專利名稱：一種印刷電路板回路測試方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及印刷電路板測試領(lǐng)域，特別是一種印刷電路板(PCB, Print Circuit Board)回路測試方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著半導(dǎo)體制造技術(shù)的高速發(fā)展，集成電路器件集成度迅速提高，同時(shí)由 于通訊技術(shù)的發(fā)展需要，要求信號的高速傳遞，作為傳送信號的主要渠道，PCB 向高密度發(fā)展成為必然。隨著PCB密度的提高，開短路故障比率也大幅提升。 PCB開短路測試是發(fā)現(xiàn)PCB電路是否存在開短路故障的一種方法。所謂開路測 試是指，通過測量同一網(wǎng)絡(luò)內(nèi)PCB電路的兩端的電阻值是否大于所設(shè)定可接受 的最大阻值，從而判斷該線路是否有斷開現(xiàn)象；所謂短路測試是指，通過測量 不同網(wǎng)絡(luò)的PCB電路的兩端的電阻值是否小于設(shè)定的兩個(gè)不同網(wǎng)絡(luò)間可接受 的最小絕緣電阻值，從而判斷絕緣網(wǎng)絡(luò)是否有短路現(xiàn)象。隨著線路密度的增加， PCB開短路測試的難度也逐漸加大。
現(xiàn)有的接觸式測試中兩端式測試是目前PCB廠普遍應(yīng)用的 一種方案?，F(xiàn)有 的兩端式測試在需檢測的PCB電路的端點(diǎn)布測試探針，通過測量不同網(wǎng)絡(luò)的 PCB電路的結(jié)點(diǎn)間的電阻值是否小于設(shè)定的兩個(gè)不同網(wǎng)絡(luò)間可接受的最小絕緣 電阻值，從而判斷絕緣網(wǎng)絡(luò)是否有短路現(xiàn)象。PCB上有一種特殊設(shè)計(jì)的電路， 即PCB回路PCB回路中組成回路的各線圈電路本身是處于同一網(wǎng)絡(luò)的，即相 互是處于導(dǎo)通狀態(tài)的。當(dāng)處于同一網(wǎng)絡(luò)中本就相互導(dǎo)通的PCB回路線圈之間出 現(xiàn)短路時(shí)，其電阻值的變化是非常微小的，在現(xiàn)有的電阻測試精度下根本無法 檢測到。所以，目前對PCB回路只能通過目視檢查線圈是否完好。對于多層 PCB，內(nèi)層PCB通過絕緣層與外層PCB隔開，然后再將內(nèi)層PCB、絕緣層和
5外層PCB壓合，這樣，內(nèi)層PCB回路線圈不可視，故目視檢查無法檢測PCB 成品的內(nèi)層線圈。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種PCB回路測試方法及系統(tǒng)，提 高測試精度，使用方便。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明PCB回路測試方法及系統(tǒng)的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)
的
一種印刷電路板回路測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括
數(shù)據(jù)釆集模塊，用于釆集標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板各印刷電路板回路的電感值并存 儲到數(shù)據(jù)庫中；以及釆集待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值，并發(fā)送 到數(shù)據(jù)對比模塊；
數(shù)據(jù)庫，用于存儲數(shù)據(jù)釆集模塊釆集的標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板各印刷電路板回路 的電感值、檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)、測試電流值；
數(shù)據(jù)對比模塊，用于接收數(shù)據(jù)釆集模塊發(fā)送的待測印刷電路板各印刷電路 板回路的電感值，從數(shù)據(jù)庫中讀取相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板的印刷電路板回路的 電感值，并比較待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板 中相應(yīng)的印刷電路板回路的電感值的偏離值，如所述各偏離值均在檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范 圍內(nèi)，向數(shù)據(jù)輸出模塊發(fā)送所述待測印刷電路板通過檢驗(yàn)信息，如所述任一偏 離值不在檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，向數(shù)據(jù)輸出模塊發(fā)送所述待測印刷電路板未通過檢 驗(yàn)信息；
數(shù)據(jù)輸出模塊，用于接收數(shù)據(jù)對比模塊發(fā)送的待測印刷電路板的檢測結(jié)果 并輸出。
該系統(tǒng)還包括電流模塊，用于讀取數(shù)據(jù)庫中設(shè)置的測試電流值，向標(biāo)準(zhǔn)印一種印刷電路板回路測試方法，該方法包括
A、 測試標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板各印刷電路板回路的電感值，并設(shè)置印刷電路板
回路的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)；
B、 測試待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值，比較待測印刷電路 板各印刷電路板回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板中相應(yīng)的印刷電路板回路的電 感值的偏離值，如果所述各偏離值均在所設(shè)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則確認(rèn)所述待測 印刷電路板通過檢驗(yàn)；否則，認(rèn)為所述待測印刷電路板未通過檢驗(yàn)。
步驟A具體包括
Al、將測試夾具上、測試夾具下的各組測試探針接觸標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板各印 刷電路板回路的測試端點(diǎn)；
A2、電流模塊讀取數(shù)據(jù)庫中設(shè)置的測試電流值，通過數(shù)據(jù)線向標(biāo)準(zhǔn)印刷電 路板各印刷電路板回路輸出測試電流，測試電流通過各組測試探針進(jìn)入標(biāo)準(zhǔn)印 刷電路板中相應(yīng)的印刷電路板回路；
A3、數(shù)據(jù)釆集模塊釆集標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板各印刷電路板回路的測試探針兩端 之間的電感值，并存儲到數(shù)據(jù)庫；
A4、根據(jù)用戶需要，設(shè)置印刷電路板回路的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
步驟B具體包括
Bll、將測試夾具上、測試夾具下的各組測試探針接觸待測印刷電路板各 印刷電路板回路的測試端點(diǎn)；
B12、電流模塊讀取數(shù)據(jù)庫中設(shè)置的測試電流值，通過數(shù)據(jù)線向待測印刷 電路板各印刷電路板回路輸出測試電流，測試電流通過各組測試探針進(jìn)入待測 印刷電路板相應(yīng)的印刷電路板回路；
B13 、數(shù)據(jù)釆集模塊釆集待測印刷電路板各印刷電路板回路的測試探針兩 端之間的電感值，并發(fā)送到數(shù)據(jù)對比模塊；
B14、數(shù)據(jù)對比模塊接收數(shù)據(jù)釆集模塊發(fā)送的待測印刷電路板各印刷電路 板回路的電感值，從數(shù)據(jù)庫中讀取標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板相應(yīng)的印刷電路板回路的電感值，同時(shí)比較待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板 相應(yīng)的印刷電路板回路的電感值的偏離值，如果所述各偏離值均在所設(shè)的檢驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則確認(rèn)所述待測印刷電路板通過檢驗(yàn)，否則，認(rèn)為所述待測印刷 電路板未通過檢驗(yàn)。
步驟B具體包括
B21、將測試夾具上、測試夾具下的各組測試探針接觸待測印刷電路板各 印刷電路板回路的測試端點(diǎn)；
B22、電流模塊讀取數(shù)據(jù)庫中設(shè)置的測試電流值，通過數(shù)據(jù)線向待測印刷 電路板各印刷電路板回路輸出測試電流，測試電流通過各組測試探針進(jìn)入待測 印刷電路板相應(yīng)的印刷電路板回路；
B23 、數(shù)據(jù)釆集模塊釆集待測印刷電路板各印刷電路板回路的測試探針兩 端之間的電感值，并發(fā)送到數(shù)據(jù)對比模塊；
B24、數(shù)據(jù)對比模塊接收數(shù)據(jù)采集模塊發(fā)送的待測印刷電路板各印刷電路 板回路的電感值，從數(shù)據(jù)庫中讀取標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板相應(yīng)的印刷電路板回路的電 感值，逐一 比較所述待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)印刷電 路板相應(yīng)的印刷電路板回路的電感值的偏離值，如果當(dāng)前所述偏離值不在所設(shè)
的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則認(rèn)為所述待測印刷電路板未通過檢驗(yàn)；所述偏離值全在
所設(shè)的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)時(shí)，確認(rèn)所述待測印刷電路板通過檢驗(yàn)。
本發(fā)明PCB回路測試方法及系統(tǒng)充分利用現(xiàn)有的兩端式檢測裝置，釆集標(biāo) 準(zhǔn)PCB各PCB回路的電感值，檢測時(shí)比較待測PCB各PCB回路的電感值與標(biāo) 準(zhǔn)PCB相應(yīng)的各PCB回路的電感值，來檢測待測PCB中PCB回路的短路問題。 本發(fā)明通過測量電感變化，來判別回路的短路情況，相比傳統(tǒng)的電阻變化判別， 電感變化更容易檢測，測試精度更高，從而解決了 PCB行業(yè)中對PCB回路線 圈只能通過目視檢查甄別，且成品無法檢測內(nèi)層線圈的問題。


圖1為現(xiàn)有的兩端式檢測裝置與本發(fā)明PCB回路測試系統(tǒng)連接示意圖；圖2為PCB回路示意圖； 圖3為本發(fā)明PCB回路測試系統(tǒng)示意圖； 圖4為本發(fā)明PCB回路測試方法流程圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的基本思想是將現(xiàn)有的兩端式PCB短路檢測的電阻測試法，改進(jìn) 為電感測試法。釆集并存儲標(biāo)準(zhǔn)PCB各PCB回路的電感值，檢測時(shí)比較待測 PCB中各PCB回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)PCB相應(yīng)的PCB回路的電感值，從而判別 待測PCB中PCB回路是否存在短路問題。由于電感的變化比電阻變化容易檢 測，且檢測精度高，本發(fā)明提高了 PCB短路檢測的靈敏度。
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施例作進(jìn)一步說明。
本發(fā)明釆用的兩端式檢測裝置如圖1所示，測試夾具上10和測試夾具下 12夾住PCB14。 PCB14是標(biāo)準(zhǔn)PCB或待測PCB,所謂標(biāo)準(zhǔn)PCB是經(jīng)過嚴(yán)格檢 測的合格的PCB，用來作待測PCB的測試參照。測試夾具上10和測試夾具下 12分別具有多組探針(圖1未示出)，連接PCB14中各PCB回路的兩端，測試 夾具上10和測試夾具下12通過數(shù)據(jù)線連接PCB回路測試系統(tǒng)30,將各組探 針之間的電感值傳送到PCB回路測試系統(tǒng)30。
PCB回路20如圖2所示，PCB回路20兩個(gè)端點(diǎn)22與測試夾具上10、測 試夾具下12的測試探針接觸。PCB回路20可以是標(biāo)準(zhǔn)PCB中的PCB回路或 待測PCB中的PCB回路。 一塊PCB上可能同時(shí)有多個(gè)PCB回路，而測試夾具 上IO、測試夾具下12的測試探針可以根據(jù)PCB回路的位置進(jìn)行調(diào)整，從而釆 集同一塊PCB中各PCB回路的電感值。
本發(fā)明的PCB回路測試系統(tǒng)30如圖3所示，包括電流模塊300、數(shù)據(jù)釆 集模塊301、數(shù)據(jù)庫302、數(shù)據(jù)對比模塊303和數(shù)據(jù)輸出模塊304:
電流模塊300，用于讀取數(shù)據(jù)庫302中設(shè)置的測試電流值，向標(biāo)準(zhǔn)PCB各 PCB回路或待測PCB各PCB回路輸入測試電流；
數(shù)據(jù)釆集模塊301,用于釆集標(biāo)準(zhǔn)PCB各PCB回路的電感值并存儲到數(shù)據(jù)庫302中；以及釆集待測PCB各PCB回路的電感值，并發(fā)送到數(shù)據(jù)對比模塊 303;
數(shù)據(jù)庫302,用于存儲數(shù)據(jù)釆集模塊301釆集的標(biāo)準(zhǔn)PCB各PCB回路的電 感值、檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)、測試電流值；
數(shù)據(jù)對比模塊303,用于接收數(shù)據(jù)釆集模塊301發(fā)送的待測PCB各PCB回 路的電感值，從數(shù)據(jù)庫302中讀取相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB中PCB回路的電感值，并 比較待測PCB各PCB回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)PCB中相應(yīng)PCB回路的電感值的偏 離值，如所述各偏離值均在檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，向數(shù)據(jù)輸出模塊304發(fā)送該待測 PCB通過檢驗(yàn)信息，如所述任一偏離值不在檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，向數(shù)據(jù)輸出模塊 304發(fā)送該待測PCB未通過檢驗(yàn)信息；
數(shù)據(jù)輸出模塊304,用于接收數(shù)據(jù)對比模塊303發(fā)送的待測PCB的檢測結(jié) 果并輸出。
采用以上PCB回路測試系統(tǒng)檢測PCB時(shí)，相應(yīng)方法的流程如圖4所示， 包括
步驟401、測試標(biāo)準(zhǔn)PCB各PCB回路的電感值，并存儲到數(shù)據(jù)庫302中。 將測試夾具上10、測試夾具下12的各組測試探針接觸標(biāo)準(zhǔn)PCB各PCB回 路的測試端點(diǎn)22，電流模塊300讀取數(shù)據(jù)庫302中設(shè)置的測試電流值，通過數(shù) 據(jù)線向標(biāo)準(zhǔn)PCB各PCB回路輸出測試電流，測試電流通過各組測試探針，從 標(biāo)準(zhǔn)PCB相應(yīng)PCB回路端點(diǎn)22進(jìn)入各PCB回路，數(shù)據(jù)釆集模塊301釆集標(biāo) 準(zhǔn)PCB各PCB回路的測試探針兩端之間的電感值，并存儲到數(shù)據(jù)庫302。 步驟402、設(shè)置PCB的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，并存儲到數(shù)據(jù)庫302中。 根據(jù)用戶需求，設(shè)置PCB的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，即待測PCB各PCB回路輸出的電 感值偏離相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB中PCB回路電感值的正常范圍。例如，檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)為士l % ~5%，即待測PCB各PCB回路輸出的電感值偏離相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB中PCB 回路電感值在正負(fù)1% 5。/。之間，都認(rèn)為該待測PCB通過檢驗(yàn)；如果待測PCB 任一PCB回路輸出的電感值偏離相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB中PCB回路電感值超出正負(fù) 5%，則認(rèn)為待測PCB該P(yáng)CB回路發(fā)生短路，該待測PCB未通過檢驗(yàn)。步驟403、測試待測PCB各PCB回路的電感值，同時(shí)比較待測PCB各PCB 回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)PCB相應(yīng)的PCB回路電感值的偏離值，如果各偏離值均 在所設(shè)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則確認(rèn)該待測PCB通過檢驗(yàn)信息；否則，認(rèn)為該待測 PCB未通過檢驗(yàn)。
將測試夾具上10、測試夾具下12的各組測試探針接觸待測PCB各PCB回 路的測試端點(diǎn)22,電流模塊300讀取數(shù)據(jù)庫302中設(shè)置的測試電流值，通過數(shù) 據(jù)線向待測PCB各PCB回路輸出測試電流，測試電流通過各組測試探針，從 相應(yīng)待測PCB回路端點(diǎn)22進(jìn)入待測PCB各PCB回路，數(shù)據(jù)釆集模塊301釆 集待測PCB各PCB回路的測試探針兩端之間的電感值，并發(fā)送到數(shù)據(jù)對比模 塊303。數(shù)據(jù)對比模塊303接收數(shù)據(jù)釆集模塊301發(fā)送的待測PCB各PCB回路 的電感值，從數(shù)據(jù)庫302中讀取相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB回路的電感值，比較待測PCB 各PCB回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)PCB中相應(yīng)PCB回路的電感值的偏離值，如果各 偏離值均在所設(shè)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則確認(rèn)該待測PCB通過檢驗(yàn)，否則，認(rèn)為該 待測PCB未通過檢驗(yàn)。
步驟403中，數(shù)據(jù)對比模塊303還可以逐一比較待測PCB各PCB回路的 電感值與標(biāo)準(zhǔn)PCB相應(yīng)的PCB回路的電感值的偏離值，如果當(dāng)前偏離值不在 所設(shè)的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則認(rèn)為該待測PCB未通過檢驗(yàn)；各偏離值全在所設(shè)的 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)時(shí)，確認(rèn)待測PCB通過檢驗(yàn)。
現(xiàn)有的PCB檢測只能檢測到PCB回路中開路的問題，不能檢測到短路問 題。而本發(fā)明通過測試PCB回路的電感值，來檢測PCB回路中任意兩個(gè)線圈 之間的短路情況，包括內(nèi)層線圈和外層線圈，將符合檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的PCB挑選出來。 不論P(yáng)CB回路存在開路或短路，都會影響實(shí)際檢測到電感值，只要一塊待測 PCB中任一 PCB回路輸出的電感值與相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB中PCB回路電感值的偏 離值超出檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，本發(fā)明都會認(rèn)為該待測PCB未通過檢驗(yàn)，從而提示用戶進(jìn) 行下一步的處理。
以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1、一種印刷電路板回路測試系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)采集模塊，用于采集標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板各印刷電路板回路的電感值并存儲到數(shù)據(jù)庫中；以及采集待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值，并發(fā)送到數(shù)據(jù)對比模塊；數(shù)據(jù)庫，用于存儲數(shù)據(jù)采集模塊采集的標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板各印刷電路板回路的電感值、檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)、測試電流值；數(shù)據(jù)對比模塊，用于接收數(shù)據(jù)采集模塊發(fā)送的待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值，從數(shù)據(jù)庫中讀取相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板的印刷電路板回路的電感值，并比較待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板中相應(yīng)的印刷電路板回路的電感值的偏離值，如所述各偏離值均在檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，向數(shù)據(jù)輸出模塊發(fā)送所述待測印刷電路板通過檢驗(yàn)信息，如所述任一偏離值不在檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，向數(shù)據(jù)輸出模塊發(fā)送所述待測印刷電路板未通過檢驗(yàn)信息；數(shù)據(jù)輸出模塊，用于接收數(shù)據(jù)對比模塊發(fā)送的待測印刷電路板的檢測結(jié)果并輸出。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的印刷電路板回路測試系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng) 還包括電流模塊，用于讀取數(shù)據(jù)庫中設(shè)置的測試電流值，向標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板各
3、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的印刷電路板回路測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系 統(tǒng)通過數(shù)據(jù)線連接測試夾具，所述測試夾具通過各組探針連接標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板
4、 一種印刷電路板回路測試方法，其特征在于，該方法包括A、 測試標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板各印刷電路板回路的電感值，并設(shè)置印刷電路板 回路的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)；B、 測試待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值，比較待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板中相應(yīng)的印刷電路板回路的電 感值的偏離值，如果所述各偏離值均在所設(shè)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則確認(rèn)所述待測印刷電路板通過檢驗(yàn)；否則，認(rèn)為所述待測印刷電路板未通過檢驗(yàn)。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的印刷電路板回路測試方法，其特征在于，步驟A 具體包括Al、將測試夾具上、測試夾具下的各組測試探針接觸標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板各印 刷電路板回路的測試端點(diǎn)；A2、電流模塊讀取數(shù)據(jù)庫中設(shè)置的測試電流值，通過數(shù)據(jù)線向標(biāo)準(zhǔn)印刷電 路板各印刷電路板回路輸出測試電流，測試電流通過各組測試探針進(jìn)入標(biāo)準(zhǔn)印 刷電路板中相應(yīng)的印刷電路板回路；之間的電感值，并存儲到數(shù)據(jù)庫；A4、根據(jù)用戶需要，設(shè)置印刷電路板回路的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
6、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的印刷電路板回路測試方法，其特征在于，步驟B 具體包括Bll、將測試夾具上、測試夾具下的各組測試探針接觸待測印刷電路板各 印刷電路板回路的測試端點(diǎn)；B12、電流模塊讀取數(shù)據(jù)庫中設(shè)置的測試電流值，通過數(shù)據(jù)線向待測印刷 電路板各印刷電路板回路輸出測試電流，測試電流通過各組測試探針進(jìn)入待測 印刷電路板相應(yīng)的印刷電路板回路；B13 、數(shù)據(jù)釆集模塊釆集待測印刷電路板各印刷電路板回路的測試探針兩 端之間的電感值，并發(fā)送到數(shù)據(jù)對比模塊；B14、數(shù)據(jù)對比模塊接收數(shù)據(jù)釆集模塊發(fā)送的待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值，從數(shù)據(jù)庫中讀取標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板相應(yīng)的印刷電路板回路的電 感值，同時(shí)比較待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板 相應(yīng)的印刷電路板回路的電感值的偏離值，如果所述各偏離值均在所設(shè)的檢驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則確認(rèn)所述待測印刷電路板通過檢驗(yàn)，否則，認(rèn)為所述待測印刷電路板未通過檢驗(yàn)。
7、根據(jù)權(quán)利要求4所述的印刷電路板回路測試方法，其特征在于，步驟B具體包括B21、將測試夾具上、測試夾具下的各組測試探針接觸待測印刷電路板各 印刷電路板回路的測試端點(diǎn)；B22、電流模塊讀取數(shù)據(jù)庫中設(shè)置的測試電流值，通過數(shù)據(jù)線向待測印刷 電路板各印刷電路板回路輸出測試電流，測試電流通過各組測試探針進(jìn)入待測 印刷電路板相應(yīng)的印刷電路板回路；B23 、數(shù)據(jù)釆集模塊采集待測印刷電路板各印刷電路板回路的測試探針兩 端之間的電感值，并發(fā)送到數(shù)據(jù)對比模塊；B24、數(shù)據(jù)對比模塊接收數(shù)據(jù)釆集模塊發(fā)送的待測印刷電路板各印刷電路 板回路的電感值，從數(shù)據(jù)庫中讀取標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板相應(yīng)的印刷電路板回路的電 感值，逐 一 比較所述待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)印刷電 路板相應(yīng)的印刷電路板回路的電感值的偏離值，如果當(dāng)前所述偏離值不在所設(shè)的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則認(rèn)為所述待測印刷電路板未通過檢驗(yàn)；所述偏離值全在所設(shè)的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)時(shí)，確認(rèn)所述待測印刷電路板通過檢驗(yàn)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種印刷電路板回路測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)庫、數(shù)據(jù)對比模塊和數(shù)據(jù)輸出模塊，通過采集待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值，從數(shù)據(jù)庫中讀取標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板相應(yīng)的印刷電路板回路的電感值，并比較待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值與所述標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板相應(yīng)的印刷電路板回路的電感值的偏離值，所述偏離值均在檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，數(shù)據(jù)輸出模塊輸出該待測印刷電路板檢驗(yàn)通過。本發(fā)明還公開了相應(yīng)方法，判斷待測印刷電路板各印刷電路板回路的電感值與標(biāo)準(zhǔn)印刷電路板相應(yīng)的印刷電路板回路的電感值的偏離值，是否符合用戶設(shè)置的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，從而確定待測印刷線路板是否通過檢驗(yàn)。本發(fā)明測試精度高，使用方便。
文檔編號G01R31/02GK101581749SQ20081011185
公開日2009年11月18日 申請日期2008年5月16日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月16日
發(fā)明者朱興華 申請人:北大方正集團(tuán)有限公司;珠海方正科技多層電路板有限公司