率的電流信號(hào),所述探測(cè)電路探測(cè)到金屬時(shí)改變所述電流 信號(hào)的頻率,所述金屬探測(cè)器還包括一調(diào)理電路及一頻率計(jì),所述調(diào)理電路將所述電流信號(hào) 轉(zhuǎn)換成一電壓信號(hào)并傳輸?shù)剿鲱l率計(jì),所述頻率計(jì)根據(jù)所述電壓信號(hào)顯示所述電流信號(hào)的 頻率值。
上述金屬探測(cè)器的探測(cè)電路、振蕩器及檢波器產(chǎn)生的模擬信號(hào)由調(diào)理電路轉(zhuǎn)換成數(shù)字信 號(hào)后傳輸?shù)筋l率計(jì),探測(cè)電路的探測(cè)結(jié)果不需處理直接通過(guò)頻率計(jì)顯示,通過(guò)觀察所述頻率 計(jì)顯示的頻率值即可分辨所述金屬探測(cè)器附近是否有金屬存在,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單成本低廉且穩(wěn)定性高。


下面結(jié)合附圖及較佳實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述 圖l是本發(fā)明金屬探測(cè)器較佳實(shí)施方式的原理框圖。圖2是本發(fā)明金屬探測(cè)器較佳實(shí)施方式的電路圖。
具體實(shí)施例方式
參考圖l,本發(fā)明金屬探測(cè)器的較佳實(shí)施方式包括依次連接的一探測(cè)電路12、 一振蕩器 14, 一檢波器16、 一調(diào)理電路18及一頻率計(jì)19,所述探測(cè)電路12、振蕩器14及檢波器16產(chǎn)生 一具有特定頻率的電流信號(hào),并通過(guò)所述調(diào)理電路18轉(zhuǎn)換成一對(duì)應(yīng)的電壓信號(hào)傳輸?shù)剿鲱l 率計(jì)19,所述頻率計(jì)19根據(jù)所述電壓信號(hào)顯示所述電流信號(hào)的頻率值。
繼續(xù)參考圖2,在本較佳實(shí)施方式中,所述探測(cè)電路12包括一電感線圈L及一電容C1,所 述振蕩器14及檢波器16集成于一TDA0161型單片機(jī)U1中,所述單片機(jī)U1包括一電源端1 、兩調(diào) 整端2和4、兩檢測(cè)端3和7、 一濾波端5、 一輸出端6及一耦合端8,所述電感線圈L和電容C1并 聯(lián)于所述單片機(jī)U1的檢測(cè)端3和7之間,所述單片機(jī)U1的電源端1連接一5V電源,調(diào)整端2和4 通過(guò)一電阻R1連接,濾波端5通過(guò)一電容C2與檢測(cè)端7連接,耦合端8通過(guò)一電容C3與輸出端 6連接。通過(guò)改變所述電阻R1的阻值可調(diào)整所述單片機(jī)U1中震蕩器元件的諧振點(diǎn)。
所述調(diào)理電路18包括一采樣電阻R2、 一耦合電阻R3,兩分壓電阻R4和R5、 一上拉電阻 R6及一比較器U2,所述分壓電阻R4和R5串聯(lián)于所述5V電源與地之間,所述比較器U2的同相輸 入端連接于所述分壓電阻R4和R5之間,反相輸入端通過(guò)所述耦合電阻R3與所述單片機(jī)U1的輸 出端6連接,并依次通過(guò)所述耦合電阻R3和采樣電阻R2接地,所述比較器U2的輸出端與所述 頻率計(jì)19連接并通過(guò)所述上拉電阻R6連接所述5V電源。通過(guò)改變所述采樣電阻R2以及所述分 壓電阻R4和R5的阻值可分別調(diào)整所述比較器U2的反相輸入端及正相輸入端的輸入電壓。
上述金屬探測(cè)器未探測(cè)到金屬時(shí),所述探測(cè)電路12提供其諧振頻率給單片機(jī)U1,所述單 片機(jī)U1輸出一具有該諧振頻率的電流信號(hào),經(jīng)過(guò)采樣電阻R2采樣轉(zhuǎn)換成一模擬電壓信號(hào),再 通過(guò)所述比較器U2進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換成一數(shù)字電壓信號(hào)提供給所述頻率計(jì)19,通過(guò)所述頻率計(jì) 19顯示所述探測(cè)電路l 2提供的諧振頻率的數(shù)值。
當(dāng)所述探測(cè)電路12探測(cè)到金屬時(shí)即所述電感線圈L靠近金屬時(shí),所述電感線圈L受金屬的 渦流磁場(chǎng)影響使探測(cè)電路12的諧振頻率增大,從而在所述頻率計(jì)19上顯示與之前不同的頻率 值。因此,通過(guò)觀察所述頻率計(jì)19顯示的頻率值即可分辨所述金屬探測(cè)器附近是否有金屬存 在。
權(quán)利要求
1.一種金屬探測(cè)器,包括依次連接的一探測(cè)電路、一振蕩器及一檢波器,所述探測(cè)電路、振蕩器及檢波器產(chǎn)生一具有特定頻率的電流信號(hào),所述探測(cè)電路探測(cè)到金屬時(shí)改變所述電流信號(hào)的頻率,其特征在于所述金屬探測(cè)器還包括一調(diào)理電路及一頻率計(jì),所述調(diào)理電路將所述電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成一電壓信號(hào)并傳輸?shù)剿鲱l率計(jì),所述頻率計(jì)根據(jù)所述電壓信號(hào)顯示所述電流信號(hào)的頻率值。
2.如權(quán)利要求l所述的金屬探測(cè)器,其特征在于所述探測(cè)電路包 括并聯(lián)的一電感線圈及一電容,所述特定頻率為所述電感線圈及電容的諧振頻率,所述電感 線圈靠近金屬時(shí)所述諧振頻率增大。
3.如權(quán)利要求2所述的金屬探測(cè)器,其特征在于所述振蕩器及檢 波器集成于一單片機(jī)中,所述單片機(jī)包括一電源端、兩檢測(cè)端及一輸出端,所述電源端與一 電源連接,所述兩檢測(cè)端通過(guò)所述探測(cè)電路相互連接,所述輸出端輸出所述電流信號(hào)。
4.如權(quán)利要求3所述的金屬探測(cè)器,其特征在于所述調(diào)理電路包 括一采樣電阻及一比較器,所述采樣電阻對(duì)所述電流信號(hào)進(jìn)行采樣,再通過(guò)所述比較器進(jìn)行 模/數(shù)轉(zhuǎn)換以產(chǎn)生所述電壓信號(hào)。
5.如權(quán)利要求4所述的金屬探測(cè)器,其特征在于所述調(diào)理電路還 包括兩串聯(lián)于所述電源與地之間的電阻,所述比較器的正相輸入端連接于所述兩電阻之間, 反相輸入端連接于所述單片機(jī)的輸出端并通過(guò)所述采樣電阻接地,輸出端與所述頻率計(jì)連接
全文摘要
一種金屬探測(cè)器,包括依次連接的一探測(cè)電路、一振蕩器及一檢波器,所述探測(cè)電路、振蕩器及檢波器產(chǎn)生一具有特定頻率的電流信號(hào),所述探測(cè)電路探測(cè)到金屬時(shí)改變所述電流信號(hào)的頻率,所述金屬探測(cè)器還包括一調(diào)理電路及一頻率計(jì),所述調(diào)理電路將所述電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成一電壓信號(hào)并傳輸?shù)剿鲱l率計(jì),所述頻率計(jì)根據(jù)所述電壓信號(hào)顯示所述電流信號(hào)的頻率值,通過(guò)觀察所述頻率計(jì)顯示的頻率值即可分辨所述金屬探測(cè)器附近是否有金屬存在。
文檔編號(hào)G01V3/11GK101551469SQ20081030083
公開(kāi)日2009年10月7日 申請(qǐng)日期2008年4月3日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月3日
發(fā)明者宮連仲, 柳天佑, 強(qiáng) 秦 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
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