專利名稱：玻璃的識(shí)別方法及玻璃識(shí)別裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及識(shí)別玻璃的方法及其裝置，尤其涉及用于識(shí)別顯示器用的玻璃襯底的種類的方法及其裝置。
背景技術(shù)：
近年，伴隨顯示器裝置的大型化和薄型化，例如，等離子體顯示面板(以下，稱為PDP)裝置的開發(fā)正在發(fā)展，同時(shí)其再循環(huán)的必要性也提高。
如圖8所示，PDP通常是由未圖示的密封材料密封由玻璃構(gòu)成的前面襯底81和背面襯底82，并在密封后的前面襯底81和背面襯底82之間封入放電氣體而形成放電空間的結(jié)構(gòu)。在前面襯底81上依次形成有顯示電極83、總線(bus)電極84、介質(zhì)層85、保護(hù)層86。在背面襯底82上形成地址電極87，在其上經(jīng)由介質(zhì)層88涂敷紅、綠、藍(lán)中的任一種熒光體89。如圖所示，各地址電極87上的紅、綠、藍(lán)的各熒光體89由隔壁90相互隔離(例如，參照專利文獻(xiàn)1、專利文獻(xiàn)2、專利文獻(xiàn)3)。
歷來，在制造工序中產(chǎn)生的不合格品或作為產(chǎn)品而被使用后的電氣化產(chǎn)品，通常通過掩埋等進(jìn)行廢棄處理。上述PDP由于在形成于前面襯底81或背面襯底82的上述各層或密封材料中含有鉛等有害物質(zhì)，因此必須在實(shí)施有害物的固化處理之后再進(jìn)行掩埋。另外，為了實(shí)現(xiàn)楨面的大型化，前面襯底81或背面襯底82使用大的玻璃襯底。因此，兩襯底在產(chǎn)品中所占的容積及重量大，從環(huán)境方面及成本方面出發(fā)，都希望實(shí)現(xiàn)它們的再循環(huán)。以往，公開有一種用于將在制造工序中成為不合格品的、PDP的前面/背面襯底所使用的玻璃襯底作為工業(yè)用材料而進(jìn)行再循環(huán)的方法(例如，參照專利文獻(xiàn)4。)。
圖9表示在PDP制作工序S10中組合了再循環(huán)工序S11的以往的工序。省略S10的詳細(xì)內(nèi)容，在老化(ageing)工序S95結(jié)束之后，在玻璃檢查工序S96中進(jìn)行不合格品的識(shí)別。此時(shí)，被識(shí)別為不合格品的PDP回到S11中。S11主要包括對(duì)所回收的PDP中組合的前面襯底和背面襯底進(jìn)行分離的工序S98、對(duì)在分離后的前面/背面襯底上形成的各層(表面層)進(jìn)行剝離的工序S99、然后對(duì)前面/背面襯底和被剝離的表面層的剝離成分分別進(jìn)行分離回收的工序S100和S101。在此，在S100中，為了將表面層被剝離的前面/背面襯底作為玻璃原料而進(jìn)行再循環(huán)，使用將前面/背面襯底細(xì)小地粉碎成玻璃碎片(glass cullet)(以下，稱為碎玻璃)的方法。
專利文獻(xiàn)1日本特許第2503072號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)2日本特開平4-366526號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)3日本特開昭55-70873號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)4日本特開2002-50294號(hào)公報(bào)通常，PDP等電氣化產(chǎn)品的裝配廠家，出于材料質(zhì)量或價(jià)格的目的，大多從多個(gè)材料廠家供給材料(在此，為玻璃)。在該情況下，玻璃的組成成分因材料廠家而異。因此，在未按照廠家識(shí)別、分類碎玻璃而進(jìn)行回收的情況下，回收的碎玻璃中將混有來自多個(gè)材料廠家的玻璃。其結(jié)果是，存在回收的碎玻璃的同質(zhì)性降低的問題。這樣的碎玻璃成為再循環(huán)用途被限制的材料，無法期望高的有價(jià)性。例如，在將PDP的玻璃襯底的不合格品再循環(huán)時(shí)，理想的是將該不合格品再次再循環(huán)成PDP用的玻璃襯底，但若回收的碎玻璃的同質(zhì)性低，則由此制作的玻璃襯底的質(zhì)量也降低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為解決上述課題，而提供一種識(shí)別、分類所回收的碎玻璃的方法。
本發(fā)明的第一技術(shù)方案的玻璃識(shí)別方法是用于再利用包含玻璃的識(shí)別對(duì)象物的玻璃識(shí)別方法，其中，該識(shí)別方法具有對(duì)識(shí)別對(duì)象物照射X線，獲得識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜的工序；和將識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜和規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組進(jìn)行分析、比較，識(shí)別識(shí)別對(duì)象物中包含的玻璃的種類的工序。識(shí)別玻璃的種類的工序，通過進(jìn)行識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜的組成成分分析、和規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組的組成成分分析，并比較分析結(jié)果來判斷一致度而進(jìn)行。
由此，回收的識(shí)別對(duì)象物的同質(zhì)性提高，再循環(huán)的精度提高。
第二技術(shù)方案的玻璃識(shí)別方法是用于再利用包含玻璃的識(shí)別對(duì)象物的玻璃識(shí)別方法，其中，該識(shí)別方法具有對(duì)識(shí)別對(duì)象物照射X線，獲得識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜的工序；和將識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜和規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組進(jìn)行分析、比較，識(shí)別識(shí)別對(duì)象物中包含的玻璃的種類的工序。識(shí)別玻璃的種類的工序，通過獲得識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜和規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組的各光譜的差分，并判斷一致度而進(jìn)行。
由此，回收的識(shí)別對(duì)象物的同質(zhì)性提高，再循環(huán)的精度提高。
第三技術(shù)方案的玻璃識(shí)別方法，在第一或第二玻璃的識(shí)別方法中，其特征在于，識(shí)別對(duì)象物、規(guī)定的物質(zhì)組中的至少任一方是顯示器用的玻璃襯底。
由此，可進(jìn)行顯示器用的玻璃襯底的再循環(huán)。
第四技術(shù)方案的玻璃識(shí)別方法，在第一或第二玻璃的識(shí)別方法中，其特征在于，識(shí)別對(duì)象物及規(guī)定的物質(zhì)組具有從鉀、鈣、鐵、鍶、鋯、鋇、鉿中選擇的至少一種元素。
由于顯示器用的玻璃襯底大多在上述元素的含有率中具有特征，因此通過分析這些元素，可實(shí)現(xiàn)玻璃的種類的識(shí)別。
第五技術(shù)方案的玻璃的識(shí)別裝置具備X線管，其對(duì)包含玻璃的識(shí)別對(duì)象物照射X線；檢測(cè)器，其測(cè)定從識(shí)別對(duì)象物放射的熒光X線的強(qiáng)度；存儲(chǔ)部，其存儲(chǔ)規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組的數(shù)據(jù)；和運(yùn)算器，其由檢測(cè)器的測(cè)定結(jié)果求出識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜，并通過分析、比較識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜和規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組的數(shù)據(jù)，來識(shí)別識(shí)別對(duì)象物中包含的玻璃的種類。
由此，可識(shí)別識(shí)別對(duì)象物的同質(zhì)性。
以上，根據(jù)本發(fā)明，由于回收的碎玻璃的同質(zhì)性提高，因此可防止再循環(huán)的PDP玻璃的質(zhì)量降低，從而有價(jià)性提高。


圖1是本發(fā)明的PDP的制作工序和再循環(huán)工序的流程圖；圖2是表示本發(fā)明的識(shí)別裝置的結(jié)構(gòu)的圖；圖3是樣本試料的熒光X線光譜圖；圖4是參考試料1的熒光X線光譜圖；圖5是參考試料2的熒光X線光譜圖；圖6是表示樣本試料和參考試料1的熒光X線光譜圖的差分結(jié)果的圖；圖7是表示樣本試料和參考試料2的熒光X線光譜圖的差分結(jié)果的圖；圖8是表示PDP的結(jié)構(gòu)的圖；圖9是以往的PDP的制作工序和再循環(huán)工序的流程圖。
圖中1-襯底，2-X線管，3-X線，4-熒光X線，5-檢測(cè)器，6-放大器，7-存儲(chǔ)部，8-運(yùn)算部，9-顯示器，10-載物臺(tái)，11-熒光X線分析器，81-前面襯底，82-背面襯底，83-顯示電極，84-總線電極，85、88-介質(zhì)層，86-保護(hù)層，87-地址電極，89-熒光體，90-隔壁。
具體實(shí)施例方式
在本方式中，將識(shí)別對(duì)象物作為PDP用的玻璃襯底進(jìn)行說明。
本發(fā)明在表面層的剝離及粉碎顯示器之前，實(shí)施回收的PDP的玻璃襯底的組成成分分析，僅收集組成成分相同的PDP玻璃，進(jìn)行碎玻璃化，由此提高碎玻璃的同質(zhì)性，從而再次作為高質(zhì)量的PDP用的玻璃襯底而進(jìn)行再循環(huán)。
以下，更為詳細(xì)地對(duì)本發(fā)明進(jìn)行說明，但本發(fā)明并不限定于此。
(實(shí)施方式)圖1是表示包括本發(fā)明的再循環(huán)工序的PDP的制作工序的流程圖。本發(fā)明的要點(diǎn)在于，對(duì)于在PDP制作工序S1的玻璃檢查工序S16中成為NG的前面襯底及背面襯底，通過再循環(huán)工序S2的玻璃組成成分分析工序S19識(shí)別玻璃的組成成分，并按此對(duì)碎玻璃進(jìn)行分類。
圖2表示執(zhí)行該S19工序的玻璃識(shí)別裝置即熒光X線分析器11(エスアイアイ·超精加工技術(shù)公司制熒光X線分析器(SEA-2210A))的結(jié)構(gòu)。使用熒光X線是由于在測(cè)定時(shí)不破壞襯底本身，還能夠抑制設(shè)備成本的增大。另外，由于熒光X線分析器能夠進(jìn)行數(shù)10ppm級(jí)的組成成分分析，因此在識(shí)別上述襯底時(shí)，精度上也具有足夠的性能。進(jìn)而，熒光X線分析器11是能量分散型熒光X線分析器。能量分散型熒光X線分析器利用熒光X線的能量在組成成分中是固有的這一事實(shí)，通過測(cè)定并解析熒光X線的能量光譜來進(jìn)行試料的組成成分分析，從而能夠提供低價(jià)的裝置，因此適用于本發(fā)明。
在圖2中，熒光X線分析器11具備對(duì)襯底照射規(guī)定的X線3的X線管2；測(cè)定接受該X線3而從襯底放射的熒光X線4的強(qiáng)度的檢測(cè)器5；對(duì)該檢測(cè)器5的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行放大的放大器6；和存儲(chǔ)分別與規(guī)定的多種PDP的襯底的組成成分對(duì)應(yīng)的熒光X線光譜組的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)部7。此外，還具備運(yùn)算器8，其由放大器6的結(jié)果求得熒光X線光譜，并將該熒光X線光譜和存儲(chǔ)部7中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較、分析。另外，還可以具備顯示運(yùn)算器8的結(jié)果的顯示器9。
在前面或背面襯底分離的襯底1，以未實(shí)施玻璃加工的面為X線照射面，設(shè)置在載物臺(tái)10上。若從X線管2發(fā)射的X線3照射到襯底1，則從襯底1放射熒光X線4，熒光X線4由檢測(cè)器5檢測(cè)。檢測(cè)出的X線量由放大器6放大，并由運(yùn)算器8作為熒光X線光譜進(jìn)行測(cè)定。
以下，表示實(shí)施例及其結(jié)果。
(實(shí)施例1)在本實(shí)施例中，作為PDP玻璃的識(shí)別基準(zhǔn)，使用組成成分分析。
將在制作工序中成為不合格品的PDP玻璃作為樣本試料，實(shí)施利用熒光X線分析而進(jìn)行的組成成分分析。在表1中表示結(jié)果。各組成成分的含有量以重量％(wt％)表示。


然后，從作為供給襯底的玻璃廠家的兩家公司(以下，稱為A公司、B公司)獲得PDP玻璃，將它們作為參考試料，與表1的情況同樣，實(shí)施熒光X線分析。在表2中表示結(jié)果。參考試料分別設(shè)為試料1(A公司制)和試料2(B公司制)。


比較表1和表2的結(jié)果可知，本實(shí)施例的樣本試料的組成成分與參考試驗(yàn)1的組成成分一致。因此，可知回收的PDP玻璃是試料1即A公司制的玻璃。
根據(jù)上述方法，回收約100Kg的被識(shí)別為試料1的襯底，再次熔解，確認(rèn)是否可作為PDP玻璃而再循環(huán)。其結(jié)果是，確認(rèn)了無需在制作工序S11中追加新的工序，即可作為PDP玻璃充分地再循環(huán)。
(實(shí)施例2)在本實(shí)施例中，作為PDP玻璃的識(shí)別基準(zhǔn)，使用由熒光X線分析而獲得的各試料的光譜。具體地說，在玻璃組成成分分析工序S19中，通過由運(yùn)算器8獲得樣本試料和參考試料的光譜的差分，來判斷樣本試料的同質(zhì)性。樣本試料、參考試料、識(shí)別裝置與實(shí)施例同樣。
圖3表示樣本試料的利用熒光X線分析而得到的光譜圖。另外，圖4、圖5分別表示同樣地測(cè)定的參考試料1、試料2的光譜圖。另外，圖6表示樣本試料的光譜和試料1的光譜的差分，圖7表示樣本試料的光譜和試料2的光譜的差分。在該情況下，能夠識(shí)別為樣本試料是光譜的差分結(jié)果的凹凸少的參考試料。
比較圖6和圖7，可知本實(shí)施例的樣本試料是試料1，即A公司制的玻璃。
(其它實(shí)施方式)(A)在實(shí)施例1中，采用了在玻璃組成成分分析工序S19中進(jìn)行組成成分分析，來識(shí)別相同組成成分的襯底的方法，但也可以代替該方法，而基于具有特征的組成的元素的有無、或含有量來進(jìn)行識(shí)別。在此，由于襯底的玻璃中含有的鉀、鈣、鐵、鍶、鋯、鋇、鉿等元素存在特有的含有率，因此可使用這些元素的有無或含有量。
(B)在玻璃組成成分分析工序S19中，在識(shí)別樣本試料時(shí)，還存在活用在熒光X線分析器11中標(biāo)準(zhǔn)地附屬的軟件的方法。通常，在熒光X線分析器中，大多搭載有比較光譜并評(píng)價(jià)類似性的軟件(稱為光譜比較軟件、光譜匹配軟件等)。在該軟件中，存在預(yù)先測(cè)定成為參考試料的襯底的組成成分，并存儲(chǔ)其光譜的軟件。因此，通過利用上述軟件，對(duì)照被回收的襯底的測(cè)定光譜和預(yù)先存儲(chǔ)的光譜，能夠識(shí)別各襯底。
例如，在SII公司制熒光X線分析器中，裝備有評(píng)價(jià)所測(cè)定的光譜是否與存儲(chǔ)的光譜中的哪一個(gè)一致這一功能即“光譜匹配”。在光譜匹配中，用百分率表示光譜的一致度。
利用該功能，登記參考試料1、試料2的光譜波形，實(shí)施與樣本試料的光譜波形的對(duì)照。其結(jié)果是，樣本試料的光譜波形的一致率為99.82％，可識(shí)別為是試料1的光譜。該結(jié)果與實(shí)施例1、2相同，可知本方法也是有效的。
(C)在所述本發(fā)明的實(shí)施方式中，使用了熒光X線分析器，但作為分析襯底的方法，還可應(yīng)用普通的元素分析方法。例如，也可以利用電容耦合型等離子體發(fā)光光譜分析(ICP-MASS)、原子吸光分析(AA)等。
(工業(yè)上的可利用性)本發(fā)明的玻璃識(shí)別方法或玻璃識(shí)別裝置可活用于圖像顯示裝置的玻璃襯底的再循環(huán)工業(yè)中。另外，還可以適用于在建筑工業(yè)中使用的窗戶玻璃或在家具中使用的玻璃制品、其它在食品工業(yè)中使用的玻璃瓶等的再循環(huán)中。
權(quán)利要求
1.一種玻璃的識(shí)別方法，其用于再利用包含玻璃的識(shí)別對(duì)象物，其中，具有對(duì)所述識(shí)別對(duì)象物照射X線，獲得所述識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜的工序；和將所述識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜和規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組進(jìn)行分析、比較，識(shí)別所述識(shí)別對(duì)象物中包含的所述玻璃的種類的工序，識(shí)別所述玻璃的種類的工序，通過進(jìn)行所述識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜的組成成分分析、和所述規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組的組成成分分析，并比較分析結(jié)果來判斷一致度而進(jìn)行。
2.一種玻璃的識(shí)別方法，其用于再利用包含玻璃的識(shí)別對(duì)象物，其中，具有對(duì)所述識(shí)別對(duì)象物照射X線，獲得所述識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜的工序；和將所述識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜和規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組進(jìn)行分析、比較，識(shí)別所述識(shí)別對(duì)象物中包含的所述玻璃的種類的工序，識(shí)別所述玻璃的種類的工序，通過獲得所述識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜和所述規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組的各光譜的差分，并判斷一致度而進(jìn)行。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的玻璃的識(shí)別方法，其特征在于，所述識(shí)別對(duì)象物、所述規(guī)定的物質(zhì)組中的至少任一方是顯示器用的玻璃襯底。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的玻璃的識(shí)別方法，其特征在于，所述識(shí)別對(duì)象物及所述規(guī)定的物質(zhì)組具有從鉀、鈣、鐵、鍶、鋯、鋇、鉿中選擇的至少一種元素。
5.一種玻璃識(shí)別裝置，其中，具備X線管，其對(duì)包含玻璃的識(shí)別對(duì)象物照射X線；檢測(cè)器，其測(cè)定從所述識(shí)別對(duì)象物放射的熒光X線的強(qiáng)度；存儲(chǔ)部，其存儲(chǔ)規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組的數(shù)據(jù)；和運(yùn)算器，其由所述檢測(cè)器的測(cè)定結(jié)果求出所述識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜，并通過分析、比較所述識(shí)別對(duì)象物的熒光X線光譜和所述規(guī)定的物質(zhì)組的熒光X線光譜組的數(shù)據(jù)，來識(shí)別所述識(shí)別對(duì)象物中包含的所述玻璃的種類。
全文摘要
在再循環(huán)工序中，玻璃碎片的同質(zhì)性低，再循環(huán)玻璃的質(zhì)量也降低。為了解決該課題，本發(fā)明在粉碎顯示器之前，利用熒光X線分析器實(shí)施各襯底的玻璃組成成分分析，由此判別相同組成的玻璃，進(jìn)行碎玻璃化并回收。
文檔編號(hào)G01N33/38GK1947002SQ200580012228
公開日2007年4月11日 申請(qǐng)日期2005年5月23日 優(yōu)先權(quán)日2004年5月27日
發(fā)明者谷美幸, 久角隆雄 申請(qǐng)人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社