專利名稱：測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測量裝置，特別涉及一種測量寬度差值的測量裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)代化的生產(chǎn)方式使得產(chǎn)品制造商更加注重購進(jìn)的原材料的品質(zhì)，其往往投入一定成本 對購進(jìn)的原材料進(jìn)行測量。其中一項就是疊加材料寬度差值測量，業(yè)界通常采用高度計來測 量片狀疊加材料的寬度差值。
如圖1所示，為現(xiàn)有技術(shù)中采用高度計20測量片狀疊加材料50寬度差的示意圖。高度計 20包括旋鈕21、探測臂22、數(shù)字表頭23及底座24。數(shù)字表頭23設(shè)置于底座24之上，且與探測 臂22相連。探測臂22中部設(shè)有旋鈕21。旋鈕21用于調(diào)整探測臂22升高或降低。數(shù)字表頭23根 據(jù)探測臂22升高或降低的程度顯示相應(yīng)數(shù)據(jù)。測量片狀疊加材料50時，首先用手先將片狀疊 加材料50豎直放置并保持其平穩(wěn)，并向高度計20靠近。旋轉(zhuǎn)旋鈕21，使得探測臂22與片狀疊 加材料50的第一接觸面51接觸，此時按下數(shù)字表頭23的歸零鍵以使數(shù)字表頭23顯示的數(shù)據(jù)為 零；繼續(xù)旋轉(zhuǎn)旋鈕21，使得探測臂22與片狀疊加材料50的第二接觸面52接觸，此時數(shù)字表頭 23顯示出第一接觸面51與第二接觸面52的寬度差值。
然而，采用高度計20測量片狀疊加材料50的寬度差的過程中，需要手動的旋轉(zhuǎn)旋鈕21， 并同時要保持片狀疊加材料50的平穩(wěn)，故而測量精度不高且測量速度太慢。例如，過度旋轉(zhuǎn) 旋鈕21或者片狀疊加材料50不平穩(wěn)都會造成測量的結(jié)果誤差較大。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于此，有必要提供一種快速測量片狀疊加材料寬度差的測量裝置。 一種測量裝置，其用于測量片狀疊加材料突出部分的寬度差值。片狀疊加材料包括重疊 放置的矩形第一平板及第二平板，第一平板長邊對應(yīng)的兩側(cè)面為第一接觸面，第二平板長邊 對應(yīng)的兩側(cè)面為第二接觸面。測量裝置包括千分表及承載臺。千分表包括表頭、套筒及測量 桿。承載臺包括擋塊，擋塊具有相背的第一側(cè)面及第二側(cè)面、垂直穿過第一側(cè)面、第二側(cè)面 的通孔，第二側(cè)面上設(shè)有第一凸塊及第二凸塊。第一接觸面的長度不大于第一凸塊及第二凸 塊之間的最短距離。通孔位于第一凸塊及第二凸塊之間。套筒固定在通孔內(nèi)，測量桿沿通孔 從第二側(cè)面穿出，測量桿穿出部分高于第一凸塊及第二凸塊。
使用測量裝置來測量片狀疊加材料寬度差時，千分表被固定在承載臺上，且片狀疊加材料由承載臺承載平穩(wěn)的向固定了千分表的擋塊靠近以測量出片狀疊加材料的寬度差。在整個 測量過程中，減少了人為手動的操作千分表及保持片狀材料的平穩(wěn)所造成的誤差，故測量所 得到的結(jié)果更加精確。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中采用高度計測量片狀疊加材料寬度差的示意圖。
圖2為一片狀疊加材料的立體圖。
圖3為一較佳實施方式的測量裝置的分解圖。
圖4為圖3所示測量裝置的承載臺的立體圖。
圖5為圖3所示測量裝置的立體圖。
圖6為圖3所示測量裝置的測量狀態(tài)圖。
具體實施例方式
如圖2所示，為一片狀疊加材料10的立體圖。該片狀疊加材料10包括重疊放置的第一平 板ll、第二平板12。第一平板11及第二平板12均為矩形塊狀。第一平板ll的長度小于第二平 板12的長度，第一平板11的寬度大于第二平板12的寬度。第一平板ll長邊對應(yīng)的兩側(cè)面為第 一接觸面lll，第二平板12長邊對應(yīng)的兩側(cè)面為第二接觸面121，第二平板12短邊對應(yīng)的兩側(cè) 面為第三接觸面122。 一平面A垂直且平分片狀疊加材料IO。第一接觸面lll及第二接觸面 121與平面A平行，且位于平面A同一側(cè)的第一接觸面lll、第二接觸面121到該平面A的距離為 Ll、 L2， L1大于或等于L2。第一接觸面111與第二接觸面121之間的距離為L3， L3為要測量的 寬度差值。第一平板ll長邊的長度就是第一接觸面lll的長度，第二平板12長邊的長度就是 第二接觸面121的長度。
如圖3所示，其為一較佳實施方式的測量裝置30的分解圖。該測量裝置30包括承載臺31 、固定于承載臺31上的千分表32a及千分表32b。其中，千分表32a包括內(nèi)部設(shè)有測量機構(gòu)的 表頭321a、與表頭連接的套筒322a、可伸縮地設(shè)置于套筒322a內(nèi)且與測量機構(gòu)相連的測量桿 323a。觸頭3231a位于測量桿323a上遠(yuǎn)離表頭321a的端部，用于與待測材料接觸。表頭321a 可根據(jù)測量桿323a伸縮長度顯示相應(yīng)數(shù)值。千分表32b具有與千分表32a相同的結(jié)構(gòu)，其包括 表頭321b、套筒322b、測量桿323b及觸頭3231b。
請同時參照圖4，承載臺31包括基板33、擋塊34、保持塊36a及保持塊36b。該基板33為 長方體狀，其具有光滑平整的第一表面330。擋塊34大體呈長條形狀，其固定于基板33的第 一表面330上。擋塊34具有相背的第一側(cè)面340和第二側(cè)面341 。第一側(cè)面340與基板33的第一 表面330的邊沿線位于同一平面內(nèi)。第二側(cè)面341上設(shè)有對稱的第一凸塊342及第二凸塊343，其中第一凸塊342與第二凸塊343形狀完全相同。
第一凸塊342具有第一凸面3421，第一凸面3421與第二側(cè)面341平行。第一凸塊342還具 有第一交面3422，第一交面3422與第二側(cè)面341第一凸面3421連接。第一交面3422與第二側(cè) 面341相交的線為第一交線3423，第一交面3422與第一凸面3421相交的線為第二交線3424。 其中，第一凸面3421為矩形，第一交面3422到第二側(cè)面341的角a的范圍是0度<(1<180 度。第二凸塊343具有第二凸面3431，第二凸面3431與第二側(cè)面341平行。第二凸塊343還具 有第二交面3432，第二交面3432與第二側(cè)面341、第二凸面343 l連接。第二交面3432與第二 側(cè)面341相交的線為第三交線3433，第二交面3432與第二凸面3431相交的線為第四交線3434 。其中，第二凸面3431為矩形，第二交面3432到第二側(cè)面341的角e的范圍是0度< {3 < 180度。其中，角a的開口方向與角e的開口方向相對。
請再參照圖2，片狀疊加材料10的第一接觸面111及第二接觸面121的長度要滿足以下要 求當(dāng)角a及角e都大于0度小于90度時，第一接觸面111的長度不大于第二交線3424與第四 交線3434之間的距離，且第二接觸面121的長度大于第二交線3424與第四交線3434之間的距 離，此時第一交線3423與第三交線3433之間的距離為第一凸塊342與第二凸塊343之間的最長 距離，第二交線3424與第四交線3434之間的距離為第一凸塊342與第二凸塊343之間的最短距 離；當(dāng)角a及角e都大于等于90度小于180度時，第一接觸面l 11的長度不大于第一交線 3423與第三交線3433之間的距離，且第二接觸面121的長度大于第二交線3424與第四交線 3434之間的距離，此時第一交線3423與第三交線3433之間的距離為第一凸塊342與第二凸塊 343之間的最短距離，第二交線3424與第四交線3434之間的距離為第一凸塊342與第二凸塊 343之間的最長距離；第一接觸面511與第二接觸面521之間的寬度差不大于第一凸塊342與第 二凸塊343的突出高度。
請同時參照圖4，擋塊34具有垂直穿過第一側(cè)面340和第二側(cè)面341的二通孔344，且通孔 344位于第一凸塊342及第二凸塊343之間，擋塊34還具有第一表面345，第一表面345與基板 33的第一表面330平行。在擋塊34的第一表面345上具有螺絲孔346，且螺絲孔346穿透至通孔 344。螺絲40可旋入螺絲孔346到達(dá)通孔344。其中，通孔344的位置根據(jù)下列情況設(shè)置當(dāng)角 a及角e都大于0度小于90度時，通孔344設(shè)置于第二交線3424、第四交線3434在第二側(cè)面 341上的正投影之間；當(dāng)角a及角e都大于等于90度小于180度時，通孔344設(shè)置于第一交線 3423與第三交線3433之間。
保持塊36a及保持塊36b為長方體狀，其固定于基板33的第一表面330上，且對應(yīng)的與第 一凸面3421及第二凸面3431垂直。第二接觸面521的長度不大于保持塊36a與保持塊36b之間的距離。
請同時參照圖5，千分表32a的套筒322a及測量桿323a從第一側(cè)面340穿入通孔344。測量 桿323a從第二側(cè)面341穿出，穿出部分高出第一凸面3421及第二凸面3431 。通過將螺絲40旋 入螺絲孔346直至到達(dá)套筒322a以固定千分表32a。另外，也可用粘貼等方式固定。同樣的， 千分表32b也以同樣的方式被固定。
請同時參看圖6，其為圖3所示測量裝置30的測量狀態(tài)圖。請一并參看圖2所示的片狀疊 加材料10的立體圖。首先，對測量裝置30進(jìn)行歸零操作。亦即，用一直尺推壓千分表30a的 測量桿323a及千分表30b的測量桿323b的觸頭3231a、觸頭3231b，直至直尺與第一凸面3421 及第二凸面3431接觸，以使觸頭3231a、觸頭3231b與第一凸面3421及第二凸面3431位于同一 平面，此時按下千分表32a、千分表32b各自的歸零鍵以歸零。接著進(jìn)行測量操作，亦即，將 片狀疊加材料10水平放置于基板33的第一表面330上，且其第一接觸面111與第二側(cè)面341平 行。兩第三接觸面122對應(yīng)的與保持塊36a及保持塊36b相接觸，以使片狀疊加材料10不能在 保持塊36a及保持塊36b之間移動。推動片狀疊加材料10向擋塊34靠近。第一接觸面lll先與 測量桿323a、測量桿323b的觸頭3231a、 3231b接觸，隨著片狀疊加材料10的移動，測量桿 323a、測量桿323b受到推力而對應(yīng)的縮入套筒322a、套筒322b。當(dāng)?shù)诙佑|面121與第一凸 面3421及第二凸面3431接觸時，測量桿323a、測量桿323b停止向套筒322a、套筒322b縮入， 此時千分表32a及千分表32b顯示第一接觸面lll與第二接觸面121的寬度差值。
如上所述，使用上述測量裝置30來測量片狀疊加材料10寬度差時，千分表32a、 32b被固 定在承載臺上，且片狀疊加材料10由承載臺承載并在保持塊36a、 36b的保持下平穩(wěn)的向固定 了千分表32a、 32b的擋塊34靠近以測量出片狀疊加材料10的寬度差。在整個測量過程中，減 少了人為手動地操作千分表及保持片狀疊加材料10的平穩(wěn)所造成的誤差，故測量所得到的結(jié) 果更加精確。
權(quán)利要求
1.一種測量裝置，其用于測量片狀疊加材料突出部分的寬度差值，所述片狀疊加材料包括重疊放置的矩形第一平板及第二平板，所述第一平板長邊對應(yīng)的兩側(cè)面為第一接觸面，所述第二平板長邊對應(yīng)的兩側(cè)面為第二接觸面，所述測量裝置包括千分表及承載臺，所述千分表包括表頭、套筒及測量桿，其特征在于所述承載臺包括擋塊，所述擋塊具有相背的第一側(cè)面及第二側(cè)面、垂直穿過所述第一側(cè)面、所述第二側(cè)面的通孔，所述第二側(cè)面上設(shè)有第一凸塊及第二凸塊，所述第一接觸面的長度不大于所述第一凸塊及第二凸塊之間的最小距離，所述通孔位于所述第一凸塊及所述第二凸塊之間，所述套筒固定在所述通孔內(nèi)，所述測量桿沿所述通孔從所述第二側(cè)面穿出，所述測量桿穿出部分高于所述第一凸塊及所述第二凸塊。
2.權(quán)利要求2如權(quán)利要求l所述的測量裝置，其特征在于所述第一凸塊具有與 所述第二側(cè)面平行的第一凸面及連接所述第二側(cè)面、所述第一凸面的第一交面，所述第一交 面與所述第二側(cè)面相交的線為第一交線，所述第一交面與所述第一凸面相交的線為第二交線 ，所述第一交面到所述第二側(cè)面的角a的范圍是0度<(1<90度，所述第二凸塊具有與所 述第二側(cè)面平行的第二凸面及連接所述第二側(cè)面、所述第二凸面的第二交面，所述第二交面 與所述第二側(cè)面相交的線為第三交線，所述第二交面與所述第二凸面相交的線為第四交線， 所述第二交面到所述第二側(cè)面的角e的范圍是0度<{3<90度，所述角a的開口方向與所 述角e的開口方向相對，所述第一接觸面的長度不大于所述第二交線與所述第四交線之間的 距離且所述第二接觸面的長度大于所述第二交線與所述第四交線之間的距離，所述通孔設(shè)置 于所述第二交線、第四交線在所述第二側(cè)面上的正投影之間。
3.權(quán)利要求3如權(quán)利要求l所述的測量裝置，其特征在于所述第一凸塊具有與 所述第二側(cè)面平行的第一凸面及連接所述第二側(cè)面、所述第一凸面的第一交面，所述第一交 面與所述第二側(cè)面相交的線為第一交線，所述第一交面與所述第一凸面相交的線為第二交線 ，所述第一交面到所述第二側(cè)面的角a的范圍是90度S(K180度，所述第二凸塊具有與 所述第二側(cè)面平行的第二凸面及連接所述第二側(cè)面、所述第二凸面的第二交面，所述第二交面與所述第二側(cè)面相交的線為第三交線，所述第二交面與所述第二凸面相交的線為第四交線 ，所述第二交面到所述第二側(cè)面的角e的范圍是90度^{3<180度，所述角a的開口方向與所述角e的開口方向相對，所述第一接觸面的長度不大于所述第一交線與所述第三交線之 間的距離且所述第二接觸面的長度大于所述第二交線與所述第四交線之間的距離，所述通孔 設(shè)置于所述第一交線與所述第三交線之間。
4.如權(quán)利要求2或3所述的測量裝置，其特征在于所述擋塊具有螺 絲孔，且所述螺絲孔穿透至所述通孔， 一螺絲可旋入所述螺絲孔直至到達(dá)所述套筒以固定所 述千分表。
5.如權(quán)利要求4所述的測量裝置，其特征在于所述千分表為兩個， 所述擋塊相應(yīng)的具有兩個所述通孔。
6.如權(quán)利要求4所述的測量裝置，其特征在于所述承載臺還包括基 板，所述基板為長方體，所述擋塊固定于所述基板的上表面，且所述擋塊的所述第一側(cè)面與 所述基板的一個側(cè)面位于同一平面內(nèi)。
7.如權(quán)利要求6所述的測量裝置，其特征在于所述基板的第一表面光滑且平整。
8.如權(quán)利要求7所述的測量裝置，其特征在于所述承載臺還包括保持塊，所述保持塊固定于所述基板的第一表面上，且與所述第一凸面及所述第二凸面垂直。
9.如權(quán)利要求8所述的測量裝置，其特征在于所述承載臺還包括兩個所述保持塊，其各自固定于所述基板的第一表面上，且對應(yīng)的與所述第一凸面及所述第二 凸面垂直，所述兩保持塊之間的距離不小于所述第二接觸面長度。
全文摘要
一種測量裝置，用于測量片狀疊加材料的第一接觸面與第二接觸面的寬度差值。該測量裝置包括千分表及承載臺，千分表包括表頭、套筒及測量桿。承載臺包括擋塊，擋塊具有相背的第一側(cè)面及第二側(cè)面、垂直穿過第一側(cè)面、第二側(cè)面的通孔，第二側(cè)面上設(shè)有第一凸塊及第二凸塊。第一接觸面的長度不大于第一凸塊及第二凸塊之間的最短距離。通孔位于第一凸塊及第二凸塊之間。套筒固定在所述通孔內(nèi)，測量桿沿通孔從第二側(cè)面穿出，測量桿穿出部分高于第一凸塊及第二凸塊。
文檔編號G01B5/02GK101408400SQ20071020204
公開日2009年4月15日 申請日期2007年10月12日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月12日
發(fā)明者肖世馨, 陳中元, 陳龍楓 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司