專利名稱:用于有選擇地將測試數(shù)據(jù)記入日志的系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及用于有選擇地將測試數(shù)據(jù)記入日志的系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù):
對于對片上系統(tǒng)(SOC)器件進行測試,可以將大量的信息記入日志。單次測試可以獲得許多參數(shù)式測量數(shù)據(jù)。所有這些測量數(shù)據(jù)都可能要與相應(yīng)的測試限制一起被記入日志。這可能要花費大量的時間、系統(tǒng)存儲器和文件空間。
在生產(chǎn)和測試過程穩(wěn)定時,用戶可能僅需要獲得概況信息。一般而言,當在生產(chǎn)或者利用測試儀進行測試時發(fā)生問題時,可能需要更詳細的信息來確定該問題。
一般來說,用戶僅將對測試儀獲得的詳細信息的采樣記入日志。例如,用戶可能將每第五個被測器件的詳細信息記入日志,該詳細信息可能包括測量值和限制。對于其他被測器件,可以將諸如通過/失敗信息之類的初步信息記入日志。在Agilent 93000測試儀中,用戶可以選擇捕獲詳細測試數(shù)據(jù)的頻度。
一個缺點是對于特定器件,一般要么所有細節(jié)結(jié)果都必須被記入日志,或者所有細節(jié)結(jié)果都不被記入日志。不必要的細節(jié)數(shù)據(jù)通常必需被記入日志,以獲得需要的數(shù)據(jù)。
當前,用戶不能預測是否將發(fā)生問題并且改變數(shù)據(jù)捕獲速率。用戶必須在存在問題時手動通知改變用于數(shù)據(jù)捕獲的設(shè)置。許多器件可能必須被重新測試以獲得所需要的細節(jié)數(shù)據(jù)。用戶不可能輕易地檢測出何時測試結(jié)果正飄動并且需要更詳細的數(shù)據(jù)。
發(fā)明內(nèi)容
在一個實施例中,提供了一種用于有選擇地將測試數(shù)據(jù)記入日志的系統(tǒng),該系統(tǒng)包括用來監(jiān)視由多個器件產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)和用來產(chǎn)生與該測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量的代碼;以及用來響應(yīng)于與所述測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量,有選擇地調(diào)整產(chǎn)生該測試數(shù)據(jù)的測試儀以修改針對所述多個器件由測試儀記入日志的測試數(shù)據(jù)的代碼。
在另一個實施例中,提供了用于有選擇地將測試數(shù)據(jù)記入日志的方法,該方法包括監(jiān)控由多個器件產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)并且產(chǎn)生與該測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量;并且響應(yīng)于與所述測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量,有選擇地調(diào)整產(chǎn)生該測試數(shù)據(jù)的測試儀以修改從所述器件獲得的測試數(shù)據(jù)。
還公開了其他實施例。
附圖中示出了本發(fā)明的說明性實施例,在附圖中圖1示出了用于有選擇地將測試數(shù)據(jù)記入日志的系統(tǒng);圖2示出了由用于對圖1所示系統(tǒng)的測試儀進行有選擇地調(diào)整的代碼所產(chǎn)生的反饋信號;圖3示出了可選地結(jié)合到圖1所示系統(tǒng)中的測試儀,該測試儀包含用于監(jiān)控測試數(shù)據(jù)的代碼和用于有選擇地調(diào)整測試儀的代碼;圖4示出了可選地結(jié)合到圖1所示系統(tǒng)中的控制器,該控制器具有用于監(jiān)控由測試儀獲得的測試數(shù)據(jù)的代碼和用于有選擇地調(diào)整該測試儀的代碼;以及圖5示出了用于有選擇地將測試數(shù)據(jù)記入日志的方法。
具體實施例方式
參見圖1,并且在一個實施例中,該圖示出了一種用于有選擇地將測試數(shù)據(jù)102記入日志的系統(tǒng)100。系統(tǒng)100可以包括測試儀104,用于對器件108執(zhí)行測試106,并且用于將從器件108獲得的測試數(shù)據(jù)102記入日志。系統(tǒng)100可以包括用于對由測試儀104獲得的測試數(shù)據(jù)102進行監(jiān)控來產(chǎn)生與測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量112。系統(tǒng)100可以包括用于響應(yīng)于與測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量112,有選擇地調(diào)整測試儀104以修改從器件108記入到日志中的測試數(shù)據(jù)102。
參考圖2,并且在一個實施例中,系統(tǒng)100可以包括由用于有選擇地調(diào)整測試儀104的代碼114產(chǎn)生的對應(yīng)于與測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量112的反饋信號200。反饋信號200可以被用來調(diào)整由測試儀104從器件108記入到日志中的測試數(shù)據(jù)102。
現(xiàn)在參考圖3,并且在一個實施例中,測試儀104可以包含用于監(jiān)控測試數(shù)據(jù)102的代碼110。測試儀104還可以包含用于有選擇地調(diào)整測試儀104的代碼114。
參考圖4,并且在一個實施例中,系統(tǒng)100還可以包括控制器400,控制器400具有用于對由測試儀104獲得的測試數(shù)據(jù)102進行監(jiān)控的代碼110??刂破?00可以包括用于有選擇地調(diào)整測試儀104的代碼114??刂破?00可以是與測試儀104相分離的。
在一個實施例中,測試儀104可以包括自動測試裝備(ATE),測試儀104在下文中也被稱作自動測試裝備104。自動測試裝備104以包含用于監(jiān)控測試數(shù)據(jù)102的代碼104。自動測試裝備104可以包含用于有選擇地調(diào)整測試儀104的代碼114。
現(xiàn)在參考圖1,并且在一個實施例中,與測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量112可以被與預定閾值116相比較。用于有選擇地調(diào)整測試儀104的代碼114可以在統(tǒng)計量112在預定閾值之外時對測試儀104進行調(diào)整來獲得額外的測試數(shù)據(jù)118。如果統(tǒng)計量112返回到預定閾值116內(nèi),則用于有選擇地調(diào)整測試儀104的代碼114可以對測試儀進行重新調(diào)整來獲得較少的測試數(shù)據(jù)120。較少的測試數(shù)據(jù)120可以是與測試儀104最初記入日志中的測試數(shù)據(jù)102相同的或者類似的?;蛘撸^少的測試數(shù)據(jù)120可以比測試儀104最初記入日志的測試數(shù)據(jù)102少或者與該測試數(shù)據(jù)不同。
額外的測試數(shù)據(jù)118可以包括從額外的器件112獲得的測試結(jié)果。額外的測試數(shù)據(jù)118可以包括從對器件108中的每個執(zhí)行的額外的測試124獲得的測試結(jié)果。額外的測試數(shù)據(jù)118可以包括其中各個管腳的結(jié)果都被記入日志的測試結(jié)果。
較少的測試數(shù)據(jù)120可以包括從較少的器件126獲得的測試結(jié)果。較少的測試數(shù)據(jù)120可以包括從對每個器件108執(zhí)行的較少的測試128獲得的測試結(jié)果。較少的測試數(shù)據(jù)120可以包括其中各個管腳的結(jié)果未被記入日志的測試結(jié)果。
預定閾值116可以包括器件108的最大故障比率130。預定閾值116可以包括來自器件108的測試數(shù)據(jù)的最大范圍。在一個實施例中,預定閾值116可以由用戶有選擇地配置。
在一個實施例中,與測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量112可以被與預定趨勢134相比較。當統(tǒng)計量112指示出比預定趨勢134更多的故障時,用于有選擇地調(diào)整測試儀104的代碼114可以對測試儀104重新進行調(diào)整來獲得較少的測試數(shù)據(jù)112。
在另一個實施例中,當統(tǒng)計量112在預定趨勢134的給定范圍之外時,用于有選擇地調(diào)整測試儀104的代碼114可以對測試儀104進行重新調(diào)整來獲得額外的測試數(shù)據(jù)118。當統(tǒng)計量112返回到預定趨勢134的給定范圍內(nèi)時,用于有選擇地調(diào)整測試儀104的代碼114可以對測試儀104進行重新調(diào)整來獲得較少的測試數(shù)據(jù)120。
在一個實施例中,系統(tǒng)100可以對諸如產(chǎn)量之類的高層數(shù)據(jù)的統(tǒng)計量112進行跟蹤,并且系統(tǒng)100還可以對諸如標準偏差、Cp、Cpk等的各個測量值的統(tǒng)計量112進行跟蹤。當一個統(tǒng)計量112例如器件產(chǎn)量超出閾值116之外,則系統(tǒng)100可以自動改變對測試儀104的設(shè)置來適當?shù)卦黾颖挥浫肴罩镜臏y試數(shù)據(jù)102的量。如果計算出的統(tǒng)計量112從閾值116外返回到閾值116內(nèi),則系統(tǒng)100可以自動改變對測試儀104的設(shè)置來降低被記入日志的測試數(shù)據(jù)102的量。
現(xiàn)在參考圖5,并且在一個實施例中,該圖示出了用于有選擇地將測試數(shù)據(jù)記入日志的方法500。方法500可以包括利用測試儀對器件執(zhí)行502測試,并且將從器件獲得的測試數(shù)據(jù)記入日志。方法500可以包括對由測試儀獲得的測試數(shù)據(jù)進行監(jiān)控來產(chǎn)生與該測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量。方法500可以包括響應(yīng)于與測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量,有選擇地對測試儀進行調(diào)整來修改從器件獲得的測試數(shù)據(jù)。
在另一個實施例中,方法500可以可選地包括產(chǎn)生對應(yīng)于與測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量的用于對測試儀進行調(diào)整的反饋信號。該反饋信號可以有選擇地對測試儀從器件獲得的測試數(shù)據(jù)進行調(diào)整。
在一個實施例中,對測試數(shù)據(jù)進行監(jiān)控504來產(chǎn)生與測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量的步驟可由測試儀執(zhí)行。在另一個實施例中,對測試數(shù)據(jù)進行監(jiān)控504來產(chǎn)生與測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量的步驟可由控制器執(zhí)行。
在一個實施例中,利用測試儀對器件執(zhí)行502測試的步驟可由自動測試裝備執(zhí)行。
在一個實施例中,方法500可以可選地包括將與測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量與預定閾值相比較510,并且在統(tǒng)計量在預定閾值之外時獲得512額外的測試數(shù)據(jù)。方法500還可以包括在統(tǒng)計量返回到預定閾值內(nèi)時對測試儀重新進行調(diào)整514來獲得較少的測試數(shù)據(jù)。
獲得512額外的測試數(shù)據(jù)的步驟可以包括從額外的器件獲得測試結(jié)果。在另一個實施例中,獲得512額外測試數(shù)據(jù)的步驟包括從對每個器件執(zhí)行的額外測試獲得測試結(jié)果。
對測試儀重新進行調(diào)整514來獲得較少的測試數(shù)據(jù)的步驟可以包括從較少的器件獲得測試結(jié)果。在另一個實施例中,對測試儀重新進行調(diào)整514來獲得較少的測試數(shù)據(jù)的步驟可以包括通過對每個器件執(zhí)行較少的測試獲得測試結(jié)果。
在一個實施例中,在記入日志過程中應(yīng)當對測試數(shù)據(jù)進行監(jiān)控以確定那些測試數(shù)據(jù)應(yīng)當被記入日志。將高層信息記入日志可以涉及跟蹤數(shù)據(jù)趨勢。如果對于整個測試流、或者對于獨立的測試組或測試標識出了失敗趨勢,則可以增加針對整個測試流、或者針對獨立的測試組或測試記入日志的數(shù)據(jù)的量。
在另一個實施例中,單個測試或者整個測試流的細節(jié)結(jié)果可以被記入日志。如果結(jié)果通過范圍或者接近范圍,則可以減少針對整個測試流,或者針對單個測試組或測試正被記入日志的細節(jié)數(shù)據(jù)的量。
在一個實施例中,用戶不必嚴密監(jiān)控測試結(jié)果來確定何時增大或減小數(shù)據(jù)流。類似地,測試儀的將數(shù)據(jù)記入日志的設(shè)置不必由用戶手動改變。
此外,被記入日志的數(shù)據(jù)的量可被定制來僅覆蓋有問題的測試。這可以減少在將需要的測試數(shù)據(jù)記入日志的同時被記入日志的數(shù)據(jù)的量。
權(quán)利要求
1.一種用于有選擇地將測試數(shù)據(jù)102記入日志的系統(tǒng)100,系統(tǒng)100包括用于對由多個器件106產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)102進行監(jiān)控并且用于產(chǎn)生與所述測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量114的代碼110;以及用于響應(yīng)于所述與所述測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量114而有選擇地調(diào)整產(chǎn)生所述測試數(shù)據(jù)102的測試儀104,以修改針對所述多個器件106的由所述測試儀104記入日志的測試數(shù)據(jù)102的代碼114。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)100,還包括對應(yīng)于所述與測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量114的由所述用于有選擇地調(diào)整測試儀104的代碼114產(chǎn)生的反饋信號200,并且其中所述反饋信號200對由所述測試儀104從所述器件106記入日志的所述測試數(shù)據(jù)102進行調(diào)整。
3.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)100,還包括測試儀104,測試儀104用于對所述器件106執(zhí)行測試,并且用于將從所述器件106獲得的測試數(shù)據(jù)102記入日志,并且其中所述測試儀104包含用于監(jiān)控所述測試數(shù)據(jù)102的代碼110,并且所述測試儀104包含用于有選擇地調(diào)整所述測試儀104的代碼。
4.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)100,還包括控制器400,控制器400具有用于對由所述測試儀104獲得的所述測試數(shù)據(jù)102進行監(jiān)控的代碼和用于有選擇地調(diào)整所述測試儀104的代碼,并且其中所述控制器400是與所述測試儀104相分離的。
5.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)100,其中所述測試儀104包含用于監(jiān)控所述測試數(shù)據(jù)102的代碼,并且其中所述測試儀104包含用于有選擇地調(diào)整所述測試儀104的代碼。
6.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)100,其中所述與測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量114被與預定閾值116相比較,其中所述用于有選擇地調(diào)整所述測試儀104的代碼在所述統(tǒng)計量114在所述預定閾值116之外時調(diào)整所述測試儀104以獲得額外的測試數(shù)據(jù)118。
7.如權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)100,其中所述用于有選擇地調(diào)整所述測試儀104的代碼在所述統(tǒng)計量114返回到所述預定閾值116內(nèi)時重新調(diào)整所述測試儀104以獲得較少的測試數(shù)據(jù)102。
8.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)100,其中所述與測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量114被與預定趨勢相比較,并且其中所述用于有選擇地調(diào)整所述測試儀104的代碼在所述統(tǒng)計量114在所述預定趨勢的給定范圍之外時重新調(diào)整所述測試儀104以獲得額外的測試數(shù)據(jù)118。
9.一種用于有選擇地將測試數(shù)據(jù)記入日志的方法500,該方法包括對由多個器件產(chǎn)生的所述測試數(shù)據(jù)進行監(jiān)控504并且產(chǎn)生與所述測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量;以及響應(yīng)于所述與測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量,有選擇地調(diào)整506產(chǎn)生所述測試數(shù)據(jù)的測試儀,以修改從所述器件獲得的所述測試數(shù)據(jù)。
10.如權(quán)利要求9所述的方法,還包括產(chǎn)生506對應(yīng)于所述與測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量的用于有選擇地調(diào)整所述測試儀的反饋信號,其中所述反饋信號有選擇地調(diào)整由所述測試儀從所述器件獲得的所述測試數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明公開了用于有選擇地將測試數(shù)據(jù)102記入日志的系統(tǒng)和方法。在一個實施例中,系統(tǒng)100包括用于對由多個器件106產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)102進行監(jiān)控并且用于產(chǎn)生與測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量114的代碼110;以及用于響應(yīng)于與測試數(shù)據(jù)102相關(guān)的統(tǒng)計量114而有選擇地調(diào)整產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)102的測試儀104,以修改多個器件106的由測試儀104記入日志的測試數(shù)據(jù)102的代碼114。在一個實施例中,方法500包括監(jiān)控504由多個器件產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)并且產(chǎn)生與測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量;以及響應(yīng)于與測試數(shù)據(jù)相關(guān)的統(tǒng)計量,有選擇地調(diào)整506產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)的測試儀,以修改從所述器件獲得的測試數(shù)據(jù)。還公開了其他實施例。
文檔編號G01R31/26GK101067561SQ200710098108
公開日2007年11月7日 申請日期2007年4月13日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月13日
發(fā)明者卡利·康納利, 克里斯汀·N·卡斯特頓 申請人:韋瑞吉(新加坡)私人有限公司