專利名稱：測試電路板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型相關(guān)于測試電路板，尤指 一種用來根據(jù) 一 測試 機(jī)所產(chǎn)生的多個測試信號對 一 集成電路進(jìn)行測試的測試電路板。
背景技術(shù)：
為了確保集成電路(integrated circuit, IC)出貨時的品質(zhì)， 在完成制造過程之后， 一般都會對每一個IC執(zhí)行測試，制造商 會依據(jù)對IC執(zhí)行測試的結(jié)果，來決定此IC是否合格，并據(jù)以判 斷是否可將此IC供應(yīng)給下游的廠商。請參閱圖l，圖l所示為已知技術(shù)用來執(zhí)行IC量產(chǎn)測試的測 試架構(gòu)示意圖。在此一測試架構(gòu)中，是使用測試機(jī)(tester ) 10 來作為測試一待測試元件(Device Under Test, DUT ) 22的工 具。其中，待測試元件22可為一待測的集成電路(IC),而為了 測試方便，待測試元件22通常設(shè)置于 一 待測試元件電路板(DUT board) 20上。然而，測試機(jī)10在進(jìn)行測試時，通常都一荅配專屬的待測試 元件電路板20來進(jìn)行測試，而且根據(jù)不同的待測試元件22,其 待測試元件電路板20上的電路也有所不同，待測試元件電路板 2 0上通常包括有 一 些基本的測試連接端點(diǎn)用以對待領(lǐng)'H式元件2 2 進(jìn)行測試，例如電源端(DPS)、 繼電器控制端(RELAY CONTROL)、通道端(CHANNEL)、 CBIT端、萬用孔等等。而， 上述的測試連接端點(diǎn)皆是凌亂的散布于待測試元件電路板2 0的 四周，因此制作待測試元件電路板20是相當(dāng)麻煩的，不僅耗費(fèi) 時間又耗費(fèi)人力，而且在制作時，有可能會因?yàn)閷?fù)雜的連接線錯誤連接而導(dǎo)致必須浪費(fèi)額外的時間進(jìn)行除錯。此外，當(dāng)要 對不同的待測試元件2 2進(jìn)行測試時，必須將相對應(yīng)于該待測試元件2 2的專屬電路設(shè)置在待測試元件電路板2 0上，此種方式不 僅會耗費(fèi)人力以及時間，相對的亦會提升對待測試元件進(jìn)行測 試所需的成本。實(shí)用新型內(nèi)容因此，本實(shí)用新型的目的之一，在于提供一種可提升芯片 測試的便利性以及降低測試成本的測試電路板，以解決已知技 術(shù)所面臨的問題。本實(shí)用新型提供一種測試電路板，用來置放一待測試元件， 并根據(jù) 一 測試機(jī)所產(chǎn)生的多個測試信號對該待測試元件進(jìn)行測 試，該測試電路板包括有一電路基板以及多組基座。電路基板 設(shè)置有多個插孔。多組插槽設(shè)置于該多個插孔上，該多組插槽 通過多個連接接口電連接于該待測試元件，多組插槽用以傳遞 該多個測試信號以進(jìn) 一 步對該待測試元件進(jìn)行溯'J試。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該電路基板為 一 印刷電路板。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該電路基板上另設(shè)置有一 乘載板，該乘載板用以乘載該待測試元件。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該乘載板設(shè)置有多個拴鎖 孔，該電路基板上則設(shè)置有多個拴鎖基座，該多個拴鎖孔相對 應(yīng)于該多個拴鎖基座而設(shè)置，其中該乘載板通過該多個拴鎖基 座以及該多個4全鎖孔鎖固于該電^各基^反。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該多個拴鎖基座以及該多 個拴鎖孔通過多個拴鎖柱相互鎖固。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該乘載板另設(shè)置有多組連多組插槽而設(shè)置，該待測試元 件通過該乘載板的該多組連接槽電連接于該多組插槽。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該乘載板的該多組連接槽 通過該多個連4妻4妻口電連接于該多組插槽。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該多個連接接口分別為一 總線。本實(shí)用新型所述的測試電贈4反，該纟寺測試元件為 一 集成電路(Integrated Circuit, IC)。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該多組插槽包括有至少一 組電源插槽，該至少一組電源插槽耦接于一電源供應(yīng)模塊，該 電源供應(yīng)才莫塊用以l是供該測試才幾對該^寺測試元件進(jìn)^亍領(lǐng)'J試時所 需的電源，而該至少 一組電源插槽用以傳遞該電源。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該多組插槽包括有至少一 組通道插槽，該至少一組通道插槽用以提供該測試機(jī)對該待測 試元件進(jìn)行測試時所需的信號通道。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該多組插槽包括有至少一 組控制插槽，該測試機(jī)所產(chǎn)生的該多個測試信號中則包括有多 個控制信號，而該至少 一 組控制插槽用以傳遞該多個控制信號 以對該待測試元件進(jìn)行測試。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該至少 一 組控制插槽為繼 電器控制端插槽。本實(shí)用新型所述的測試電路板，該多組插槽包括有至少一 組CBIT插槽，該多個測試信號中包括有多個CBIT測試信號，該 至少 一 組CBIT插槽用以傳遞該多個CBIT測試信號以對該待測 試元件進(jìn)行CBIT測試。本實(shí)用新型所述的測試電路板，可有效的節(jié)省測試所需的 時間，更可^是升測試效率。


圖l為已知技術(shù)用來執(zhí)行IC量產(chǎn)測試的測試架構(gòu)示意圖。 圖2所示為本實(shí)用新型所提出測試電路板的示意圖。 圖3所示為本實(shí)用新型所提出測試電路板的另 一實(shí)施例的 示意圖。
具體實(shí)施方式
請參閱圖2以及圖3 ,圖2所示為本實(shí)用新型所提出測試電路 板的示意圖。圖3所示為本實(shí)用新型所提出測試電路板的另 一 實(shí) 施例的示意圖。如圖2以及圖3所示，本實(shí)用新型揭露一種測試 電路板30,該測試電^各30用來置方文一4寺測試元件50,并才艮據(jù)一 測試機(jī)(圖未示)所產(chǎn)生的多個領(lǐng)'j試信號對該待測試元件5 0進(jìn)行 測試。于 一 實(shí)施例中待測試元件50為 一 集成電路(Integrated Circuit, IC)。測試電路板30包括有 一 電路基板32以及多組插槽 341 344。電路基板32設(shè)置有多個插孔324。于一實(shí)施例中，電 路基板32為一印刷電路板。多組插槽341 344設(shè)置于該多個插 孑L324上，該多組插槽341 344通過多個連接接口 (圖未示)電連 接于該待測試元件50，用以傳遞該多個測試信號以對該待測試 元件50進(jìn)^f亍測試。于一實(shí)施例中，多個連接接口 (圖未示)分別 為一總線。于一較佳實(shí)施例中，電路基板32上更設(shè)置有一乘載板60， 乘載板60用以乘載該待測試元件50。其中，乘載板60上設(shè)置有 多個拴鎖孔(圖未示)，電路基板32上則設(shè)置有多個拴鎖基座 322,該多個拴鎖孔(圖未示)相對應(yīng)于該多個拴鎖基座322而設(shè) 置。乘載板60通過該多個拴鎖基座322以及該多個拴鎖孔(圖未 示)鎖固于該電路基板32上。此外，于另一實(shí)施例中，多個拴鎖 基座322以及多個拴鎖孔(圖未示)通過多個拴鎖柱62相互鎖固，多個拴鎖柱62穿置于乘載板60的多個拴鎖孔(圖未示)，并進(jìn)一步鎖固于電路基板32上的多個拴鎖基座322，借此即可將乘載板 60鎖固于電路基板32上。而，乘載板60另外還設(shè)置有多組連接槽641 644,該多組 連接槽641 644相對應(yīng)于該多組插槽341 344而設(shè)置，該待測 試元件50通過乘載板60的多組連接槽641 644電連接于該多組 插槽341 344。于一實(shí)施例中，乘載板60的多組連接槽641 644 通過該多個連接接口 (圖未示)電連接于該多組插槽341 344。其中，多組插槽341 344包括有至少一組電源插槽341，該 至少 一 組電源插槽3 41連接于 一 電源供應(yīng)模塊(圖未示)，電源供 應(yīng)模塊(圖未示)用以提供該測試機(jī)(圖未示)對該待測試元件50 進(jìn)行測試時所需的電源。而該至少 一組電源插槽341則用以傳遞 該電源。于另一實(shí)施例中，多組插槽341 344包括有至少一組 通道插槽342，該至少一組通道插槽342用以提供該測試機(jī)(圖未 示)對該待測試元件50進(jìn)行測試時所需的信號通道。此外，多組 插槽3 41 3 4 4包括有至少 一 組控制插槽3 4 3 ,其中該測試機(jī)(圖 未示)所產(chǎn)生的該多個測試信號中則包括有多個控制信號，而該 至少一組控制插槽343用以傳遞該多個控制信號以對該待測試 元件進(jìn)行測試。其中該測試機(jī)(圖未示)所產(chǎn)生的該多個控制信 號可用以控制該待測試元件50進(jìn)行各種不同的測試。于一具體 實(shí)施例中，該至少一組控制插槽343為一組繼電器控制端插槽。 于另 一實(shí)施例中，該多組插槽341 344包括有至少一組CBIT插 槽344，該多個測試信號中包括有多個CBIT測試信號，該至少 一組CBIT插槽344用以傳遞該多個CBIT觀'j試信號以對該待測試 元件50進(jìn)行CBIT測試。于上述實(shí)施例中，是舉具有四個電源插槽341且每個電源插 槽3 41皆有使用的狀況為例，因此連接槽6 41的數(shù)目亦相對應(yīng)為四個(圖3中僅示出3個連接槽641 )，才能相對連接電源插槽341。 相同的，本實(shí)施例中是舉僅需使用 一個控制插槽343的狀況為 例，所以只需相對應(yīng)具有一個連接槽643即可，因此，多組連接 槽641 ~ 644的個數(shù)可隨著實(shí)際狀況而增加或減少。在本實(shí)用新型的各個實(shí)施例中，本實(shí)用新型的測試電路板設(shè)計(jì)成能符合各種不同類型的待測試元件的測試電路板(即為 一般所稱的公板)，將測試電路板上所有連接到測試機(jī)的連接插 槽分區(qū)分類進(jìn)行設(shè)置，然后再將分類分區(qū)好的連接點(diǎn)集中到對 應(yīng)的基座，如此只需使用本實(shí)用新型的測試電路板再搭配對應(yīng) 各個待測試元件所需要的電路的載板(即為 一般所稱的子板)結(jié) 合在一起，這樣只需在不同產(chǎn)品的子板上做變化的就可以重復(fù) 使用公板降低成本及人力制作及時間。相較于已知技術(shù)的測試 架構(gòu)，本實(shí)用新型各實(shí)施例的測試架構(gòu)可以有效的節(jié)省測試所 需的時間，更可以提升測試效率，這些都是本實(shí)用新型優(yōu)于已 知技術(shù)的特點(diǎn)。以上所述僅為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例，然其并非用以限定 本實(shí)用新型的范圍，任何熟悉本項(xiàng)技術(shù)的人員，在不脫離本實(shí) 用新型的精神和范圍內(nèi)，可在此基礎(chǔ)上做進(jìn)一步的改進(jìn)和變化， 因此本實(shí)用新型的保護(hù)范圍當(dāng)以本申請的權(quán)利要求書所界定的 范圍為準(zhǔn)。附圖中符號的簡單說明如下30測試電踏4反32電路基板50待測試元件60乘載板62栓鎖柱322:栓鎖基座324: #孑匕341 ~ 344:插槽641 ~ 644:連接槽。
權(quán)利要求1.一種測試電路板，其特征在于，用來置放一待測試元件，并根據(jù)一測試機(jī)所產(chǎn)生的多個測試信號對該待測試元件進(jìn)行測試，該測試電路板包括有一電路基板，該電路基板設(shè)置有多個插孔；以及多組插槽，設(shè)置于該多個插孔上，該多組插槽通過多個連接接口電連接于該待測試元件，用以傳遞該多個測試信號以對該待測試元件進(jìn)行測試。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試電路板，其特征在于，該電 路基板為一印刷電路板。
3. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試電路板，其特征在于，該電 路基板上另設(shè)置有一乘載板，該乘載板用以乘載該待測試元件。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試電路板，其特征在于，該乘 載板設(shè)置有多個拴鎖孔，該電路基板上則設(shè)置有多個拴鎖基座， 該多個拴鎖孔相對應(yīng)于該多個拴鎖基座而設(shè)置，其中該乘載板 通過該多個拴鎖基座以及該多個拴鎖孔鎖固于該電路基板。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試電路板，其特征在于，該多 個拴鎖基座以及該多個拴鎖孔通過多個拴鎖柱相互鎖固。
6. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試電路板，其特征在于，該乘 載板另設(shè)置有多組連接槽，該多組連接槽相對應(yīng)于該多組插槽 而設(shè)置，該待測試元件通過該乘載板的該多組連接槽電連接于 該多組插槽。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試電^各板，其特征在于，該乘 載板的該多組連接槽通過該多個連接接口電連接于該多組插槽。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試電路板，其特征在于，該多 個連接接口分別為一總線。
9. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試電路板，其特征在于，該待測試元件為一集成電路。
10. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試電路板，其特征在于，該多 組插槽包括有至少 一組電源插槽，該至少 一組電源插槽耦接于 一電源供應(yīng)模塊，該電源供應(yīng)模塊用以提供該測試機(jī)對該待測 試元件進(jìn)行測試時所需的電源，而該至少一組電源插槽用以傳 遞該電源。
11. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試電路板，其特征在于，該多 組插槽包括有至少一組通道插槽，該至少一組通道插槽用以提 供該測試纟幾對該4寺觀'J試元件進(jìn)行測試時所需的信號通道。
12. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試電路板，其特征在于，該多 組插槽包括有至少 一組控制插槽，該測試機(jī)所產(chǎn)生的該多個測 試信號中則包括有多個控制信號，而該至少一組控制插槽用以 傳遞該多個控制信號以對該待測試元件進(jìn)行測試。
13. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的測試電路板，其特征在于，該 至少 一組控制插槽為繼電器控制端插槽。
14. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試電路板，其特征在于，該多 組插槽包括有至少一組CBIT插槽，該多個測試信號中包括有多 個CBIT測試信號，該至少一組CBIT插槽用以傳遞該多個CBIT 測試信號以對該待測試元件進(jìn)行CBIT測試。
專利摘要本實(shí)用新型揭露一種測試電路板，用來置放一待測試元件，并根據(jù)一測試機(jī)所產(chǎn)生的多個測試信號對該待測試元件進(jìn)行測試，該測試電路板包括有一電路基板以及多組基座。電路基板設(shè)置有多個插孔。多組插槽設(shè)置于該多個插孔上，該多組插槽通過多個連接接口電連接于該待測試元件，用以傳遞該多個測試信號以對該待測試元件進(jìn)行測試。本實(shí)用新型所述的測試電路板，可有效的節(jié)省測試所需的時間，更可提升測試效率。
文檔編號G01R31/28GK201107386SQ200720182268
公開日2008年8月27日 申請日期2007年11月16日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月16日
發(fā)明者吳永裕, 滕貞勇, 蔣維棻, 許麗嬌, 陳弘偉, 陳輝煌 申請人:普誠科技股份有限公司