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游標(biāo)卡尺校正方法及其校正器的制作方法

文檔序號:5839634閱讀:580來源:國知局
專利名稱:游標(biāo)卡尺校正方法及其校正器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用以校正被磨損的游標(biāo)卡尺的外卡的校正方法及其 校正器。
背景技術(shù)
游標(biāo)卡尺是機(jī)械行業(yè)中最常用的測量工具之一,由于頻繁使用,主尺 測爪和副尺測爪(即外卡)的兩個測量平面很容易磨損,導(dǎo)致兩外卡的測 量面不平行,致使測量精度降低,因此需要經(jīng)常對卡尺進(jìn)行校正和研磨。 校正游標(biāo)卡尺兩外卡的平行度通常是靠研磨兩外卡的測量面來達(dá)到 平行度要求,傳統(tǒng)的修理和校準(zhǔn)游標(biāo)卡尺的外卡的方法是將游標(biāo)卡尺的主 尺固定在虎鉗上,在游標(biāo)卡尺的外卡中放置研磨器,左手的拇指、食指與 中指緊壓外卡,施加一定的研磨壓力;右手的拇指、食指與中指抓住研磨 器, 一邊做前后往復(fù)運(yùn)動, 一邊不停地使研磨器旋轉(zhuǎn),從而對外卡的測量 面進(jìn)行修理和校準(zhǔn)。但是,這種研磨方法,需要左手手指一直處于用力狀 態(tài),右手手指抓住研磨器同時做前后往復(fù)運(yùn)動和旋轉(zhuǎn)運(yùn)動,難以保持研磨 器表面平衡,影響研磨的精度和速度, 一般修好一付卡尺的要1 2天, 存在研磨質(zhì)量低、耗時久的缺點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容
為克服現(xiàn)有技術(shù)的上述缺點(diǎn),本發(fā)明提供了一種操作簡便、研磨質(zhì)量 高、耗時短的游標(biāo)卡尺的校正方法和校正器。
本發(fā)明所述的游標(biāo)卡尺校正方法,包括以下步驟
1、 制備校正器,所述的校正器包括與主尺測爪配合的工作槽和與副 尺測爪上的測量面配合的校準(zhǔn)面,所述的工作槽的底面與所述的校準(zhǔn)面平 行;
2、 用卡尺的外卡的根部夾緊校正器;
3、 把卡尺立放在有橡膠墊的工作臺上,其主尺測爪外側(cè)與工作臺接 觸,用銅榔頭向下敲擊副尺測爪的頂部,使變形的外卡得到初歩校正;
4、 然后用研磨塊對兩個測量面進(jìn)行研磨。
本發(fā)明所述的校正器,其特征在于包括與主尺測爪配合的工作槽和 與副尺測爪配合的校準(zhǔn)面,所述的工作槽的底面與所述的校準(zhǔn)面平行。
進(jìn)一步,所述的工作槽為環(huán)形凹槽,所述的校準(zhǔn)面為與所述的環(huán)形凹 槽的軸線平行的平面。
本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思是校正和研磨游標(biāo)卡尺的外卡時,先用卡尺的主 尺測爪的根部與所述的校正器的工作槽配合,再用副尺測爪鎖緊所述的校 正器;把卡尺立放在有橡膠墊的工作臺上,其主尺測爪外側(cè)與工作臺接觸, 用銅榔頭向下敲擊副尺測爪的頂部,使變形的外卡得到初步校正;然后用 研磨塊對兩個測量面進(jìn)行研磨。
本發(fā)明具有操作簡便、有助于提高卡尺的研磨質(zhì)量、縮短研磨時間的 優(yōu)點(diǎn)。


圖1為本發(fā)明在使用中的示意圖。
圖2為本發(fā)明的示意圖。
圖3為本發(fā)明的正視圖。
具體實(shí)施例方式
實(shí)施例一
結(jié)合附圖,對本發(fā)明做進(jìn)一步說明 本發(fā)明所述的游標(biāo)卡尺校正方法,包括以下步驟
1、 制備校正器,所述的校正器包括包括與主尺測爪配合的工作槽和 與副尺測爪上的測量面配合的校準(zhǔn)面,所述的工作槽的底面與所述的校準(zhǔn) 面平行;
2、 用卡尺的外卡的根部夾緊;^^;^器;
3、 把卡尺立放在有橡膠墊的工作臺上,其主尺測爪外側(cè)與工作臺接
觸,用銅榔頭向下敲擊副尺測爪的頂部,使變形的外卡得到初步校正;
4、 然后用研磨塊對兩個測量面進(jìn)行研磨。
本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思是校正和研磨游標(biāo)卡尺的外卡時,先用卡尺的主 尺測爪1的根部與所述的校正器3的工作槽配合,再用副尺測爪2鎖緊所 述的校正器3;把卡尺立放在有橡膠墊的工作臺上,其主尺測爪l外側(cè)與
工作臺接觸,用銅榔頭向下敲擊副尺測爪2的頂部,使變形的外卡得到初 步校正;然后用研磨塊對兩個測量面進(jìn)行研磨。
實(shí)施例二
本實(shí)施例是對校正器的舉例說明
本發(fā)明所述的校正器,包括與主尺測爪1配合的工作槽和與副尺測爪
2上的測量面配合的校準(zhǔn)面,所述的工作槽的底面與所述的校準(zhǔn)面平行。 所述的工作槽為環(huán)形凹槽31,所述的校準(zhǔn)面為與所述的環(huán)形凹槽的軸
線平行的平面32。
本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思是校正和研磨游標(biāo)卡尺的外卡時,先用卡尺的主
尺測爪1的根部與所述的校正器3的工作槽配合,再用副尺測爪2鎖緊所
述的校正器3;把卡尺立放在有橡膠墊的工作臺上,其主尺測爪l外側(cè)與
工作臺接觸,用銅榔頭向下敲擊副尺測爪2的頂部,使變形的外卡得到初 步校正;然后用研磨塊對兩個測量面進(jìn)行研磨。
本說明書實(shí)施例所述的內(nèi)容僅僅是對發(fā)明構(gòu)思的實(shí)現(xiàn)形式的列舉,本 發(fā)明的保護(hù)范圍的不應(yīng)當(dāng)被視為僅限于實(shí)施例所陳述的具體形式,本發(fā) 明的保護(hù)范圍也及于本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思所能夠想到的等同 技術(shù)手段。
權(quán)利要求
1、本發(fā)明所述的游標(biāo)卡尺校正方法,包括以下步驟a、制備校正器,所述的校正器包括與主尺測爪配合的工作槽和與副尺測爪上的測量面配合的校準(zhǔn)面,所述的工作槽的底面與所述的校準(zhǔn)面平行;b、用卡尺的外卡的根部夾緊校正器;c、把卡尺立放在有橡膠墊的工作臺上,其主尺測爪外側(cè)與工作臺接觸,用銅榔頭向下敲擊副尺測爪的頂部,使變形的外卡得到初步校正;d、然后用研磨塊對兩個測量面進(jìn)行研磨。
2、 一種專用于權(quán)利要求1所述的游標(biāo)卡尺校正方法的校正器,其 特征在于包括與主尺測爪配合的工作槽和與副尺測爪上的測量面配合的校準(zhǔn)面,所述的工作槽的底面與所述的校準(zhǔn)面平行。
3、 如權(quán)利要求2所述的校正器,其特征在于所述的工作槽為環(huán)形凹槽,所述的校準(zhǔn)面為與所述的環(huán)形凹槽的軸線平行的平面。
全文摘要
本發(fā)明所述的游標(biāo)卡尺校正方法,包括以下步驟a.制備校正器,所述的校正器包括與主尺測爪配合的工作槽和與副尺測爪上的測量面配合的校準(zhǔn)面,所述的工作槽的底面與所述的校準(zhǔn)面平行;b.用卡尺的外卡的根部夾緊校正器;c.把卡尺立放在有橡膠墊的工作臺上,其主尺測爪外側(cè)與工作臺接觸,用銅榔頭向下敲擊副尺測爪的頂部,使變形的外卡得到初步校正;d.然后用研磨塊對兩個測量面進(jìn)行研磨。其專用校正器,包括與主尺測爪配合的工作槽和與副尺測爪上的測量面配合的校準(zhǔn)面,所述的工作槽的底面與所述的校準(zhǔn)面平行。本發(fā)明具有操作簡便、有助于提高卡尺的研磨質(zhì)量、縮短研磨時間的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號G01B3/20GK101393003SQ200810122210
公開日2009年3月25日 申請日期2008年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月3日
發(fā)明者沈素珍, 賴曉渝 申請人:慈溪市匯麗機(jī)電有限公司
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