專利名稱：可焊性測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試儀器，更具體地說，是涉及一種用于測(cè)試電路板可焊性的測(cè)試儀。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)的電路板測(cè)試儀由測(cè)試儀外殼、設(shè)置在外殼內(nèi)的加熱系統(tǒng)、與加熱系統(tǒng)相連接的控制系統(tǒng)構(gòu)成，加熱系統(tǒng)與測(cè)試儀外殼的隔熱層結(jié)構(gòu)不合理，造成測(cè)試儀外殼的測(cè)試儀外殼的測(cè)試儀外殼的溫度較高，容易使操作者被燙傷；另外傳統(tǒng)的電路板測(cè)試儀加熱元件由加熱管構(gòu)成，測(cè)試儀內(nèi)溫區(qū)溫差大，溫度分布不均勻，容易產(chǎn)生局部溫度過熱，從而導(dǎo)致電路板在測(cè)試過程中的不準(zhǔn)確性；傳統(tǒng)的電路板測(cè)試儀還存在溫度控制系統(tǒng)控制誤差大，也容易導(dǎo)致電路板因控制誤差造成電路板在測(cè)試過程中的不準(zhǔn)確性；傳統(tǒng)的電路板測(cè)試儀不能設(shè)定測(cè)試時(shí)間，進(jìn)行報(bào)警控制，因此，傳統(tǒng)的電路板測(cè)試儀存在不便于操作者操作、使用、溫差大的缺陷。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于克服上述缺陷，提供一種能有效降低測(cè)試儀外殼溫度、且測(cè)試儀內(nèi)溫度分布均勻，并可對(duì)線路板測(cè)試過程的測(cè)試時(shí)間進(jìn)行設(shè)定、報(bào)警的電路板可焊性測(cè)試儀。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案如下提供一種可焊性測(cè)試儀，包括加熱箱、設(shè)置在加熱箱上部的蓋板，所述的加熱箱包括箱體、設(shè)置在箱體內(nèi)的內(nèi)膽及設(shè)置在內(nèi)膽下部的U形支架，箱體上蓋向下折彎形成一凹槽，凹槽內(nèi)設(shè)有內(nèi)膽插入的開口，開口的形狀與內(nèi)膽的橫截面形狀相適應(yīng)，且內(nèi)膽的橫截面尺寸小于開口的尺寸，使內(nèi)膽與凹槽形成一間隙，內(nèi)膽與箱體上蓋折彎處形成的腔體內(nèi)設(shè)有隔熱層，內(nèi)膽上部與箱體上蓋向下折彎處通過螺栓緊固連接；螺栓緊固件與箱體上蓋折彎處相接觸處設(shè)有云母板，U形支架上鋪設(shè)有鐵板，鐵板上鋪設(shè)有保溫層，保溫層上鋪設(shè)有云母板，云母板上鋪設(shè)有加熱板，加熱板上鋪設(shè)有鋁板，鋁板與內(nèi)膽底部相接觸，U形支架通過支撐板與箱體底部固定連接，箱體與內(nèi)膽之間的空腔內(nèi)填充有高溫棉。
所述可焊性測(cè)試儀還包括一控制箱，在加熱箱、控制箱的側(cè)壁上開設(shè)有對(duì)應(yīng)的通孔，通孔中裝有連接螺栓，加熱箱與控制箱通過連接螺栓緊固連接，控制箱內(nèi)設(shè)有采用PID控制的溫控儀，溫控儀與SCR可控硅開關(guān)相連接，SCR可控硅開關(guān)與加熱箱中的加熱板相連接。
所述控制箱內(nèi)還設(shè)有用于計(jì)錄測(cè)試時(shí)間的計(jì)時(shí)器及報(bào)警器。
所述控制箱側(cè)壁上設(shè)排氣扇。
本實(shí)用新型所述可焊性測(cè)試儀具有如下優(yōu)點(diǎn)，在內(nèi)膽與箱體折彎處形成的腔體內(nèi)設(shè)有隔熱層，內(nèi)膽上部與箱體上部開口向下折彎處通過螺栓緊固件連接，箱體不直接與內(nèi)膽接觸，能有效減少內(nèi)膽向箱體傳遞熱量，降低了箱體的表面溫度，操作安全；在加熱板上設(shè)有傳熱性能好的鋁板，使加熱板傳遞熱量快且均勻；采用PID控制的溫控儀及SCR可控硅開關(guān)，提高了溫度控制的精確度；在控制箱內(nèi)設(shè)置計(jì)時(shí)器及報(bào)警器，可對(duì)測(cè)試過程進(jìn)行計(jì)時(shí)和報(bào)警控制。


圖1是本實(shí)用新型可焊性測(cè)試儀的俯視圖；圖2是圖1的A-A剖視圖；圖3是圖1的左視圖。
具體實(shí)施方式
參照?qǐng)D1、圖2、圖3，提供一種可焊性測(cè)試儀，包括加熱箱1、設(shè)置在加熱箱1上部的蓋板2，所述的加熱箱1包括箱體3、設(shè)置在箱體3內(nèi)的內(nèi)膽4及設(shè)置在內(nèi)膽4下部的U形支架5，箱體上蓋6向下折彎形成一凹槽，凹槽內(nèi)設(shè)有內(nèi)膽4插入的開口，開口的形狀與內(nèi)膽4的橫截面形狀相適應(yīng)，且內(nèi)膽4的橫截面尺寸小于開口的尺寸，使內(nèi)膽與凹槽形成一間隙，內(nèi)膽4與箱體上蓋6折彎處形成的腔體內(nèi)設(shè)有隔熱層7，內(nèi)膽4上部與箱體上蓋6向下折彎處通過螺栓8緊固連接；螺栓8緊固件與箱體上蓋6折彎處相接觸處設(shè)有云母板9，U形支架5上鋪設(shè)有鐵板10，鐵板10上鋪設(shè)有保溫層11，保溫層11上鋪設(shè)有云母板12，云母板12上鋪設(shè)有加熱板13，加熱板13上鋪設(shè)有鋁板14，鋁板14與內(nèi)膽4底部相接觸，U形支架5通過支撐板15與箱體3底部固定連接，箱體3與內(nèi)膽4之間的空腔內(nèi)填充有高溫棉16。
所述可焊性測(cè)試儀還包括一控制箱17，在加熱箱1、控制箱17的側(cè)壁上開設(shè)有對(duì)應(yīng)的通孔，通孔中裝有連接螺栓18，加熱箱與控制箱通過連接螺栓18緊固連接，控制箱17內(nèi)設(shè)有采用PID控制的溫控儀，溫控儀與SCR可控硅開關(guān)相連接，SCR可控硅開關(guān)與加熱箱1中的加熱板相連接。
所述控制箱17內(nèi)還設(shè)有用于計(jì)錄測(cè)試時(shí)間的計(jì)時(shí)器及報(bào)警器。
所述控制箱17側(cè)壁上設(shè)排氣扇19。
權(quán)利要求1.一種可焊性測(cè)試儀，包括加熱箱、設(shè)置在加熱箱上部的蓋板，其特征在于，所述的加熱箱包括箱體、設(shè)置在箱體內(nèi)的內(nèi)膽及設(shè)置在內(nèi)膽下部的U形支架，箱體上蓋向下折彎形成一凹槽，凹槽內(nèi)設(shè)有內(nèi)膽插入的開口，開口的形狀與內(nèi)膽的橫截面形狀相適應(yīng)，且內(nèi)膽的橫截面尺寸小于開口的尺寸，使內(nèi)膽與凹槽形成一間隙，內(nèi)膽與箱體上蓋折彎處形成的腔體內(nèi)設(shè)有隔熱層，內(nèi)膽上部與箱體上蓋向下折彎處通過螺栓緊固連接；螺栓緊固件與箱體上蓋折彎處相接觸處設(shè)有云母板，U形支架上鋪設(shè)有鐵板，鐵板上鋪設(shè)有保溫層，保溫層上鋪設(shè)有云母板，云母板上鋪設(shè)有加熱板，加熱板上鋪設(shè)有鋁板，鋁板與內(nèi)膽底部相接觸，U形支架通過支撐板與箱體底部固定連接，箱體與內(nèi)膽之間的空腔內(nèi)填充有高溫棉。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述可焊性測(cè)試儀，其特征在于，還包括一控制箱，在加熱箱、控制箱的側(cè)壁上開設(shè)有對(duì)應(yīng)的通孔，通孔中裝有連接螺栓，加熱箱與控制箱通過連接螺栓緊固連接，控制箱內(nèi)設(shè)有采用PID控制的溫控儀，溫控儀與SCR可控硅開關(guān)相連接，SCR可控硅開關(guān)與加熱箱中的加熱板相連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述可焊性測(cè)試儀，其特征在于，控制箱內(nèi)設(shè)有用于計(jì)錄測(cè)試時(shí)間的計(jì)時(shí)器及報(bào)警器。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述可焊性測(cè)試儀，其特征在于，控制箱側(cè)壁上設(shè)排氣扇。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種可焊性測(cè)試儀，包括加熱箱、設(shè)置在加熱箱上部的蓋板，所述的加熱箱包括箱體、設(shè)置在箱體內(nèi)的內(nèi)膽及設(shè)置在內(nèi)膽下部的U形支架，還包括一控制箱，在加熱箱、控制箱的側(cè)壁上開設(shè)有對(duì)應(yīng)的通孔，通孔中裝有連接螺栓，加熱箱與控制箱通過連接螺栓緊固連接，控制箱內(nèi)設(shè)有采用PID控制的溫控儀，溫控儀與SCR可控硅開關(guān)相連接，SCR可控硅開關(guān)與加熱箱中的加熱板相連接。具有能有效降低測(cè)試儀外殼溫度、且測(cè)試儀內(nèi)溫度分布均勻，并可對(duì)線路板測(cè)試過程的測(cè)試時(shí)間進(jìn)行設(shè)定、報(bào)警的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK2775654SQ20052005407
公開日2006年4月26日 申請(qǐng)日期2005年1月28日 優(yōu)先權(quán)日2005年1月28日
發(fā)明者徐地華, 梅領(lǐng)亮, 梁金貴 申請(qǐng)人:徐地華