專利名稱：用構(gòu)造法測量真空滅弧室工頻預(yù)擊穿電流的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測量方法，尤其涉及一種用構(gòu)造法測量真空滅弧室工 頻預(yù)擊穿電流的方法。
背景技術(shù)：
當(dāng)在真空間隙的兩端施加一定的電壓后，隨著電壓的不斷升高，在真 空間隙擊穿前，電極間會出現(xiàn)微小的電流(即預(yù)擊穿電流)，或有微放電 發(fā)生，這種現(xiàn)象稱為真空間隙的預(yù)擊穿現(xiàn)象。
如果施加電壓為直流電壓，則流過間隙的是比較穩(wěn)定的預(yù)擊穿電流， 主要是由場致發(fā)射引起的，有時會在穩(wěn)定的電流上疊加一些小的電流脈 沖。
如果施加電壓為工頻電壓，則流過真空間隙的電流包含以下一些分 量a.由強(qiáng)電場引起的陰極場致發(fā)射電流；
b.由兩觸頭組成的電容而產(chǎn)生的容性電流；
C.陽極由于受到陰極發(fā)射的電子的轟擊而發(fā)熱和釋氣、熔化產(chǎn)生的離 子電流；
d.由微放電所引起的脈沖電流等。
以上這些電流之和總稱為預(yù)擊穿全電流。通常所說的工頻預(yù)擊穿電 流， 一般是指不包括容性電流的其余電流分量之和，主要是由場致發(fā)射電 流決定的。
真空間隙中由于沒有氣體分子作為絕緣介質(zhì)，與氣體間隙相比，其擊 穿機(jī)理將會呈現(xiàn)出自己的一些特點(diǎn)。長期以來，對真空間隙擊穿機(jī)理的研 究和探討， 一直是真空絕緣和擊穿研究領(lǐng)域的熱點(diǎn)問題之一。為了全面地研究真空間隙的預(yù)擊穿特性，需要提供一種有效、簡單的測量真空滅弧室 工頻預(yù)擊穿電流的方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，而提供一種用構(gòu)造法測量真 空滅弧室工頻預(yù)擊穿電流的方法，它具有測量簡單的優(yōu)點(diǎn)。
實(shí)現(xiàn)上述目的的技術(shù)方案是 一種用構(gòu)造法測量真空滅弧室工頻 預(yù)擊穿電流的方法，用于測量真空滅弧室的工頻預(yù)擊穿電流，其中，包 括以下步驟
首先，測量流過真空滅弧室的總電流I和施加電壓U，該總電流I 包括電容電流Ic和預(yù)擊穿電流Ip，然后得到流過真空滅弧室的預(yù)擊穿 電流Ip與容性電流IC的相位關(guān)系然后，根據(jù)得到的容性電流IC的峰值來構(gòu)造出容性電流IC的波形；
最后，用總電流I的波形減去所構(gòu)造出的容性電流IC的波形，即 可得到所要求得預(yù)擊穿電流Ip的波形。
上述的用構(gòu)造法測量真空滅弧室工頻預(yù)擊穿電流的方法，其中，所 述的容性電流Ic的波形為正弦波。
本發(fā)明的有益效果是本發(fā)明用構(gòu)造法測量真空滅弧室工頻預(yù)擊穿 電流的方法利用流過滅弧室的預(yù)擊穿電流與施加電壓以及容性電流的 相位關(guān)系，根據(jù)總電流的波形來構(gòu)造出其容性電流分量的波形，因而只 需取一路電流信號即可獲得預(yù)擊穿電流，此方法簡單省力。


圖1是本發(fā)明的預(yù)擊穿電流Ip和容性電流Ic的相位關(guān)系圖。
具體實(shí)施例方式
下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
請參閱圖1，圖中示出了本發(fā)明的一種用構(gòu)造法測量真空滅弧室工 頻預(yù)擊穿電流的方法，用于測量真空滅弧室的工頻預(yù)擊穿電流，包括以下步驟
首先，測量流過真空滅弧室的總電流I和施加電壓U，該總電流I 包括電容電流Ic和預(yù)擊穿電流Ip，然后得到流過真空滅弧室的預(yù)擊穿 電流Ip與容性電流Ic的相位關(guān)系圖，由圖可知，預(yù)擊穿電流Ip和施加 電壓U的相位相同，而流過滅弧室的容性電流IC的相位顯然與U相差
90° ，因此預(yù)擊穿電流Ip與容性電流Ic的相位相差90。，在容性電流 Ic過零時預(yù)擊穿電流Ip將會取得最大值，在預(yù)擊穿電流Ip過零時容性 電流Ic將會取得最大值，因此預(yù)擊穿電流Ip將不會影響到容性電流Ic 在峰值附近的波形形狀；
然后，根據(jù)得到的容性電流Ic的峰值來構(gòu)造出容性電流Ic的波形， 該波形為正弦波；
最后，用總電流I的波形減去所構(gòu)造出的容性電流Ic的波形，即 可得到所要求得預(yù)擊穿電流Ip的波形。
以上實(shí)施例僅供說明本發(fā)明之用，而非對本發(fā)明保護(hù)范圍的限 制。有關(guān)本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情 況下，還可以作出各種變換或變型，而所有等同的技術(shù)方案也應(yīng)歸屬 于本發(fā)明保護(hù)的范疇之內(nèi)，由各權(quán)利要求所限定。
權(quán)利要求
1.一種用構(gòu)造法測量真空滅弧室工頻預(yù)擊穿電流的方法，用于測量真空滅弧室的工頻預(yù)擊穿電流，其特征在于，包括以下步驟首先，測量流過真空滅弧室的總電流I和施加電壓U，該總電流I包括電容電流Ic和預(yù)擊穿電流Ip，然后得到流過真空滅弧室的預(yù)擊穿電流Ip與容性電流Ic的相位關(guān)系圖；然后，根據(jù)得到的容性電流Ic的峰值來構(gòu)造出容性電流Ic的波形；最后，用總電流I的波形減去所構(gòu)造出的容性電流Ic的波形，即可得到所要求得預(yù)擊穿電流Ip的波形。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用構(gòu)造法測量真空滅弧室工頻預(yù)擊穿電流的方 法，其特征在于，所述的容性電流Ic的波形為正弦波。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用構(gòu)造法測量真空滅弧室工頻預(yù)擊穿電流的方法，用于測量真空滅弧室的工頻預(yù)擊穿電流，包括以下步驟首先，測量流過真空滅弧室的總電流I和施加電壓U，該總電流I包括電容電流Ic和預(yù)擊穿電流Ip，得到流過真空滅弧室的預(yù)擊穿電流Ip與容性電流Ic的相位關(guān)系圖；然后，根據(jù)得到的容性電流Ic的峰值來構(gòu)造出容性電流Ic的波形；最后，用總電流I的波形減去所構(gòu)造出的容性電流Ic的波形，即可得到所要求得預(yù)擊穿電流Ip的波形。本發(fā)明利用流過滅弧室的預(yù)擊穿電流與施加電壓以及容性電流的相位關(guān)系，根據(jù)總電流的波形來構(gòu)造出其容性電流分量的波形，因而只需取一路電流信號即可獲得預(yù)擊穿電流，此方法簡單省力。
文檔編號G01R31/12GK101614782SQ200810039450
公開日2009年12月30日 申請日期2008年6月24日 優(yōu)先權(quán)日2008年6月24日
發(fā)明者王衛(wèi)斌 申請人:上海恒睿信息技術(shù)有限公司;上海市電力公司