專(zhuān)利名稱(chēng)：接觸型單面探針裝置及測(cè)試導(dǎo)線開(kāi)路或短路的設(shè)備和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種接觸型單面探針裝置，以及使用該裝置測(cè)試導(dǎo)線的開(kāi)路 或短路的設(shè)備和方法，更特別的是涉及一種接觸型單面探針裝置，所述裝置 將探針引入以與多條導(dǎo)線中的每一條導(dǎo)線的一端相接觸，其中所述導(dǎo)線包括
PCB導(dǎo)電線圖、數(shù)據(jù)傳輸線和電纜，所述裝置還向所述導(dǎo)線施加交流(AC) 電源，并且使用由所述探針測(cè)量的電子變化值測(cè)試導(dǎo)線的開(kāi)路和短路，還特 別涉及一種非接觸型單面探測(cè)裝置及使用該裝置測(cè)試模式電極的開(kāi)路和短 路的設(shè)備和方法。
背景技術(shù)：
通常，為了測(cè)試多線電纜如數(shù)據(jù)傳輸線路的開(kāi)路或短路，將該電纜與其 他電路隔離，并測(cè)量在該電纜兩端之間的阻抗。此時(shí)，至少兩個(gè)操作員是必 需的。如果電纜線的數(shù)目很大，該線的號(hào)碼可能會(huì)被忘記。據(jù)此，由于需要 重復(fù)檢測(cè)，可靠性降低并且操作時(shí)間增加。
為了檢測(cè)如液晶顯示器(LCD)或等離子顯示面板(PDP)等的平板顯 示裝置的透明電極的開(kāi)路和短路，如圖1所示，電流被施加到導(dǎo)線10中的 每一導(dǎo)線的一端，并且在導(dǎo)線10中的每一導(dǎo)線的另一端測(cè)量電壓，這樣來(lái) 測(cè)試導(dǎo)線IO的開(kāi)路和短路。
為了測(cè)試導(dǎo)線開(kāi)路和短路，至少需要兩個(gè)探針。也就是說(shuō)，由于需要很 大數(shù)目的探針，成本增加。另外，如果導(dǎo)線的長(zhǎng)度很長(zhǎng)，至少需要兩個(gè)在不 同位置檢測(cè)開(kāi)路和短路的操作器，這樣就需要大量的時(shí)間和人力。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明是針對(duì)上述問(wèn)題完成的，并且本發(fā)明的目的是提供一種接 觸型單面探針裝置以及使用該裝置測(cè)試導(dǎo)線開(kāi)路和短路的設(shè)備和方法，所述 的裝置將探針引入以與多條導(dǎo)線中每一導(dǎo)線的一端相接觸，其中所述的導(dǎo)線
包括PCB導(dǎo)電線圖、數(shù)據(jù)傳輸線和電纜，所述裝置還向所述導(dǎo)線施加AC 電源，并使用由所述探針測(cè)量的電子變化值測(cè)試導(dǎo)線的開(kāi)路和短路。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，上述和其他目的可以通過(guò)提供一種接觸型單面探
針裝置完成。所述接觸型單面探針裝置包括探針，該探針被引入以與待測(cè) 導(dǎo)線相接觸；電源饋送部件，該電源饋送部件向所述探針施加AC電源；以 及傳感器，該傳感器測(cè)量所述探針的電子變化值。
作為優(yōu)選，所述的電源饋送部件可以包括用于施加AC電流的AC電流 源，并且所述傳感器可以測(cè)量電壓變化。
作為優(yōu)選，所述的電源饋送部件可以包括用于施加AC電壓的AC電壓 源，并且所述傳感器可以測(cè)量所述AC電壓源與所述探針之間的電流變化。
作為優(yōu)選，所述的電源饋送部件可以包括用于施加AC電壓的AC電壓 源和置于所述AC電壓源與所述探針之間的阻抗元件，并且所述傳感器可以 測(cè)量電壓變化。
作為優(yōu)選，所述阻抗元件可以是電容或電阻。
作為優(yōu)選，所述阻抗元件可以是容量可變的類(lèi)型。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種使用接觸型單面探針裝置測(cè)試導(dǎo)線 開(kāi)路和短路的設(shè)備，該設(shè)備包括單面探針裝置，該單面探針裝置將探針引 入以與每一導(dǎo)線的一端接觸；存儲(chǔ)部件，該部件存儲(chǔ)了由所述單面探針裝置 測(cè)量的電子變化值；信號(hào)處理部件，該信號(hào)處理部件在所述存儲(chǔ)部件中存儲(chǔ) 由所述單面探針裝置測(cè)量的電子變化值，并通過(guò)由所述單面探針測(cè)量的電子 變化值判定開(kāi)路或短路，或通過(guò)比較由所述單面探針裝置測(cè)量的電子變化值
與存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)部件中的電子變化值來(lái)判定開(kāi)路或短路；顯示部件，該顯 示部件顯示由所述單面探針裝置測(cè)量的電子變化值和所述信號(hào)處理部件的 工作狀態(tài)；按鍵輸入部件，該按鍵輸入部件選擇所述信號(hào)處理部件的工作狀 態(tài)。
作為優(yōu)選，所述接觸型單面探針裝置可以包括探針，該探針被引入以與 待測(cè)試的每一導(dǎo)線相接觸；電源饋送部件，該部件向所述探針施加AC電源; 以及傳感器，該傳感器測(cè)量所述探針的電子變化值。
作為優(yōu)選，所述電源饋送部件可以包括用于施加AC電流值的AC電流 源，并且所述傳感器可以測(cè)量電壓變化。
作為優(yōu)選，所述電源饋送部件可以包括用于施加AC電壓的AC電壓源， 并且所述傳感器可以測(cè)量所述AC電壓源與所述探針之間的電流變化。
作為優(yōu)選，所述電源饋送部件可以包括用于施加AC電壓的AC電壓源 和置于所述AC電壓源與所述探針之間的阻抗元件，并且所述傳感器可以測(cè) 量電壓變化。
作為優(yōu)選，所述阻抗元件可以是電容或電阻。
作為優(yōu)選，所述阻抗元件可以是容量可變的類(lèi)型。
根據(jù)本發(fā)明的又一方面，提供了一種使用接觸型單面探針裝置來(lái)測(cè)試導(dǎo) 線開(kāi)路和短路的方法，其中所述接觸型單面探針裝置用于將探針引入以與導(dǎo) 線的一端相接觸，施加AC電源，并測(cè)量所述探針的電子變化值，所述方法 包括將所述單面探針裝置的探針引入以與具有相同長(zhǎng)度的多條導(dǎo)線中的每 一導(dǎo)線的一端相接觸；施加AC電源；使用所述單面探針裝置測(cè)量電子變化 值；以及測(cè)試導(dǎo)線的開(kāi)路和短路。
作為優(yōu)選，如果所測(cè)量的電子變化值是電壓，則當(dāng)該電壓的幅值增大時(shí) 可以判定導(dǎo)線是開(kāi)路的，而當(dāng)該電壓的幅值降低時(shí)判定導(dǎo)線是短路的。
作為優(yōu)選，如果所測(cè)量的電子變化值是電流，則當(dāng)該電流的幅值降低時(shí)
可以判定導(dǎo)線是開(kāi)路的，而當(dāng)該電流的幅值增大時(shí)判定導(dǎo)線是短路的。
根據(jù)本發(fā)明的又一方面，本發(fā)明提供了一種使用接觸型單面探針裝置測(cè) 試導(dǎo)線開(kāi)路和短路的方法，其中所述接觸型單面探針裝置用于將探針引入與
導(dǎo)線一端相接觸，施加AC電源，并測(cè)量所述探針的電子變化值，所述方法
包括將所述單面探針裝置的探針引入以與形成在電路板上并具有不同長(zhǎng)度
的多條導(dǎo)線中的每一導(dǎo)線的一端相接觸；施加AC電源；按導(dǎo)線存儲(chǔ)由所述 單面探針裝置測(cè)量的對(duì)應(yīng)的電子變化值；以相同次序測(cè)量具有相同圖案的另 一電路板的電子變化值，并將所測(cè)量的電子變化值與所存儲(chǔ)的電子變化值相 比較；以及測(cè)試導(dǎo)線的開(kāi)路和短路。
作為優(yōu)選，如果所測(cè)量的電子變化值是電壓，則當(dāng)該電壓的幅值增大時(shí) 可以判定導(dǎo)線是開(kāi)路的，而當(dāng)該電壓的幅值降低時(shí)判定導(dǎo)線是短路的。
作為優(yōu)選，如果所測(cè)量的電子變化值是電流，則當(dāng)該電流的幅值降低時(shí) 可以判定導(dǎo)線是開(kāi)路的，而當(dāng)該電流的幅值增大時(shí)判定導(dǎo)線是短路的。
根據(jù)本發(fā)明，由于接觸型單面探針裝置的探針被引入以與多條導(dǎo)線中的 每一導(dǎo)線的一端相接觸，施加了AC電源，并且使用在導(dǎo)線中測(cè)量的電子變 化值來(lái)測(cè)試導(dǎo)線的短路和開(kāi)路，這樣通過(guò)單一的掃描過(guò)程同時(shí)測(cè)試多個(gè)開(kāi)路 和短路以及雖然測(cè)量只在導(dǎo)線的一端進(jìn)行但判定開(kāi)路和短路是可行的。


本發(fā)明的上述和其他目的、特征以及其他優(yōu)點(diǎn)，將結(jié)合附圖由接下來(lái)更 詳細(xì)的說(shuō)明而被更清楚地理解，其中
圖1顯示的是測(cè)量導(dǎo)線的開(kāi)路和短路的常規(guī)方法圖2顯示的是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的接觸型單面探針裝置的結(jié)構(gòu)
圖3顯示的是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的接觸型單面探針裝置的結(jié)構(gòu)
圖4顯示的是根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施方式的接觸型單面探針裝置的結(jié)構(gòu)
圖5顯示的是根據(jù)本發(fā)明的使用所述接觸型單面探針裝置測(cè)試具有相同 長(zhǎng)度的導(dǎo)線時(shí)所測(cè)得的測(cè)試波形；
圖6顯示的是根據(jù)本發(fā)明的使用所述接觸型單面探針裝置測(cè)試導(dǎo)線開(kāi)路 和短路的設(shè)備框圖；以及
圖7顯示的是測(cè)量形成在電路板上且具有不同長(zhǎng)度的導(dǎo)線的開(kāi)路和短路 的示例，該示例使用了根據(jù)本發(fā)明的所述接觸型單面探針裝置來(lái)測(cè)量導(dǎo)線開(kāi) 路和短路的設(shè)備。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明已經(jīng)根據(jù)優(yōu)選實(shí)施方式進(jìn)行了展示和描述，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以 理解的是，不同的變化和修改可以進(jìn)行而不偏離本發(fā)明的范圍和實(shí)質(zhì)。這樣， 本發(fā)明的保護(hù)范圍不應(yīng)被理解為局限在本發(fā)明的實(shí)施方式中?，F(xiàn)有技術(shù)的相 同部分以相同的引用數(shù)字和術(shù)語(yǔ)表示。
圖2顯示的是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的接觸型單面探針裝置的結(jié)構(gòu)圖。
如圖所示，根據(jù)本實(shí)施方式的接觸型單面探針裝置20包括與待測(cè)試的 每一導(dǎo)線10相接觸的探針220，用于向探針220施加AC電流的AC電流源 212，以及用于測(cè)量探針220的電壓變化的傳感器230。
電源饋送部件210包括用于施加AC電流的AC電流源212。AC電流源 212向探針220施加AC電流，以便通過(guò)探針220測(cè)量的電壓變化來(lái)檢測(cè)導(dǎo) 線10的開(kāi)路或短路。
圖3顯示的是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的接觸型單面探針裝置的結(jié)構(gòu) 圖。
如圖所示，根據(jù)本實(shí)施方式的接觸型單面探針裝置20包括與待測(cè)試的 每一導(dǎo)線10相接觸的探針220，用于向探針220施加AC電壓的AC電壓源 214，以及用于測(cè)量AC電壓源214與探針220之間的電流變化的傳感器230。
電源饋送部件210包括AC電壓源214。測(cè)量在AC電壓源214與探針 220之間的電流變化以便檢測(cè)導(dǎo)線10的開(kāi)路或短路。
圖4顯示的是根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施方式的接觸型單面探針裝置的結(jié)構(gòu)圖。
如所示，根據(jù)本實(shí)施方式的接觸型單面探針裝置20包括與待測(cè)試的每 一導(dǎo)線10相接觸的探針220，用于向探針220施加AC電壓的AC電壓源214， 阻抗元件216，置于AC電壓源214與探針220之間的阻抗元件216，以及 用于測(cè)量探針220的電壓變化的傳感器230。
阻抗元件216包括電容或電阻作為被動(dòng)元件，并且優(yōu)選為容量可變的類(lèi) 型，這樣可以測(cè)得與待測(cè)導(dǎo)線IO表面區(qū)域相應(yīng)的顯著的電子變化。
圖5顯示的是當(dāng)使用接觸型單面探針裝置20測(cè)試具有相同長(zhǎng)度的導(dǎo)線 10時(shí)測(cè)量的電壓值，其中電源饋送部件210包括AC電壓源214和阻抗元件 216。
也就是說(shuō)，根據(jù)本發(fā)明的接觸型單面探針裝置20被引入以與導(dǎo)線10中 每一導(dǎo)線的一端相接觸，施加AC電源，并且通過(guò)檢測(cè)到的電子變化測(cè)量電 壓值的情況將被描述。
這時(shí)，正常導(dǎo)線10的電壓值為VPP.N，如圖5A所示。如果導(dǎo)線10開(kāi)路， 如圖5B所示，導(dǎo)線10的電極區(qū)域降低，并且在導(dǎo)線10電極區(qū)域和臨近導(dǎo) 線10周?chē)秶g形成的寄生電容240的電容降低。因此，在這種情況下， 所測(cè)的導(dǎo)線10的電壓值為Vpp.o，該電壓值比正常導(dǎo)線10的電壓值Vpp.n高。
同時(shí)，如果導(dǎo)線10與臨近的導(dǎo)線IO短路，如圖5C所示，導(dǎo)線10的電
極區(qū)域增加，并且在導(dǎo)線10電極區(qū)域和臨近導(dǎo)線IO周?chē)秶g形成的寄 生電容240的電容增加。因此，在這種情況下，所測(cè)的導(dǎo)線IO的電壓值為 VPP.S，該電壓值比正常導(dǎo)線10的電壓值Vpp.n低。
當(dāng)使用接觸型單面探針裝置20測(cè)試具有相同長(zhǎng)度的導(dǎo)線10的開(kāi)路或短 路時(shí)，確定在導(dǎo)線10 —端檢測(cè)的電壓值是否變化。也就是說(shuō)，如果電壓值 增加，導(dǎo)線10被判定為開(kāi)路，而如果電壓值降低，導(dǎo)線10被判定為短路。
盡管在本實(shí)施方式中應(yīng)用的是正弦波的AC電源，并通過(guò)電壓變化來(lái)判 定導(dǎo)線的開(kāi)路或短路，但判定導(dǎo)線的開(kāi)路和短路可以使用矩形波(階梯波)、 脈沖波和白噪聲。
同時(shí)，當(dāng)根據(jù)本發(fā)明的接觸型單面探針裝置20被提供在電子裝置(未 示出)的輸入/輸出端口時(shí)，探針可以被用于與內(nèi)部電路或其他裝置的開(kāi)路或 短路的自我診斷。
圖6顯示的是根據(jù)本發(fā)明的使用所述接觸型單面探針裝置測(cè)試導(dǎo)線開(kāi)路 和短路的設(shè)備框圖。
如圖所示，所述設(shè)備包括單面探針裝置20，用于將探針220引入以與每 一導(dǎo)線10的一端相接觸，施加AC電源，以及測(cè)量探針220的電子變化值； 存儲(chǔ)部件30，用于存儲(chǔ)由單面探針裝置20測(cè)量的電子變化值；信號(hào)處理部 件40，用于存儲(chǔ)在存儲(chǔ)部件30中由單面探針裝置20測(cè)量的電子變化值，并 通過(guò)由單面探針裝置20測(cè)量的電子變化值判定開(kāi)路或短路，或通過(guò)比較由 單面探針裝置20測(cè)量的電子變化值與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)部件30中的電子變化值來(lái) 判定開(kāi)路或短路；顯示部件50，用于顯示由單面探針裝置20測(cè)量的電子變 化值和信號(hào)處理部件40的工作狀態(tài)；以及按鍵輸入部件，用于選擇信號(hào)處 理部件40的工作狀態(tài)。
在使用所述接觸型單面探針裝置用于測(cè)試導(dǎo)線的設(shè)備中，當(dāng)測(cè)量具有相 同圖案的多個(gè)電路板70時(shí)，雖然形成在電路板70上的導(dǎo)線IO的長(zhǎng)度不同，
但所測(cè)量的電子變化值被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)部件30中，并與在具有相同模型的其 他電路板70中測(cè)量的電子變化值相比較來(lái)判定導(dǎo)線10的電子變化，從而測(cè) 試開(kāi)路或短路。
也就是說(shuō)，如圖7所示，盡管連接到電路板一個(gè)IC芯片80的導(dǎo)線10 的長(zhǎng)度不同，導(dǎo)線10的電子變化值使用單面探針裝置20被依次測(cè)量并存儲(chǔ) 在存儲(chǔ)部件30中，另一具有相同圖案的電路板70的電子變化值被以相同次 序依次地測(cè)量，并與先前存儲(chǔ)在存儲(chǔ)部件30中的電子變化值相比較，從而 測(cè)試導(dǎo)線10的開(kāi)路或短路。
舉例來(lái)說(shuō)，當(dāng)由電子變化值度量的是電壓值，如果該電壓值比先前重復(fù) 測(cè)量的導(dǎo)線10的電壓值小，則信號(hào)處理部件40判定導(dǎo)線是短路的，并在顯 示部件50上顯示判定的結(jié)果。相反，如果測(cè)量的電壓值比先前重復(fù)測(cè)量的 導(dǎo)線10的電壓值大，則信號(hào)處理部件40判定導(dǎo)線是開(kāi)路的，并在顯示部件 50上顯示所判定的結(jié)果。當(dāng)電壓值與先前重復(fù)測(cè)量的導(dǎo)線10的電壓值相等 時(shí)，該導(dǎo)線被判定為正常導(dǎo)線。據(jù)此，可以測(cè)試具有不同長(zhǎng)度的導(dǎo)線10的 開(kāi)路或短路。
當(dāng)信號(hào)處理部件40的所處理的狀態(tài)通過(guò)按鍵輸入部件60控制時(shí)，這樣 所測(cè)量的值被立即顯示，用戶可以在測(cè)量具有相同長(zhǎng)度導(dǎo)線10時(shí)通過(guò)顯示 部件50立即檢查測(cè)量值的變化。測(cè)量值的變化被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)部件30中，并 被比較以判定開(kāi)路或短路。
由上所述，由于探針被引入以與多條導(dǎo)線中的每一導(dǎo)線的一端相接觸， 其中所述導(dǎo)線包括PCB導(dǎo)電圖、數(shù)據(jù)傳輸線和電纜，施加了AC電源，以及 使用由所述探針對(duì)測(cè)量的電子變化值來(lái)測(cè)試導(dǎo)線的開(kāi)路或短路，因此與使用 兩個(gè)探針的情況相比，裝置的數(shù)量和操作員的人數(shù)可以明顯減少。
即使當(dāng)待測(cè)導(dǎo)線的長(zhǎng)度很長(zhǎng)時(shí)， 一個(gè)操作員就可以測(cè)試開(kāi)路或短路。據(jù) 此，由很少人數(shù)的操作員來(lái)執(zhí)行測(cè)試是可行的。
由于只在導(dǎo)線的一端執(zhí)行操作來(lái)測(cè)試導(dǎo)線的開(kāi)路或短路，因此當(dāng)在電子 裝置的輸入/輸出端口安裝單面探針裝置時(shí)，開(kāi)路或短路的自我診斷是可行 的。
盡管為例證目的公開(kāi)了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理 解不同的修改、增加和代替是可行的，并不超出所附權(quán)利要求書(shū)中所公開(kāi)的 本發(fā)明的范圍和實(shí)質(zhì)。
權(quán)利要求
1.一種接觸型單面探針裝置，包括探針，該探針被引入以與待測(cè)導(dǎo)線相接觸；電源饋送部件，該部件向所述探針施加交流電源；以及傳感器，該傳感器測(cè)量所述探針的電子變化值。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的接觸型單面探針裝置，其中所述電源饋送部 件包括用于施加交流電流的交流電流源，并且所述傳感器測(cè)量的是電壓的變 化。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的接觸型單面探針裝置，其中所述電源饋送部 件包括用于施加交流電壓的交流電壓源，并且所述傳感器測(cè)量的是該交流電 壓源與所述探針之間的電流的變化。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的接觸型單面探針裝置，其中所述電源饋送部 件包括用于施加交流電壓的交流電壓源和置于該交流電壓源與所述探針之 間的阻抗元件，并且所述傳感器測(cè)量的是電壓的變化。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的接觸型單面探針裝置，其中所述阻抗元件是 電容。
6. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的接觸型單面探針裝置，其中所述阻抗元件是 電阻。
7. 根據(jù)權(quán)利要求4-6中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的接觸型單面探針裝置， 其中所述阻抗元件是容量可變的類(lèi)型。
8. —種使用接觸型單面探針裝置來(lái)測(cè)試導(dǎo)線開(kāi)路和短路的設(shè)備，該設(shè) 備包括-單面探針裝置，該單面探針裝置將探針引入以與每一導(dǎo)線的一端相接觸；存儲(chǔ)部件，該存儲(chǔ)部件存儲(chǔ)由所述單面探針裝置測(cè)量的電子變化值；信號(hào)處理部件，該信號(hào)處理部件存儲(chǔ)所述存儲(chǔ)部件中的由所述單面探針 裝置測(cè)量的電子變化值，并通過(guò)由所述單面探針測(cè)量的電子變化值判定開(kāi)路 或短路，或通過(guò)比較由所述單面探針裝置測(cè)量的電子變化值與存儲(chǔ)在所述存 儲(chǔ)部件中的電子變化值來(lái)判定開(kāi)路或短路；顯示部件，該顯示部件顯示由所述單面探針裝置測(cè)量的電子變化值和所 述信號(hào)處理部件的工作狀態(tài)；按鍵輸入部件，該按鍵輸入部件選擇所述信號(hào)處理部件的工作狀態(tài)。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述接觸型單面探針裝置包括 探針，該探針被引入以與每一待測(cè)導(dǎo)線相接觸；電源饋送部件，該電源饋送部件向所述探針施加交流電源； 傳感器，該傳感器測(cè)量所述探針的電子變化值。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的設(shè)備，其中所述電源饋送部件包括用于施加 交流電流的交流電流源，并且所述傳感器測(cè)量的是電壓的變化。
11. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的設(shè)備，其中所述電源饋送部件包括用于施加 交流電壓的交流電壓源，并且所述傳感器測(cè)量的是所述交流電壓源與所述探 針之間電流的變化。
12. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的設(shè)備，其中所述電源饋送部件包括用于施加 交流電壓的交流電壓源和置于該交流電壓源與所述探針之間的阻抗元件，并 且傳感器測(cè)量的是電壓的變化。
13. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其中所述阻抗元件是電容。
14. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其中所述阻抗元件是電阻。
15. 根據(jù)權(quán)利要求12-14中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的設(shè)備，其中所述阻抗 元件是容量可變的類(lèi)型。
16. —種使用接觸型單面探針裝置來(lái)測(cè)試導(dǎo)線開(kāi)路和短路的方法，其中 所述接觸型單面探針裝置用于將探針引入以與導(dǎo)線的一端相接觸，施加交流 電源，以及測(cè)量所述探針的電子變化值，所述方法包括將所述單面探針裝置的探針引入以與具有相同長(zhǎng)度的多條導(dǎo)線中的每 一導(dǎo)線的一端相接觸； 施加交流電源；使用所述單面探針裝置測(cè)量電子變化值；以及 測(cè)試導(dǎo)線的開(kāi)路和短路。
17. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中，如果所測(cè)量的電子變化值是 電壓，則當(dāng)該電壓的幅值增大時(shí)判定導(dǎo)線是開(kāi)路的，而當(dāng)該電壓的幅值降低 時(shí)判定導(dǎo)線是短路的。
18. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中，如果所測(cè)量的電子變化值是 電流，則當(dāng)該電流的幅值降低時(shí)判定導(dǎo)線是開(kāi)路的，而當(dāng)該電流的幅值增大 時(shí)判定導(dǎo)線是短路的。
19. 一種使用接觸型單面探針裝置測(cè)試導(dǎo)線開(kāi)路和短路的方法，該接觸 型單面探針裝置用于將探針引入以與導(dǎo)線一端相接觸，施加交流電源，并測(cè)量所述探針的電子變化值，所述方法包括將所述單面探針裝置的探針引入以與形成在電路板上并具有不同長(zhǎng)度 的多條導(dǎo)線中的每一導(dǎo)線的一端相接觸；施加交流電源；按導(dǎo)線存儲(chǔ)由所述單面探針裝置測(cè)量的對(duì)應(yīng)的電子變化值； 以相同次序測(cè)量具有相同圖案的另一電路板的電子變化值，并將所測(cè)量 的電子變化值與所存儲(chǔ)的電子變化值相比較；以及 測(cè)試導(dǎo)線的開(kāi)路和短路。
20. 根據(jù)權(quán)利要求19所述的方法，其中，如果所測(cè)量的電子變化值是 電壓，則當(dāng)該電壓的幅值增大時(shí)判定導(dǎo)線是開(kāi)路的，而當(dāng)該電壓的幅值降低 時(shí)判定導(dǎo)線是短路的。
21. 根據(jù)權(quán)利要求19所述的方法，其中，如果所測(cè)量的電子變化值是 電流，則當(dāng)該電流的幅值降低時(shí)判定導(dǎo)線是開(kāi)路的，而當(dāng)該電流的幅值增大 時(shí)判定導(dǎo)線是短路的。
全文摘要
公開(kāi)了一種用于測(cè)試導(dǎo)線開(kāi)路和短路的設(shè)備和方法。探針被引入以與每一導(dǎo)線的一端相接觸，施加AC電源，并且使用在所述探針中測(cè)量的電子變化來(lái)測(cè)試所述導(dǎo)線。當(dāng)測(cè)試PCB導(dǎo)電線圖、數(shù)據(jù)傳輸線或電纜時(shí)，通過(guò)使用單面探針裝置可以顯著地減少探針的數(shù)目，并且可以顯著地減少用于測(cè)試開(kāi)路或短路的必要的時(shí)間和人力。由于只在導(dǎo)線的一端執(zhí)行測(cè)量來(lái)測(cè)試導(dǎo)線的開(kāi)路或短路，所以當(dāng)單面探針裝置安裝在電子裝置的輸入/輸出端口時(shí)，可以進(jìn)行開(kāi)路或短路的自我診斷。
文檔編號(hào)G01R31/02GK101109769SQ20071013012
公開(kāi)日2008年1月23日 申請(qǐng)日期2007年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月20日
發(fā)明者宋大雄, 崔熙德, 李東俊, 琸 殷, 金圣振 申請(qǐng)人:微探測(cè)株式會(huì)社