專利名稱：一種放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及放射攝影探測器技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種放射攝影 探測器光路系統(tǒng)測試裝置。
背景技術(shù)：
如圖1和圖2所示，放射攝影探測器成像原理是X射線產(chǎn)生裝置
31的放射線穿透物體(人體、行李包、工業(yè)零件等)后，這種具有物體 內(nèi)部結(jié)構(gòu)影像信息的射線投照在特殊材料制作的閃爍屏33上，閃爍屏 33把X射線這種不可見光轉(zhuǎn)換成可見光，然后這種可見光直接被相機(jī) 34接收或經(jīng)反射鏡32反射后被相機(jī)34接收，光信號(hào)經(jīng)轉(zhuǎn)接處理傳輸?shù)?影像工作站35儲(chǔ)存及顯示出來。
放射影像探測器在研制與生產(chǎn)過程中，其光路系統(tǒng)的測試是所有測 試中最基本的也是最重要的測試，要反復(fù)地測試相機(jī)相對(duì)于閃爍屏的座 標(biāo)值，以取得最佳圖像質(zhì)量。在沒有測試裝置的情況下，則產(chǎn)品經(jīng)過X 射線反復(fù)投照，不斷調(diào)整相機(jī)座標(biāo)位置，直到調(diào)整到圖像最佳狀態(tài)為止。 這樣測試調(diào)整，要頻繁地進(jìn)行X射線投照，對(duì)人及設(shè)備損害較大，再就 是產(chǎn)品內(nèi)零部件較多，操作調(diào)整非常繁瑣，效率低下。

實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種放射攝影探測器光路系 統(tǒng)測試裝置，克服現(xiàn)有技術(shù)在進(jìn)行放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試時(shí)，必
須利用放射攝影探測器實(shí)體進(jìn)行測試，設(shè)備及人員容易受到X射線傷害， 以及測試過程中的部件調(diào)整非常繁瑣，測試效率低下的缺陷。
本實(shí)用新型為解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為-
一種放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，包括放置在一支架上的光 源、閃爍屏或毛玻璃、反射鏡、相機(jī)，所述光源設(shè)置于所述閃爍屏或毛 玻璃的上端，所述反射鏡設(shè)置于所述閃爍屏或毛玻璃的下端，并與所述
閃爍屏或毛玻璃呈45度角，所述相機(jī)設(shè)置于所述反射鏡鏡面的對(duì)端。
所述放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的進(jìn)一步優(yōu)化是還包括燈 箱罩，所述光源位于所述燈箱罩的內(nèi)部，所述燈箱罩的敞口對(duì)接所述閃 爍屏或毛玻璃。
所述放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的進(jìn)一步優(yōu)化是還包括光 線轉(zhuǎn)換箱，所述光線轉(zhuǎn)換箱的敞口對(duì)接所述閃爍屏或毛玻璃，所述反射 鏡設(shè)置于所述光線轉(zhuǎn)換箱內(nèi)的對(duì)角線上，所述光線轉(zhuǎn)換箱相對(duì)于所述相 機(jī)的箱面上設(shè)置透光孔。
所述放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的進(jìn)一步優(yōu)化是還包括相 機(jī)暗箱，所述相機(jī)位于所述相機(jī)暗箱內(nèi)部，所述相機(jī)暗箱的敞口對(duì)接所 述光線轉(zhuǎn)換箱。
所述放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的進(jìn)一步優(yōu)化是還包括調(diào) 整支架，所述相機(jī)放置于所述調(diào)整支架上，所述調(diào)整支架置于所述相機(jī)
暗箱內(nèi)部。
所述放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的進(jìn)一步優(yōu)化是所述光源
本實(shí)用新型的有益效果為由于本實(shí)用新型放射攝影探測器光路系 統(tǒng)測試裝置使用普通光源替代X射線，并且將放射攝影探測器光路系統(tǒng)
的測試調(diào)整簡化為對(duì)相機(jī)的位置調(diào)整，將放射攝影探測器光路系統(tǒng)的測 試分離到測試裝置上進(jìn)行，因此避免了X射線對(duì)人員及設(shè)備的傷害，大 人提高了放射攝影探測器光路系統(tǒng)的測試效率，本實(shí)用新型放射攝影探 測器光路系統(tǒng)測試裝置還可以作為閃爍屏質(zhì)量品質(zhì)的檢測工具，這同樣 節(jié)約了成本，提高了檢測效率。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)放射攝影探測器成像原理示意圖之一； 圖2為現(xiàn)有技術(shù)放射攝影探測器成像原理示意圖之二； 圖3為本實(shí)用新型放射攝影探測器光路系統(tǒng)示意圖； 圖4為本實(shí)用新型放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置示意圖； 圖5為本實(shí)用新型放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置燈箱示意圖； 圖6為本實(shí)用新型放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置光線轉(zhuǎn)換箱示 意圖7為本實(shí)用新型放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置調(diào)整支架示意
圖8為本實(shí)用新型放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置相機(jī)暗箱示意圖。
具體實(shí)施方式
卜'面根據(jù)附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明 如圖3所示，放射攝影探測器光路系統(tǒng)工作時(shí)X光線53入射到探 測區(qū)域51，穿過被測物體后被閃爍體轉(zhuǎn)換成可見光，可見光再被反射鏡 54 (45。傾斜)反射，經(jīng)相機(jī)光學(xué)鏡頭55聚焦在CCD芯片52上成像，
就可以得到人體部位的影像。其中d:平面反射鏡軸向尺寸，dl:鏡 頭光軸到探測平面的垂直距離，d2:鏡頭光軸與平面反射鏡的交點(diǎn)到鏡
頭中心的距離，0:鏡頭視場角，L:物距，L':像距，參數(shù)計(jì)算如果 鏡頭55焦距為f，探測區(qū)域51尺寸為axamm， CCD芯片52尺寸為bxb mm，貝lj物距L=dl+d2=f(l+a/b)，像距L'=f(l+b/a)。再通過鏡頭55視場 角^和三角形幾何知識(shí)可計(jì)算得到d， dl， d2。在放射攝影探測器中，探 測區(qū)域51的探測平面和反射鏡54的位置關(guān)系是固定的，在實(shí)際光路調(diào) 試中，可通過調(diào)整d2來獲得清晰的影像， 一般d2的調(diào)整距離數(shù)值都在 d2理論值附近。根據(jù)上述分析，現(xiàn)在將放射攝影探測器光路系統(tǒng)設(shè)置在 本實(shí)用新型放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置中，使用普通光源替代X 光進(jìn)行測試，并記錄測量的d2值，然后在將相機(jī)裝到放射攝影探測器 上以后，根據(jù)d2值確定相機(jī)的安放位置，很快就可以完成放射攝影探 測器光路系統(tǒng)調(diào)試工作。
如圖4、圖5、圖6、圖7和圖8所示，本實(shí)用新型放射攝影探測器 光路系統(tǒng)測試裝置包括日光燈5、閃爍屏或毛玻璃9、反射鏡12、相機(jī) 13，日光燈5設(shè)置于閃爍屏或毛玻璃9的上端，反射鏡12設(shè)置于閃爍 屏或毛玻璃9的下端，并與閃爍屏或毛玻璃9呈45度角，相機(jī)13設(shè)置 于反射鏡12鏡面的對(duì)端。
本實(shí)用新型放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的實(shí)施例包括燈箱 罩l、光線轉(zhuǎn)換箱2、調(diào)整支架3和相機(jī)暗箱4，調(diào)整支架3位于相機(jī)暗 箱4內(nèi)部，燈箱罩1、光線轉(zhuǎn)換箱2和相機(jī)暗箱4的箱體邊沿通過螺釘 固定在一起，燈箱罩1內(nèi)設(shè)置4只日光燈5，燈箱罩1外部設(shè)置燈開關(guān) 6和電源線及插頭7。燈箱罩1的敞口對(duì)接閃爍屏或毛玻璃9。光線轉(zhuǎn)換 箱2包括閃爍屏或毛玻璃壓蓋8、光線轉(zhuǎn)換箱2的敞口對(duì)接閃爍屏或毛 玻璃9，光線轉(zhuǎn)換箱2又分為轉(zhuǎn)換箱10和轉(zhuǎn)換箱11，反射鏡12設(shè)置于 轉(zhuǎn)換箱10和轉(zhuǎn)換箱11對(duì)接后形成的對(duì)角線上，光線轉(zhuǎn)換箱2相對(duì)于相 機(jī)的箱面上設(shè)置透光孔。相機(jī)暗箱4的敞口對(duì)接光線轉(zhuǎn)換箱2。調(diào)整支 架3上放置相機(jī)13。
本測試裝置把其中的光路系統(tǒng)的部件和光路測試移植到具有相同 空間結(jié)構(gòu)的測試裝置來完成。并用燈箱可見光代替X射線，測試相機(jī)圖 像，得到最佳圖像的測試結(jié)果，人和設(shè)備的安全得到保證，并簡化了操 作。本實(shí)用新型放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置還可以作為閃爍屏質(zhì) 量品質(zhì)的檢測工具，這同樣節(jié)約了成本，提高了檢測效率。
本領(lǐng)域技術(shù)人員不脫離本實(shí)用新型的實(shí)質(zhì)和精神，可以有多種變形 方案實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型，以上所述僅為本實(shí)用新型較佳可行的實(shí)施例而 已，并非因此局限本實(shí)用新型的權(quán)利范圍，凡運(yùn)用本實(shí)用新型說明書及 附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)變化，均包含于本實(shí)用新型的權(quán)利范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1、一種放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，其特征在于包括放置在一支架上的光源、閃爍屏或毛玻璃、反射鏡、相機(jī)，所述光源、所述閃爍屏或毛玻璃、反射鏡、相機(jī)所述光源設(shè)置于所述閃爍屏或毛玻璃的上端，所述反射鏡設(shè)置于所述閃爍屏或毛玻璃的下端，并與所述閃爍屏或毛玻璃呈45度角，所述相機(jī)設(shè)置于所述反射鏡鏡面的對(duì)端。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，其特征在于還包括燈箱罩，所述光源位于所述燈箱罩的內(nèi)部，所述燈箱 罩的敞口對(duì)接所述閃爍屏或毛玻璃。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，其特征在于還包括光線轉(zhuǎn)換箱，所述光線轉(zhuǎn)換箱的敞口對(duì)接所述閃爍屏 或毛玻璃，所述反射鏡設(shè)置于所述光線轉(zhuǎn)換箱內(nèi)的對(duì)角線上，所述光線 轉(zhuǎn)換箱相對(duì)于所述相機(jī)的箱面上設(shè)置透光孔。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，其特征在于還包括相機(jī)暗箱，所述相機(jī)位于所述相機(jī)暗箱內(nèi)部，所述相 機(jī)暗箱的敞口對(duì)接所述光線轉(zhuǎn)換箱。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，其特征在于還包括調(diào)整支架，所述相機(jī)放置于所述調(diào)整支架上，所述調(diào) 整支架置于所述相機(jī)暗箱內(nèi)部。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1至5任一所述的放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，其特征在于所述光源設(shè)為日光燈。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，包括光源、閃爍屏或毛玻璃、反射鏡、相機(jī)，所述光源設(shè)置于所述閃爍屏或毛玻璃的上端，所述反射鏡設(shè)置于所述閃爍屏或毛玻璃的下端，并與所述閃爍屏或毛玻璃呈45度角，所述相機(jī)設(shè)置于所述反射鏡鏡面的對(duì)端。由于本實(shí)用新型放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置使用普通光源替代X射線，并且將放射攝影探測器光路系統(tǒng)的測試調(diào)整簡化為對(duì)相機(jī)的位置調(diào)整，將放射攝影探測器光路系統(tǒng)的測試分離到測試裝置上進(jìn)行，因此避免了X射線對(duì)人員及設(shè)備的傷害，大大提高了放射攝影探測器光路系統(tǒng)的測試效率。
文檔編號(hào)G01M11/00GK201184838SQ20072012246
公開日2009年1月21日 申請(qǐng)日期2007年8月24日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月24日
發(fā)明者吳定漢, 滕久宏 申請(qǐng)人:深圳市藍(lán)韻實(shí)業(yè)有限公司