專利名稱：檢測馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)的檢測裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種檢測裝置，特別是一種可對馬達轉(zhuǎn)子進行精密測量的檢測裝置。
背景技術：
目前已有許多不同的方法與裝置被用來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。事實上，用于測量或檢測旋轉(zhuǎn)軸的方法及/或裝置亦可用于檢測馬達轉(zhuǎn)子。
習慣上，如上所述的旋轉(zhuǎn)檢測器用于檢測旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。美國專利公告第4,030,066號揭示一種回轉(zhuǎn)儀，其以同心環(huán)繞的方式安裝在該轉(zhuǎn)軸上，該轉(zhuǎn)軸連接在方向盤上，使該回轉(zhuǎn)儀可通過檢測該轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動角度來判斷出方向盤的旋轉(zhuǎn)角度。除了回轉(zhuǎn)儀之外，另外還有許多不同的裝置可用來檢測旋轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動角度，如共振旋轉(zhuǎn)率檢測器(Resonant Rotation Rate Sensor)，其利用共振叉狀結(jié)構(gòu)，其通常是由alpha-石英(Alpha Quartz)所制成，如美國專利公告第4,899,587號、第5,284,059號與第5,796,002號等專利所揭示。
電容性傳感器(Capacitive Transducer)被廣泛地使用在檢測旋轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動角度上，如美國專利公告第3,732,553號、第4,864,295號、第5,099,386號、第5,537,109號與第6,218,803號等專利所揭示。電容性傳感器通常包括兩個固定電容板與一塊可移動板，其被裝設于旋轉(zhuǎn)軸上，使該可移動板可被該旋轉(zhuǎn)軸驅(qū)動而旋轉(zhuǎn)。該可移動板可為導電性或絕緣性且被夾在兩固定電容板之間。該傳感器的電容由該可移動板的旋轉(zhuǎn)位置來決定，因此該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)角度可由檢測該傳感器的電容值來測得。
目前，有兩種方法常被用于檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)。一種是運用磁效應理論而另一種是利用光學相關理論。
請參閱圖1，圓柱磁性轉(zhuǎn)子12形成于馬達轉(zhuǎn)軸10上且檢測板14設置于靠近該磁性轉(zhuǎn)子12的位置。該磁性轉(zhuǎn)子12可包括復數(shù)個磁性帶13其可產(chǎn)生不同的磁場。當該磁性轉(zhuǎn)子12隨馬達轉(zhuǎn)軸10同步旋轉(zhuǎn)時，檢測板14可通過讀取磁性帶13的磁場變化來檢測出磁性轉(zhuǎn)子12的旋轉(zhuǎn)，并且送出相應訊號給相關的裝置或組件以進行計算或控制動作。
圖2揭示另一類似的實施例。以預設需求的電量充電的線圈被用于產(chǎn)生相應的磁場。轉(zhuǎn)子線圈形成于馬達(圖中未示)的解析器(Resolver)轉(zhuǎn)子20上，相應的另一線圈23以交流電充電且被設置于轉(zhuǎn)子20旁邊。當該轉(zhuǎn)子線圈22與馬達同步旋轉(zhuǎn)且同時線圈23被以交流電充電時，該轉(zhuǎn)子線圈可由此而產(chǎn)生變化的磁場，該變化的磁場會使位于轉(zhuǎn)子20旁的一個線圈組25產(chǎn)生相應的電量(此可為交流電)載有該轉(zhuǎn)子20的旋轉(zhuǎn)信息，該信息可由一些適當裝置來讀取(圖中未示)。
另一種現(xiàn)有裝置利用位于馬達的中央轉(zhuǎn)軸上的旋轉(zhuǎn)盤與永久磁鐵環(huán)繞設置于該旋轉(zhuǎn)盤上。因此，該磁鐵配合磁感應組件共同運作以檢測馬達的旋轉(zhuǎn)速度。
如美國專利公告第6,657,346號所揭示，一種裝置包括馬達與齒輪外殼設置于該馬達上。齒輪環(huán)繞設置于該馬達的轉(zhuǎn)軸上并與位于該齒輪外殼的內(nèi)部空間的復數(shù)個齒輪的其中的一相嚙合。在齒輪外殼內(nèi)的復數(shù)個齒輪彼此相嚙合，而其中一個齒輪連接至旋轉(zhuǎn)軸。兩個永久磁鐵內(nèi)置于齒輪外殼內(nèi)的該復數(shù)個齒輪的其中之一，磁感應組件設置于基板上。該基板連同基座固定地裝設于具有該磁感應組件于其上的該外殼本體上。該兩個永久磁鐵內(nèi)嵌于該復數(shù)個齒輪的其中之一，用以在該磁感應組件與該兩個永久磁鐵維持一個固定距離。球形感應組件被用來作為該磁感應組件，并由兩永久磁鐵的N極與S極所形成的磁場來控制，以達成檢測馬達旋轉(zhuǎn)速度的目的。
美國專利公告第4,626,781號也揭示了一種裝置用于檢測旋轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動速度及/或速度，且具有隨該旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)的動作傳送器。該裝置包括被當作磁鐵的動作傳送器、一個與磁場相依的檢測器從該動作傳送器接收訊號，及永久磁鐵設置于該檢測器與估測電路旁，該估測電路與檢測器相連接。該動作傳送器為齒輪形狀被安裝在旋轉(zhuǎn)軸上，用以檢測該旋轉(zhuǎn)軸并與其同步旋轉(zhuǎn)。該檢測器靠近該動作傳送器的齒部并具有帶狀鐵心，該鐵心具有線圈纏繞其外。該帶狀鐵心為軟磁性(soft-magnetic)合金，且該線圈整合于該估測電路中。該永久磁鐵設置于該齒部與帶狀鐵心之間，實際上，該永久磁鐵位于該齒部上，該永久磁鐵與檢測器位于該動作傳送器的徑向平面上。當該動作傳送器轉(zhuǎn)動時，其上的齒部將橫向穿越該永久磁鐵所形成的磁場，且由于該永久磁鐵所形成的磁場與檢測器所形成的磁場相配合，因此線圈上會產(chǎn)生感應電流，該感應電流會隨該齒部橫越該永久磁鐵所形成的磁場時其磁通量的變化而改變。
美國專利公告第6,589,151號揭示另一種轉(zhuǎn)子識別檢測器，其采用旋轉(zhuǎn)編碼器的方法。該轉(zhuǎn)子具有轉(zhuǎn)子識別信息接收器，該轉(zhuǎn)子識別信息接收器安裝于該轉(zhuǎn)子的底部上。該轉(zhuǎn)子識別信息接收器具有孔洞與平面部以作為識別標記，該孔洞與平面部以等角方式沿著該轉(zhuǎn)子識別信息接收器的底面上的圓環(huán)排列于其上。該離心分離器另包括檢測器用以產(chǎn)生檢測訊號來指示被檢測到的孔洞與平面部。該轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)所產(chǎn)生檢測訊號的變化代表該孔洞的模式。該檢測訊號的變化可由旋轉(zhuǎn)編碼器來產(chǎn)生與旋轉(zhuǎn)位置相關的二進制編碼訊號。
圖3與圖4為利用光學理論來檢測馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)的實施例。碟盤32固定于馬達的轉(zhuǎn)軸30上且可與其同步旋轉(zhuǎn)。復數(shù)個狹縫33環(huán)繞形成于該碟盤32上且接近其邊緣。校準狹縫34形成于該狹縫33所形成的圓環(huán)旁，用以提供參考標記點。屏蔽35設置于發(fā)光二極管與該碟盤之間，該屏蔽35具有兩狹槽37使該發(fā)光二極管所發(fā)出的光線可通過該狹槽，且亦可通過該屏蔽35上的校準狹槽38，校準狹槽38對應于該碟盤32的校準狹縫34。相應的光敏晶體管裝置36設置于該碟盤32上與屏蔽35及發(fā)光二極管相對的一側(cè)，用以讀取通過該碟盤32的狹縫33的光線。
該發(fā)光二極管、屏蔽35與碟盤32的排配可使從發(fā)光二極管而來的兩光線直接到達碟盤32的狹縫33，且通過后到達光敏晶體管裝置36。當?shù)P32隨該馬達轉(zhuǎn)軸30旋轉(zhuǎn)至適當位置時，使該校準狹縫34對準校準狹槽38，該光敏晶體管裝置36可接收校準光線以產(chǎn)生參考標記來作為起點或終點。
因此，如圖5與圖6中所示，通過屏蔽35的狹槽37與碟盤32的狹縫33的兩光線并非同時抵達光敏晶體管裝置36。而當該校準光線I指示該碟盤32的參考起點或終點時，亦即為該馬達轉(zhuǎn)軸30的參考起點或終點，上述裝置的配置使光線A領先另一光線B。
圖5為對應于光線A的信道A、對應于光線B的信道B與對應于校準光線I的信道I的數(shù)字波形圖。信道A與信道B的波形其相位差為90度。兩個信道A或信道B的半波形可組成信道I的完整波形。
請同時參閱圖6，信道A、信道B與信道I的波形分別包含一連串的波峰與波谷，其分別代表高電位與低電位。因此，信道A、B與I所載有的訊號信息可分別被轉(zhuǎn)換成二進制碼并以該二進制碼來表示所載有的訊息，如“101010...”。S1、S2、S3與S4分別對應圖5所示波形中每90度的相位波形，而其全部可組成完整的波形，亦即為360度的波形。
雖然該旋轉(zhuǎn)編碼器方法可在檢測馬達旋轉(zhuǎn)時得到相對較準確的檢測結(jié)果，但由旋轉(zhuǎn)狹縫碟盤與光敏晶體管等裝置所組成的旋轉(zhuǎn)編碼器將無可避免地增加所需的空間與成本。
美國專利公告第4,644,157號提供一種光學旋轉(zhuǎn)檢測裝置用于無電刷直流馬達以檢測該馬達轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動信息。復數(shù)個狹縫以相等間距沿著旋轉(zhuǎn)盤的周圍來排列。光電轉(zhuǎn)換組件以一定間距環(huán)繞排列，該間距為該狹縫間距的整數(shù)倍且包括第一組光電轉(zhuǎn)換組件以一個接一個的方式來排列，由此可產(chǎn)生第一旋轉(zhuǎn)信息訊號，而第一旋轉(zhuǎn)信息訊號與第二旋轉(zhuǎn)信息訊號具有90度的相位差。第一與第二旋轉(zhuǎn)信息訊號的相位被用來彼此比較以檢測出該轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)方向。該光電轉(zhuǎn)換組件包括非晶硅(amorphous silicon)光電轉(zhuǎn)換組件。
然而，上述檢測裝置無論是利用磁感應或是光學理論的方式，都會增加額外的組件，如磁性轉(zhuǎn)子、線圈或具有狹縫的碟盤，這些組件都必然會需要在馬達內(nèi)部有限的空間中占據(jù)額外的空間，如此會使該馬達體積過于龐大。
而且，如上所述的現(xiàn)有技術通常無法提供該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的極精密檢測或測量結(jié)果。要不然就是需要設計與制造更復雜的相應檢測裝置來達到更精密的檢測結(jié)果，但這會增加制造成本。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種新穎的檢測裝置用以檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)，其可對該馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作進行精密測量。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種檢測裝置用以檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)，其具有識別標記裝置形成于該馬達轉(zhuǎn)子的整體部件上，如圓柱肩部，而無需使用額外的獨立組件，以實現(xiàn)簡單的結(jié)構(gòu)并降低制造成本。
為達成上述目的，本發(fā)明中用于檢測馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)的檢測裝置包括光源、識別標記裝置與檢測器，其中該識別標記裝置位于該馬達轉(zhuǎn)子的周圍，該檢測器用以檢測由該光源所發(fā)出并經(jīng)過該識別標記裝置的光線。
該光源位于識別標記裝置與馬達轉(zhuǎn)子的旁邊。該檢測器位于馬達轉(zhuǎn)子的旁邊與光源同側(cè)的位置，用以接收由識別標記裝置所反射而來的光線。該識別標記裝置可被置于圓柱肩部上，該圓柱肩部形成于馬達轉(zhuǎn)子的周圍，由此可隨該馬達轉(zhuǎn)子同步地旋轉(zhuǎn)。
另外，該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。該光源可為激發(fā)固態(tài)激光裝置。
該識別標記裝置可被軸向地裝設于該圓柱肩部的外部表面的周圍，亦可以垂直于該馬達轉(zhuǎn)子的方向來裝設于該圓柱肩部的一個端面上。
該識別標記裝置可包括復數(shù)個溝槽形成于該圓柱肩部的外部表面上。溝槽以光源所發(fā)出的第一光線與第二光線所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該溝槽底部并被其反射，該第二光線則到達相鄰溝槽之間的分隔部并被其反射，該分隔部較該溝槽凸出。
相應的第一反射光線與相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)。
該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
另外，該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
另一方面，該溝槽與其間的分隔部的排列方式亦可確保該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線并根據(jù)預設的規(guī)則來產(chǎn)生相應的交錯與連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
該識別標記裝置可包括復數(shù)個凸出部形成于該圓柱肩部的外部表面上。凸出部以光源所發(fā)出的第一光線與第二光線所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該凸出部并被其反射，該第二光線可到達相鄰凸出部之間的分隔部并被其反射，該分隔部較該凸出部為低。
相應的第一反射光線與相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)。
該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
另外，該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
另一方面，該凸出部與其間的分隔部的排列方式亦可確保該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線并根據(jù)預設的規(guī)則來產(chǎn)生相應的交錯與連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
該識別標記裝置可為彩色裝置。
該彩色裝置可由一連串連續(xù)的彩色部所組成，其顏色變化由亮到暗，或可由連續(xù)的彩色部來組成，其變化方式為色調(diào)、亮度及/或色彩濃度的變化。該彩色裝置亦可由彼此具有不同顏色的連續(xù)的彩色部所組成。
該彩色部的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。該彩色部的排列方式可使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。該彩色部可被排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
該識別標記裝置可包括刻度裝置以作為參考標記，其設置于該識別標記裝置之中。
該刻度裝置可為刻度溝槽，其深度與上述溝槽的深度不同，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度溝槽底部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
該刻度裝置可為刻度凸出部，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
該刻度裝置亦可為具有獨特顏色的刻度部，使該檢測器可借著比較由該刻度部所反射的光線與由溝槽及分隔部所反射的光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
以下結(jié)合附圖與實施例對本發(fā)明作進一步的說明。


圖1為第一現(xiàn)有技術的結(jié)構(gòu)圖；
圖2為第二現(xiàn)有技術的結(jié)構(gòu)圖；圖3為第三現(xiàn)有技術的結(jié)構(gòu)圖；圖4為第三現(xiàn)有技術的結(jié)構(gòu)分解圖；圖5為第三現(xiàn)有技術的輸出波形示意圖；圖6為第三現(xiàn)有技術的輸出波形圖；圖7為由本發(fā)明第一實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖8為由本發(fā)明第二實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖9為由本發(fā)明第三實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖10為由本發(fā)明第四實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖11為由本發(fā)明第五實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖12為由本發(fā)明第六實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖13為由本發(fā)明第七實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；
圖14為由本發(fā)明第八實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖15為由本發(fā)明第九實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖16為由本發(fā)明第十實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖17為由本發(fā)明第十一實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖18為由本發(fā)明第十二實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖19為由本發(fā)明第十三實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖20為由本發(fā)明第十四實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖21為由本發(fā)明第十五實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖22為由本發(fā)明第十六實施例的識別標記裝置的從一個端面觀察的示意圖；圖23為本發(fā)明第一實施例的外觀立體圖；
圖24為本發(fā)明第二實施例的外觀立體圖；圖25為本發(fā)明第三實施例的外觀立體圖；圖26為本發(fā)明第四實施例的外觀立體圖；及圖27為本發(fā)明第十四實施例的外觀立體圖。
具體實施例方式
本發(fā)明將以隨后的實施例詳加敘述。請注意這里所說的本發(fā)明的較佳實施例僅為例示本發(fā)明的實施方法，并不是本發(fā)明所有可行的實施方式或限制本發(fā)明的實施方式。
請參閱圖7至圖27，根據(jù)本發(fā)明，檢測裝置5用以檢測馬達轉(zhuǎn)子4的旋轉(zhuǎn)，該檢測裝置5包括光源7、識別標記裝置6及檢測器8，其中該識別標記裝置6位于該馬達轉(zhuǎn)子4的周圍，該檢測器8用以檢測由該光源7所發(fā)出并經(jīng)過該識別標記裝置6的光線。
光源7位于識別標記裝置6與馬達轉(zhuǎn)子4的旁邊。檢測器8位于馬達轉(zhuǎn)子4的旁邊與光源7同側(cè)的位置，用以接收由識別標記裝置6所反射而來的光線。識別標記裝置6可被置于圓柱肩部42上，該圓柱肩部42形成于馬達轉(zhuǎn)子4的周圍，由此可隨該馬達轉(zhuǎn)子4同步地旋轉(zhuǎn)。
另外，該光源7，可為如圖20、21、23及27中所示的二極管激發(fā)固態(tài)激光裝置7’，可發(fā)出兩種不同波長的光線，而如上述圖標中的檢測器8’可分別接收與讀取由該識別標記裝置6所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有詳細的信息，因此該檢測裝置5可對該馬達轉(zhuǎn)子4進行相當精密的測量。
該識別標記裝置6可被軸向地裝設于該圓柱肩部42的外部表面的周圍。亦可以垂直于該馬達轉(zhuǎn)子的方向來裝設于該圓柱肩部42的一個端面上。
請參閱圖7，其為本發(fā)明的第一實施例。本發(fā)明第一實施例的識別標記裝置6可包括復數(shù)個溝槽610形成于該馬達轉(zhuǎn)子4的圓柱肩部42的外部表面上。
溝槽610以光源7所發(fā)出的第一光線與第二光線在一段平均時間內(nèi)所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該溝槽610底部并被其反射，該第二光線可到達相鄰溝槽610的分隔部(未標號)并被其反射，該分隔部較該溝槽610凸出。
一束相應的第一反射光線與一束相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)。該倍數(shù)可根據(jù)該檢測器于不同情況下的實際需求來決定。
該溝槽610與分隔部之間的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器8可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，如“111000...”，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
另外，該溝槽與分隔部之間的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器8可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，如“010101...”，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
另一方面，該溝槽610與分隔部之間的排列方式亦可確保該檢測器8可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線并根據(jù)預設的規(guī)則來產(chǎn)生相應的交錯與連續(xù)的二進制編碼訊號，如“10110001101...”，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
圖8與圖24為本發(fā)明的第二實施例。該檢測裝置5的識別標記裝置6可包括復數(shù)個凸出部612形成于該圓柱肩部42的外部表面上。
凸出部612以光源7所發(fā)出的第一光線與第二光線所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該凸出部612并被其反射，該第二光線可到達相鄰凸出部612之間的分隔部(未標號)并被其反射，該分隔部較該凸出部612為低。
一束相應的第一反射光線與相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源7所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)，其與第一實施例所述實質(zhì)上相同。
該凸出部612與其間該分隔部的排列方式可滿足如前述的第一實施例所提及的實質(zhì)上相同的需求與規(guī)則，因此，此處不再贅述其細節(jié)。
如分別于圖9與圖10中所示，該識別標記裝置6亦可為彩色裝置620。
如圖9與圖25所示本發(fā)明的第三實施例，該彩色裝置620可由一連串連續(xù)的彩色部622所組成，其顏色變化由亮到暗。該彩色部622的特定顏色可為綠色或黃色，或其它所需的適當顏色。
彩色部622可確保該檢測器8可通過讀取首先自光源7所發(fā)出接著分別被彩色裝置620的相應的相鄰彩色部622所反射的光線來檢測該馬達轉(zhuǎn)子4的旋轉(zhuǎn)動作。
舉例來說，該彩色部622的排列方式可使其反射性可根據(jù)檢測器8的需求來變化。該彩色部622可被交錯地排列，使相鄰彩色部622的反射光波長可根據(jù)檢測器8的需求來變化。
該彩色裝置620可由連續(xù)的彩色部625來組成，如圖10與圖26中所示的第四實施例，該彩色部625其各具有不同的顏色。
第四實施例中所示的彩色裝置620的排列方式實質(zhì)上與第三實施例所述相同，此處不再贅述。
圖11為本發(fā)明的第五實施例。該識別標記裝置6以溝槽630、凸出部632與分隔部635的組合方式來排列。
實際上，在此第五實施例中識別標記裝置6的排列方式非常類似于前述第一與第二實施例的排列方式。第一反射光線、第二反射光線與第三反射光線所行經(jīng)的距離差可分別為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)，其中該第一反射光線由該溝槽630所反射，該第二反射光線由該凸出部632所反射，該第三反射光線由該分隔部635所反射。該預設倍數(shù)可根據(jù)該檢測器8于不同情況下的實際需求來決定。
該溝槽630、凸出部632與分隔部635之間的排列方式可確保該第一反射光線、第二反射光線與第三反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器8可通過讀取該第一反射光線、第二反射光線與第三反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，如“11100010...”，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
另外，該溝槽630、凸出部632與分隔部635之間的排列方式可確保該第一反射光線、第二反射光線與第三反射光線所行經(jīng)的不同距離可以預設方式交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線、第二反射光線與第三反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，如“010101...”，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)4子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
圖12、13、14與15分別為本發(fā)明的第六、第七、第八與第九實施例，其中該識別標記裝置6包括刻度裝置65。
在第六實施例中，該識別標記裝置6包括該刻度裝置65與復數(shù)個溝槽610以環(huán)繞方式形成于該馬達轉(zhuǎn)子4的圓柱肩部42的外部表面上。
該刻度裝置65排列在該溝槽610之中。
該刻度裝置65可為刻度溝槽，其深度與溝槽610的深度不同，使該檢測器8可通過讀取反射光線由該刻度溝槽底部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
該刻度裝置65可為刻度凸出部，使該檢測器8可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器8所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
該刻度裝置65可為具有獨特顏色的刻度部，使該檢測器8可借著比較由該刻度部所反射的光線與由溝槽610及分隔部所反射的光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
該溝槽610的排列方式可滿足如前述的第一實施例與其它實施例中所提及的實質(zhì)上相同的需求。
如圖13所示的第七實施例，該識別標記裝置6包括刻度裝置65與復數(shù)個凸出部612以環(huán)繞方式形成于該馬達轉(zhuǎn)子4的圓柱肩部42的外部表面上。
該刻度裝置65排列于該凸出部612之中。而關于針對該刻度裝置65與該凸出部的排列方式的要求，實質(zhì)上第七實施例與前述實施例皆相同。
如圖14與圖15所示的第八實施例與第九實施例，該識別標記裝置6具有環(huán)繞的彩色裝置620與刻度裝置65。
在圖14的第八實施例中，該彩色裝置620可由一連串連續(xù)的彩色部622所組成，其顏色變化為由亮到暗。該彩色裝置620的排列方式與圖9中的第三實施例實質(zhì)上相同。該彩色裝置排列在彩色部622之中。，該彩色部622的特定顏色可為綠色或黃色，或其它所需的適當顏色。而關于針對該刻度裝置65的相關要求請參閱前述實施例的相關敘述。
如圖15所示的第九實施例，該彩色裝置620由連續(xù)的彩色部所組成，其變化方式為色調(diào)、亮度及/或色彩濃度的變化。而排列方式與第八實施例實質(zhì)上相同。
另外在圖16到圖19所示的第十實施例到第十三實施例中，該識別標記裝置6是由某些合適的部份透明材料所制成。該檢測器8因此可被設置于該馬達轉(zhuǎn)子4的內(nèi)部空間中。
在第十、第十一、第十二與第十三實施例中，除了該識別標記裝置6為部份透明材料與該檢測器設置于該馬達轉(zhuǎn)子4的內(nèi)部空間之外，其它部份皆分別與第一、第二、第三與第四實施例相同。因此該檢測器8可讀取通過該部份透明的識別標記裝置6的光線的變化。該變化可為強度的變化或是波長的變化。就后者來說，該識別標記裝置6可吸收具有一種或多種特定波長的光線，或使通過的光線產(chǎn)生某些變化。
在圖20、21與22中所示的第十四、第十五與第十六實施例中，該光源7’可發(fā)出不同波長的兩種光線。該檢測器8’可通過接收與讀取由識別標記裝置6所反射的具有不同波長的兩種光線，其分別如圖20與圖21中所示的第十四與第十五實施例，來產(chǎn)生相應的二進制編碼訊號，其載有更詳細的信息。因此，該檢測裝置5可非常精密地測量馬達轉(zhuǎn)子4的旋轉(zhuǎn)動作。這些實施例的光源7’可為激光二極管，特別是激發(fā)固態(tài)激光。
請參閱圖27，第十四實施例的設計非常近似于第四實施例，除了其使用的光源7’可發(fā)出不同波長的兩種光線之外，而且其檢測器8’可檢測通過識別標記裝置6的不同波長的兩種光線。因此，在此實施例中的檢測裝置5其它必要與可能的配置方式，可參照的前的第四實施例。
圖21所示的第十五實施例與圖20所示的第十四實施例的主要不同點在于刻度裝置65排列于該識別標記裝置6之中。而該刻度裝置65的排列方式可參照前述實施例的相關內(nèi)容。
而在圖22所示的第十六實施例與第十四及第十五實施例的主要不同處在于該識別標記裝置6為部份透明，與前述第十三實施例實質(zhì)上相同。
電荷耦合組件(Charge-Coupled Device，CCD)或互補金氧半導體(Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS)亦可被用于實現(xiàn)本發(fā)明。
如一般所知，電荷耦合組件或互補金氧半導體組件在拍攝目標物體時不太需要額外的光源。周遭環(huán)境的光線即已足夠使其可拍攝并識別特定物體的影像。
因此，當本發(fā)明的識別標記裝置6隨著轉(zhuǎn)子4同步旋轉(zhuǎn)時，電荷耦合組件或互補金氧半導體組件可被用于檢測由識別標記裝置6所反射的光線的變化。所以，電荷耦合組件或互補金氧半導體組件可取代本發(fā)明中該檢測器8與光源7。而電荷耦合組件或互補金氧半導體組件可設置于轉(zhuǎn)子4的旁邊。
轉(zhuǎn)子4的外殼可具有一些開口，使其內(nèi)部可具有足夠的光線讓電荷耦合組件或互補金氧半導體組件可拍攝并識別該識別標記裝置6，因此可檢測該識別標記裝置6與轉(zhuǎn)子4的旋轉(zhuǎn)動作。或者其內(nèi)部具有足夠光線的話，轉(zhuǎn)子4的外殼甚至不需要有開口。因此，電荷耦合組件或互補金氧半導體組件可用來取代上述實施例中的檢測器8，或同時取代該檢測器8與光源7。
另外，理論上來說，其它可用的攝像組件亦可以被用來取代本發(fā)明中的該檢測器8，或同時取代該檢測器8與光源7。如同上述的電荷耦合組件或互補金氧半導體組件的使用方式。
或者，該檢測器8與光源7，或電荷耦合組件或互補金氧半導體組件可被設置于該轉(zhuǎn)子4上，而該識別標記裝置6可被設置于該轉(zhuǎn)子4旁邊。因此，該光線首先會由光源7發(fā)出到該識別標記裝置6，然后再從識別標記裝置6回到檢測器8。
當該光源7與檢測器8隨轉(zhuǎn)子4同步旋轉(zhuǎn)，而該識別標記裝置6保持不動時，該檢測器8可檢測從識別標記裝置6而來的光線變化，由于該識別標記裝置6與前述的實施例實質(zhì)上相同，因而此處不再贅述。同樣地，此實施例的其它配置亦與上述本發(fā)明的實施例實質(zhì)上相同，此處亦不再贅述。
另一方面，由于電荷耦合組件或互補金氧半導體組件8可直接檢測該識別標記裝置6的影像，因此識別標記裝置6可包括一連串識別部(如彩色部、溝槽或凸出部等)，其可根據(jù)電荷耦合組件或互補金氧半導體組件適當?shù)膬?nèi)部電路的要求而隨意地排列，而不需預先排列。
在該檢測裝置被使用的前，檢測器8(電荷耦合組件或互補金氧半導體組件)應先檢測識別標記裝置6的全部影像以建立比較的模型。舉例來說，識別標記裝置6可被制造成在檢測器8前面環(huán)繞地旋轉(zhuǎn)，因此檢測器8可檢測該識別標記裝置6全部的影像。當在使用中時，檢測器8可把所檢測的全部影像作為比較模型，因此檢測由識別標記裝置6而來的光線變化，以計算該識別標記裝置6相應的旋轉(zhuǎn)角度。
以上所介紹的，僅僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，不能以此來限定本發(fā)明實施的范圍。本技術領域內(nèi)的一般技術人員根據(jù)本發(fā)明所作的等同的變化，以及本領域內(nèi)技術人員熟知的改進，都應仍屬于本發(fā)明專利涵蓋的范圍。
權(quán)利要求
1.一種用以檢測馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)的檢測裝置，其特征在于包括光源、識別標記裝置及檢測器，該檢測器用以檢測由該光源所發(fā)出并經(jīng)過該識別標記裝置的光線。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于該光源設置于該識別標記裝置與該轉(zhuǎn)子的旁邊。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器位于馬達轉(zhuǎn)子的旁邊與光源同側(cè)的位置，用以接收由識別標記裝置所反射而來的光線。
4.如權(quán)利要求3所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可置于一個圓柱肩部上，該圓柱肩部形成于該轉(zhuǎn)子的周圍，并可隨該馬達轉(zhuǎn)子同步地旋轉(zhuǎn)。
5.如權(quán)利要求4所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可被軸向地裝設于該圓柱肩部的外部表面的周圍。
6.如權(quán)利要求4所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可以垂直于該馬達轉(zhuǎn)子的方向來裝設于該圓柱肩部的一個端面上。
7.如權(quán)利要求5或6所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可包括復數(shù)個形成于該圓柱肩部上的溝槽。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽以該光源所發(fā)出的第一光線與第二光線所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該溝槽底部并被其反射，該第二光線則到達相鄰溝槽之間的分隔部并被其反射，該分隔部較該溝槽凸出。
9.如權(quán)利要求8所述的檢測裝置，其特征在于相應的第一反射光線與相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)。
10.如權(quán)利要求9所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
11.如權(quán)利要求10所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
12.如權(quán)利要求11所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線并根據(jù)預設的規(guī)則來產(chǎn)生相應的交錯與連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
13.如權(quán)利要求12所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
14.如權(quán)利要求5或6所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可包括復數(shù)個形成于該圓柱肩部上的凸出部。
15.如權(quán)利要求14所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部以光源所發(fā)出的第一光線與第二光線所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該凸出部并被其反射，該第二光線可到達相鄰凸出部之間的分隔部并被其反射，該分隔部較該凸出部低。
16.如權(quán)利要求15所述的檢測裝置，其特征在于相應的第一反射光線與相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)。
17.如權(quán)利要求16所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
18.如權(quán)利要求17所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
19.如權(quán)利要求18所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線并根據(jù)預設的規(guī)則來產(chǎn)生相應的交錯與連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
20.如權(quán)利要求19所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
21.如權(quán)利要求5或6所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可為彩色裝置。
22.如權(quán)利要求21所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由一連串連續(xù)的彩色部所組成，其顏色變化為由亮到暗。
23.如權(quán)利要求22所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
24.如權(quán)利要求23所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
25.如權(quán)利要求24所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
26.如權(quán)利要求25所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
27.如權(quán)利要求21所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由一連串連續(xù)的彩色部所組成，其顏色變化方式為色調(diào)、亮度及/或色彩濃度的變化。
28.如權(quán)利要求27所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
29.如權(quán)利要求28所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部可被排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
30.如權(quán)利要求29所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部可被排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
31.如權(quán)利要求30所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
32.如權(quán)利要求21所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由彼此具有不同顏色的連續(xù)的彩色部所組成。
33.如權(quán)利要求32所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
34.如權(quán)利要求33所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部可被排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
35.如權(quán)利要求34所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部可被排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
36.如權(quán)利要求35所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行精密的測量。
37.如權(quán)利要求5或6所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可包括刻度裝置以作為參考標記，及復數(shù)個環(huán)繞地形成于該圓柱肩部的外部表面上的溝槽。
38.如權(quán)利要求37所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽以該光源所發(fā)出的第一光線與第二光線所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該溝槽底部并被其反射，該第二光線則到達相鄰溝槽之間的分隔部并被其反射，該分隔部較該溝槽凸出。
39.如權(quán)利要求38所述的檢測裝置，其特征在于相應的第一反射光線與相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)。
40.如權(quán)利要求39所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
41.如權(quán)利要求40所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
42.如權(quán)利要求41所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線并根據(jù)預設的規(guī)則來產(chǎn)生相應的交錯與連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
43.如權(quán)利要求42所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置排列于該溝槽之中。
44.如權(quán)利要求43所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度溝槽，其深度與上述溝槽的深度不同，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度溝槽底部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
45.如權(quán)利要求43所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度凸出部，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
46.如權(quán)利要求43所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為具有獨特顏色的刻度部，使該檢測器可借著比較由該刻度部所反射的反射光線與由該溝槽及其間的該分隔部所反射的其它反射光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
47.如權(quán)利要求46所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
48.如權(quán)利要求5或6所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可包括刻度裝置以作為參考標記，及復數(shù)個環(huán)繞形成于該圓柱肩部的外部表面上的刻度凸出部。
49.如權(quán)利要求48所述的檢測裝置，其特征在于該刻度凸出部以該光源所發(fā)出的第一光線與第二光線所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該刻度凸出部并被其反射，該第二光線則到達相鄰刻度凸出部之間的分隔部并被其反射，該分隔部較該刻度凸出部為低。
50.如權(quán)利要求49所述的檢測裝置，其特征在于相應的第一反射光線與相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)。
51.如權(quán)利要求50所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
52.如權(quán)利要求51所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
53.如權(quán)利要求52所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線并根據(jù)預設的規(guī)則來產(chǎn)生相應的交錯與連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
54.如權(quán)利要求53所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置排列于該凸出部之中。
55.如權(quán)利要求54所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度溝槽，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度溝槽底部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
56.如權(quán)利要求54所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度凸出部，其高度與上述凸出部不同，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
57.如權(quán)利要求54所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為具有獨特顏色的刻度部，使該檢測器可借著比較由該刻度部所反射的反射光線與由該凸出部及該分隔部所反射的其它反射光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
58.如權(quán)利要求57所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
59.如權(quán)利要求5或6所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置包括環(huán)繞的彩色裝置與刻度裝置以作為參考標記。
60.如權(quán)利要求59所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由一連串連續(xù)的彩色部所組成，其顏色變化為由亮到暗。
61.如權(quán)利要求60所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
62.如權(quán)利要求61所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
63.如權(quán)利要求62所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
64.如權(quán)利要求63所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置排列于該彩色部之中。
65.如權(quán)利要求64所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度溝槽，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度溝槽底部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
66.如權(quán)利要求64所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度凸出部，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
67.如權(quán)利要求64所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為具有獨特顏色的刻度部，其顏色與上述彩色部不同，使該檢測器可借著比較由該刻度部所反射的反射光線與由其它彩色部所反射的其它反射光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
68.如權(quán)利要求64所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
69.如權(quán)利要求59所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由連續(xù)的彩色部所組成，其顏色變化方式為色調(diào)、亮度及/或色彩濃度的變化。
70.如權(quán)利要求69所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的反射光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
71.如權(quán)利要求70所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
72.如權(quán)利要求71所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
73.如權(quán)利要求72所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置排列于該彩色部之中。
74.如權(quán)利要求73所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度溝槽，其深度與該彩色部不同，使該檢測器可通過讀取反射光線由該彩色部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
75.如權(quán)利要求73所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度凸出部，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
76.如權(quán)利要求73所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為具有獨特顏色的刻度部，使該檢測器可借著比較由該刻度部所反射的反射光線與由該彩色部所反射的其它反射光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
77.如權(quán)利要求73所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
78.如權(quán)利要求59所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由彼此具有不同顏色的連續(xù)的彩色部所組成。
79.如權(quán)利要求78所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
80.如權(quán)利要求79所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
81.如權(quán)利要求80所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
82.如權(quán)利要求81所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置排列于該彩色部之中。
83.如權(quán)利要求82所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度溝槽，其深度與上述溝槽不同，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度溝槽底部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
84.如權(quán)利要求82所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度凸出部，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
85.如權(quán)利要求82所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為具有獨特顏色的刻度部，使該檢測器可借著比較由該刻度部所反射的反射光線與由該彩色部所反射的其它反射光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
86.如權(quán)利要求82所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
87.如權(quán)利要求2所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器設置于該轉(zhuǎn)子與該光源相對的另一內(nèi)側(cè)中，用以接收經(jīng)過該識別標記裝置的光線。
88.如權(quán)利要求87所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置由部份透明的材料所制成。
89.如權(quán)利要求88所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可置于圓柱肩部上，該圓柱肩部形成于該轉(zhuǎn)子的周圍， 由此可隨該馬達轉(zhuǎn)子同步地旋轉(zhuǎn)。
90.如權(quán)利要求89所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可被軸向地裝設于該圓柱肩部的外部表面的周圍。
91.如權(quán)利要求89所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可以垂直于該馬達轉(zhuǎn)子的方向來裝設于該圓柱肩部的一個端面上。
92.如權(quán)利要求90或91所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可包括復數(shù)個形成于該圓柱肩部上的溝槽。
93.如權(quán)利要求92所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽以該光源所發(fā)出的第一光線與第二光線所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該溝槽底部并被其反射，該第二光線則到達相鄰溝槽之間的分隔部并被其反射，該分隔部較該溝槽凸出。
94.如權(quán)利要求93所述的檢測裝置，其特征在于相應的第一反射光線與相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)。
95.如權(quán)利要求24所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
96.如權(quán)利要求95所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
97.如權(quán)利要求96所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線并根據(jù)預設的規(guī)則來產(chǎn)生相應的交錯與連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
98.如權(quán)利要求97所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
99.如權(quán)利要求90或91所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可包括復數(shù)個凸出部形成于該圓柱肩部的外部表面上。
100.如權(quán)利要求99所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部以光源所發(fā)出的第一光線與第二光線所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該凸出部并被其反射，該第二光線可到達相鄰凸出部之間的分隔部并被其反射，該分隔部較該凸出部為低。
101.如權(quán)利要求100所述的檢測裝置，其特征在于相應的第一反射光線與相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)。
102.如權(quán)利要求101所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
103.如權(quán)利要求102所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
104.如權(quán)利要求103所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線并根據(jù)預設的規(guī)則來產(chǎn)生相應的交錯與連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
105.如權(quán)利要求104所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
106.如權(quán)利要求90或91所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可為彩色裝置。
107.如權(quán)利要求106所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由一連串連續(xù)的彩色部所組成，其顏色變化為由亮到暗。
108.如權(quán)利要求107所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
109.如權(quán)利要求108所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
110.如權(quán)利要求108所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
111.如權(quán)利要求110所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
112.如權(quán)利要求106所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由連續(xù)的彩色部所組成，其顏色變化方式為色調(diào)、亮度及/或色彩濃度的變化。
113.如權(quán)利要求112所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的反射光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
114.如權(quán)利要求113所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
115.如權(quán)利要求113所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
116.如權(quán)利要求113所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
117.如權(quán)利要求106所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由彼此具有不同顏色的連續(xù)的彩色部所組成。
118.如權(quán)利要求117所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
119.如權(quán)利要求118所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
120.如權(quán)利要求118所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
121.如權(quán)利要求120所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行精密的測量。
122.如權(quán)利要求90或91所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可包括刻度裝置以作為參考標記，及復數(shù)個環(huán)繞地形成于該圓柱肩部的外部表面上的溝槽。
123.如權(quán)利要求122所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽以該光源所發(fā)出的第一光線與第二光線所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該溝槽底部并被其反射，該第二光線則到達相鄰溝槽之間的分隔部并被其反射，該分隔部較該溝槽凸出。
124.如權(quán)利要求123所述的檢測裝置，其特征在于相應的第一反射光線與相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)。
125.如權(quán)利要求124所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
126.如權(quán)利要求125所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
127.如權(quán)利要求126所述的檢測裝置，其特征在于該溝槽與其間的分隔部的排列方式可確保該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線并根據(jù)預設的規(guī)則來產(chǎn)生相應的交錯與連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
128.如權(quán)利要求127所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置排列于該溝槽之中。
129.如權(quán)利要求128所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度溝槽，其深度與上述溝槽的深度不同，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度溝槽底部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
130.如權(quán)利要求128所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度凸出部，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
131.如權(quán)利要求128所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為具有獨特顏色的刻度部，使該檢測器可借著比較由該刻度部所反射的反射光線與由該溝槽及其間的該分隔部所反射的其它反射光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
132.如權(quán)利要求128所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
133.如權(quán)利要求90或91所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可包括刻度裝置以作為參考標記，及復數(shù)個環(huán)繞地形成于該圓柱肩部的外部表面上的凸出部。
134.如權(quán)利要求133所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部以該光源所發(fā)出的第一光線與第二光線所行經(jīng)的不同距離來排列，該第一光線可到達該凸出部并被其反射，該第二光線則到達相鄰凸出部之間的分隔部并被其反射，該分隔部較該凸出部為低。
135.如權(quán)利要求134所述的檢測裝置，其特征在于相應的第一反射光線與相應的第二反射光線所行經(jīng)的距離差可為光源所發(fā)出的光線波長的預設倍數(shù)。
136.如權(quán)利要求135所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的連續(xù)二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
137.如權(quán)利要求136所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該第一反射光線與第二反射光線所行經(jīng)的不同距離可交錯且連續(xù)地變化，因此該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線來產(chǎn)生相應的交錯且連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
138.如權(quán)利要求137所述的檢測裝置，其特征在于該凸出部與其間的分隔部的排列方式可確保該檢測器可通過讀取該第一反射光線與第二反射光線并根據(jù)預設的規(guī)則來產(chǎn)生相應的交錯與連續(xù)的二進制編碼訊號，其載有可供計算與判斷該馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)動作的信息。
139.如權(quán)利要求138所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置排列于該凸出部之中。
140.如權(quán)利要求139所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度溝槽，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度溝槽底部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
141.如權(quán)利要求139所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度凸出部，其高度與上述凸出部的高度不同，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
142.如權(quán)利要求139所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為具有獨特顏色的刻度部，使該檢測器可借著比較由該刻度部所反射的反射光線與由該凸出部及其間的該分隔部所反射的其它反射光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
143.如權(quán)利要求139所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
144.如權(quán)利要求90或91所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可為環(huán)繞的彩色裝置并包括刻度裝置以作為參考標記。
145.如權(quán)利要求144所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由一連串連續(xù)的彩色部所組成，其顏色變化為由亮到暗。
146.如權(quán)利要求145所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
147.如權(quán)利要求146所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
148.如權(quán)利要求146所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
149.如權(quán)利要求146所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置排列于該彩色部之中。
150.如權(quán)利要求149所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度溝槽，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度溝槽底部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
151.如權(quán)利要求149所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度凸出部，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
152.如權(quán)利要求149所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為具有獨特顏色的刻度部，其顏色與上述彩色部不同，使該檢測器可借著比較由該刻度部所反射的反射光線與由其它彩色部所反射的其它反射光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
153.如權(quán)利要求149所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
154.如權(quán)利要求144所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由連續(xù)的彩色部所組成，其顏色變化方式為色調(diào)、亮度及/或色彩濃度的變化。
155.如權(quán)利要求154所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
156.如權(quán)利要求155所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
157.如權(quán)利要求155所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
158.如權(quán)利要求155所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置排列于該彩色部之中。
159.如權(quán)利要求158所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度溝槽，其深度與上述溝槽的深度不同，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度溝槽底部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
160.如權(quán)利要求158所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度凸出部，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
161.如權(quán)利要求158所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為具有獨特顏色的刻度部，使該檢測器可借著比較由該刻度部所反射的反射光線與由該彩色部所反射的其它反射光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
162.如權(quán)利要求158所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
163.如權(quán)利要求144所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置可由彼此具有不同顏色的連續(xù)的彩色部所組成。
164.如權(quán)利要求163所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的排列方式可確保該檢測器可通過讀取首先自光源所發(fā)出接著分別被彩色裝置的相應的相鄰彩色部所反射的光線的變化來檢測馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作。
165.如權(quán)利要求164所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使其反射性可根據(jù)檢測器的需求來變化。
166.如權(quán)利要求164所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部排列成使相鄰彩色部的反射光波長可根據(jù)檢測器的需求來變化。
167.如權(quán)利要求164所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置排列于該彩色部之中。
168.如權(quán)利要求167所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度溝槽，其深度與上述溝槽的深度不同，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度溝槽底部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度溝槽。
169.如權(quán)利要求167所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為刻度凸出部，使該檢測器可通過讀取反射光線由該刻度凸出部反射而到達該檢測器所行經(jīng)的獨特距離來檢測該刻度凸出部。
170.如權(quán)利要求167所述的檢測裝置，其特征在于該刻度裝置可為具有獨特顏色的刻度部，使該檢測器可借著比較由該刻度部所反射的反射光線與由該彩色部所反射的其它反射光線的不同反射性或波長來檢測該刻度部。
171.如權(quán)利要求167所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收與讀取由該識別標記裝置所反射而來兩種不同波長的光線，由此產(chǎn)生相關的二進制編碼訊號帶有更詳細的信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子進行相當精密的測量。
172.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為攝像組件其可用以檢測該識別標記裝置。
173.如權(quán)利要求172所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為電荷耦合組件。
174.如權(quán)利要求172所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為互補金氧半導體。
175.如權(quán)利要求173或174所述的檢測裝置，其特征在于該識別裝置可包括連串識別部根據(jù)該檢測器的需求來預先排列。
176.如權(quán)利要求173或174所述的檢測裝置，其特征在于該識別裝置可包括一連串識別部隨意地排列。
177.如權(quán)利要求176所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器在該檢測組件被使用前，應先檢測該識別裝置的全部影像以建立比較的模型。
178.一種檢測裝置用以檢測旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)，其包括光源、識別標記裝置形成于該旋轉(zhuǎn)軸的一個組成部份上且具有特定模式，及檢測器用以檢測由該光源所發(fā)出并經(jīng)過該識別標記裝置的光線。
179.如權(quán)利要求178所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置的特定模式包括復數(shù)個溝槽，其可使該檢測器可通過讀取自該識別標記裝置而來的反射光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
180.如權(quán)利要求179所述的檢測裝置，其特征在于該反射光線的差異可為自該溝槽與該識別標記裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
181.如權(quán)利要求180所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
182.如權(quán)利要求178所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置的特定模式包括復數(shù)個凸出部，其可使該檢測器可通過讀取自該識別標記裝置而來的反射光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
183.如權(quán)利要求182所述的檢測裝置，其特征在于該反射光線的差異可為自該凸出部與該識別標記裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
184.如權(quán)利要求183所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
185.如權(quán)利要求178所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可由部份透明的材料制成。
186.如權(quán)利要求185所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置的特定模式包括復數(shù)個溝槽，其可使該檢測器可通過讀取自該光源發(fā)出且通過該識別標記裝置的光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
187.如權(quán)利要求186所述的檢測裝置，其特征在于該光線的差異可為自該溝槽與該識別標記裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
188.如權(quán)利要求187所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
189.如權(quán)利要求185所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置的特定模式包括復數(shù)個凸出部，其可使該檢測器可通過讀取通過該識別標記裝置而來的光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
190.如權(quán)利要求189所述的檢測裝置，其特征在于該光線的差異可為自該凸出部與該識別標記裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
191.如權(quán)利要求190所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
192.如權(quán)利要求178、180或185中任一項所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線。
193.如權(quán)利要求192所述的檢測裝置，其特征在于該光源可為激發(fā)固態(tài)激光。
194.如權(quán)利要求178所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為攝像組件其可用以檢測該識別標記裝置。
195.如權(quán)利要求194所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為電荷耦合組件。
196.如權(quán)利要求191所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為互補金氧半導體。
197.如權(quán)利要求195或196所述的檢測裝置，其特征在于該識別裝置可包括一連串識別部根據(jù)該檢測器的需求來預先排列。
198.如權(quán)利要求195或196所述的檢測裝置，其特征在于該識別裝置可包括隨意地排列的一連串識別部。
199.如權(quán)利要求198所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器在該檢測組件被使用前，應先檢測該識別裝置的全部影像以建立比較的模型。
200.一種檢測裝置用以檢測旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)，其包括光源、彩色裝置形成于該旋轉(zhuǎn)軸的組成部份上且具有特定模式，及檢測器用以檢測由該光源所發(fā)出并經(jīng)過該彩色裝置的光線。
201.如權(quán)利要求200所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的特定模式包括復數(shù)個彩色部其具有單一色調(diào)，該色調(diào)變化為由亮到暗，該彩色部可使該檢測器可通過讀取自該彩色裝置而來的反射光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
202.如權(quán)利要求201所述的檢測裝置，其特征在于該反射光線的差異可為自該彩色部與該彩色裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
203.如權(quán)利要求202所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
204.如權(quán)利要求200所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的特定模式包括復數(shù)個彩色部其彼此之間具有不同的顏色，該彩色部可使該檢測器可通過讀取自該彩色裝置而來的反射光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
205.如權(quán)利要求204所述的檢測裝置，其特征在于該反射光線的差異可為自該彩色部與該彩色裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
206.如權(quán)利要求205所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
207.如權(quán)利要求200所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可由部份透明的材料制成。
208.如權(quán)利要求207所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的特定模式包括復數(shù)個彩色部其具有單一色調(diào)，該色調(diào)變化為由亮到暗，該彩色部可使該檢測器可通過讀取自該光源發(fā)出并通過該彩色裝置的光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
209.如權(quán)利要求208所述的檢測裝置，其特征在于該光線的差異可為自該彩色部與該彩色裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
210.如權(quán)利要求209所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
211.如權(quán)利要求207所述的檢測裝置，其特征在于該彩色裝置的特定模式包括復數(shù)個彩色部其彼此之間具有不同的顏色，該彩色部可使該檢測器可通過讀取通過該彩色裝置的光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
212.如權(quán)利要求211所述的檢測裝置，其特征在于該光線的差異可為自該彩色部與該彩色裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
213.如權(quán)利要求212所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
214.如權(quán)利要求200或207所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線。
215.如權(quán)利要求214所述的檢測裝置，其特征在于該光源可為激發(fā)固態(tài)激光。
216.如權(quán)利要求200所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為攝像組件其可用以檢測該識別標記裝置。
217.如權(quán)利要求216所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為電荷耦合組件。
218.如權(quán)利要求216所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為互補金氧半導體。
219.如權(quán)利要求217或218所述的檢測裝置，其特征在于該識別裝置可包括一連串識別部根據(jù)該檢測器的需求來預先排列。
220.如權(quán)利要求217或218所述的檢測裝置，其特征在于該識別裝置可包括隨意地排列的一連串識別部。
221.如權(quán)利要求220所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器在該檢測組件被使用前，應先檢測該識別裝置的全部影像以建立比較的模型。
222.一種檢測裝置用以檢測旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)，其包括識別標記裝置設置于該旋轉(zhuǎn)軸的旁邊且具有特定模式，及檢測器用以檢測來自該識別標記裝置的光線，其中該檢測器設置于該旋轉(zhuǎn)軸上。
223.如權(quán)利要求222所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置的特定模式包括復數(shù)個溝槽以循環(huán)的方式排列，其可使該檢測器可通過讀取自該識別標記裝置而來的反射光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
224.如權(quán)利要求223所述的檢測裝置，其特征在于該反射光線的差異可為自該溝槽與該識別標記裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
225.如權(quán)利要求224所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
226.如權(quán)利要求222所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置的特定模式包括復數(shù)個凸出部以循環(huán)的方式排列，其可使該檢測器可通過讀取自該識別標記裝置而來的反射光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
227.如權(quán)利要求226所述的檢測裝置，其特征在于該反射光線的差異可為自該凸出部與該識別標記裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
228.如權(quán)利要求227所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
229.如權(quán)利要求222所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可為彩色裝置其包括復數(shù)個彩色部以循環(huán)的方式排列，該彩色裝置可確保由該彩色部而來的光線在到達該彩色裝置后回到該檢測器時會產(chǎn)生變化。
230.如權(quán)利要求229所述的檢測裝置，其特征在于刻度裝置排列于該彩色裝置的彩色部之中，以作為參考標記，且該刻度裝置與該彩色部皆不同，使來自該刻度裝置而回到該檢測器的光線與來自該彩色部而回到該檢測器的光線不同，由此該檢測器可在該彩色部中分辨該刻度裝置。
231.如權(quán)利要求229或230所述的檢測裝置，其特征在于該彩色部彼此可具有不同的顏色，使由特定彩色部回到該檢測器的光線與由相鄰彩色部回到該檢測器的光線不同。
232.如權(quán)利要求222所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置可由部份透明的材料制成。
233.如權(quán)利要求232所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置的特定模式包括復數(shù)個溝槽，其可使該檢測器可通過讀取自該光源發(fā)出且通過該識別標記裝置的光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
234.如權(quán)利要求233所述的檢測裝置，其特征在于該光線的差異可為自該溝槽與該識別標記裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
235.如權(quán)利要求234所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
236.如權(quán)利要求232所述的檢測裝置，其特征在于該識別標記裝置的特定模式包括復數(shù)個凸出部，其可使該檢測器可通過讀取通過該識別標記裝置而來的光線的差異來檢測該旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)動作。
237.如權(quán)利要求236所述的檢測裝置，其特征在于該光線的差異可為自該凸出部與該識別標記裝置的其它部份而來的相應光線的不同波長。
238.如權(quán)利要求237所述的檢測裝置，其特征在于該波長差可為該光線波長的整數(shù)倍。
239.如權(quán)利要求222或232所述的檢測裝置，其特征在于另包括光源設置于該旋轉(zhuǎn)軸上用以向該識別標記裝置發(fā)射光線。
240.如權(quán)利要求239所述的檢測裝置，其特征在于該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線。
241.如權(quán)利要求240所述的檢測裝置，其特征在于該光源可為激發(fā)固態(tài)激光。
242.如權(quán)利要求240所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為攝像組件其可用以檢測該識別標記裝置。
243.如權(quán)利要求242所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為電荷耦合組件。
244.如權(quán)利要求242所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器可為互補金氧半導體。
245.如權(quán)利要求243或244所述的檢測裝置，其特征在于該識別裝置可包括一連串識別部根據(jù)該檢測器的需求來預先排列。
246.如權(quán)利要求243或244所述的檢測裝置，其特征在于該識別裝置可包括一連串隨意地排列的識別部。
247.如權(quán)利要求246所述的檢測裝置，其特征在于該檢測器在該檢測組件被使用前，應先檢測該識別裝置的全部影像以建立比較的模型。
全文摘要
一種用以檢測馬達轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)的檢測裝置，其包括光源、環(huán)繞設置于馬達轉(zhuǎn)子上的識別標記裝置，與用以檢測由該光源所發(fā)出且經(jīng)過該識別標記裝置的光線的檢測器。該識別標記裝置可被設置于圓柱肩部，該圓柱肩部環(huán)繞形成于該轉(zhuǎn)子，因此可與馬達轉(zhuǎn)子同步旋轉(zhuǎn)。該光源可發(fā)出兩種不同波長的光線，而該檢測器可分別接收并讀取由該識別標記裝置所反射的兩種不同波長的光線，以產(chǎn)生相應的二進制編碼訊號，該訊號載有詳細信息，因此該檢測裝置可對該馬達轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)動作執(zhí)行非常精密的測量。
文檔編號G01D5/36GK1661335SQ20051005232
公開日2005年8月31日 申請日期2005年2月6日 優(yōu)先權(quán)日2004年2月26日
發(fā)明者蘇文威 申請人:蘇文威