專利名稱：發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于一種半導(dǎo)體元件壽命試驗(yàn)裝置，特別是有關(guān)于一種發(fā)光二 極管壽命試驗(yàn)裝置，可同時(shí)測(cè)量發(fā)光二極管的結(jié)溫度，進(jìn)而估計(jì)其壽命值。
背景技術(shù)：
近來(lái)，發(fā)光二極管(light-emitting diode, LED)的操作功率與發(fā)光效 率不斷提高，LED的應(yīng)用也從小型顯示器背光源慢慢地向照明主光源領(lǐng)域邁 進(jìn)。以LED為主的固態(tài)照明趨勢(shì)，將成為繼白熾燈、螢光燈的后的下一世代 照明光源。不過(guò)，當(dāng)LED總光通量與發(fā)光效率愈來(lái)愈高時(shí)，LED的可用壽命 (lifetime)也逐漸被重視。LED供應(yīng)商通常會(huì)提供其LED產(chǎn)品的壽命預(yù)估 值，但各供應(yīng)商的LED壽命預(yù)估值卻相差甚多，甚至發(fā)生相同LED由不同壽 命試驗(yàn)單位評(píng)估卻出現(xiàn)不 一致的結(jié)果。
LED屬于長(zhǎng)壽命半導(dǎo)體光源，無(wú)法以正常額定操作條件于短時(shí)間內(nèi)完成 壽命試驗(yàn)。如圖1所示， 一般用以試驗(yàn)LED壽命的方法，是將LED放置在一 可控制溫度的爐體ll內(nèi)的承載座12上。爐體ll升溫到預(yù)設(shè)溫度后，電源供 應(yīng)器13提供一試驗(yàn)電流給LED。通過(guò)對(duì)LED施加較額定操作條件高的溫度與 電流以加速LED老化速度。經(jīng)過(guò)一段時(shí)間爐體11的溫度恢復(fù)到常溫，由爐體 取出LED測(cè)量其光電特性，再放回爐體中繼續(xù)老化試驗(yàn)，重復(fù)上述老化試驗(yàn) 與測(cè)量步驟，直到LED的光電特性衰退到一預(yù)設(shè)值。同規(guī)格的LED以不同的 預(yù)設(shè)溫度與試驗(yàn)電流進(jìn)行老化試驗(yàn)得到不同的壽命衰退曲線，再通過(guò)統(tǒng)計(jì)計(jì) 算以推估LED在正常額定操作條件下的壽命值。
然而，除了爐體ll的溫度以外，電流供應(yīng)器13所提供的電流、承載座 12的散熱能力都會(huì)影響LED老化試驗(yàn)時(shí)的結(jié)溫度值，使得LED的溫度無(wú)法掌 控，進(jìn)而導(dǎo)致同型LED由不同壽命試驗(yàn)系統(tǒng)評(píng)估卻出現(xiàn)不一致的結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種壽命試驗(yàn)裝置，包括爐體、電流源、電壓計(jì)、控制模塊、發(fā)光二極管。其中，爐體在第一期間內(nèi)逐漸地改 變爐溫，在第二期間內(nèi)維持爐溫在設(shè)定爐溫。電流源提供發(fā)光二極管第一電 流和第二電流。電壓計(jì)用來(lái)測(cè)量發(fā)光二極管的正向電壓?？刂颇K控制電流 源輸出第 一 電流或第二電流給發(fā)光二極管，且控制電壓計(jì)測(cè)量發(fā)光二極管該 正向電壓。處理模塊根據(jù)發(fā)光二極管的正向電壓、發(fā)光二極管的正向電壓與 該爐溫的 一 變動(dòng)關(guān)系式以計(jì)算發(fā)光二極管的結(jié)溫度。
本發(fā)明還提供一種壽命試驗(yàn)裝置，包括爐體、控制模塊、第一電流源、 第二電流源、電源切換器、電壓計(jì)、及處理模塊。爐體內(nèi)供放置多個(gè)發(fā)光二 極管，其中，爐體在第一期間內(nèi)逐漸地改變爐溫，在第二期間內(nèi)維持爐溫在 設(shè)定爐溫?？刂颇K提供第一電流控制信號(hào)、第二電流控制信號(hào)、電壓檢測(cè) 信號(hào)、及切換信號(hào)。第一電流源根據(jù)第一電流控制信號(hào)而提供第一電流。第 二電流源根據(jù)第二電流控制信號(hào)而提供多個(gè)第二電流，其中，每一第二電流 對(duì)應(yīng)多個(gè)發(fā)光二極管中的一者。電源切換器根據(jù)切換信號(hào)而將第一電流或第 二電流輸出給發(fā)光二極管。電壓計(jì)根據(jù)電壓檢測(cè)信號(hào)來(lái)測(cè)量發(fā)光二極管的正 向電壓。對(duì)于每一發(fā)光二極管，處理模塊根據(jù)發(fā)光二極管的正向電壓、發(fā)光 二極管的正向電壓與爐溫的 一 變動(dòng)關(guān)系式以計(jì)算該發(fā)光二極管的結(jié)溫度。
本發(fā)明另提供一種壽命試驗(yàn)方法適用于發(fā)光二極管。此發(fā)光二極管配置
在爐體內(nèi)，且爐體具有爐溫。此方法包括在第一期間內(nèi)，逐漸地改變爐溫； 在第一期間內(nèi)，提供第一電流給發(fā)光二極管，以獲得發(fā)光二極管的至少兩第 一正向電壓；獲得發(fā)光二極管的正向電壓與爐溫的一變動(dòng)關(guān)系式；在第二期 間，維持爐體的爐溫在設(shè)定爐溫；在第二期間，每隔一預(yù)定期間，提供該第 一電流給該發(fā)光二極管，以獲得發(fā)光二極管的第二正向電壓；根據(jù)變動(dòng)關(guān)系 式及第二正向電壓來(lái)計(jì)算發(fā)光二極管的結(jié)溫度。


圖l表示公知發(fā)光二極管的壽命試驗(yàn)裝置； 圖2表示本發(fā)明第一實(shí)施例的壽命試驗(yàn)裝置；
圖3表示本發(fā)明第一實(shí)施例的爐溫與壽命試驗(yàn)裝置試驗(yàn)過(guò)程的關(guān)系圖； 圖4表示本發(fā)明第一實(shí)施例的另一爐溫與壽命試驗(yàn)裝置試驗(yàn)過(guò)程的關(guān)系
圖5表示本發(fā)明第二實(shí)施例的壽命試驗(yàn)裝置；施例中用作老化試驗(yàn)的電流波形圖7表示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法；
圖8表示獲得正向電壓與爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式的 一 例子。
圖9表示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另 一發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法；以及
圖10表示獲得正向電壓與爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式的另 一例子。
主要元件符號(hào)說(shuō)明
11~爐體；
12 承載座；
13~電源供應(yīng)器；
2 壽命試驗(yàn)裝置；
20~爐體；
21 發(fā)光二極管承載座；
22~電流源；
23 ~電壓計(jì)；
24 控制模塊；
25~處理模塊；
26 光檢測(cè)模塊；
250 顯示裝置；
Sc~電流控制信號(hào)；
Sd~電壓檢測(cè)信號(hào)；
So 光檢測(cè)信號(hào)；
Sf 爐溫檢測(cè)信號(hào)；
51、 52 ~電流源；
53~電源切換器；
Scl、 Sc2~電流控制信號(hào)；
Ssw~切換信號(hào)。
具體實(shí)施例方式
為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉一較佳實(shí) 施例，并配合附圖，詳細(xì)說(shuō)明如下。
發(fā)光二極管(light-emitting diode)的溫度會(huì)隨著輸入功率增加而上升，其發(fā)光波長(zhǎng)、發(fā)光效率甚至是壽命都與其點(diǎn)亮?xí)r的結(jié)溫度(junction temperature)息息相關(guān)。結(jié)溫度可由式(1)來(lái)表示
其中，w為初始溫度或?yàn)榘l(fā)光二極管未輸入功率前周圍參考溫度，ro表 示在初始溫度ro上短暫地給發(fā)光二極管一個(gè)極小電流時(shí)發(fā)光二極管的正向
電壓值，及^表示在發(fā)光二極管達(dá)一特定溫度點(diǎn)上短暫地給發(fā)光二極管一個(gè) 極小電流時(shí)發(fā)光二極管的正向電壓值，《則表示LED的正向電壓溫度系數(shù)。 溫度系數(shù)可由式(2)來(lái)表示
<formula>formula see original document page 10</formula> ( 2 )
其中，ri及n表示兩個(gè)已知的發(fā)光二極管周圍環(huán)境溫度，n及"分別 表示在溫度n及7^下短暫地給發(fā)光二極管一個(gè)極小電流時(shí)發(fā)光二極管的正 向電壓1直。
因此，本發(fā)明提出一種適用于發(fā)光二極管的壽命試驗(yàn)裝置，除了可對(duì)發(fā) 光二極管進(jìn)行老化試驗(yàn)外，同時(shí)可用以測(cè)量發(fā)光二極管結(jié)溫度，使發(fā)光二極 管老化試驗(yàn)得以在已知結(jié)溫度下進(jìn)行。
第一實(shí)施例
圖2表示本發(fā)明第一實(shí)施例的壽命試驗(yàn)裝置。參閱圖2,壽命試驗(yàn)裝置2 用來(lái)試驗(yàn)發(fā)光二極管的壽命，且其包括爐體20、配置在該爐體20內(nèi)的發(fā)光 二極管承載座21、電流源22、電壓計(jì)23、控制模塊24、處理模塊25、以及 光檢測(cè)模塊26。其中，發(fā)光二極管配置在該發(fā)光二極管承載座21上。控制 模塊24提供電流控制信號(hào)Sc至電流源22;控制模塊24提供電壓檢測(cè)信號(hào) Sd以控制電壓計(jì)23讀取發(fā)光二極管所產(chǎn)生的正向電壓值，并將讀取的正向 電壓值傳送至處理模塊25;控制模塊24提供光檢測(cè)信號(hào)So以控制光檢測(cè)模 塊26檢測(cè)發(fā)光二極管所產(chǎn)生的光電特性，并將測(cè)得的光電特性傳送至處理模 塊25;控制模塊24提供爐溫檢測(cè)信號(hào)Sf以檢測(cè)爐溫，并將測(cè)得的爐溫傳送 至處理模塊25。電流源22提供三個(gè)電流I1、 12及13,并根據(jù)電流控制信號(hào) Sc以提供電流Il、 12或I3至發(fā)光二極管。電壓計(jì)12根據(jù)電壓檢測(cè)信號(hào)Sd 來(lái)測(cè)量發(fā)光二極管的正向電壓值。處理模塊25計(jì)算、存儲(chǔ)、以及及顯示發(fā)光 二極管各特性如正向電壓值、溫度系數(shù)、結(jié)溫度、光衰曲線與壽命。
圖3表示本發(fā)明第一實(shí)施例的爐體20的溫度(爐溫)Tf與壽命試驗(yàn)裝置試驗(yàn)過(guò)程的關(guān)系圖，其中試驗(yàn)過(guò)程分為三個(gè)期間PI ~P3。本發(fā)明第一實(shí)施
例的壽命試驗(yàn)裝置的操作將參閱第2及3圖來(lái)說(shuō)明。
參閱圖2及3,當(dāng)發(fā)光二極管放置在爐體20的LED承載座21上后，爐 體20的溫度(以下稱為爐溫)Tf在時(shí)間點(diǎn)TPl上由常溫Tn開始上升，直到 爐溫Tf于時(shí)間點(diǎn)TP2到達(dá)設(shè)定爐溫Td。爐溫Tf由常溫Tn逐漸地上升到設(shè) 定爐溫Td的期間則為期間Pl。在期間PI內(nèi)，電流源22根據(jù)電流控制信號(hào) Sc至少在兩溫度點(diǎn)上短暫地提供電流Il給發(fā)光二極管。同時(shí)，電壓計(jì)23根 據(jù)電壓檢測(cè)信號(hào)Sd來(lái)測(cè)量發(fā)光二極管每次受到電流II驅(qū)動(dòng)而產(chǎn)生的正向電 壓值?？刂颇K24再將電壓計(jì)23測(cè)得的正向電壓值傳送至處理模塊25。
舉例來(lái)說(shuō)，在溫度點(diǎn)Tl上，電流源22短暫地提供電流II給發(fā)光二極管， 且電壓計(jì)23測(cè)量到發(fā)光二極管的正向電壓VI，控制模塊24將檢測(cè)到的溫度 點(diǎn)Tl及量得的正向電壓VI傳送至處理模塊25。接著，在溫度點(diǎn)T2上，電 流源22短暫地提供電流II給發(fā)光二極管，且電壓計(jì)23測(cè)量到發(fā)光二極管的 正向電壓V2?？刂颇K24將檢測(cè)到的溫度點(diǎn)T2及量得的正向電壓V2傳送 至處理模塊25。當(dāng)處理模塊25獲得正向電壓VI及V2及爐溫點(diǎn)Tl及T2后， 計(jì)算出正向電壓VI及V2與爐溫點(diǎn)Tl及T2的變動(dòng)關(guān)系式，即上述的式(2 ):
r2_ri ( 2 )
此變動(dòng)關(guān)系式(2)直接表示發(fā)光二極管的溫度系數(shù)K。 在本實(shí)施例系在兩個(gè)溫度點(diǎn)上提供電流II給發(fā)光二極管，以測(cè)得的兩溫 度及正向電壓來(lái)計(jì)算獲得溫度系數(shù)。在其他的實(shí)施例中，于期間P1內(nèi)，電流 源22可在至少三個(gè)溫度點(diǎn)上短暫地提供電流II給發(fā)光二極管，以獲得至少 三個(gè)正向電壓。此時(shí)，處理模塊25根據(jù)這些溫度點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的正向電壓計(jì)算 獲得正向電壓及爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式(2),進(jìn)而獲得溫度系數(shù)K。
在期間P2內(nèi)，爐溫Tf維持在設(shè)定爐溫Td。此設(shè)定爐溫Td作為初始溫 度TO。當(dāng)發(fā)光二極管的溫度與爐溫Tf約達(dá)平衡時(shí)(時(shí)間點(diǎn)TP3),電流源22 根據(jù)電流控制信號(hào)Sc短暫地提供電流II給發(fā)光二極管，同時(shí)，電壓計(jì)23根 據(jù)電壓檢測(cè)信號(hào)Sd來(lái)測(cè)量發(fā)光二極管受到電流II驅(qū)動(dòng)而產(chǎn)生的正向電壓， 以作為初始正向電壓VO。接著，電流源22根據(jù)電流控制信號(hào)Sc而切換為提 供電流12給發(fā)光二極管以進(jìn)行老化試驗(yàn)，其中電流12大于II。之后每隔一 預(yù)定期間，電流源22根據(jù)電流控制信號(hào)Sc至少一次短暫地由電流12切換為提供電流II給發(fā)光二極管，同時(shí)，電壓計(jì)23根據(jù)電壓檢測(cè)信號(hào)Sd來(lái)測(cè)量發(fā)
光二極管每次受到電流II而產(chǎn)生的正向電壓。
舉例來(lái)說(shuō)，在與時(shí)間點(diǎn)TP3相隔預(yù)定期間PP的時(shí)間點(diǎn)TP4上，電流源 22短暫地由電流12切換為提供電流II給發(fā)光二極管，同時(shí)，電壓計(jì)23測(cè) 量發(fā)光二極管產(chǎn)生的正向電壓，以作為正向電壓Vt。處理模塊25將由變動(dòng) 關(guān)系式(2)所獲得的溫度系數(shù)K、初始溫度TO (即設(shè)定爐溫Td)、初始正向 電壓V0、及正向電壓Vt，以上述公式(l)來(lái)計(jì)算獲得發(fā)光二極管在時(shí)間點(diǎn)TP4 上的結(jié)溫度Tj。接著，可在與時(shí)間點(diǎn)TP4相隔預(yù)定期間PP的時(shí)間點(diǎn)TP5上， 電流源22同樣短暫地由電流12切換為提供電流II給發(fā)光二極管，同時(shí)，電 壓計(jì)23測(cè)量發(fā)光二極管產(chǎn)生的正向電壓，以作為正向電壓Vt。處理模塊25 將由變動(dòng)關(guān)系式(2)所獲得的溫度系數(shù)K、初始溫度TO、初始正向電壓VO、 及正向電壓Vt，以上述公式(l)來(lái)計(jì)算獲得在發(fā)光二極管在時(shí)間點(diǎn)TP5上的 結(jié)溫度Tj。通過(guò)重復(fù)上述電流源22每隔一預(yù)定期間PP短暫地由電流12切 換為提供電流II給發(fā)光二極管的步驟，則可獲得發(fā)光二極管在不同時(shí)間點(diǎn)上 的結(jié)溫度，直到預(yù)定的老化試驗(yàn)結(jié)束時(shí)間點(diǎn)TP6，電流源22根據(jù)電流控制信 號(hào)Sc而停止提供電流12給發(fā)光二極管以停止老化試驗(yàn)。之后，爐溫Tf開始 由預(yù)定溫度Td下降至常溫Tn。
在一些實(shí)施例中，初始正向電壓VO在進(jìn)入第一期間Pl前求得。在第一 期間Pl的前，爐溫Tf維持在常溫Tn以作為初始溫度TO,且電流源22根據(jù) 電流控制信號(hào)Sc短暫地提供電流II給發(fā)光二極管，同時(shí)，電壓計(jì)23根據(jù)電 壓檢測(cè)信號(hào)Sd來(lái)測(cè)量發(fā)光二極管受到電流II驅(qū)動(dòng)而產(chǎn)生的正向電壓以作為 初始正向電壓VO。在另一些實(shí)施例中，可以^l巴在第一期間Pl中所獲得的正 向電壓及對(duì)應(yīng)的爐溫點(diǎn)分別作為初始正向電壓V0及初始溫度T0。
在一些實(shí)施例中，也可在爐溫Tf由設(shè)定爐溫Td下降至常溫Tn的期間 P3中計(jì)算正向電壓及爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式(2),進(jìn)而獲得溫度系數(shù)K。在期 間P3中，電流源22根據(jù)電流控制信號(hào)Sc至少在兩溫度點(diǎn)上短暫地提供電流 II給發(fā)光二極管。同時(shí)，電壓計(jì)23根據(jù)電壓檢測(cè)信號(hào)Sd來(lái)測(cè)量發(fā)光二極管 每次受到電流II驅(qū)動(dòng)而產(chǎn)生的正向電壓?？刂颇K25再將測(cè)得的溫度及正 向電壓傳送至處理模塊25。處理模塊25根據(jù)至少兩溫度點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的正向 電壓計(jì)算獲得正向電壓及爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式(2),進(jìn)而獲得溫度系數(shù)K。 由于期間P3中獲得溫度系數(shù)K所執(zhí)行的操作步驟與期間Pl相同，因此省略
12舉例說(shuō)明。同樣地，于期間P3內(nèi)，電流源22可在至少三個(gè)溫度點(diǎn)上短暫地
提供電流II給發(fā)光二極管，以獲得至少三個(gè)正向電壓。此時(shí)，處理模塊25
根據(jù)這些溫度點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的正向電壓以計(jì)算獲得正向電壓及爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)
系式(2),進(jìn)而獲得溫度系數(shù)K。
根據(jù)上述說(shuō)明可得知，發(fā)光二極管的溫度系數(shù)K可在爐溫Tf逐漸上升及 /或下降的期間內(nèi)來(lái)獲得。當(dāng)在爐溫Tf逐漸上升及下降的期間內(nèi)皆通過(guò)正向 電壓及爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式(2)進(jìn)而獲得溫度系數(shù)時(shí)，處理模塊25可通過(guò) 統(tǒng)計(jì)計(jì)算來(lái)獲得所需的溫度系數(shù)K。在其他一些實(shí)施例中發(fā)光二極管的正向 電壓及爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式(2 )若已經(jīng)知悉，例如此變動(dòng)關(guān)系式為外部輸入 數(shù)據(jù)或此存于處理模塊25中，可于爐體升溫及降溫過(guò)程中省略求得變動(dòng)關(guān)系 式(2)的步驟。在進(jìn)行期間P2的老化試驗(yàn)時(shí)，則可通過(guò)此變動(dòng)關(guān)系式(2) 的溫度系數(shù)K及其他相關(guān)參數(shù)來(lái)獲得至少一個(gè)結(jié)溫度。
參閱圖2，光檢測(cè)模塊26耦接LED承載座上的發(fā)光二極管并接受控制模 塊24控制與檢測(cè)。其可多次測(cè)試發(fā)光二極管的發(fā)光特性，例如發(fā)光量及光譜 特性。光檢測(cè)模塊26可在期間P2的老化試驗(yàn)時(shí)，多次地檢測(cè)發(fā)光二極管的 發(fā)光特性。此外，當(dāng)爐溫Tf下降至常溫Tn時(shí)，可維持在常溫Tn—段時(shí)間， 在此期間內(nèi)，光檢測(cè)模塊26也可多次地檢測(cè)發(fā)光二極管的發(fā)光特性。參閱圖 4,爐溫Tf在時(shí)間點(diǎn)TP7降至常溫Tn，且在時(shí)間點(diǎn)TP7-TP8的期間P4內(nèi)維 持在常溫Tn。在期間P4中，控制模塊24輸出電流控制信號(hào)Sc、電壓檢測(cè)信 號(hào)Sd以及光檢測(cè)信號(hào)So,電流源22根據(jù)電流控制信號(hào)Sc提供一預(yù)設(shè)電流 I3給發(fā)光二極管，電壓計(jì)"根據(jù)電壓檢測(cè)信號(hào)Sd測(cè)量發(fā)光二極管產(chǎn)生的正 向電壓值Vf?？刂颇K24再將電壓計(jì)23測(cè)得的正向電壓值Vf傳送至處理 模塊25。光檢測(cè)模塊26根據(jù)光檢測(cè)信號(hào)So檢測(cè)發(fā)光二極管的發(fā)光特性?？?制模塊24將光檢測(cè)模塊26在期間P2及P4中所測(cè)得的發(fā)光特性傳送至處理 模塊2、處理模塊25則可計(jì)算出在常溫及相對(duì)高溫下發(fā)光特性隨時(shí)間變化 的曲線，即光衰曲線。當(dāng)光檢測(cè)模塊26完成常溫發(fā)光特性測(cè)試后，壽命試驗(yàn) 裝置2重復(fù)期間Pl至P4的操作，以持續(xù)進(jìn)行發(fā)光二極管老化試驗(yàn)、結(jié)溫度 及發(fā)光特性測(cè)量。
處理模塊25包括計(jì)算裝置、存儲(chǔ)裝置以及顯示裝置250，其可通過(guò)在期 間Pl及/或P3所獲得的爐溫與正向電壓值來(lái)計(jì)算、存儲(chǔ)、及顯示正向電壓及 爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式(2)及溫度系數(shù)K。其可通過(guò)溫度系數(shù)K與在期間P2所獲得的爐溫TO與正向電壓值VO及Vt，計(jì)算、存儲(chǔ)、以及顯示發(fā)光二極管
的結(jié)溫度、結(jié)溫度的變化曲線。其可通過(guò)發(fā)光二極管在常溫及相對(duì)高溫下發(fā) 光特性隨時(shí)間變化的光衰曲線，計(jì)算、存儲(chǔ)、以及顯示發(fā)光二極管達(dá)一光衰
設(shè)定值時(shí)所需時(shí)間，即發(fā)光二極管壽命。處理模塊25的顯示裝置250可顯示 發(fā)光二極管光衰曲線。處理模塊25可存儲(chǔ)與顯示在期間P4所獲得的發(fā)光二 極管正向電壓值Vf及其隨時(shí)間變化曲線。處理模塊25可結(jié)合多個(gè)不同操作 條件下(例如結(jié)溫度)發(fā)光二極管壽命值以計(jì)算推估其在任一操作條件下(例 如結(jié)溫度)的壽命值。
根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例，處理模塊25在獲得發(fā)光二極管的結(jié)溫度及光學(xué) 特性后，通過(guò)光衰曲線計(jì)算發(fā)光二極管壽命，通過(guò)不同結(jié)溫度與發(fā)光二極管 壽命間的關(guān)系，計(jì)算推估發(fā)光二極管在不同操作條件下的壽命值。
第二實(shí)施例
根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例，以正向電壓及爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式來(lái)直接求 得結(jié)溫度Tj。在第一期間P1中，當(dāng)處理模塊25獲得正向電壓V1及V2及爐 溫點(diǎn)Tl及T2后，計(jì)算出正向電壓VI及V2與爐溫點(diǎn)Tl及T2的變動(dòng)關(guān)系式， 如下
r = fr+s ( 3 )
其中，K表示正向電壓，r表示爐溫度，^表示變動(dòng)關(guān)系式(3)的斜率， 且B表示變動(dòng)關(guān)系式(3)的截距。根據(jù)式(2)及(3)可得知，變動(dòng)關(guān)系式 (3)的斜率^即是溫度系數(shù)。
在第二期間P2中，電流源22根據(jù)電流控制信號(hào)Sc而切換為提供電流 12給發(fā)光二極管以進(jìn)行老化試驗(yàn)。之后每隔一預(yù)定期間，電流源22根據(jù)電 流控制信號(hào)Sc至少一次短暫地由電流12切換為提供電流II給發(fā)光二極管， 同時(shí)，電壓計(jì)23根據(jù)電壓檢測(cè)信號(hào)Sd來(lái)測(cè)量發(fā)光二極管每次受到電流II而 產(chǎn)生的正向電壓。
舉例來(lái)說(shuō)，在時(shí)間點(diǎn)TP4上，電流源22短暫地由電流I2切換為提供電 流I1給發(fā)光二極管，同時(shí)，電壓計(jì)23測(cè)量發(fā)光二極管產(chǎn)生的正向電壓，以 作為正向電壓V。處理模塊25將正向電壓V帶入變動(dòng)關(guān)系式(3)，則可獲得 發(fā)光二極管在時(shí)間點(diǎn)TP4上的結(jié)溫度Tj。
因此，根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例，不需求得初始溫度TO(即設(shè)定爐溫Td) 及初始正向電壓V0。通過(guò)在第二期間P2中發(fā)光二極管受電流II驅(qū)動(dòng)而產(chǎn)生的正向電壓(V)以及變動(dòng)關(guān)系式(3),則可獲得發(fā)光二極管的結(jié)溫度Tj。 第三實(shí)施例
圖5表示根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的壽命試驗(yàn)裝置，且圖5與圖2中相同 符號(hào)的元件執(zhí)行相同的操作。圖5的壽命試驗(yàn)裝置5與圖2的壽命試驗(yàn)裝置 2大致上相同，此兩者相異之處在于，壽命試驗(yàn)裝置5用于試驗(yàn)多個(gè)發(fā)光二 極管的壽命，此外，電流I1及I3與電流I2由相異的電流源所提供。參閱圖 5,壽命試驗(yàn)裝置5包括爐體20、配置在該爐體20內(nèi)的LED承載座21、電流 源51及52、電源切換器53、電壓計(jì)23、控制模塊24、處理模塊25、以及 光檢測(cè)模塊26。其中，多個(gè)發(fā)光二極管配置在該LED承載座21上。控制模 塊24提供電流控制信號(hào)Scl至電流源51、電流控制信號(hào)Sc2至電流源52; 控制模塊24提供電壓檢測(cè)信號(hào)Sd以控制電壓計(jì)23讀取發(fā)光二極管所產(chǎn)生的 正向電壓值，并將讀取的正向電壓值傳送至處理模塊25;控制模塊24提供 光檢測(cè)信號(hào)So以控制光檢測(cè)模塊26檢測(cè)發(fā)光二極管所產(chǎn)生的光電特性，并 將測(cè)得的光電特性傳送至處理模塊25;控制模塊24提供爐溫檢測(cè)信號(hào)Sf以 檢測(cè)爐溫，并將測(cè)得的爐溫值傳送至處理模塊25;以及，控制模塊24提供 切換信號(hào)Ssw至電源切換器53。電流源51根據(jù)電流控制信號(hào)Scl以提供電 流II或13。電流源52根據(jù)電流控制信號(hào)Sc2以提供電流12。電源切換器 5 3則根據(jù)切換信號(hào)S sw來(lái)將電流11 、 12或13輸出至多個(gè)發(fā)光二極管。
在第三實(shí)施例中，對(duì)于每一發(fā)光二極管而言，壽命試驗(yàn)裝置5在期間 P1-P4的操作大致上與壽命試驗(yàn)裝置2相同，其不同的處在于，電源切換器 53根據(jù)切換信號(hào)Ssw以切換電流II、 12或13給發(fā)光二極管。在爐體20的 溫度Tf在上升及/或下降的期間中，即在期間P1及/或P3中，對(duì)于每一發(fā)光 二極管而言，電流源51根據(jù)電流控制信號(hào)Scl提供電流II,且電源切換器 53根據(jù)切換信號(hào)Ssw在至少兩溫度點(diǎn)上短暫地輸出電流II給發(fā)光二極管。 處理模塊25根據(jù)爐溫點(diǎn)及對(duì)應(yīng)的正向電壓，計(jì)算出正向電壓與爐溫點(diǎn)的變動(dòng) 關(guān)系式(3)，進(jìn)而獲得溫度系數(shù)K。
在期間P2內(nèi)，當(dāng);fe夂獲得每一發(fā)光二極管老化試^r前的初始正向電壓V0 及老化試驗(yàn)中的正向電壓Vt時(shí)，電流源51根據(jù)電流控制信號(hào)Scl提供電流 II,電源切換器53根據(jù)切換信號(hào)Ssw短暫地輸出電流II給發(fā)光二極管。且 當(dāng)欲進(jìn)行每一發(fā)光二極管的老化試驗(yàn)時(shí)，電流源52根據(jù)電流控制信號(hào)Sc2以 提供電流12，電源切換器53根據(jù)切換信號(hào)Ssw輸出電流12給發(fā)光二極管。由于第二實(shí)施例的壽命試驗(yàn)裝置5適用于多個(gè)發(fā)光二極管，因此，對(duì)于不同 的發(fā)光二極管可提供具有不同電流值的電流12 ,以進(jìn)行不同的老化試—瞼條件。
在本發(fā)明第一、第二及第三實(shí)施例中，電流Il、 12及I3的電流值根據(jù)
壽命試驗(yàn)裝置設(shè)定及發(fā)光二極管的規(guī)格而定。在一些實(shí)施例中，電流I1大約
為5iiA至5mA，電流12、 13大約為5mA至5A。此外，用作老化試驗(yàn)的電流 12型態(tài)可依據(jù)發(fā)光二極管的規(guī)格而為固定的電流，其電流值在期間CT內(nèi)固 定在一電平，如圖6a所示。另外，電流I2也可是脈沖式電流，如圖6b所示， 每當(dāng)切換為電流12來(lái)驅(qū)動(dòng)發(fā)光二極管時(shí)，電流12則提供一脈沖Pu 1 se形式 的電流。
圖7表示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法。本發(fā)明實(shí)施 例的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法將配合圖2及圖7來(lái)說(shuō)明。被測(cè)試的發(fā)光二極 管配置在一個(gè)爐體20的發(fā)光二極管承載座21上，首先為獲得發(fā)光二極管的 正向電壓與爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式(2)，此變動(dòng)關(guān)系式(2)表示發(fā)光二極管的 溫度系數(shù)(步驟S70)。當(dāng)爐體20的爐溫維持在一設(shè)定爐溫且發(fā)光二極管的 溫度與爐溫約達(dá)平衡時(shí)，電流源22短暫地提供電流II給發(fā)光二極管，使發(fā) 光二極管產(chǎn)生一初始正向電壓(步驟S71 )。接著，電流源22提供電流12給 發(fā)光二極管以進(jìn)行發(fā)光二極管的老化試驗(yàn)(步驟S72)。在進(jìn)行老化試驗(yàn)時(shí)， 每隔一預(yù)定期間，電流源22切換為提供電流II《合發(fā)光二極管，并測(cè)量發(fā)光 二極管受電流II驅(qū)動(dòng)所產(chǎn)生的至少一正向電壓(步驟S73)。處理模塊25根 據(jù)發(fā)光二極管受電流II驅(qū)動(dòng)所產(chǎn)生的正向電壓、由變動(dòng)關(guān)系式(2)所獲得 的溫度系數(shù)、設(shè)定爐溫、初始正向電壓以計(jì)算發(fā)光二極管的至少一結(jié)溫度(步 驟S74 )。光檢測(cè)模塊26多次檢測(cè)發(fā)光二極管的發(fā)光量與光譜特性(步驟S75 )。 處理模塊"根據(jù)發(fā)光二極管的發(fā)光量與光譜特性以及結(jié)溫度，來(lái)計(jì)算發(fā)光二 極管的壽命值(步驟S76 )。處理模塊25的顯示裝置250顯示變動(dòng)關(guān)系式(2 )、 發(fā)光二極管的溫度系數(shù)、正向電壓、結(jié)溫度以及發(fā)光二極管的發(fā)光量與光譜 特性，此外，顯示裝置250亦會(huì)顯示步驟S76中所獲得的發(fā)光二極管的壽命 值(步驟S77 )。
在一些實(shí)施例，獲得發(fā)光二極管的溫度系數(shù)的步驟S7G中，發(fā)光二極管 的溫度系數(shù)為外部輸入數(shù)據(jù)或已經(jīng)存在處理模塊25中。
在另一些實(shí)施例，發(fā)光二極管的溫度系數(shù)可通過(guò)提供電流II至發(fā)光二極 管所產(chǎn)生的正向電壓來(lái)獲得。圖8表示步驟S70的一實(shí)施例。爐體20的爐溫
16由低向高或由高向低逐漸地改變(步驟S701)。在爐溫逐漸地改變時(shí)，電流
源22于至少兩溫度點(diǎn)上短暫地提供電流II給發(fā)光二極管，使發(fā)光二極管產(chǎn) 生至少兩個(gè)正向電壓(步驟S702 )。處理模塊25根據(jù)此兩溫度點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的 至少兩正向電壓來(lái)計(jì)算正向電壓與爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式(2),且由此變動(dòng)關(guān) 系式獲得發(fā)光二極管的溫度系數(shù)(步驟S703 )。在此實(shí)施例中，假使電流源 22在至少三個(gè)溫度點(diǎn)上短暫地提供電流II給發(fā)光二極管時(shí)，處理模塊25根 據(jù)這些溫度點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的正向電壓以統(tǒng)計(jì)計(jì)算來(lái)獲得溫度系數(shù)。
圖9表示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法。本發(fā)明實(shí) 施例的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法將配合圖2及圖9來(lái)說(shuō)明。被測(cè)試的發(fā)光二 極管配置在一個(gè)爐體20的發(fā)光二極管承載座21上，首先為獲得發(fā)光二極管 的正向電壓與爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式(3)(步驟S90)。電流源22提供電流I2 給發(fā)光二極管以進(jìn)行發(fā)光二極管的老化試驗(yàn)(步驟S91 )。在進(jìn)行老化試驗(yàn)時(shí)， 每隔一預(yù)定期間，電流源22切換為提供電流II給發(fā)光二極管，使發(fā)光二極 管產(chǎn)生一正向電壓(步驟S92)。處理模塊25根據(jù)發(fā)光二極管的正向電壓與 爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式(3)以及受電流II驅(qū)動(dòng)所產(chǎn)生的正向電壓以計(jì)算發(fā)光 二極管的結(jié)溫度(步驟S93)。光檢測(cè)模塊26多次檢測(cè)發(fā)光二極管的發(fā)光量 與光譜特性(步驟S94)。處理模塊25根據(jù)發(fā)光二極管的發(fā)光量與光譜特性 以及結(jié)溫度，來(lái)計(jì)算發(fā)光二極管的壽命值(步驟S95)。處理模塊25的顯示 裝置250顯示變動(dòng)關(guān)系式(3)、正向電壓、結(jié)溫度以及發(fā)光二極管的發(fā)光量 與光譜特性(步驟S96)，此外，顯示裝置250亦會(huì)顯示步驟S95中所獲得的 發(fā)光二極管的壽命值。
在另一些實(shí)施例，發(fā)光二極管的正向電壓與爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān)系式可通過(guò) 提供電流II至發(fā)光二極管所產(chǎn)生的正向電壓來(lái)獲得。圖10表示步驟S90的 一實(shí)施例。爐體20的爐溫由低向高或由高向低逐漸地改變(步驟S901)。在 爐溫逐漸地改變時(shí)，電流源22于至少兩溫度點(diǎn)上短暫地提供電流II給發(fā)光 二極管，使發(fā)光二極管產(chǎn)生至少兩個(gè)正向電壓(步驟S902 )。處理模塊25根 據(jù)此兩溫度點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的至少兩正向電壓來(lái)計(jì)算正向電壓與爐溫點(diǎn)的變動(dòng)關(guān) 系式(3)(步驟S903 )。
雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例公開如上，然其并非用以限定本發(fā)明。任何 所屬技術(shù)領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下， 可進(jìn)行各種更動(dòng)與修改。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍以所提出的權(quán)利要求的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1. 一種發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，包括一爐體，具有一爐溫，該爐體內(nèi)供放置一發(fā)光二極管，其中，該爐體在一第一期間內(nèi)逐漸地改變?cè)摖t溫，在一第二期間內(nèi)維持該爐溫在一設(shè)定爐溫；一電流源，用以提供一第一電流和一第二電流給該發(fā)光二極管；一電壓計(jì)，用以測(cè)量該發(fā)光二極管的正向電壓；一控制模塊，用以控制該電流源輸出該第一電流或該第二電流給該發(fā)光二極管，且控制該電壓計(jì)測(cè)量該發(fā)光二極管該正向電壓，以及一處理模塊，根據(jù)該發(fā)光二極管的正向電壓、該發(fā)光二極管的正向電壓與該爐溫的一變動(dòng)關(guān)系式以計(jì)算該發(fā)光二極管的結(jié)溫度。
2. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，在該第一期間 內(nèi)，該電流源在至少兩溫度點(diǎn)上提供該第一電流給該發(fā)光二極管，且該發(fā)光 二極管對(duì)應(yīng)產(chǎn)生至少兩第一正向電壓。
3. 如權(quán)利要求2所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，該處理模塊根 據(jù)至少兩該溫度點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的至少兩該第一正向電壓以計(jì)算出該變動(dòng)關(guān)系 式。
4. 如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，該變動(dòng)關(guān)系式 為一次方程式。
5. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，該變動(dòng)關(guān)系式 為外部輸入數(shù)據(jù)或已經(jīng)存在該處理^t塊中
6. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，在該第一期間 前該爐溫維持在常溫或在該第一期間內(nèi)或在該第二期間時(shí)，該電流源提供該 第一電流給該發(fā)光二極管，且該發(fā)光二極管產(chǎn)生一初始正向電壓。
7. 如權(quán)利要求6所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，在該第二期間 內(nèi)，該電流源切換為提供該第二電流給該發(fā)光二極管，且每隔一預(yù)定期間切 換為提供該第 一 電流給該發(fā)光二極管以產(chǎn)生一 第二正向電壓。
8. 如權(quán)利要求7所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，每隔該預(yù)定期 間，該處理才莫塊^f艮據(jù)該變動(dòng)關(guān)系式、對(duì)應(yīng)的該第二正向電壓、該初始正向電 壓以及對(duì)應(yīng)的該爐溫以計(jì)算該結(jié)溫度。
9. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，在第二期間內(nèi)，該電流源切換為提供該第二電流給該發(fā)光二極管，且每隔一預(yù)定期間切換為 提供該第 一 電流給該發(fā)光二極管以產(chǎn)生該一第二正向電壓。
10. 如權(quán)利要求9所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，每隔該預(yù)定期間，該處理模塊根據(jù)該變動(dòng)關(guān)系式及對(duì)應(yīng)的該第二正向電壓以計(jì)算該結(jié)溫度。
11. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中該電流源所提供 的該第二電流可為直流形式或脈沖形式。
12. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，還包括一光檢測(cè)模 塊，用以多次測(cè)試該發(fā)光二極管的發(fā)光量及光語(yǔ)特性。
13. 如權(quán)利要求12所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，該處理模塊 可計(jì)算、存儲(chǔ)、以及顯示該發(fā)光二極管的該變動(dòng)關(guān)系式、該發(fā)光二極管的正 向電壓、該結(jié)溫度以及該發(fā)光二極管的發(fā)光量與光譜特性。
14. 如權(quán)利要求12所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，該處理模塊 可根據(jù)該發(fā)光二極管的發(fā)光量與光譜特性以及該結(jié)溫度，來(lái)計(jì)算、存儲(chǔ)、以 及顯示該發(fā)光二極管的壽命值。
15. —種發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，適用于多個(gè)發(fā)光二極管，包括-. 一爐體，具有一爐溫，該爐體內(nèi)供放置多個(gè)發(fā)光二極管，其中，該爐體在一第一期間內(nèi)逐漸地改變?cè)摖t溫，在一第二期間內(nèi)維持該爐溫在一設(shè)定爐 溫;一控制模塊，用以提供一第一電流控制信號(hào)、 一第二電流控制信號(hào)、一電壓檢測(cè)信號(hào)、及一切換信號(hào)；一第一電流源，用以根據(jù)該第一電流控制信號(hào)而提供一第 一電流；一第二電流源，用以根據(jù)該第二電流控制信號(hào)而提供多個(gè)第二電流，其 中，每一該第二電流對(duì)應(yīng)該多個(gè)發(fā)光二極管中的一者；一電源切換器，用以才艮據(jù)該切換信號(hào)而將該第 一電流或該多個(gè)第二電流 輸出給該多個(gè)發(fā)光二極管；一電壓計(jì)，用以根據(jù)該電壓檢測(cè)信號(hào)來(lái)測(cè)量該多個(gè)發(fā)光二極管的正向電 壓；以及一處理模塊；其中，對(duì)于每一該發(fā)光二極管，該處理模塊根據(jù)該發(fā)光二極管的正向電 壓、該發(fā)光二極管的正向電壓與該爐溫的一變動(dòng)關(guān)系式以計(jì)算該發(fā)光二極管 的結(jié)溫度。
16. 如權(quán)利要求15所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，對(duì)于每一該發(fā)光二極管，在該第一期間內(nèi)，該第一電流源根據(jù)該第一電流控制信號(hào)而提 供一第 一 電流且該電源切換器根據(jù)該切換信號(hào)以在至少兩溫度點(diǎn)上輸出該第 一電流給該發(fā)光二極管，且該發(fā)光二極管對(duì)應(yīng)產(chǎn)生至少兩第一正向電壓。
17. 如權(quán)利要求16所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，對(duì)于每一該 發(fā)光二極管，該處理模塊根據(jù)至少兩該溫度點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)至少兩該第一正向電 壓以計(jì)算出該變動(dòng)關(guān)系式。
18. 如權(quán)利要求16所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，該多個(gè)發(fā)光 二極管的該多個(gè)變動(dòng)關(guān)系式為一次方程式。
19. 如權(quán)利要求15所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，該多個(gè)變動(dòng) 關(guān)系式為外部輸入數(shù)據(jù)或已經(jīng)存在該處理模塊中。
20. 如權(quán)利要求15所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，對(duì)于每一該 發(fā)光二極管，在該第一期間前該爐溫維持在常溫或在該第一期間內(nèi)或在該第 二期間內(nèi)，該第一電流源根據(jù)該第一電流控制信號(hào)而提供一第一電流且該電 源切換器根據(jù)該切換信號(hào)以輸出該第一電流給該發(fā)光二極管，且該發(fā)光二極 管產(chǎn)生一初始正向電壓。
21. 如權(quán)利要求20所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，該第二電流 源根據(jù)該第二電流控制信號(hào)而提供第二電流且該電源切換器根據(jù)該切換信號(hào) 切換為輸出該第二電流給該發(fā)光二極管，且每隔 一預(yù)定期間該第 一 電流源根 據(jù)該第 一 電流控制信號(hào)而提供一第 一 電流且該電源切換器才艮據(jù)該切換信號(hào)輸 出該第 一 電流給該發(fā)光二極管以產(chǎn)生一第二正向電壓。
22. 如權(quán)利要求21所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，每隔該預(yù)定 期間，該處理^^塊^4居該變動(dòng)關(guān)系式、對(duì)應(yīng)的該第二正向電壓、該初始正向 電壓以及對(duì)應(yīng)的該爐溫以計(jì)算該結(jié)溫度。
23. 如權(quán)利要求15所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，對(duì)于每一該 發(fā)光二極管，在該第二期間內(nèi)，該第二電流源根據(jù)該第二電流控制信號(hào)而提 供第二電流且該電源切換器根據(jù)該切換信號(hào)切換為輸出該第二電流給該發(fā)光 二極管，且每隔一預(yù)定期間該第 一電流源根據(jù)該第 一電流控制信號(hào)而提供一 第 一 電流且該電源切換器才艮據(jù)該切換信號(hào)輸出該第 一 電流給該發(fā)光二極管以 產(chǎn)生一第二正向電壓。
24. 如權(quán)利要求23所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，每隔該預(yù)定期間，該處理模塊根據(jù)該變動(dòng)關(guān)系式及對(duì)應(yīng)的該第二正向電壓以計(jì)算該結(jié)溫度。
25. 如權(quán)利要求15所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中該第二電流源 所提供的該第二電流可為直流形式或脈沖形式。
26. 如權(quán)利要求15所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，還包括一光檢測(cè)模 塊，用以多次測(cè)試該多個(gè)發(fā)光二極管的發(fā)光量與光譜特性。
27. 如權(quán)利要求26所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，該處理模塊 可計(jì)算、存儲(chǔ)、以及顯示該多個(gè)發(fā)光二極管的該多個(gè)變動(dòng)關(guān)系式、該多個(gè)正 向電壓、該多個(gè)結(jié)溫度、以及該多個(gè)發(fā)光二極管的發(fā)光量與光譜特性。
28. 如權(quán)利要求26所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)裝置，其中，該處理模塊 可根據(jù)該多個(gè)發(fā)光二極管的發(fā)光量與光譜特性以及該多個(gè)結(jié)溫度，來(lái)計(jì)算、 存儲(chǔ)、以及顯示該多個(gè)發(fā)光二極管的壽命值。
29. —種發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法，該發(fā)光二極管配置在一爐體內(nèi)，包括 在一第一期間內(nèi)，逐漸地改變爐溫；獲得該發(fā)光二極管的正向電壓與該爐溫的一變動(dòng)關(guān)系式； 在一第二期間，維持該爐體的該爐溫在一設(shè)定爐溫；在該第二期間，提供該發(fā)光二極管一老化試驗(yàn)電流，且每隔一預(yù)定期間， 提供一第 一 電流給該發(fā)光二極管，以獲得該發(fā)光二極管的一正向電壓； 根據(jù)該變動(dòng)關(guān)系式及該正向電壓來(lái)計(jì)算該發(fā)光二極管的結(jié)溫度。
30. 如權(quán)利要求29所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法，還包括 在該第一期間內(nèi)，在至少兩溫度點(diǎn)上提供該第一電流給該發(fā)光二極管，使該發(fā)光二極管產(chǎn)生至少兩第一正向電壓；以及根據(jù)至少兩該溫度點(diǎn)以及至少兩該第一正向電壓以計(jì)算出該變動(dòng)關(guān)系式。
31. 如權(quán)利要求30所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法，其中，該變動(dòng)關(guān)系 式為一次方程式。
32. 如權(quán)利要求29所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法，其中，該發(fā)光二極 管的變動(dòng)關(guān)系式為外部輸入數(shù)據(jù)。
33. 如權(quán)利要求29所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法，還包括 在該第一期間的前該爐溫維持在常溫或在該第一期間或在該第二期間，提供該第 一電流給該發(fā)光二極管，以獲得一初始正向電壓；在該第二期間內(nèi)，每隔該預(yù)定期間，根據(jù)該變動(dòng)關(guān)系式、該初始正向電 壓以及對(duì)應(yīng)的該爐溫、該發(fā)光二才及管的正向電壓以計(jì)算該結(jié)溫度。
34. 如權(quán)利要求29所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法，還包括多次測(cè)試 該發(fā)光二極管的發(fā)光量與光譜特性。
35. 如權(quán)利要求29所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法，還包括根據(jù)該發(fā) 光二極管的發(fā)光量與光譜特性以及該結(jié)溫度，來(lái)計(jì)算、存儲(chǔ)、以及顯示該發(fā) 光二極管的壽命值。
36. 如權(quán)利要求29所述的發(fā)光二極管壽命試驗(yàn)方法，還包括存儲(chǔ)及顯 示該發(fā)光二極管的該變動(dòng)關(guān)系式、該多個(gè)第一正向電壓、該正向電壓、該結(jié) 溫度、以及該發(fā)光二極管的發(fā)光量與光譜特性。
全文摘要
一種壽命試驗(yàn)裝置，包括爐體、電流源、電壓計(jì)、控制模塊、及處理模塊。爐體內(nèi)供放置發(fā)光二極管。其中，爐體在第一期間內(nèi)逐漸地改變爐溫，在第二期間內(nèi)維持爐溫在設(shè)定爐溫。電流源提供發(fā)光二極管第一電流和第二電流。電壓計(jì)用來(lái)測(cè)量發(fā)光二極管的正向電壓?？刂颇K控制電流源輸出第一電流或第二電流給發(fā)光二極管，且控制電壓計(jì)測(cè)量發(fā)光二極管該正向電壓。處理模塊根據(jù)發(fā)光二極管的正向電壓、發(fā)光二極管的正向電壓與該爐溫的一變動(dòng)關(guān)系式以計(jì)算發(fā)光二極管的結(jié)溫度。
文檔編號(hào)G01R31/26GK101452044SQ20071019627
公開日2009年6月10日 申請(qǐng)日期2007年12月7日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月7日
發(fā)明者陳秋伶, 黃斐章, 黃勝邦 申請(qǐng)人:財(cái)團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院