專利名稱：Max724芯片檢測電路及其檢測方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種MAX724芯片檢測電路及其檢測方法。
背景技術：
相對于線性穩(wěn)壓器來說，開關電源在計算機主板上、工控機主板和各 種各樣的電路板上起著電壓變換的作用。例如電路板上只有DC24V電壓， 但是，還需要Dc5V/2A的電源，這么高的壓降，使用線性穩(wěn)壓器顯然不合 適，如果使用DC/DC模塊，成本太高，體積也比較大，所以，得選用一款 芯片完成這個功能。MAX724這款芯片就A^電壓變換作用的，且因其輸入 只要在它的允許的范圍內(nèi)波動，或者負載在變化,輸出DC5V電源十分穩(wěn)定， 所以其選用一直得到用戶的睛睞?？vMAX724這款芯片有良好的性能，但卻 不能確倮其有良好的品質，所以在使用前，用戶一般需檢測其品質是否優(yōu) 良，因此設計出一套能檢測MAX724這款芯片品質優(yōu)劣的檢測裝置或;f全測方 法勢在必行。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有技術中用戶只能靠直接使用而在使用過程中才能發(fā)現(xiàn) MAX724這款芯片優(yōu)劣的技術問題,本發(fā)明提供了一種能夠能方便快速地檢 測MAX724功能是否正常的MAX724芯片檢測電路及其檢測方法。
本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是 一種MAX724芯片檢測 電路，包括一個電感、 一個電位器、 一個電阻及一個二極管，所述電感、 電位器、電阻及二極管串聯(lián)連接成回路，MAX724芯片的兩引腳并聯(lián)接入所 述回路中。
本發(fā)明進一步解決技術問題的方聿是所述回路中電感、電位器、電 阻和二極管依次連接，所述檢測電路包括一電容并聯(lián)在所述回路中，其中 電容的兩端分別接在回路中電感與電位器之間及電阻與二極管之間。
本發(fā)明進一步解決技術問題的方案是所述電感值為68uH,所述電容 為電解電容。
本發(fā)明進一步解決技術問題的方案是所述檢測電路中還包括由一個 電阻及一個電容串聯(lián)形成的補償電路。
本發(fā)明進一步解決技術問題的方案是所述電容為瓷片電容。本發(fā)明進一步解決技術問題的方案是所述補償電路中還串聯(lián)接有電 源輸入插座及開關。
本發(fā)明進一步解決技術問題的方案是所述補償電路中還并聯(lián)接入至 少一個電解電容。
本發(fā)明解決其技術問題所采用的另一技術方案是 一種檢測MAX724 芯片的方法，主要包括以下步驟
提供一個電路，接入MAX724的引腳；
打開電路中的開關；
調(diào)節(jié)電路中的電位器；
讀取MAX724的電壓值是否在所需電壓范圍內(nèi)。
本發(fā)明進一步解決技術問題的方案是所述電路包括由一個電感、一 個電位器、 一個電阻及一個二極管串聯(lián)連接成的回路。
相較于現(xiàn)有技術，采用上述技術方案，本發(fā)明的有益效果是測試電 路可通過調(diào)節(jié)50KO電位器，測試MAX724輸出電壓范圍是否在2. 5V-35V 之間；其電路結構簡單，操作方法簡單，使用方便，檢測結果可信。


圖l是本發(fā)明芯片的檢測裝置的電路圖。
具體實施例方式
結合上述的

本發(fā)明的各種實施例。
本發(fā)明檢測裝置包括待測的MAX724芯片1及檢測該芯片1的電路板， 該電路板的電路圖如圖1所示。其包括由50KQ電位器10、 68uH電感20、 R2電阻30、 100S20B二極管40組成的回路；在電路中，50KQ電位器10 為可調(diào)電位器，該電位器10與R2電阻30組成分壓電路，共同控制MAX724 芯片1的輸出電壓；68uH電感20用于輸出端濾波及儲能；R2電阻30用于 Fb反饋端的電壓釆樣；100S20B二極管40用于輸出端的續(xù)流。在上述回路 中的電感20與電位器IO之間及電阻30與二極管40之間引出連線并聯(lián)接 入電解電容C3，該電容用于輸出端的濾波。在電感20與二極管40之間及 電位器10與電阻30之間分別引出連線接入MAX724芯片1的接腳。
在電路中，另包括SW開關50和2510-2P插座60,以及電阻R1及乾 片電容C4，其中，SW開關50作為輸入電源的開關使用，2510-2插座60 為輸入電源的接口；電阻R1及乾片電容C4用于電路補償。在該補償電路中分別并聯(lián)接入兩個100uF/50V電解電容C1、 C2，作為輸入端濾波電容， 本發(fā)明采用兩個電解電容C1、 C2并聯(lián)，可以增大容量，同時可減小ESD。 本發(fā)明釆用上述檢測電路檢測MAX724芯片的方法，主要包括以下步
驟
提供一個電路，接入MAX724的四個引腳；
打開電路中的開關；
調(diào)節(jié)電路中的電位器；
讀取MAX724的電壓值是否在所需電壓范圍內(nèi)。
本發(fā)明測試裝置可通過調(diào)節(jié)50KQ電位器10，測試MAX724芯片的輸 出電壓范圍是否在2. 5V-35V之間，使用方便、操作簡單、檢測結果可信。
以上內(nèi)容是結合具體的優(yōu)選實施方式對本發(fā)明所作的進一步詳細說 明，不能認定本發(fā)明的具體實施只局限于這些說明。對于本發(fā)明所屬技術 領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明構思的前提下，還可以做出若 干簡單推演或替換，都應當視為屬于本發(fā)明的保護范圍。
權利要求
1. 一種MAX724芯片檢測電路，其特征在于包括一個電感、一個電位器、一個電阻及一個二極管，所述電感、電位器、電阻及二極管串聯(lián)連接成回路，MAX724芯片的兩引腳并聯(lián)接入所述回路中。
2. 根據(jù)權利要求1所述的檢測電路，其特征在于所述回路中電感、 電位器、電阻和二極管依次連接，所述檢測電路包括一電容并聯(lián)在所述回 路中，其中電容的兩端分別接在回路中電感與電位器之間及電阻與二極管 之間。
3. 根據(jù)權利要求2所述的檢測電路，其特征在于所述電感值為68uH， 所述電容為電解電容。
4. 根據(jù)權利要求1所述的檢測電路，其特征在于所述檢測電路中 還包括由一個電阻及一個電容串聯(lián)形成的補償電路。
5. 根據(jù)權利要求4所述的檢測電路，其特征在于所述電容為瓷片 電容。
6. 根據(jù)權利要求4或5所述的檢測電路，其特征在于所述補償電 路中還串聯(lián)接有電源輸入插座及開關。
7. 根據(jù)權利要求6所述的檢測電路，其特征在于所述補償電路中 還并聯(lián)接入至少一個電解電容。
8. —種檢測MAX724芯片的方法，其特征在于 提供一個電路，接入MAX724的引腳； 打開電路中的開關； 調(diào)節(jié)電路中的電位器；讀取MAX724的電壓值是否在所需電壓范圍內(nèi)。
9. 根據(jù)權利要求8所述的檢測方法，其特征在于所述電路包括由 一個電感、 一個電位器、 一個電阻及一個二極管串聯(lián)連接成的回路。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種MAX724芯片檢測電路，包括一個電感、一個電位器、一個電阻及一個二極管，所述電感、電位器、電阻及二極管串聯(lián)連接成回路，MAX724芯片的兩引腳并聯(lián)接入所述回路中。本發(fā)明另公開一種通過上述電路對芯片進行檢測的檢測方法。本發(fā)明檢測電路簡單、檢測方法操作也簡單，所以使用方便、檢測結果可信。
文檔編號G01R31/00GK101452026SQ200710077538
公開日2009年6月10日 申請日期2007年11月30日 優(yōu)先權日2007年11月30日
發(fā)明者政 張, 高云峰 申請人:深圳市大族激光科技股份有限公司