專利名稱：單列集成電路元器件老化測試插座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，尤其能對單列集成電路元器件可靠性 進行高溫老化試驗和測試的插座。
背景技術(shù)：
目前，在我國可靠性技術(shù)領(lǐng)域，國內(nèi)老化試驗插座系列產(chǎn)品本體材料采用的是非耐高溫 普通工程塑料，在對被測器件進行測試時，老化工作溫度僅為-25°C +85°C，且老化工作時 間短暫，插座接觸件表面鍍銀，結(jié)構(gòu)簡單，存在著與被測器件之間接觸電阻大、耐環(huán)境弱、 一致性不高和機械壽命不長的重大缺陷。在我國微電子元器件可靠性領(lǐng)域，單列集成電路元 器件高端技術(shù)產(chǎn)品，因無高溫老化可靠性試驗的專用裝置，不能滿足對器件性能指標(biāo)的測試 要求，容易引發(fā)工程質(zhì)量事故。
發(fā)明內(nèi)容
為克服現(xiàn)有老化試驗插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以及使用壽命方面的不足，本實 用新型提供一種高溫老化試驗和測試的插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從-25'C +85°(:擴大到-65°<: +150°(:, —次老化連續(xù)工作時間長達1000h(150°C)以上，插拔壽命5000
次以上，而且在對被測試器件進行高溫老化試驗和性能測試過程中，具有接觸電阻小、 一致 性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點，大大提高了插座的可靠性和使用 壽命。
本實用新型解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是按照24線單列型的結(jié)構(gòu)設(shè)計和尺寸要 求，將插座設(shè)計成三大組成部分，即插座體、接觸件和鎖緊裝置。插座體由座、蓋組成，選 用進口的耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造成插座本體，用于被試器件的定 位安裝；接觸件以鈹青銅材料經(jīng)線切割機切割下料及打彎成型，經(jīng)30(TC高溫淬火處理及電 鍍硬金層技術(shù)表面鍍金，采用與被試器件引出線相對應(yīng)、縱向排列、自動鎖緊和零插拔力結(jié) 構(gòu)安裝于插座體的座中；鎖緊裝置由滑塊、手柄和軸組成，由以往縱向推拉鎖緊改為橫向推 拉鎖緊結(jié)構(gòu)，當(dāng)手柄受力帶動軸順時針旋轉(zhuǎn)時，由于軸的徑向尺寸差，使滑塊產(chǎn)生位移，促 使接觸件上端閉緊，接觸件自動鎖緊被試器件引出線達到鎖緊器件的效果。通電后進行高溫 老化試驗和性能測試。這種以與被試器件引出線相對應(yīng)的、縱向排列、橫向自鎖式和零插拔 力為設(shè)計結(jié)構(gòu)的試驗插座，徹底解決了在高溫老化試驗和性能測試過程中的接觸電阻大、耐 環(huán)境弱、 一致性差和機械壽命不長的技術(shù)難點。
本實用新型的有益效果是可以滿足24線單列集成電路元器件和其它同類單列集成電路 元器件、任意跨距零插拔力直插式元器件高溫老化試驗和性能測試，填補了國內(nèi)空白，替代 進口，為國家節(jié)約了外匯，為用戶節(jié)約了成本，可以獲得較大的經(jīng)濟效益和社會效益。
以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進一步說明。

圖1是本實用新型的外形結(jié)構(gòu)縱剖面構(gòu)造圖。
圖2是本實用新型外型結(jié)構(gòu)俯視圖。
圖l: l座2不銹鋼開槽沉頭自攻螺釘3壓簧4接觸件5蓋 6滑塊 7不銹鋼十字開槽盤頭螺釘8小墊圈9手柄10軸11擋板
具體實施方式
在圖1中，先按孔的位置將滑塊6放在座1上，再將接觸件即簧片4按縱向排列、自動 鎖緊和零插拔力結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座1內(nèi)；安裝擋板ll，裝上壓簧3，將軸10裝入插座體 的座1中；將蓋5按孔擺在座1上，用不銹鋼開槽沉頭自攻螺釘2將圖中的蓋5和座1固定； 再將手柄9放在蓋5上，再將小墊圈8放在手柄上，并將孔對齊，最后用不銹鋼十字開槽盤 頭螺釘7將手柄9與插座體的座1固定。
該方案中，插座體用于被試器件的安裝定位，接觸件由鍍金簧片2. 54mm間距按縱向排列、
橫向自動鎖緊和零插拔力結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座中，與被試器件引出線相對應(yīng)，鎖緊裝置由 滑塊、手柄和軸組成，安裝于插座體之上。當(dāng)手柄處于初始位置時，接觸件張開，放入被試 器件后，手柄受力順時針旋轉(zhuǎn)時，接觸件自動鎖緊被試器件。
權(quán)利要求1.一種適用于單列集成電路元器件老化測試插座，其特征是它是由插座體、接觸件和鎖緊裝置三個部分統(tǒng)一組成，插座體由座(1)和蓋(5)組成，插座體選用進口耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造而成，接觸件(4)與被試器件引出線相對應(yīng)并安裝于插座體的座(1)中，鎖緊裝置安裝于插座體的座(1)中。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的單列集成電路元器件老化測試插座，其特征是插座體、接觸 件和鎖緊裝置是一個統(tǒng)一整體，接觸件(4)由24線、2. 54mm間距的鍍金簧片縱向排列組成, 并安裝于座(1)內(nèi)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的單列集成電路元器件老化測試插座，其特征是插座的鎖緊裝 置由滑塊(6)、手柄(9)和軸(10)組成，以橫向推拉式結(jié)構(gòu)把接觸件(4)設(shè)計成自鎖式、 零插拔力結(jié)構(gòu)。
專利摘要本實用新型涉及一種微電子元器件老化試驗插座，尤其能對單列集成電路元器件可靠性進行高溫老化試驗和測試的插座。該插座按照24線單列型集成電路元器件結(jié)構(gòu)設(shè)計和尺寸要求，將插座設(shè)計成插座體、接觸件和鎖緊裝置三大組成部分。插座體由座、蓋組成，座和蓋選用進口耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造成插座本體，用于被試器件的定位安裝。接觸件選用鈹青銅材料經(jīng)線切割機切割下料及打彎成型簧片，經(jīng)300℃高溫淬火處理及電鍍硬金層技術(shù)表面鍍金，采用與被試器件引出線相對應(yīng)、2.54mm間距縱向排列、橫向自動鎖緊結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座中。鎖緊裝置由滑塊和手柄和軸組成，為橫向推拉鎖緊結(jié)構(gòu)。
文檔編號G01R1/02GK201199248SQ200720109318
公開日2009年2月25日 申請日期2007年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月10日
發(fā)明者曹宏國 申請人:曹宏國