專利名稱：用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本

發(fā)明內(nèi)容
涉及計(jì)算機(jī)硬件設(shè)備，特別是用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備以及相應(yīng)的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
目前，每塊計(jì)算機(jī)主板上都有多個(gè)插槽，例如PCI(外部設(shè)備互連，Peripheral Component Interconnect)插槽，或者PCI-X插槽，或者PCI-E(PCI Express)插槽。計(jì)算機(jī)制造商為了保證計(jì)算機(jī)主板上每一個(gè)插槽的可用性、穩(wěn)定性，在對(duì)計(jì)算機(jī)主板產(chǎn)品出廠前必須對(duì)每一塊主板的每一個(gè)插槽進(jìn)行足夠的功能測(cè)試?，F(xiàn)在比較常用的測(cè)試方法是購(gòu)買一定數(shù)量的與主板插槽相適應(yīng)的設(shè)備，例如對(duì)于PCI插槽就購(gòu)買相應(yīng)的PCI設(shè)備，并使用這些設(shè)備對(duì)相應(yīng)的主板插槽進(jìn)行測(cè)試。例如使用PCI網(wǎng)卡來(lái)做網(wǎng)卡測(cè)試，從而證實(shí)PCI插槽是否符合要求。
目前而言，多數(shù)計(jì)算機(jī)主板上的插槽都是PCI插槽，或者PCI-X插槽，或者PCI-E插槽中的一種，之所以PCI插槽被廣泛應(yīng)用，是因?yàn)槠渚哂?32MB/S的數(shù)據(jù)傳輸率及很強(qiáng)的負(fù)載能力，可適用于多種硬件平臺(tái)，同時(shí)兼容ISA、EISA總線，具有強(qiáng)大的生命力。而PCI-X作為PCI總線的一種擴(kuò)展架構(gòu)，其頻率不像PCI那樣固定，而是可隨設(shè)備的變化而變化，因此也被廣泛應(yīng)用。PCI-E則屬于第三代I/O(輸入/輸出)總線，其基于串行技術(shù)，是最新的接口技術(shù)，具有高帶寬。因此，上述三種插槽在計(jì)算機(jī)產(chǎn)業(yè)中被廣泛應(yīng)用。
以上述三種插槽為例，上述測(cè)試方法相當(dāng)于將一實(shí)際應(yīng)用的PCI設(shè)備、PCI-X設(shè)備或PCI-E設(shè)備用在計(jì)算機(jī)主板上并對(duì)PCI插槽、PCI-X插槽或PCI-E插槽進(jìn)行測(cè)試，如果能通過測(cè)試，自然證明PCI插槽、PCI-X插槽和PCI-E插槽是滿足要求的。但這樣的測(cè)試方法存在很多缺點(diǎn)，例如成本高，因?yàn)樯鲜隹梢杂糜趯?shí)際應(yīng)用的、具有一定功能的PCI設(shè)備、PCI-X設(shè)備和PCI-E設(shè)備價(jià)格比較高，用它們來(lái)對(duì)PCI插槽、PCI-X插槽或PCI-E插槽進(jìn)行測(cè)試不是最經(jīng)濟(jì)的做法。又如效率低，由于上述用于測(cè)試的PCI設(shè)備、PCI-X設(shè)備和PCI-E設(shè)備價(jià)格比較高，計(jì)算機(jī)制造商在測(cè)試環(huán)節(jié)必須考慮到測(cè)試成本，因此，所購(gòu)買的上述測(cè)試用設(shè)備不會(huì)是理論上的無(wú)窮多，因此，同時(shí)在線測(cè)試的計(jì)算機(jī)主板的數(shù)量就受到實(shí)際購(gòu)買的可以用于測(cè)試的PCI設(shè)備、PCI-X設(shè)備和PCI-E設(shè)備的數(shù)量的限制，導(dǎo)致生產(chǎn)率受到影響。而且維修困難。由于上述用于測(cè)試的PCI設(shè)備、PCI-X設(shè)備和PCI-E設(shè)備是可以實(shí)際應(yīng)用的設(shè)備，其功能元件復(fù)雜，一旦發(fā)生故障則維修工作比較困難，這樣不僅影響了效率，而且維修成本也高，一旦維修失敗則又要增加測(cè)試設(shè)備的采購(gòu)成本。
因此，如果能夠提供一個(gè)成本低、維修簡(jiǎn)單的設(shè)備用于對(duì)主板進(jìn)行測(cè)試，將大大地提高測(cè)試效率并降低測(cè)試成本。
發(fā)明內(nèi)容為解決上述問題，發(fā)明人提供了一種用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，包括物理接口、一控制芯片以及一復(fù)雜可編程邏輯器件(CPLD，ComplexProgrammable Logical Device)，所述復(fù)雜可編程邏輯器件通過至少TCK引腳、TDI引腳、TDO引腳、TMS引腳與所述控制芯片相連接，所述控制芯片與所述物理接口相連接。
所述的物理接口在上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備插入相應(yīng)的主板插槽后用于與主板插槽進(jìn)行通訊，將來(lái)自于主板的命令和數(shù)據(jù)傳輸給上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備的其它組成部分，并將來(lái)自于上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備的命令和數(shù)據(jù)傳輸給主板并進(jìn)而被處理。
所述的控制芯片用于對(duì)所述的復(fù)雜可編程邏輯器件進(jìn)行控制，并在上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備插入相應(yīng)的主板插槽后通過物理接口向主板發(fā)出命令或數(shù)據(jù)。
所述的復(fù)雜可編程邏輯器件被編程，并負(fù)責(zé)對(duì)來(lái)自主板的指令進(jìn)行具體的處理。
所述的復(fù)雜可編程邏輯器件被按照與主板插槽相適應(yīng)的協(xié)議所編程。
上述的與主板插槽相適應(yīng)的協(xié)議是PCI協(xié)議。上述的與主板插槽相適應(yīng)的協(xié)議是PCI-X協(xié)議。上述的與主板插槽相適應(yīng)的協(xié)議是PCI-E協(xié)議。上述的與主板插槽相適應(yīng)的協(xié)議是其它應(yīng)用于主板插槽的協(xié)議。
上述復(fù)雜可編程邏輯器件的TCK引腳為測(cè)試時(shí)鐘輸入、TDI引腳為測(cè)試數(shù)據(jù)輸入、TDO引腳為測(cè)試數(shù)據(jù)輸出、TMS引腳為測(cè)試模式選擇，通過該等引腳可以完成對(duì)復(fù)雜可編程邏輯器件的讀寫操作。
所述控制芯片是一單片機(jī)。所述控制芯片還可以是其它具備控制功能的芯片。
上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備被封裝后成為一獨(dú)立的產(chǎn)品，并具體應(yīng)用于對(duì)主板插槽的測(cè)試。
一種用于測(cè)試主板插槽的測(cè)試系統(tǒng)，運(yùn)行于與上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備相配合的測(cè)試主板插槽的設(shè)備中，包括探測(cè)設(shè)備模塊以及讀寫設(shè)備模塊，探測(cè)設(shè)備模塊用于探測(cè)被測(cè)試主板插槽中是否存在上述的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，讀寫設(shè)備模塊用于向該等設(shè)備中寫入測(cè)試數(shù)據(jù)，并從該等設(shè)備中讀取測(cè)試數(shù)據(jù)。
上述測(cè)試主板插槽的設(shè)備是用于測(cè)試主板插槽的個(gè)人計(jì)算機(jī)或無(wú)盤工作站或服務(wù)器。
上述用于測(cè)試主板插槽的測(cè)試系統(tǒng)，通過如下步驟對(duì)主板插槽進(jìn)行測(cè)試步驟一，探測(cè)設(shè)備模塊探測(cè)用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備是否存在，如果不存在，則報(bào)錯(cuò)，本次測(cè)試結(jié)束；否則，轉(zhuǎn)步驟二；步驟二，讀寫設(shè)備模塊對(duì)用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備進(jìn)行寫操作和讀操作，若兩項(xiàng)操作均正確，則測(cè)試正確，本次測(cè)試結(jié)束；否則報(bào)錯(cuò)，本次測(cè)試結(jié)束。
上述探測(cè)設(shè)備模塊通過如下途徑探測(cè)在一個(gè)主板插槽上是否存在上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備步驟一，讀取被測(cè)主板上所有安插在主板插槽上設(shè)備的信息，若未讀取到任何信息，則返回“探測(cè)失敗”；否則，轉(zhuǎn)步驟二；步驟二，在讀取到的信息中的查找特定的廠商編號(hào)和設(shè)備號(hào)，如果找到，則返回“探測(cè)成功”；否則，返回“探測(cè)失敗”。
在上述步驟一中，上述探測(cè)設(shè)備模塊讀取的設(shè)備信息至少包括廠商編號(hào)和設(shè)備號(hào)。
在上述步驟二中，上述探測(cè)設(shè)備模塊所查找的特定的廠商編號(hào)和設(shè)備號(hào)是預(yù)先設(shè)置好的，且所述的廠商編號(hào)不同于現(xiàn)有設(shè)備的廠商編號(hào)。
上述讀寫設(shè)備模塊使用寫命令向上述測(cè)試主板插槽的設(shè)備內(nèi)寫入數(shù)據(jù)，并用讀命令從上述測(cè)試主板插槽的設(shè)備內(nèi)讀取數(shù)據(jù)。
上述讀寫設(shè)備模塊使用寫命令向上述測(cè)試主板插槽的設(shè)備的寄存器內(nèi)寫入數(shù)據(jù)，且使用讀命令從上述測(cè)試主板插槽的設(shè)備的寄存器內(nèi)讀取數(shù)據(jù)。
上述測(cè)試主板插槽的設(shè)備的寄存器是一個(gè)特定的寄存器。
如果上述寫命令不成功，則返回“寫入失敗”，此時(shí)表明上述被測(cè)試的主板插槽存在問題，即測(cè)試失敗。如果無(wú)法讀取數(shù)據(jù)，或者上述讀取到的數(shù)據(jù)與之前寫入的數(shù)據(jù)不相同，亦表明上述被測(cè)試的主板插槽存在問題，即測(cè)試失敗。
通過上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備以及用于測(cè)試主板插槽的測(cè)試系統(tǒng)，就可以實(shí)現(xiàn)對(duì)主板插槽，例如PCI插槽、PCI-X插槽、PCI-E插槽的測(cè)試工作。本發(fā)明內(nèi)容具有如下優(yōu)點(diǎn)成本低廉。其根據(jù)對(duì)主板插槽進(jìn)行測(cè)試的目的，奪身訂制用于該等插槽測(cè)試的設(shè)備，該等設(shè)備功能簡(jiǎn)單，功能元件很少，易于實(shí)現(xiàn)和生產(chǎn)，成本就相應(yīng)低廉。效率高好，使用上述成本低廉的測(cè)試設(shè)備，在同樣的成本預(yù)算下與現(xiàn)有技術(shù)相比可以使用更多的測(cè)試設(shè)備，也就使得同時(shí)在線測(cè)試的計(jì)算機(jī)主板的數(shù)量大大增加，從而提高了測(cè)試效率。而且，上述設(shè)備比較簡(jiǎn)單，所以維修工作相對(duì)容易，一方面維修周期縮短，另一方面即使維修失敗，損失也相對(duì)小。


圖1是本發(fā)明提供的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備的一個(gè)實(shí)施例的組成示意圖。
圖2本發(fā)明提供的用于測(cè)試主板插槽的測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)施例對(duì)主板插槽進(jìn)行測(cè)試的流程圖。
標(biāo)號(hào)說明
1、復(fù)雜可編程邏輯器件2、控制芯片3、物理接口具體實(shí)施方式
參考圖1，其描述了本發(fā)明提供的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備的一個(gè)實(shí)施例的組成示意圖。參考圖1，至少包括物理接口3、控制芯片2以及復(fù)雜可編程邏輯器件1組成了用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備。在本發(fā)明中，選用復(fù)雜可編程邏輯器件是因?yàn)樵谠O(shè)計(jì)開發(fā)該設(shè)備的過程中，復(fù)雜可編程邏輯器件容易編程，更容易實(shí)現(xiàn)，而且成本也可以接受。實(shí)際上，其他類似的芯片是可以作為上述復(fù)雜可編程邏輯器件的替代元件，因此并不影響本發(fā)明的實(shí)質(zhì)內(nèi)容。
在本實(shí)施例中，所述復(fù)雜可編程邏輯器件1采用了Atmel公司生產(chǎn)的ATF15**系列復(fù)雜可編程邏輯芯片。所述控制芯片2采用單片機(jī)，并進(jìn)一步采用例如MSP430型號(hào)的單片機(jī)。
復(fù)雜可編程邏輯器件包括模擬電路、閃速存儲(chǔ)器、微控制器(MCU)和可配置的邏輯電路，并具有JTAG(Joint Test Action Group)引腳。上述的復(fù)雜可編程邏輯器件通過若干上述JTAG引腳與上述控制芯片相連接。在本實(shí)施例中，ATF15**芯片通過TCK引腳、TDI引腳、TDO引腳、TMS引腳與單片機(jī)MSP430相連接，而單片機(jī)MSP430再與物理接口相連接。關(guān)于上述電路連接問題，本領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)本發(fā)明內(nèi)容以及公知資料可以理解并實(shí)施。
參考圖1，其中TCK引腳為測(cè)試時(shí)鐘輸入，TDI引腳為測(cè)試數(shù)據(jù)輸入，TDO引腳為測(cè)試數(shù)據(jù)輸出，TMS引腳為測(cè)試模式選擇。通過該等引腳就可以對(duì)本發(fā)明提供的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備進(jìn)行信號(hào)控制和讀寫操作。
在本實(shí)施例中，上述組件連接完畢后，并對(duì)ATF15**芯片按照PCI協(xié)議進(jìn)行編程后，對(duì)設(shè)備整體進(jìn)行封裝就制成了本發(fā)明提供的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備。將該設(shè)備插入主板上的PCI插槽中，就可以對(duì)該P(yáng)CI插槽進(jìn)行測(cè)試。此時(shí)，用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備通過物理接口與主板相連接，就可以與主板所在設(shè)備的主處理芯片、操作系統(tǒng)等相互通訊，從而，主板所在設(shè)備的操作系統(tǒng)或其他應(yīng)用程序，例如主板測(cè)試程序，通過相關(guān)指令可以讀取用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備的相關(guān)信息，也可以向用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備發(fā)出指令或?qū)懭霐?shù)據(jù)，反之亦然。本領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)本發(fā)明內(nèi)容以及公知技術(shù)對(duì)此可以理解。
而在另一個(gè)實(shí)施例中，可以對(duì)所述的復(fù)雜可編程邏輯器件1按照PCI-E協(xié)議進(jìn)行編程，按照上述過程封裝后就可以作為測(cè)試PCI-E插槽的PCI-E設(shè)備。
而在又一個(gè)實(shí)施例中，可以對(duì)所述的復(fù)雜可編程邏輯器件1按照PCI-X協(xié)議進(jìn)行編程，按照上述過程封裝后就可以作為測(cè)試PCI-X插槽的PCI-X設(shè)備。
由于主板上存在很多符合各種協(xié)議的插槽，而這些插槽所遵循的協(xié)議均可以按照上述內(nèi)容寫入本發(fā)明提供的設(shè)備中，從而就可以制成適用該插槽的測(cè)試設(shè)備，因此，遵循上述PCI協(xié)議、PCI-X協(xié)議、PCI-E協(xié)議以外的其他協(xié)議的主板插槽也可以用本發(fā)明提供的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
在本實(shí)施例中，上述MSP430型號(hào)的單片機(jī)選用SO-20的封裝，ATF15**芯片選用PLCC的封裝，這樣易于編寫程序。
關(guān)于對(duì)上述復(fù)雜可編程邏輯器件進(jìn)行編程的相關(guān)內(nèi)容，可以參考相關(guān)公知資料，例如下列網(wǎng)站所列明的內(nèi)容http//cpld.globalspec.com/LearnMore/Semiconductors/Programmable Logic Devices/CPLD，本領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)本發(fā)明所闡述的內(nèi)容以及本領(lǐng)域的公知知識(shí)和參考資料，可以不經(jīng)過創(chuàng)造性勞動(dòng)就實(shí)現(xiàn)本發(fā)明所述的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備。
與上述的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備相適應(yīng)，本發(fā)明同時(shí)提供了一種用于測(cè)試主板插槽的測(cè)試系統(tǒng)。在一個(gè)實(shí)施例中，該系統(tǒng)如現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)主板插槽測(cè)試的環(huán)境所示，運(yùn)行在一臺(tái)測(cè)試主板插槽的計(jì)算機(jī)中，并與上述實(shí)施例中所述的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備相配合，其包括探測(cè)設(shè)備模塊以及讀寫設(shè)備模塊，探測(cè)設(shè)備模塊用于探測(cè)被測(cè)試主板插槽中是否存在上述的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，讀寫設(shè)備模塊用于向上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備寫入測(cè)試數(shù)據(jù)，并從上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備中讀取測(cè)試數(shù)據(jù)。
在本實(shí)施例中，上述探測(cè)設(shè)備模塊是根據(jù)上述的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備中的廠商和設(shè)備號(hào)信息來(lái)判斷被測(cè)試主板插槽中是否存在該等用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，具體內(nèi)容可以參考圖2所示的實(shí)施例。
參考圖2，其描述了本發(fā)明提供的用于測(cè)試主板插槽的測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)施例對(duì)主板插槽進(jìn)行測(cè)試的流程圖。
所述探測(cè)設(shè)備模塊從配置文件中獲得用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備信息，步驟41；所述探測(cè)設(shè)備模塊在主板上探測(cè)用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備信息，步驟42；所述探測(cè)設(shè)備模塊根據(jù)步驟41取得設(shè)備信息判斷是否找到用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，步驟43，如果未找到，則探測(cè)失敗，測(cè)試結(jié)束，步驟46，否則轉(zhuǎn)步驟44；所述讀寫設(shè)備模塊讀寫所述的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備內(nèi)的寄存器，步驟44；所述讀寫設(shè)備模塊判斷讀寫結(jié)果是否正確，步驟45，如果正確，則測(cè)試成功，測(cè)試結(jié)束，步驟47，否則測(cè)試失敗，測(cè)試結(jié)束，步驟46。
在上述步驟43中，所述探測(cè)設(shè)備模塊根據(jù)設(shè)備的廠商編號(hào)和設(shè)備號(hào)判斷是否找到用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備。實(shí)際上，按照現(xiàn)有規(guī)范，所有主板插槽上的設(shè)備都有相應(yīng)的廠商編號(hào)和設(shè)備號(hào)，并在設(shè)備的寄存器中保存有相應(yīng)的信息，例如地址從00～03的寄存器中寫有“廠商及設(shè)備號(hào)”、08寫有“版本號(hào)”、09～0B寫有“類型”，04～07以及0C～0F予以保留等等。因此，讀取相應(yīng)的寄存器中的值就可以判斷主板插槽上的設(shè)備的具體信息。那么，向本發(fā)明提供的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備的寄存器中寫入特定的值，例如與現(xiàn)有廠商信息相區(qū)別的數(shù)值，就可以識(shí)別出本發(fā)明提供的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備。在本實(shí)施例中，上述用于標(biāo)明“廠商及設(shè)備號(hào)”的寄存器中的值為“0x103c103c”，這是特有的，不會(huì)與現(xiàn)有的設(shè)備信息造成混淆。而在另一個(gè)實(shí)施例中，上述用于標(biāo)明“廠商及設(shè)備號(hào)”的寄存器中的值也可以是其他值，這并不影響本發(fā)明的實(shí)質(zhì)。
在本實(shí)施例中，上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備的信息事先設(shè)于一個(gè)配置文件內(nèi)，該配置文件中設(shè)置多個(gè)用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備的信息，從而本發(fā)明提供的用于測(cè)試主板插槽的測(cè)試系統(tǒng)可以支持多個(gè)用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備。
而在另一個(gè)實(shí)施例中，上述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備的信息也可以事先寫入所述探測(cè)設(shè)備模塊的源代碼內(nèi)，或者以其他方式提供給所述探測(cè)設(shè)備模塊，例如探測(cè)設(shè)備模塊將所有探測(cè)到的設(shè)備信息羅列出來(lái)要求用戶動(dòng)態(tài)地判斷是否是本發(fā)明提供的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備。這些實(shí)施例并不影響本發(fā)明的實(shí)質(zhì)。本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以根據(jù)上述描述和本領(lǐng)域的公知知識(shí)和參考資料實(shí)現(xiàn)這些不同的實(shí)施例。
在上述步驟44中，所述讀寫設(shè)備模塊先使用寫命令向所述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備內(nèi)寫入數(shù)據(jù)，例如，在本實(shí)施例中，通過地址端口0x0cf8h，數(shù)據(jù)端口0x0cfch寫入數(shù)值0xaa，而在另一個(gè)實(shí)施例中，也可以向其他寄存器中寫入其他數(shù)值，這并不影響本發(fā)明的實(shí)質(zhì)。如果寫入成功，則繼續(xù)執(zhí)行讀命令，否則本次測(cè)試失敗，即表明該主板上的插槽存在問題。
進(jìn)行完寫命令后，所述讀寫設(shè)備模塊使用讀命令再?gòu)乃鲇糜跍y(cè)試主板插槽的設(shè)備內(nèi)讀取數(shù)據(jù)。這是上述寫命令的一個(gè)反過程，而且上述寫命令中被寫入的寄存器也就是此時(shí)讀取的寄存器。如果無(wú)法讀取數(shù)據(jù)，或者上述讀取到的數(shù)據(jù)與之前寫入的數(shù)據(jù)不相同，則測(cè)試失敗，即被測(cè)試的主板插槽存在問題。
上述用于測(cè)試主板插槽的測(cè)試系統(tǒng)可以應(yīng)用在Dos操作系統(tǒng)中，也可以應(yīng)用在windows操作系統(tǒng)中，還可以應(yīng)用在Linux操作系統(tǒng)、Unix操作系統(tǒng)中。事實(shí)上，本測(cè)試系統(tǒng)所應(yīng)用的操作系統(tǒng)并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明內(nèi)容的限制。
在本實(shí)施例中，所述探測(cè)設(shè)備模塊、所述讀寫設(shè)備模塊都是現(xiàn)有技術(shù)中存在的，并不需要對(duì)兩模塊進(jìn)行修改，只需要對(duì)兩模塊所使用的測(cè)試配置文件按照上述發(fā)明闡述的內(nèi)容就可以實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。而在其他實(shí)施例中，為了更好地實(shí)現(xiàn)本發(fā)明提供的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法，也可以對(duì)上述兩模塊進(jìn)行修改，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以根據(jù)本發(fā)明內(nèi)容以及本領(lǐng)域的公知知識(shí)以及參考資料對(duì)該等修改予以實(shí)現(xiàn)，在此不贅述。
下面描述一個(gè)實(shí)施例中對(duì)被測(cè)試主板插槽進(jìn)行的具體測(cè)試過程。使用本發(fā)明提供的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試系統(tǒng)后，在DOS環(huán)境下對(duì)一個(gè)計(jì)算機(jī)主板(MiTAC white box)上的所有插槽進(jìn)行測(cè)試。在本實(shí)施例中，主板具有1個(gè)PCI插槽，3個(gè)PCI-X插槽，1個(gè)PCI-E插槽，對(duì)每個(gè)PCI插槽使用按照本發(fā)明內(nèi)容制成的PCI測(cè)試設(shè)備，每個(gè)PCI-X插槽使用按照本發(fā)明內(nèi)容制成的PCI-X測(cè)試設(shè)備，對(duì)每個(gè)PCI-E插槽使用按照本發(fā)明內(nèi)容制成PCI-E測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試程序首先探測(cè)該主板上是否存在1個(gè)PCI測(cè)試設(shè)備、3個(gè)PCI-X測(cè)試設(shè)備、1個(gè)PCI-E測(cè)試設(shè)備，如果數(shù)量不對(duì)，測(cè)試失敗。否則就分別對(duì)每個(gè)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行讀寫操作，如果全部都成功，則測(cè)試通過，否則測(cè)試失敗。
盡管本發(fā)明已經(jīng)以如上所述的優(yōu)選實(shí)施例予以說明，但上述實(shí)施例并非用來(lái)限定本發(fā)明，任何對(duì)該領(lǐng)域熟悉的技術(shù)人員，根據(jù)本發(fā)明的設(shè)計(jì)思想、具體發(fā)明內(nèi)容以及實(shí)施例的啟示，應(yīng)該可以各種改動(dòng)和調(diào)整，而通過這些改動(dòng)和調(diào)整所得到的新的內(nèi)容應(yīng)被本發(fā)明內(nèi)容所涵蓋。
權(quán)利要求
1.一種用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，其特征在于，包括物理接口(3)，在該設(shè)備插入主板插槽后用于與主板插槽通訊，將來(lái)自于主板的命令和數(shù)據(jù)傳輸給該設(shè)備的其它組成部分，并將來(lái)自該設(shè)備的命令和數(shù)據(jù)傳輸給主板，一復(fù)雜可編程邏輯器件(1)，其被編程并負(fù)責(zé)對(duì)來(lái)自主板的指令進(jìn)行具體的處理，以及一控制芯片(2)，用于對(duì)所述復(fù)雜可編程邏輯器件(1)進(jìn)行控制，并在該設(shè)備插入主板插槽后通過物理接口向主板發(fā)出命令或數(shù)據(jù)，所述復(fù)雜可編程邏輯器件(1)通過至少TCK引腳、TDI引腳、TDO引腳、TMS引腳與所述控制芯片(2)相連接，所述控制芯片(2)與所述物理接口(3)相連接。
2.如權(quán)利要求1所述的一種用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，其特征在于，所述的控制芯片(2)是一單片機(jī)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的一種用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，其特征在于，所述的復(fù)雜可編程邏輯器件(1)的寄存器內(nèi)至少寫有特定的廠商和設(shè)備號(hào)信息。
4.如權(quán)利要求1所述的一種用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，其特征在于，所述的寄存器是特定的寄存器。
5.如權(quán)利要求1所述的一種用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，其特征在于，所述的復(fù)雜可編程邏輯器件(1)被按照與主板插槽相適應(yīng)的協(xié)議所編程。
6.如權(quán)利要求5所述的一種用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，其特征在于，所述的協(xié)議是PCI協(xié)議或PCI-X協(xié)議或PCI-E協(xié)議。
7.一種用于測(cè)試主板插槽的測(cè)試系統(tǒng)，運(yùn)行于測(cè)試主板插槽的設(shè)備中，包括一探測(cè)設(shè)備模塊，用于探測(cè)被測(cè)試主板插槽中是否存在用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，一讀寫設(shè)備模塊，用于向所述用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備中寫入測(cè)試數(shù)據(jù)，并從該設(shè)備中讀取測(cè)試數(shù)據(jù)，其特征在于，所述探測(cè)設(shè)備模塊根據(jù)設(shè)備的特定信息判斷是否存在所述的用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備。
8.如權(quán)利要求7所述的一種用于測(cè)試主板插槽的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述的設(shè)備的特定信息是廠商編號(hào)和設(shè)備號(hào)信息。
9.一種測(cè)試主板插槽的方法，包括如下步驟步驟一，所述探測(cè)設(shè)備模塊探測(cè)用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備是否存在，如果不存在，則報(bào)錯(cuò)，本次測(cè)試結(jié)束；否則，轉(zhuǎn)步驟二；步驟二，所述讀寫設(shè)備模塊對(duì)用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備進(jìn)行寫操作和讀操作，若兩項(xiàng)操作均正確，則測(cè)試正確，本次測(cè)試結(jié)束；否則報(bào)錯(cuò)，本次測(cè)試結(jié)束。
10.如權(quán)利要求9所述的一種測(cè)試主板插槽的方法，其特征在于，所述的探測(cè)設(shè)備模塊根據(jù)設(shè)備的廠商編號(hào)和設(shè)備號(hào)來(lái)判斷用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備是否存在，且該廠商編號(hào)和設(shè)備號(hào)預(yù)先設(shè)于一配置文件中。
全文摘要
一種用于測(cè)試主板插槽的設(shè)備，包括物理接口(3)、一復(fù)雜可編程邏輯器件(1)以及一控制芯片(2)，所述復(fù)雜可編程邏輯器件(1)通過至少TCK引腳、TDI引腳、TDO引腳、TMS引腳與所述控制芯片(2)相連接，所述控制芯片(2)與所述物理接口(3)相連接。通過本發(fā)明提供的設(shè)備以及相應(yīng)的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法，可以快速地完成對(duì)主板插槽是否符合出廠要求的測(cè)試，而且本發(fā)明提供的設(shè)備由于功能簡(jiǎn)單因此成本低廉、便于維修，可以大量地購(gòu)買以用于批量測(cè)試，從而提高了測(cè)試效率，降低了測(cè)試成本。
文檔編號(hào)G01R31/00GK101030159SQ20061002422
公開日2007年9月5日 申請(qǐng)日期2006年2月28日 優(yōu)先權(quán)日2006年2月28日
發(fā)明者謝必武 申請(qǐng)人:環(huán)達(dá)電腦(上海)有限公司