專利名稱：電容量測的信號產(chǎn)生電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種信號產(chǎn)生電路，特別是涉及一種用于量測電容的信號產(chǎn) 生器。
背景技術(shù)：
利用電容充電原理進(jìn)行電容值量測時(shí)，通常需要兩組周期相同，但極性 不同的信號，用來控制電容充電與放電的時(shí)間，其信號周期愈短，也就是頻 率愈高，所能測量到的電容值愈小，測量結(jié)果也愈準(zhǔn)確。然而，在傳統(tǒng)的測量技術(shù)中，通常需要藉由信號產(chǎn)生儀器，如安捷倫(Agilent) 81110A的信號產(chǎn)生器，來產(chǎn)生所需要的量測信號。但一般的信 號產(chǎn)生儀器所能產(chǎn)生的信號頻率不高，當(dāng)電容的電容值較小時(shí)，即無法準(zhǔn)確 量測。而頻率愈高的信號產(chǎn)生器，其價(jià)格也愈高，且在使用高頻信號量測芯 片上的電容(如MIM電容)時(shí)，通常需要高頻傳輸線、高頻接頭，甚至需 要高頻的量測探針與量測平臺等，這就造成了量測上的不便與量測成本的上 升。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的其中之一是在提供一種信號產(chǎn)生電路，結(jié)合振蕩電路與邏 輯運(yùn)算電路，以電路取代儀器，產(chǎn)生量測電容所需的量測信號，增加量測方 便性。本發(fā)明的目的其中之一是在提供一種信號產(chǎn)生電路，可直接將信號產(chǎn)生 電路與待測電容整合在同一芯片上，藉以產(chǎn)生更高頻的量測信號，以便量測 更小的電容值。并使量測結(jié)果更準(zhǔn)確。本發(fā)明的目的其中之一是在提供一種電容量測電路，不需外接信號產(chǎn)生 器即可直接產(chǎn)生量測所需的量測信號，并可將此電容量測電路直接與待測電 容整合于同一芯片上，降低量測成本與增加量測方便性。為實(shí)現(xiàn)上述與其它目的，本發(fā)明提出一種信號產(chǎn)生電路，用以產(chǎn)生一電
容量測信號，此電容量測信號具有第一測試信號與第二測試信號。上述的信 號產(chǎn)生電路包括時(shí)鐘產(chǎn)生單元、分頻器以及邏輯運(yùn)算單元。其中，時(shí)鐘產(chǎn)生 單元，用以產(chǎn)生時(shí)鐘信號，而分頻器耦接于時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對時(shí)鐘信號 進(jìn)行分頻，并輸出分頻信號。邏輯運(yùn)算單元?jiǎng)t耦接至?xí)r鐘產(chǎn)生單元與分頻器， 用以對時(shí)鐘信號與分頻信號進(jìn)行邏輯運(yùn)算，并輸出上述的第 一測試信號與第 二測試信號。為實(shí)現(xiàn)上述與其它目的，本發(fā)明提出一種信號產(chǎn)生電路，包括時(shí)鐘產(chǎn)生 單元、分頻器以及或非門。時(shí)鐘產(chǎn)生單元用以產(chǎn)生時(shí)鐘信號，而分頻器耦接 于時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對時(shí)鐘信號進(jìn)行分頻，并輸出一分頻信號?；蚍情T則 耦接至?xí)r鐘產(chǎn)生單元與分頻器，用以對時(shí)鐘信號與分頻信號進(jìn)行反或邏輯運(yùn) 算，并輸出一第一測試信號。為實(shí)現(xiàn)上述與其它目的，本發(fā)明提出一種信號產(chǎn)生電路，包括時(shí)鐘產(chǎn)生單元、分頻器、反相器以及或非門(NORgate)。其中，時(shí)鐘產(chǎn)生單元用以 產(chǎn)生一時(shí)鐘信號。分頻器耦接于時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對時(shí)鐘信號進(jìn)行分頻， 并輸出分頻信號。反相器耦接至分頻器，用以反相上述的分頻信號，并輸出 反相分頻信號?；蚍情T耦接至反相器與時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對反相分頻信號 與時(shí)鐘信號進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算，并經(jīng)由輸出反相器輸出第二測試信號。為實(shí)現(xiàn)上述與其它目的，本發(fā)明提出一種電容量測電路，適用于量測一 電容的電容值，上述的電容量測電路包括信號產(chǎn)生電路與充放電單元。上述 的信號產(chǎn)生電路，用以輸出第一測試信號與第二測試信號。而放電單元耦接 至信號產(chǎn)生電路，根據(jù)第二測試信號，產(chǎn)生一充電電流，用以對該電容進(jìn)行 充電，并根據(jù)第一測試信號對電容進(jìn)行放電的操作。其中，第一測試信號與 第二測試信號具有相同的時(shí)鐘周期，上述的電容量測電路根據(jù)充電電流與上 述的時(shí)鐘周期，計(jì)算該電容的電容值。在本發(fā)明一實(shí)施例中，上述的信號產(chǎn)生電路包括時(shí)鐘產(chǎn)生單元、分頻器 以及邏輯運(yùn)算單元。其中，時(shí)鐘產(chǎn)生單元用以產(chǎn)生時(shí)鐘信號，分頻器耦接于 時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對時(shí)鐘信號進(jìn)行分頻，并輸出分頻信號。邏輯運(yùn)算單元 耦接至?xí)r鐘產(chǎn)生單元與分頻器，用以對時(shí)鐘信號與分頻信號進(jìn)行邏輯運(yùn)算， 并輸出第 一測試信號與第二測試信號。在本發(fā)明一實(shí)施例中上述的邏輯運(yùn)算單元包括或非門，耦接至?xí)r鐘產(chǎn)生 單元與分頻器，用以對上述的時(shí)鐘信號與分頻信號進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算，并輸
出上述的第一測試信號。在本發(fā)明 一 實(shí)施例中上述的邏輯運(yùn)算單元包括反相器以及或非門。其 中，上述的反相器耦接至分頻器，用以反相上述的分頻信號，并輸出一反相 分頻信號。上述的或非門耦接至反相器的輸出端與時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對上 述的反相分頻信號與時(shí)鐘信號進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算，并經(jīng)由 一輸出反相器輸出 第二測試信號。本發(fā)明因直接以電路方式，產(chǎn)生量測電容所需的量測信號，因此，可直 接與待測電容整合于同 一 芯片上，不需外接信號產(chǎn)生儀器便可進(jìn)行電容量 測，不僅降低電容量測成本，更增加了量測方便性。為使本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉本 發(fā)明的較佳實(shí)施例，并結(jié)合附圖詳細(xì)說明如下。


圖1為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的電容量測電路的方塊圖。圖2為根據(jù)本實(shí)施例的信號產(chǎn)生電路的電路圖。圖3為根據(jù)本實(shí)施例的信號波形圖。圖4為根據(jù)本實(shí)施例的時(shí)鐘產(chǎn)生單元的電路5為根據(jù)本實(shí)施例的分頻器的電路圖。圖6為根據(jù)本實(shí)施例的充放電單元的電路圖。附圖符號說明 DD:工作電壓 VSS:接地端 CKS:時(shí)鐘信號 DKS:分頻信號 IDKS:反相分頻信號 TN+ 、 TP+:正半周期 TP-、 TP-:負(fù)半周期 Tl、 T2:時(shí)間 SN、 SP:測試信號 EN:致能信號 ICKS:反相時(shí)鐘信號Pl、P2: P型晶體管Nl、N2: N型晶體管11:參考電流12:充電電#b110電容量測電路120信號產(chǎn)生單電路130充放電單元140電容210時(shí)鐘產(chǎn)生單元220分頻器232、 236:或非門234反相器238輸出反相器401~40N:反相單元520~ 550:反相器525~ 555:開關(guān)組件具體實(shí)施方式
圖1為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的電容量測電路的方塊圖。如圖1所示，電容量測電路110包括信號產(chǎn)生電路120與充放電單元130。信號產(chǎn)生電路120 輸出第一測試信號SN (以下簡稱測試信號SN)與第二測試信號SP (以下 簡稱測試信號SP)至充放電單元130,而充放電單元130則耦接于電容140， 根據(jù)測試信號SP產(chǎn)生 一 充電電流，用以對電容140進(jìn)行充電，并根據(jù)測試 信號SN對電容進(jìn)行放電的操作。進(jìn)而利用其充放電的電流與測試信號SN、 SP的周期，計(jì)算電容140的電容值。接下來，進(jìn)一步說明本實(shí)施例細(xì)部的電路架構(gòu)，圖2為根據(jù)本實(shí)施例的 信號產(chǎn)生電路的電路圖。信號產(chǎn)生電路120包括時(shí)鐘產(chǎn)生單元210、分頻器 220與邏輯運(yùn)算單元230。時(shí)鐘產(chǎn)生單元210耦接于分頻器220的輸入端， 并輸出一時(shí)鐘信號CKS至分頻器220,而經(jīng)由分頻操作后，分頻器220產(chǎn)生 一分頻信號DKS。在本實(shí)施例中，分頻器220將時(shí)鐘信號CKS除以2,進(jìn) 而產(chǎn)生頻率僅有時(shí)鐘信號CKS1 —半的分頻信號DKS。邏輯運(yùn)算單元230則耦接至?xí)r鐘產(chǎn)生單元210與分頻器220，用以對時(shí) 鐘信號CKS與分頻信號DKS進(jìn)行邏輯運(yùn)算，并輸出測試信號SN與測試信 號SP。邏輯運(yùn)算單元230包括或非門232、 236以及反相器234、輸出反相 器238。其中，或非門232耦接至?xí)r鐘產(chǎn)生單元210與分頻器220,用以對 時(shí)鐘信號CKS與分頻信號DKS進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算，并輸出測試信號SN。 反相器234耦接至分頻器220,用以反相分頻信號DKS，并輸出一反相分頻 信號IDKS。或非門236則耦接至反相器234與時(shí)鐘產(chǎn)生單元210,用以對 反相分頻信號IDKS與時(shí)鐘信號CKS進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算，并經(jīng)由一輸出反相 器238輸出測試信號SP。接下來，結(jié)合波形圖說明本實(shí)施例的信號波形，圖3為根據(jù)本實(shí)施例的 信號波形圖。以下說明請同時(shí)參照圖2，時(shí)鐘產(chǎn)生單元210所產(chǎn)生的時(shí)鐘信 號CKS則如圖3所示為一時(shí)鐘，經(jīng)由分頻器220進(jìn)行分頻后(:本實(shí)施例為 除以2),則產(chǎn)生分頻信號DKS，其頻率僅為時(shí)鐘信號CKS的一半。由于測試信號SN是經(jīng)由或非門232進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算的結(jié)果，因此， 僅有當(dāng)時(shí)鐘信號CKS與分頻信號DKS皆處于邏輯低電位時(shí)，測試信號SN 才產(chǎn)生邏輯高電位的信號(如時(shí)間Tl所示)，其波形圖則如圖3的測試信 號SN所示。而反相分頻信號IDKS則是分頻信號DKS經(jīng)由反相而得。由于 測試信號SP是經(jīng)由反相分頻信號IDKS與時(shí)鐘信號CKS進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算 后，再將其反相而產(chǎn)生。因此，僅有當(dāng)反相分頻信號IDKS與時(shí)鐘信號CKS 皆為邏輯低電位時(shí)，測試信號SP才會產(chǎn)生邏輯低電位的信號(如時(shí)間T2 所示)。因此，經(jīng)由圖3可明顯得知，在本實(shí)施例中，測試信號SN的負(fù)半周期 TN-大于正半周期TN+,而測試信號SP的正半周期TP+大于正半周期TP-。 且測試信號SN與測試信號SP具有相同的時(shí)鐘周期。圖4為根據(jù)本實(shí)施例的時(shí)鐘產(chǎn)生單元的電路圖，在本實(shí)施例中，利用一 環(huán)形振蕩器的電路架構(gòu)，產(chǎn)生時(shí)鐘信號CKS。當(dāng)然，本發(fā)明的時(shí)鐘信號CKS 的產(chǎn)生方式并不限定于環(huán)形振蕩器的架構(gòu)，只要能提供穩(wěn)定時(shí)鐘信號的電路的電^各架構(gòu)，在此不加累述。時(shí)鐘產(chǎn)生單元210中主要包括奇數(shù)個(gè)反相單元401 ~40N。其中，在本 實(shí)施例中的反相單元401可為與非門(NANDgate)，可藉由一致能信號EN, 來控制時(shí)鐘產(chǎn)生單元210的振蕩與否。當(dāng)致能信號EN為邏輯高電位時(shí)，反 相單元401的功效與反相器相似，因而使時(shí)鐘產(chǎn)生單元210開始振蕩，并輸 出時(shí)鐘信號CKS，若致能信號EN為邏輯低電位時(shí)，則停止輸出時(shí)鐘信號 CKS。圖5為根據(jù)本實(shí)施例的分頻器的電路圖。分頻器220包括反相器510 ~ 550以及開關(guān)組件525 ~ 555。其中，每一開關(guān)組件525 ~ 555皆具有一正接 收端與一負(fù)接收端。在本實(shí)施例中，當(dāng)正接收端為邏輯高電位，而負(fù)接收端 為邏輯低電位時(shí)，則導(dǎo)通開關(guān)，反之，則開關(guān)組件525 ~ 555呈現(xiàn)關(guān)閉狀態(tài)。 當(dāng)然，在本發(fā)明另一實(shí)施例中，亦可依照設(shè)計(jì)需求，設(shè)定為當(dāng)正接收端為邏 輯低電位，而負(fù)接收端為邏輯高電位時(shí)，則導(dǎo)通開關(guān)，反的，則開關(guān)組件525 ~ 555呈現(xiàn)關(guān)閉狀態(tài)。如圖5所示，時(shí)鐘信號CKS經(jīng)由反相器510,輸出 一反相時(shí)鐘信號ICKS, 其信號極性與時(shí)鐘信號CKS相反。開關(guān)組件525、 555的正接收端耦接反相 時(shí)鐘信號ICKS,而其負(fù)接收端耦接至?xí)r鐘信號CKS。開關(guān)組件535、 545 的正接收端耦接至?xí)r鐘信號CKS,而其負(fù)接收端耦接至反相時(shí)鐘信號ICKS。 因此，當(dāng)時(shí)鐘信號CKS為邏輯高電位時(shí)，開關(guān)組件545、 535導(dǎo)通，進(jìn)而造 成分頻信號DKS的邏輯電位改變(如由邏輯高電位變?yōu)檫壿嫷碗娢唬蚴?由邏輯低電位變?yōu)檫壿嫺唠娢?。當(dāng)時(shí)鐘信號CKS為邏輯低電位時(shí)，則開關(guān)組件525、 555導(dǎo)通，反相器 520的輸入端耦接至反相器555的輸出端，因此，反相器520輸出與分頻信 號DKS相同的邏輯信號。而當(dāng)時(shí)鐘信號CKS再次為邏輯高電位時(shí)，則分頻 信號DKS的邏輯電位改變。因此，分頻信號DKS的周期為時(shí)鐘信號CKS 的兩倍，即頻率為1/2倍。圖5僅為本發(fā)明一實(shí)施例的分頻器的電路圖，本發(fā)明并不以此為限，亦 可使用其它電路結(jié)構(gòu)的分頻器，如D型觸發(fā)器(D flip flop)等。本領(lǐng)域的 技術(shù)人員經(jīng)由本發(fā)明的披露，應(yīng)可以輕易推知其余適用的電路架構(gòu)與實(shí)施細(xì) 節(jié)，在此不加累述。經(jīng)由上述圖2、 3、 4、 5的說明，已經(jīng)明確說明本實(shí)施例中測試信號SN、 SP的電路架構(gòu)與信號波形。接下來，進(jìn)一步說明本實(shí)施例的充放電單元130， 以下說明請同時(shí)參照圖1。圖6為根據(jù)本實(shí)施例的充放電單元的電路圖。充
放電單元130包括第一P型晶體管P1 (以下簡稱P型晶體管Pl )、第二P型晶體管P2(以下簡稱P型晶體管P2)、第一N型晶體管N1 (以下簡稱N 型晶體管N1)、第二N型晶體管N2 (以下簡稱N型晶體管N2)。其中P 型晶體管Pl與第N型晶體管串聯(lián)耦接于工作電壓VDD與接地端VSS之間， 其中P型晶體管Pl的柵極耦接于測試信號SP,并產(chǎn)生一參考電流I,，而N 型晶體管Nl的柵極耦接至測試信號SN。P型晶體管P2與N型晶體管N2串聯(lián)耦接于工作電壓VDD與接地端 VSS之間。而電容140 (在本實(shí)施例中以一指差式的電容為例作為說明)耦 接于P型晶體管P2與N型晶體管N2的共享節(jié)點(diǎn)與接地端VSS之間。其中， P型晶體管P2的柵極耦接于測試信號SP，并根據(jù)測試信號SP，產(chǎn)生充電電 流12。而N型晶體管N2的柵極耦接至測試信號SN,并根據(jù)測試信號SN, 對電容140進(jìn)行放電的操作，電容量測電路110根據(jù)充電電流12、參考電流 I,與上述的測試信號SN、 SP的時(shí)鐘周期，計(jì)算電容140的電容值。其計(jì)算 公式如下<formula>formula see original document page 12</formula>C:電容值 I,:參考電流 12:充電電沫u VDD:工作電壓 Fre:測試信號的頻率由于電容所儲存的電荷量與其兩端的電壓差成正比，而所儲存的電荷量 則與單位時(shí)間流入電容的電流成正比。而單位時(shí)間流入電容的電流則可以充電電流I2與參考電流I,之差，并除以測試信號的頻率來表示。而電容值乘以 電容兩端的電壓則等于電容內(nèi)所儲存的電荷量。因此，可藉由上式公式求得 待測電容的電容值。綜合上述，本發(fā)明因直接設(shè)計(jì)信號產(chǎn)生電路，用以產(chǎn)生量測電容時(shí)所需 的量測信號，因此，不只可直接與量測電路或是待測電容整合于同一芯片上， 增加量測方便性。還可在不需要信號產(chǎn)生儀器的情況下量測電容，且可提供 更高的量測信號頻率，以取得更準(zhǔn)確的電容值量測數(shù)據(jù)。
雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例披露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，本領(lǐng) 域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下可作若千的更動與潤 飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍以本發(fā)明的權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種信號產(chǎn)生電路，用以產(chǎn)生一電容量測信號，該電容量測信號具有一第一測試信號與一第二測試信號，該信號產(chǎn)生電路包括一時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以產(chǎn)生一時(shí)鐘信號；一分頻器，耦接于該時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對該時(shí)鐘信號進(jìn)行分頻，并輸出一分頻信號；以及一邏輯運(yùn)算單元，耦接至該時(shí)鐘產(chǎn)生單元與該分頻器，用以對該時(shí)鐘信號與該分頻信號進(jìn)行邏輯運(yùn)算，并輸出該第一測試信號與該第二測試信號。
2. 如權(quán)利要求1所述的信號產(chǎn)生電路，其中該時(shí)鐘產(chǎn)生單元包括一環(huán)形 振蕩器。
3. 如權(quán)利要求1所述的信號產(chǎn)生電路，其中該邏輯運(yùn)算單元包括 一或非門，耦接至該時(shí)鐘產(chǎn)生單元與該分頻器，用以對該時(shí)鐘信號與該分頻信號進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算，并輸出該第 一測試信號。
4. 如權(quán)利要求1所述的信號產(chǎn)生電路，其中該邏輯運(yùn)算單元包括 一反相器，耦接至該分頻器，用以反相該分頻信號，并輸出一反相分頻信號；一或非門，耦接至該反相器與該時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對該反相分頻信號 與該時(shí)鐘信號進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算，并經(jīng)由一輸出反相器輸出該第二測試信
5. 如權(quán)利要求1所述的信號產(chǎn)生電路，其中該第一測試信號的負(fù)半周期 大于該第 一 測試信號的正半周期。
6. 如權(quán)利要求1所述的信號產(chǎn)生電路，其中該第二測試信號的正半周期 大于該第二測試信號的負(fù)半周期。
7. 如權(quán)利要求1所述的信號產(chǎn)生電路，其中該第一測試信號與該第二測 試信號的周期相同，且該第 一測試信號的正半周期小于該第二測試信號的負(fù) 半周期。
8. —種信號產(chǎn)生電路，包括 一時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以產(chǎn)生一時(shí)鐘信號；一分頻器，耦接于該時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對該時(shí)鐘信號進(jìn)行分頻，并輸 出一分頻信號；以及 一或非門，耦接至該時(shí)鐘產(chǎn)生單元與該分頻器，用以對該時(shí)鐘信號與該 分頻信號進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算，并輸出一第一測試信號。
9.如權(quán)利要求8所述的信號產(chǎn)生器，其中該時(shí)鐘產(chǎn)生單元包括一環(huán)形振蕩器。
10.如權(quán)利要求8所述的信號產(chǎn)生器，其中該第一測試信號負(fù)半周期大于 該第一測試信號的正半周期。
11.—種信號產(chǎn)生電路，包括 一時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以產(chǎn)生一時(shí)鐘信號；一分頻器，耦接于該時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對該時(shí)鐘信號進(jìn)行分頻，并輸 出一分頻信號；一反相器，耦接至該分頻器，用以反相該分頻信號，并輸出一反相分頻 信號；以及一或非門，耦接至該反相器與該時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對該反相分頻信號 與該時(shí)鐘信號進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算，并經(jīng)由 一輸出反相器輸出 一 第二測試信
12. 如權(quán)利要求8所述的信號產(chǎn)生器，其中該時(shí)鐘產(chǎn)生單元包括一環(huán)形振蕩器。
13. 如權(quán)利要求8所述的信號產(chǎn)生器，其中該第二測試信號正半周期大于 該第二測試信號的負(fù)半周期。
14. 一種電容量測電路，適用于量測一電容的電容值，該電容量測電路包括一信號產(chǎn)生電路，用以輸出一第一測試信號與一第二測試信號；以及 一充放電單元，耦接至該信號產(chǎn)生電路，根據(jù)該第二測試信號，產(chǎn)生一充電電流，用以對該電容進(jìn)行充電，并根據(jù)該第一測試信號，對該電容進(jìn)行放電的操作；其中，該第一測試信號與該第二測試信號具有相同的時(shí)鐘周期，該電容 量測電路根據(jù)該充電電流與上述的時(shí)鐘周期，計(jì)算該電容的電容值。
15. 如權(quán)利要求14所述的電容量測電路，其中該信號產(chǎn)生電路包括 一時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以產(chǎn)生一時(shí)鐘信號；一分頻器，耦接于該時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對該時(shí)鐘信號進(jìn)行分頻，并輸 出一分頻信號；以及 一邏輯運(yùn)算單元，耦接至該時(shí)鐘產(chǎn)生單元與該分頻器，用以對該時(shí)鐘信 號與該分頻信號進(jìn)行邏輯運(yùn)算，并輸出該第 一測試信號與該第二測試信號。
16. 如權(quán)利要求15所述的電容量測電路，其中該時(shí)鐘產(chǎn)生單元包括一環(huán)形振蕩器。
17. 如權(quán)利要求15所述的電容量測電路，其中該邏輯運(yùn)算單元包括 一或非門，耦接至該時(shí)鐘產(chǎn)生單元與該分頻器，用以對該時(shí)鐘信號與該分頻信號進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算，并輸出該第一測試信號。
18. 如權(quán)利要求i5所述的電容量測電路，其中該邏輯運(yùn)算單元包括 一反相器，耦接至該分頻器，用以反相該分頻信號，并輸出一反相分頻信號；一或非門，耦接至該反相器與該時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對該反相分頻信號 與該時(shí)鐘信號進(jìn)行反或邏輯運(yùn)算，并經(jīng)由 一輸出反相器輸出該第二測試信
19. 如權(quán)利要求15所述的電容量測電路，其中該第一測試信號的負(fù)半周 期大于該第一測試信號的正半周期。
20. 如權(quán)利要求15所述的電容量測電路，其中該第二測試信號的正半周 期大于該第二測試信號的負(fù)半周期。
21. 如權(quán)利要求15所述的電容量測電路，其中該第一測試信號與該第二 測試信號的周期相同，且該第一測試信號的正半周期小于該第二測試信號的 負(fù)半周期。
22. 如權(quán)利要求14所述的電容量測電路，其中該充放電單元包括 一第一P型晶體管，與一第一N型晶體管串聯(lián)耦接于一工作電壓與一接地端之間；其中，該第一P型晶體管的柵極耦接于該第二測試信號，并產(chǎn)生一參考 電流，而該第一 N型晶體管的柵極耦接至該第一測試信號。
23. 如權(quán)利要求22所述的電容量測電路，其中該充放電單元包括 一第二 P型晶體管，與一第二 N型晶體管串聯(lián)耦接于該工作電壓與該接地端之間，該電容耦接于該第二 P型晶體管與該第二 N型晶體管的共享節(jié)點(diǎn) 與該接地端之間；其中，該第二P型晶體管的柵極耦接于該第二測試信號，并根據(jù)該第二 測試信號，產(chǎn)生該充電電流，該第二N型晶體管的柵極耦接于該第一測試信 號,、并根據(jù)該第一測試信號對該電容進(jìn)行放電的操作，該電容量測電路根據(jù) 該無電電流、參考電流與上述的時(shí)鐘周期，計(jì)算該電容的電容值。
全文摘要
一種電容量測的信號產(chǎn)生電路，用以產(chǎn)生一電容量測信號，電容量測信號具有第一測試信號與第二測試信號，上述的信號產(chǎn)生電路包括時(shí)鐘產(chǎn)生單元、分頻器以及邏輯運(yùn)算單元。時(shí)鐘產(chǎn)生單元用以產(chǎn)生一時(shí)鐘信號，而分頻器耦接于時(shí)鐘產(chǎn)生單元，用以對時(shí)鐘信號進(jìn)行分頻，并輸出分頻信號。邏輯運(yùn)算單元?jiǎng)t耦接至?xí)r鐘產(chǎn)生單元與分頻器，用以對時(shí)鐘信號與分頻信號進(jìn)行邏輯運(yùn)算，并輸出第一測試信號與第二測試信號。
文檔編號G01R27/26GK101118252SQ20061010840
公開日2008年2月6日 申請日期2006年8月2日 優(yōu)先權(quán)日2006年8月2日
發(fā)明者吳幸芝, 莊仁吉, 廖御杰, 楊春龍 申請人:力晶半導(dǎo)體股份有限公司