技術(shù)編號：6128354
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及。背景技術(shù) 對于對片上系統(tǒng)(SOC)器件進(jìn)行測試，可以將大量的信息記入日志。單次測試可以獲得許多參數(shù)式測量數(shù)據(jù)。所有這些測量數(shù)據(jù)都可能要與相應(yīng)的測試限制一起被記入日志。這可能要花費大量的時間、系統(tǒng)存儲器和文件空間。在生產(chǎn)和測試過程穩(wěn)定時，用戶可能僅需要獲得概況信息。一般而言，當(dāng)在生產(chǎn)或者利用測試儀進(jìn)行測試時發(fā)生問題時，可能需要更詳細(xì)的信息來確定該問題。一般來說，用戶僅將對測試儀獲得的詳細(xì)信息的采樣記入日志。例如，用戶可能將每第五個被測器件的詳細(xì)信...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。