專利名稱：數(shù)據(jù)壓縮的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種供數(shù)據(jù)壓縮之用的方法和設(shè)備，更具體來(lái)講但非必須排它地來(lái)講，本發(fā)明涉及這樣一種方法和設(shè)備，其用于減少供測(cè)試諸如集成電路芯片等等之類的邏輯產(chǎn)品之用的測(cè)試數(shù)據(jù)的量或壓縮該測(cè)試數(shù)據(jù)從而節(jié)省計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器、盤存儲(chǔ)器的量以及節(jié)省測(cè)試這種產(chǎn)品所需的時(shí)間。
背景技術(shù)：
每個(gè)制造的集成電路(IC)都必須徹底地進(jìn)行測(cè)試以便在將其運(yùn)往訂戶那里之前找出制造缺陷。測(cè)試IC的常規(guī)方法包括利用ATPG(自動(dòng)測(cè)試圖案生成)工具自動(dòng)生成測(cè)試圖案，并且利用ATE(自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)將這些測(cè)試圖案應(yīng)用于IC以及芯片內(nèi)的可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DfT)結(jié)構(gòu)。
一種用于數(shù)字邏輯電路的普通DfT技術(shù)就是‘掃描設(shè)計(jì)’，其允許在測(cè)試模式期間將電路中的觸發(fā)器配置成串行移位寄存器(‘掃描鏈’)。參照在掃描測(cè)試期間的附圖的圖6，首先通過(guò)一個(gè)或多個(gè)管腳204將測(cè)試激勵(lì)移入到掃描鏈200中。在完整的測(cè)試激勵(lì)已被移入之后，電路208在功能性(或‘正常的’)模式下運(yùn)行一個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘周期。在正常模式循環(huán)周期期間，將觸發(fā)器中的激勵(lì)施加到電路中的邏輯單元202上并且在觸發(fā)器中捕獲該響應(yīng)。在正常模式循環(huán)周期之后，再次將所述電路配置成測(cè)試模式，并且將在觸發(fā)器中捕獲的響應(yīng)移出。重復(fù)這個(gè)過(guò)程直到已經(jīng)施加所有測(cè)試激勵(lì)為止。典型地，可以基本上同時(shí)地進(jìn)行將新的測(cè)試激勵(lì)移入到掃描鏈中以及移出先前測(cè)試激勵(lì)的測(cè)試響應(yīng)。
考慮一個(gè)特定的故障模型，ATPG工具為數(shù)字邏輯電路生成測(cè)試圖案。使用這個(gè)故障模型來(lái)對(duì)電路中可能出現(xiàn)的實(shí)際缺陷進(jìn)行建模，比如像短路、(電阻性)開路，或在導(dǎo)線之間的橋接。ATPG工具生成的每種圖案都能用來(lái)檢測(cè)一些已建模故障。將ATPG測(cè)試圖案集合的故障覆蓋率(FC)定義為測(cè)試圖案所檢測(cè)出的已建模故障數(shù)量與已建模故障的總數(shù)量之比。每種測(cè)試圖案都包含測(cè)試激勵(lì)和對(duì)應(yīng)的測(cè)試響應(yīng)。
ATPG工具所生成的測(cè)試圖案集合由p種測(cè)試圖案組成。通常為組合電路或完全掃描時(shí)序電路使用組合的ATPG，而通常為局部掃描或非掃描時(shí)序電路使用順序的ATPG。對(duì)于由組合的ATPG生成的圖案集合而言，集合中的圖案的順序往往是任意的。用于順序的ATPG而言，通常將集合中的圖案編組，并且每組內(nèi)的圖案的順序是固定的。
概念上講，每種測(cè)試圖案都是由測(cè)試矢量組成的。典型地，測(cè)試矢量是0值和1值的序列，并且包含對(duì)應(yīng)IC輸入管腳的激勵(lì)位和對(duì)應(yīng)IC輸出管腳的響應(yīng)位。如果IC具有n個(gè)管腳，那么對(duì)應(yīng)這個(gè)IC的測(cè)試矢量將包含n位，每個(gè)管腳對(duì)應(yīng)1位。典型地，測(cè)試圖案包含按特定順序施加到IC上的v個(gè)連續(xù)測(cè)試矢量的序列。
將測(cè)試矢量存儲(chǔ)在ATE矢量存儲(chǔ)器中。所述ATE從矢量存儲(chǔ)器中讀取特定測(cè)試矢量中的激勵(lì)數(shù)據(jù)，并將它施加到IC管腳上。由ATE來(lái)捕獲IC輸出管腳上的響應(yīng)，并且將其與存儲(chǔ)在ATE矢量存儲(chǔ)器中的無(wú)故障響應(yīng)進(jìn)行比較。所述ATE能夠表明每個(gè)測(cè)試矢量其是否通過(guò)或失敗，并且在失敗的情況下，所述ATE能夠報(bào)告輸出了有故障的響應(yīng)的所有IC管腳。
目前的趨勢(shì)是將越來(lái)越多的晶體管集成在單個(gè)IC上。根據(jù)摩爾定律，這種增長(zhǎng)是成指數(shù)的，并且約略地講每個(gè)IC的晶體管數(shù)量每1.5年翻倍。隨著典型的IC尺寸增大，于是測(cè)試這種IC所需的測(cè)試數(shù)據(jù)量也必定會(huì)增加。此外，深?yuàn)W的次微米IC處理技術(shù)帶來(lái)了新的缺陷類型，其在早先的處理技術(shù)中未出現(xiàn)過(guò)。這些新的缺陷通常都對(duì)電路的計(jì)時(shí)特性有影響，而且需要附加的測(cè)試圖案來(lái)檢測(cè)這些缺陷。因此，測(cè)試數(shù)據(jù)量是與IC尺寸增大成超線性關(guān)系增加的。事實(shí)上，預(yù)計(jì)測(cè)試數(shù)據(jù)量逐漸會(huì)發(fā)展到將不再適合常規(guī)ATE矢量存儲(chǔ)器的程度。
對(duì)這個(gè)問(wèn)題有許多潛在的解決方案1.將測(cè)試數(shù)據(jù)量限制到ATE矢量存儲(chǔ)器的容量。然而，這意味著未將所有測(cè)試圖案用于測(cè)試IC，因此降低了測(cè)試質(zhì)量，這顯然是不希望的。
2.將測(cè)試數(shù)據(jù)量劃分成多個(gè)測(cè)試組，因此每個(gè)單獨(dú)的測(cè)試組都適合ATE矢量存儲(chǔ)器。然而，為適應(yīng)每個(gè)測(cè)試組而‘重新裝載′ATE矢量存儲(chǔ)器，增加了IC的總體測(cè)試時(shí)間，這也是不希望的。
3.擴(kuò)充ATE矢量存儲(chǔ)器。然而，矢量存儲(chǔ)器是很昂貴的，而在任何情況下ATE體系結(jié)構(gòu)都限制了存儲(chǔ)器擴(kuò)充的上限。
4.用更新的ATE來(lái)替換常規(guī)的ATE，這提供了更多的矢量存儲(chǔ)器。然而，這是非常昂貴的。
因此，上述的四個(gè)潛在解決方案中沒(méi)有一個(gè)真正適用于應(yīng)對(duì)不斷增加的測(cè)試數(shù)據(jù)量。在可選的解決方案中，可以將測(cè)試數(shù)據(jù)以壓縮的格式存儲(chǔ)在ATE矢量存儲(chǔ)器中。利用駐留在ATE本身上的電路或駐留在芯片上的電路或者駐留在ATE與IC之間的通信路徑上的(例如，‘裝載板’上的)電路來(lái)對(duì)所述數(shù)據(jù)進(jìn)行解壓縮。
近年來(lái)，已經(jīng)提出了大量的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)。多數(shù)的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)都存在這樣的事實(shí)，即大量測(cè)試數(shù)據(jù)事實(shí)上都是隨機(jī)數(shù)據(jù)。在每種測(cè)試圖案中，只規(guī)定了極少數(shù)的激勵(lì)位(通常，只有百分之幾)，即‘關(guān)注’位，而多數(shù)的激勵(lì)位都是‘非關(guān)注’的并且能夠隨機(jī)填充的。原則上，只有規(guī)定的激勵(lì)位必須存儲(chǔ)在ATE中，而這提供了壓縮必須存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)量的可能。
在生成測(cè)試圖案的同時(shí)，ATPG工具插入對(duì)應(yīng)非關(guān)注激勵(lì)位的隨機(jī)值。這個(gè)過(guò)程稱為‘隨機(jī)填充’。公開的美國(guó)專利申請(qǐng)第US2002/0099991 A1號(hào)和第US2002/0099992 A1號(hào)描述了這樣的設(shè)備，在其中生成既包含關(guān)注位又包含非關(guān)注位的測(cè)試矢量。用重復(fù)的值填充非關(guān)注位，并且利用重復(fù)的矢量來(lái)壓縮所得到的測(cè)試矢量。在上述現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)中所提出的填充策略(或‘填充’類型)是a)利用‘重復(fù)填充’來(lái)填充非關(guān)注位；或b)利用重復(fù)的背景數(shù)據(jù)來(lái)填充非關(guān)注位。
利用重復(fù)的背景數(shù)據(jù)相當(dāng)于填0或填1，其中所有非關(guān)注位都是用‘0’或‘1’來(lái)填充的。重復(fù)填充意味著給序列中的每個(gè)非關(guān)注位賦予與最近的關(guān)注位相同的值。
例如，假定序列0XX1XX，其中符號(hào)X表示非關(guān)注位。將填0應(yīng)用于這個(gè)序列，結(jié)果為000100(即，用0替換所有X)。將填1應(yīng)用于相同的序列，結(jié)果為011111。應(yīng)用重復(fù)填充會(huì)得到000111(即，將0之后和1之前的X賦0值，而將1之后的X賦1值)。
測(cè)試矢量能夠通過(guò)使用多數(shù)ATE配置支持的矢量重復(fù)能力來(lái)進(jìn)行壓縮。圖1A是說(shuō)明典型的ATE體系結(jié)構(gòu)的示意性框圖。將測(cè)試矢量存儲(chǔ)在ATE矢量存儲(chǔ)器100中，同時(shí)所述指令存儲(chǔ)器102還包含關(guān)于如何將這些矢量應(yīng)用于IC104的指令。所述指令存儲(chǔ)器102例如可以包含用于在許多循環(huán)周期內(nèi)應(yīng)用特定矢量(其稱為‘矢量重復(fù)′)的指令。這允許測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮，因?yàn)槔肁TE矢量存儲(chǔ)器100中的單個(gè)矢量和ATE指令存儲(chǔ)器102中的指令來(lái)重復(fù)這個(gè)矢量v次，就能夠在ATE上存儲(chǔ)v個(gè)相同測(cè)試矢量的序列。
在圖1B中說(shuō)明可選的ATE體系結(jié)構(gòu)，其中矢量存儲(chǔ)器100和指令存儲(chǔ)器102是分布式的?，F(xiàn)在，每個(gè)矢量存儲(chǔ)器100a、100b及其對(duì)應(yīng)的指令存儲(chǔ)器102a、102b都用于將數(shù)據(jù)施加到IC管腳的子集合上。在這里，這類IC管腳的子集合稱為管腳組或端口。圖1B僅僅示出兩個(gè)端口，不過(guò)可以根據(jù)需要將這擴(kuò)展為兩個(gè)以上的端口。每個(gè)端口的管腳數(shù)目都可能依每個(gè)端口而不同。在某些情況下，每個(gè)端口都可能對(duì)應(yīng)于單個(gè)IC管腳，而在其它情況下，可以使用n管腳的端口，其中n為大于1的整數(shù)。
由于每個(gè)端口都具備它自己的矢量存儲(chǔ)器和指令存儲(chǔ)器，因而就可以針對(duì)每個(gè)端口來(lái)重復(fù)矢量數(shù)據(jù)。
我們現(xiàn)在已經(jīng)設(shè)計(jì)出了改進(jìn)的設(shè)備。

發(fā)明內(nèi)容
依照本發(fā)明，提供了一種壓縮數(shù)據(jù)的方法，所述數(shù)據(jù)包括至少兩個(gè)連續(xù)的矢量，其中一個(gè)矢量包括一位或多位，所述方法的特征在于包括下列步驟i)比較兩個(gè)連續(xù)矢量中的對(duì)應(yīng)位來(lái)判斷它們是否相容；并且如果所述位是相容的，則ii)合并所述矢量以創(chuàng)建代表其的單個(gè)矢量；其中假如兩個(gè)位不具有明確不相容的值或相對(duì)的值，則這兩個(gè)位相容。
如果確保兩個(gè)位是不同的，即如果b1≠b2、b1≠X且b2≠X，則兩個(gè)位b1和b2是不相容的，則認(rèn)為這兩個(gè)位是不相容。
在優(yōu)選實(shí)施例中，所述方法包括下列步驟生成相對(duì)于一個(gè)或多個(gè)矢量的重復(fù)值，所述重復(fù)值表示應(yīng)該重復(fù)各個(gè)已合并矢量以重構(gòu)已合并矢量所代表的原始矢量序列的次數(shù)。
優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)包括供測(cè)試邏輯產(chǎn)品之用的測(cè)試矢量數(shù)據(jù)，并且所述方法包括下列步驟生成包括″關(guān)注″和″非關(guān)注″位的原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)，以及根據(jù)上面限定的步驟i)和ii)來(lái)壓縮所述測(cè)試矢量數(shù)據(jù)。
原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)可以借助于自動(dòng)測(cè)試圖案生成(ATPG)工具來(lái)生成。
本發(fā)明還引申為一種數(shù)據(jù)集，其包括供測(cè)試邏輯產(chǎn)品之用的測(cè)試矢量數(shù)據(jù)，所述測(cè)試矢量數(shù)據(jù)是通過(guò)上面限定的方法來(lái)壓縮的。
此外，依照本發(fā)明，還提供了一種測(cè)試邏輯產(chǎn)品的方法，所述方法包括下列步驟生成如上面所限定的已壓縮測(cè)試矢量數(shù)據(jù)，通過(guò)根據(jù)其各自的重復(fù)值重復(fù)已合并矢量一次或多次來(lái)重構(gòu)測(cè)試矢量數(shù)據(jù)中的關(guān)注位，將已重構(gòu)測(cè)試矢量數(shù)據(jù)施加到邏輯產(chǎn)品的輸入上，以及獲得所得到的輸出數(shù)據(jù)。將會(huì)認(rèn)識(shí)到的是，在原始的測(cè)試矢量中，存在有關(guān)注位和非關(guān)注位。在壓縮之后，對(duì)于非關(guān)注位而言丟失了信息。因此，這里所使用的術(shù)語(yǔ)″重構(gòu)″意味著重構(gòu)矢量中的關(guān)注位，即在沒(méi)有非關(guān)注位的情況下進(jìn)行重構(gòu)。照此，無(wú)法重構(gòu)(具有非關(guān)注位的)原始測(cè)試矢量。
上面限定的方法還可以包括下列步驟依照如上面限定的壓縮數(shù)據(jù)的方法來(lái)壓縮輸出數(shù)據(jù)。
再一步依照本發(fā)明，提供了一種用于壓縮數(shù)據(jù)的設(shè)備，所述數(shù)據(jù)包括至少兩個(gè)連續(xù)矢量的序列，其中一個(gè)矢量包括一位或多位，所述設(shè)備的特征在于i)用于比較兩個(gè)或兩個(gè)以上連續(xù)矢量中的對(duì)應(yīng)位以判斷它們是否相容的裝置；和ii)用于合并所述兩個(gè)或兩個(gè)以上矢量以創(chuàng)建代表所述兩個(gè)或兩個(gè)以上矢量的單個(gè)矢量的裝置，其中所述矢量的所有對(duì)應(yīng)位是相容的；其中假如兩個(gè)位不具有明確不相容的值或相對(duì)的值，則這兩個(gè)位的相容。
將會(huì)認(rèn)識(shí)到的是，矢量可以包括n位，其中n為正整數(shù)(即，1或更大)。換言之，一個(gè)矢量可以包括一位或多位。
同樣，所述數(shù)據(jù)可以包括供測(cè)試邏輯產(chǎn)品之用的測(cè)試矢量數(shù)據(jù)，并且所述設(shè)備包括用于生成或接收原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的裝置，所述原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)包括包含″關(guān)注″位和″非關(guān)注″位在內(nèi)的兩個(gè)或兩個(gè)以上矢量。
再一步依照本發(fā)明，提供了一種用于測(cè)試邏輯產(chǎn)品的設(shè)備，其包括用于生成原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的裝置、用于壓縮如上面限定的原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的設(shè)備、用于重構(gòu)測(cè)試矢量數(shù)據(jù)中的關(guān)注位的裝置、用于將已重構(gòu)數(shù)據(jù)施加到邏輯產(chǎn)品的輸入上的裝置、和用于獲得產(chǎn)生的輸出數(shù)據(jù)的裝置。
所述輸出數(shù)據(jù)也可以借助于如上面所限定的數(shù)據(jù)壓縮設(shè)備來(lái)壓縮。所述設(shè)備還可以包括用于在對(duì)其進(jìn)行壓縮之前重排測(cè)試圖案的裝置。同樣，所述用于生成原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的裝置可以包括自動(dòng)測(cè)試圖案生成(ATPG)工具。
所述設(shè)備可以包括用于以供測(cè)試邏輯產(chǎn)品之用的數(shù)據(jù)集的形式來(lái)存儲(chǔ)已合并數(shù)據(jù)的裝置，并且本發(fā)明引申為電子數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，在其上存儲(chǔ)有借助于這類設(shè)備所創(chuàng)建的數(shù)據(jù)集。
因此，總起來(lái)說(shuō)，測(cè)試矢量典型地包含大量″非關(guān)注″位(通常大于90％)，并且能夠在不影響這些矢量的故障覆蓋率的情況下修改這些非關(guān)注位。依照本發(fā)明，可以將這些非關(guān)注位用于壓縮測(cè)試矢量，由此縮減測(cè)試數(shù)據(jù)量。采用游程長(zhǎng)度編碼來(lái)壓縮測(cè)試矢量的序列。如果平均游程長(zhǎng)度達(dá)最大值，則可以最理想地進(jìn)行這種壓縮，并且本發(fā)明通過(guò)應(yīng)用″合并填充″來(lái)獲得這種優(yōu)化。
合并填充的基本思想就是以創(chuàng)建相容測(cè)試矢量的序列的方式來(lái)填充非關(guān)注位?？梢詫⑾嗳轀y(cè)試矢量的每個(gè)序列合并成單個(gè)測(cè)試矢量，優(yōu)選的是外加重復(fù)計(jì)數(shù)值。與存儲(chǔ)原始測(cè)試矢量相比，存儲(chǔ)已合并測(cè)試矢量和重復(fù)計(jì)數(shù)值需要較小的ATE存儲(chǔ)器。最后結(jié)果是合并填充的使用允許最佳的游程長(zhǎng)度編碼，并且與現(xiàn)有技術(shù)相比較，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試數(shù)據(jù)量的較大縮減。
因此，本發(fā)明的方法不同于常規(guī)的填充方法，因?yàn)榉顷P(guān)注位是通過(guò)不僅考慮施加到單個(gè)管腳上的位而且還考慮施加到端口(在采用n管腳的端口的情況下)上所有管腳上的位來(lái)被填充的?，F(xiàn)有技術(shù)的配置僅僅考慮用于圖1A中的ATE配置的填充，其中所有IC管腳都連接于單個(gè)IC存儲(chǔ)器，而本發(fā)明還可以用在如圖1B所示的ATE配置中。對(duì)于這兩種ATE配置而言，合并填充允許比其它填充類型更高的重復(fù)計(jì)數(shù)值，借此顯著地縮減了需要被存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)量。
可以通過(guò)(如下所述的)重排測(cè)試圖案來(lái)獲得附加的自由度，以便進(jìn)一步減少必須存儲(chǔ)在ATE矢量存儲(chǔ)器中的測(cè)試矢量的數(shù)量。
在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，在小于n個(gè)矢量的序列的情況下可以隨機(jī)地填充非關(guān)注位，并且根據(jù)本發(fā)明的合并填充可以用來(lái)填充大于n個(gè)相容矢量的序列中的非關(guān)注位。
原則上，可以給測(cè)試矢量中的非關(guān)注位賦以任意值。然而，非關(guān)注位的填充影響測(cè)試矢量的測(cè)試質(zhì)量。詳細(xì)來(lái)講，實(shí)際的缺陷覆蓋范圍，即已檢測(cè)出的物理缺陷的數(shù)量，以及診斷分辯率，即識(shí)別故障電路中出現(xiàn)的哪些故障的能力，都受非關(guān)注位的填充的影響。隨機(jī)填充非關(guān)注位的測(cè)試矢量勢(shì)必要比用更多常規(guī)值填充的非關(guān)注位的測(cè)試矢量具備更高的測(cè)試質(zhì)量，所述常規(guī)值比如像填0、填1、重復(fù)填充或合并填充。為了提高測(cè)試質(zhì)量，因此最好用隨機(jī)值來(lái)填充不相容矢量中的非關(guān)注位。此外，如果相容矢量的序列短(即，比值n小一些)，那么也可以用隨機(jī)值來(lái)填充這些矢量中的非關(guān)注位。如果相容測(cè)試矢量的序列大(即，大于或等于n)，那么可以應(yīng)用合并填充以便在這些矢量中填充非關(guān)注位。其結(jié)果是與僅使用合并填充相比，能獲得更高的測(cè)試質(zhì)量，這在使用游程長(zhǎng)度編碼，即矢量重復(fù)時(shí)，達(dá)到略微縮減的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮的成本。


通過(guò)閱讀并參照下文所述的實(shí)施例闡述本發(fā)明，本發(fā)明的這些及其它方面將變得明顯。
現(xiàn)在，將僅僅作為舉例并參照附圖來(lái)描述本發(fā)明的實(shí)施例，在圖中圖1A是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)示例性實(shí)施例的ATE體系結(jié)構(gòu)的示意性框圖；圖1B是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例性實(shí)施例的ATE體系結(jié)構(gòu)的示意性框圖；圖2A是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的ATPG程序的流程圖；
圖2B是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例性實(shí)施例的ATPG程序的流程圖；圖3是說(shuō)明在改變每個(gè)端口的管腳數(shù)量同時(shí)，對(duì)應(yīng)各種填充類型的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值的圖(即，合并填充與其它填充類型的比較)；圖4是說(shuō)明對(duì)于變化的概率p，合并填充內(nèi)的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值的曲線圖；圖5是說(shuō)明在改變每個(gè)端口的管腳數(shù)量和概率p的同時(shí)，利用合并填充而獲得的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值與重復(fù)填充之比的曲線圖(即，合并填充與重復(fù)填充的比較)；和圖6是說(shuō)明具有觸發(fā)器和組合邏輯的IC的示意圖，其中可以將觸發(fā)器配置成掃描鏈。
具體實(shí)施例方式
首先將描述‘合并’原理。假定有一個(gè)3值邏輯L＝{0，1，X}。使用這種符號(hào)表示法，它暗指序列中的每一位都能夠具有值‘0’、‘1’、‘X’(非關(guān)注)。將會(huì)認(rèn)識(shí)到的是，正如在現(xiàn)有技術(shù)中那樣，可以將非關(guān)注位任意地設(shè)置為‘0’或‘1’。
對(duì)于下列目的而言，如果序列為00、0X、X0、11、1X、X1或XX，則認(rèn)為兩位b1b2的序列是相容的。如果它為10或01，則認(rèn)為所述序列是不相容的。這可以擴(kuò)展到n＞2位的序列，而在這樣情況下，如果該序列中的所有位都為0或X、所有位都為1或X、或所有位都為X，則認(rèn)為所述序列是相容的。如果它包含至少一位是0以及至少一位是1，則認(rèn)為所述序列是不相容的。
依照本發(fā)明的這個(gè)示例性實(shí)施例，可以利用‘merge’操作符將兩個(gè)相容位合并成單個(gè)位1.merge(00)＝merge(0X)＝merge(X0)＝02.merge(11)＝merge(1X)＝merge(X1)＝13.merge(XX)＝X4.merge(01)和merge(10)都是未定義的(因?yàn)樗鲂蛄惺遣幌嗳莸?對(duì)于n＞2位的序列，可將此歸納為1.merge({0，X}~)＝0，其中{0，X}~表示具有至少一個(gè)0的0的序列和X的序列。
2.merge({1，X}~)＝1，其中{1，X}～表示具有至少一個(gè)1的1的序列和X的序列。
3.merge({X}+)＝X，其中X+表示一個(gè)或多個(gè)X的序列。
4.merge({0，1，X}~)是未定義的，其中{0，1，X}~表示具有至少一個(gè)0、至少一個(gè)1和零個(gè)或多個(gè)X的0的序列、1的序列和X的序列。
可以將矢量vi定義為n位的序列(Vi1，...，vin)。如果對(duì)于所有j(1≤j≤n)都保持v1j和v2j位是相容的，則認(rèn)為兩個(gè)n位矢量v1、v2是相容的?？梢詫蓚€(gè)相容矢量v1和v2合并成一個(gè)新的矢量vmerged，其中vmerged＝(merge(v11，v21)，.....，merge(v1n，v2n))。
測(cè)試圖案由v個(gè)連續(xù)測(cè)試矢量的序列組成，其中v典型地等于掃描移位循環(huán)周期加上正常模式循環(huán)周期的數(shù)量。測(cè)試圖案中的v個(gè)矢量具有固定的順序。
測(cè)試圖案集合由p種測(cè)試圖案組成，并且所述集合要么是有序的要么是無(wú)序的。如果測(cè)試圖案集合是有序的，則p種測(cè)試圖案的順序就是固定的；測(cè)試圖案集合繼而包括按固定順序的p·v個(gè)測(cè)試矢量的序列。如果測(cè)試圖案集合是無(wú)序的，那么它就包括p·v個(gè)測(cè)試矢量的序列，其中每個(gè)子序列中的v個(gè)矢量都具有固定的順序，但是子序列的順序不是固定的。
測(cè)試矢量的序列能夠通過(guò)合并連續(xù)的相容矢量來(lái)進(jìn)行壓縮，并且其結(jié)果為k個(gè)已合并測(cè)試矢量的序列。這樣做的算法如下所示。數(shù)學(xué)上能夠證明這種壓縮算法是最佳的，也就是說(shuō)，在合并之后會(huì)得到最短的潛在序列。
k＝1； /*k對(duì)合并矢量的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)*/vkmerged＝v1； /*合并矢量v1merged為矢量v1*/For(2＜i＜p·v){ /*對(duì)所有p·v矢量進(jìn)行迭代*/Ifcompatible(vi，vkmerged) /*如果矢量vI和Vkmerge是相容的*/vkmerged＝merge(vi，vkmerged) /*則合并這些矢量。*/Else{ /*如果矢量vI和Vkmerged是不相容的*/k++vkmerged＝vi； /*則創(chuàng)建新的合并矢量*/}}
示例1v1＝0XX1X v1merged＝0XX1X v1merged＝0X010 3 0X010 00010v2＝XX01X v1merged＝0X01X v2merged＝1XXXX 1 0X010 00010v3＝0XXX0 v1merged＝0X010 v3merged＝0X110 2 0X010 00010v4＝1XXXX v2merged＝1XXXX 1XXXX 10101v5＝0XXX0 v3merged＝0XXX0 0X110 01110v6＝XX11X v3merged＝0X110 0X110 01110(a)(b) (c) (d)(e)(f)參照上述示例，(a)表示6個(gè)測(cè)試矢量的序列，而(b)示出當(dāng)執(zhí)行上述算法時(shí)生成的已合并測(cè)試矢量。如(c)所示，所得到的序列包括3個(gè)已合并測(cè)試矢量。在(a)的測(cè)試矢量的原始序列中的規(guī)定位能夠通過(guò)重復(fù)每個(gè)已合并矢量許多次(如(d)所示的次數(shù))、根據(jù)(c)的已合并測(cè)試矢量的序列來(lái)重構(gòu)。在(e)中示出了重構(gòu)后的矢量序列，其中強(qiáng)調(diào)了與(a)的區(qū)別。能夠看出這兩個(gè)序列都具有相同的規(guī)定位，但是一些非關(guān)注位已在(e)中被填充?？梢噪S機(jī)地填充已合并測(cè)試矢量中的其余非關(guān)注位，例如在(f)中說(shuō)明的那樣。
在上述示例中，存儲(chǔ)原始測(cè)試矢量序列需要存儲(chǔ)6個(gè)測(cè)試矢量。存儲(chǔ)已合并測(cè)試矢量序列需要存儲(chǔ)僅僅3個(gè)已合并測(cè)試矢量，外加對(duì)每個(gè)已合并測(cè)試矢量的重復(fù)計(jì)數(shù)值。最終結(jié)果就是用于存儲(chǔ)這個(gè)矢量序列的測(cè)試數(shù)據(jù)量的明顯縮減。
對(duì)于無(wú)序的圖案集合而言，重排測(cè)試圖案的可能性提供了附加的自由度。最好是通過(guò)以下方式來(lái)對(duì)圖案排序使圖案的最后一個(gè)已合并測(cè)試矢量與后續(xù)圖案的第一個(gè)已合并測(cè)試矢量相容。如果是這種情況，則就能夠?qū)⑦@兩個(gè)已合并測(cè)試矢量合并成單個(gè)已合并測(cè)試矢量。
(下面的)示例2是指兩種測(cè)試圖案(第(a列))。圖案1的最后一個(gè)矢量(V3merged)與圖案2的第一個(gè)矢量(V4merged)是不相容的，由此將圖案2排在圖案1后面不是優(yōu)選的。圖案2的最后一個(gè)矢量(v6merged)與圖案1的第一個(gè)矢量(v1merged)是相容的，由此最好是將圖案2排在圖案1前面。由第(b)列來(lái)說(shuō)明測(cè)試圖案重排之后的已合并矢量與它們的重復(fù)計(jì)數(shù)值的結(jié)果序列。
示例2圖案1v1merged＝0X010 3 v4merged＝0X010 2v2merged＝1XXXX 2 v5merged＝X1XX1 2v3merged＝0X110 1 v6merged＝0X010 5v2merged＝1XXXX 2圖案2v4merged＝0X010 2 v3merged＝0X110 1v5merged＝X1XX1 2v6merged＝0XX10 2(a) (b)因此，能夠看出用于圖案重排的上述過(guò)程是最佳的，即會(huì)得到已合并測(cè)試矢量的最短可能序列。
測(cè)試矢量的合并以及測(cè)試圖案的重排都能夠被集成到ATPG過(guò)程中?，F(xiàn)在，通過(guò)創(chuàng)建能被合并的相容測(cè)試矢量的方式來(lái)填充非關(guān)注激勵(lì)位。
在圖2A和2B中分別示出了兩種可能的ATPG流程。在圖2A中，在已經(jīng)生成圖案之后立即為每個(gè)單獨(dú)的測(cè)試圖案進(jìn)行合并填充。這種方法的優(yōu)點(diǎn)就在于在故障模擬期間考慮所充填的激勵(lì)位，由此因這些激勵(lì)位而檢測(cè)出的故障就被標(biāo)記為已檢測(cè)故障。在圖2B中，在已經(jīng)生成所有圖案之后進(jìn)行合并填充。由于故障模擬是在無(wú)需填充的情況下對(duì)圖案執(zhí)行的，因而測(cè)試圖案的數(shù)量可以略大于圖2A中該流程的數(shù)量。圖2B中的流程的優(yōu)點(diǎn)為在某種程度上更加靈活。在這兩個(gè)流程中，利用矢量合并進(jìn)行的圖案重排以及最后的故障模擬都是任選的。
可以為任何大小為n的矢量的序列進(jìn)行矢量的合并。原則上講，對(duì)于具有t個(gè)管腳的電路，所有測(cè)試矢量都具有大小t，由此n＝t。也可以將每個(gè)t位的矢量vi分成許多子矢量vi1，...，vim。每個(gè)子矢量vij都具有大小s(vij)，其中1＜s(vij)＜t，并且∑1＜j＜ms(vij)＝t。一個(gè)子矢量對(duì)應(yīng)于一組IC管腳的激勵(lì)位。這樣的一組管腳通常被稱為″管腳組″或″端口″。
測(cè)試數(shù)據(jù)量的縮減是利用目前的ATE所支持的矢量重復(fù)能力來(lái)實(shí)現(xiàn)的。對(duì)于一些ATE，矢量重復(fù)僅對(duì)所有管腳是可能的僅存在包含所有IC管腳的單個(gè)端口，由此僅存在單個(gè)矢量序列。對(duì)于其它ATE，矢量重復(fù)對(duì)每個(gè)管腳組都是可能的存在多個(gè)端口，其中每個(gè)端口都包含一些IC管腳的子集，并且存在與端口相同數(shù)量的子矢量序列。在極端的情況下，每個(gè)端口都包含單個(gè)管腳，或單個(gè)端口包含所有管腳。對(duì)于其它配置而言，每個(gè)端口的管腳數(shù)量在1和IC管腳的數(shù)目之間變化。
在(下面的)示例3中，第一個(gè)子矢量vi1的序列被施加到端口1上，而第二個(gè)子矢量vi2的序列被施加到端口2上。現(xiàn)在，執(zhí)行兩次上述用于合并測(cè)試矢量的算法一次是對(duì)第一個(gè)子矢量vi1的序列執(zhí)行，并且獨(dú)立地對(duì)第二個(gè)子矢量vi2的序列執(zhí)行。在第(b)和(c)列中示出了所述結(jié)果。可以按第(d)列和第(e)列中所示那樣對(duì)已合并子矢量的序列進(jìn)行壓縮。對(duì)于每個(gè)端口，都示出了已合并子矢量，以及重復(fù)每個(gè)子矢量的次數(shù)。端口2上的序列是由單個(gè)矢量″10″來(lái)表示的，它被重復(fù)6次。
示例3端口1，端口2 端口1端口2 端口1 端口2v1＝(0XX，1X) v11merged＝0XX v12merged＝1X v11merged＝0X0 3 v12merged＝10 6v2＝(XX0，1X) v11merged＝0X0 v12merged＝1X v21merged＝1XX 1v3＝(0XX，X0) v11merged＝0X0 v12merged＝10 v31merged＝0X1 2v4＝(1XX.XX) v21merged＝1XX v12merged＝10v5＝(0XX，X0) v31merged＝0XX v12merged＝10v6＝(XX1，1X) v31merged＝0Xv12merged＝10(a)(b) (c) (d) (e)上面提出的基本思想將把合并填充用作為ATPG填充策略。數(shù)學(xué)上能夠證明合并填充的使用獲得了最佳的結(jié)果，即得到相容矢量的最長(zhǎng)可能序列，由此得到最長(zhǎng)的重復(fù)計(jì)數(shù)值。分析結(jié)果以及模擬結(jié)果如下所示對(duì)于按管腳重復(fù)(repeat-per-pin)(即，一個(gè)端口包含單個(gè)管腳)，合并填充是與重復(fù)填充相同的。因此，在這種情況下，合并填充和重復(fù)填充兩者都最優(yōu)地執(zhí)行，利用合并填充或重復(fù)填充而得到的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值被證明要比利用其它填充策略(比如像隨機(jī)填充、填零或填一)而得到的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值更高。對(duì)于按端口重復(fù)(repeat-per-port)(即，一個(gè)端口包含1個(gè)以上的管腳)，利用合并填充而得到的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值被證明是佳想的，并且它要比利用重復(fù)填充或其它填充類型而得到的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值大。
數(shù)學(xué)分析表明對(duì)于n位的端口，平均重復(fù)計(jì)數(shù)值是如下形式En≈cn(q)·1p,]]>其中p·q是激勵(lì)位為0的概率，p·(1-q)是激勵(lì)位為1的概率，而1-p是激勵(lì)位為X的概率。cn(q)是取決于n和q的某個(gè)恒量。
例如，如果n＝1，則利用合并填充而得到的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值為E1=c1(q)·1pwithc1(q)=12q(1-q)]]>And，ifn＝2，thenE2=c2(q)·1pwithc2(q)=1+1-q4q(1+q)+q4(1-q)(2-q)]]>例如，對(duì)于q＝1/3且p＝0.003，其為E1＝750 and E2＝483。這些結(jié)果對(duì)應(yīng)于利用隨機(jī)測(cè)試矢量的模擬結(jié)果，其分別為744和485。
在圖3中示出了利用隨機(jī)測(cè)試矢量進(jìn)行模擬的結(jié)果。該圖示出了在改變每個(gè)端口的管腳數(shù)量的同時(shí)對(duì)各種填充類型的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值。該圖示出了對(duì)于n＝1(按管腳重復(fù))，合并填充和重復(fù)填充同樣地執(zhí)行良好。對(duì)于n＞1(按端口重復(fù))，合并填充明顯要?jiǎng)龠^(guò)重復(fù)填充及其它填充類型。
圖4示出了對(duì)于各種不同的p值，利用合并填充而得到的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值。該圖示出了如果p增大則平均重復(fù)計(jì)數(shù)值減小。這正如所料，因?yàn)樵龃髉意味著非關(guān)注激勵(lì)位的數(shù)量減少，從而通過(guò)靈活地填充非關(guān)注位而為優(yōu)化重復(fù)計(jì)數(shù)值留下更小的空間。圖3和圖4兩者示出平均重復(fù)計(jì)數(shù)值也隨每個(gè)端口的管腳數(shù)量的增加而減小。這也正如所料，因?yàn)槊總€(gè)端口具有更多的管腳降低了具有相容矢量的概率。
圖5示出了在改變每個(gè)端口的管腳數(shù)量以及概率p的同時(shí)利用合并填充和重復(fù)填充而得到的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值之比。例如，對(duì)于p·q＝0.01，利用合并填充而得到的平均重復(fù)計(jì)數(shù)值是利用重復(fù)填充時(shí)的6倍。
示例下列矢量重復(fù)的示例是取自美國(guó)專利申請(qǐng)第US2002/0099992號(hào)?？紤]以下15個(gè)9位寬的矢量。(每一列都對(duì)應(yīng)于一個(gè)矢量，并且所述矢量是從右到左排列的。符號(hào)″-″表示某一位是非關(guān)注位。)存儲(chǔ)這15個(gè)矢量需要15×9＝135位。
9-----0---------8------------1--7---1-1--------16-----1---------5---------1-----4-------1----0--3---0-----------2------------1-01-----0---0-----下列矢量是當(dāng)按第US2002/0099992號(hào)中提出的對(duì)初始非關(guān)注位應(yīng)用重復(fù)填充和填0時(shí)而獲得的。(所述矢量也從右到左排列)。
900000000000000081111111111111007111111111111111611111100000000051111111111000004111111110000000300000000000000021111111111111001000000000000000現(xiàn)在，所需的就是僅僅存儲(chǔ)具有重復(fù)計(jì)數(shù)值為2(矢量1-2)、3(矢量3-5)、2(矢量6-7)、2(矢量8-9)和6(矢量10-15)的5個(gè)矢量(以粗體表示)。這需要5×9＝45位的存儲(chǔ)器，加上5個(gè)重復(fù)計(jì)數(shù)值，其結(jié)果為(135-45)/135＝67％的縮減。
下列矢量是當(dāng)按本發(fā)明中提出的應(yīng)用合并填充而得到的。(再次將所述矢量從右到左排列)。
900000000000000081111111111111117111111111111111611111111111111151111111111111114111111110000000300000000000000021111111111111001000000000000000現(xiàn)在，所需的就是僅僅存儲(chǔ)具有重復(fù)計(jì)數(shù)值為2(矢量1-2)、5(矢量3-7)和8(矢量8-15)的3個(gè)矢量(以粗體表示)。這需要3×9＝27位，加上3個(gè)重復(fù)計(jì)數(shù)值，其結(jié)果為(135-27)/135＝80％的縮減。
因此，本發(fā)明提出了用于縮減測(cè)試數(shù)據(jù)量的ATPG填充中的合并填充。典型地，測(cè)試矢量包含大量的非關(guān)注位(往往大于90％)，并且能夠在不影響這些矢量的故障覆蓋率的情況下修改這些非關(guān)注位。合并填充的基本思想就是通過(guò)創(chuàng)建相容測(cè)試矢量的序列的方式來(lái)填充非關(guān)注位?？梢詫⑾嗳莸氖噶亢喜⒊蓡蝹€(gè)測(cè)試矢量加上重復(fù)計(jì)數(shù)值。我們的壓縮相當(dāng)于測(cè)試矢量序列的游程長(zhǎng)度編碼。能夠證明的是在獲得最長(zhǎng)可能游程長(zhǎng)度的意義上講，合并填充的使用會(huì)產(chǎn)生最佳的游程長(zhǎng)度碼。
與存儲(chǔ)原始測(cè)試矢量相比，存儲(chǔ)已合并測(cè)試矢量和重復(fù)計(jì)數(shù)值需要較小的ATE存儲(chǔ)器。合并填充是最佳的，而且勝過(guò)所有早先的填充類型。
在技術(shù)規(guī)范中，合并填充的概念被擴(kuò)展為按端口重復(fù)，其中每個(gè)測(cè)試矢量都被分成許多子矢量，每端口一個(gè)子矢量。對(duì)于每個(gè)端口，都能夠獨(dú)立地應(yīng)用合并填充。我們還使用附加的自由度來(lái)重排測(cè)試圖案，以便進(jìn)一步降低已合并測(cè)試矢量的數(shù)量。
本發(fā)明提供了一種用于應(yīng)對(duì)上述測(cè)試數(shù)據(jù)量增加的有效而實(shí)際的解決方案。應(yīng)用本發(fā)明避免了測(cè)試質(zhì)量、測(cè)試時(shí)間和測(cè)試成本方面的不足。
已經(jīng)在上面僅以舉例的方式描述了本發(fā)明的實(shí)施例，并且對(duì)本領(lǐng)域的技術(shù)人員將顯而易見(jiàn)的是，在不脫離如所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明范圍的情況下能夠?qū)λ龅膶?shí)施例作出修改和變形。還將理解的是術(shù)語(yǔ)″包括″并不意在排除其它元件或步驟，所述術(shù)語(yǔ)″一″或″一個(gè)″不意在排除多個(gè)的情況，單個(gè)處理器或者其它單元也可以實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求中所述的幾個(gè)裝置的功能。
權(quán)利要求
1.一種壓縮數(shù)據(jù)的方法，所述數(shù)據(jù)包括至少兩個(gè)連續(xù)矢量的序列，其中一個(gè)矢量包括一位或多位，所述方法的特征在于包括下列步驟i)比較兩個(gè)或者兩個(gè)以上連續(xù)矢量中的對(duì)應(yīng)位來(lái)判斷它們是否相容；并且如果所述矢量的所有對(duì)應(yīng)位是相容的，則ii)合并所述兩個(gè)或者兩個(gè)以上矢量以創(chuàng)建代表其的單個(gè)矢量；其中假如兩個(gè)位不具有明確不相容的值或相對(duì)的值，則所述兩個(gè)位相容。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述數(shù)據(jù)包括供測(cè)試邏輯產(chǎn)品之用的測(cè)試矢量數(shù)據(jù)，并且所述方法包括下列步驟生成或獲得包括″關(guān)注″位和″非關(guān)注″位的原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)，并根據(jù)步驟i)和ii)來(lái)壓縮所述測(cè)試矢量數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中所述原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)是借助于自動(dòng)測(cè)試圖案生成(ATPG)工具來(lái)生成的。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任何一項(xiàng)所述的方法，包括下列步驟生成針對(duì)一個(gè)或多個(gè)已合并矢量的重復(fù)值，所述重復(fù)值表示應(yīng)該重復(fù)各個(gè)已合并矢量的次數(shù)，以重構(gòu)已合并矢量所代表的矢量中的關(guān)注位。
5.一種包括供測(cè)試邏輯產(chǎn)品之用的測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)集，所述測(cè)試矢量數(shù)據(jù)是利用權(quán)利要求4的方法來(lái)進(jìn)行壓縮的。
6.一種測(cè)試邏輯產(chǎn)品的方法，所述方法包括步驟生成根據(jù)權(quán)利要求5所述的壓縮測(cè)試矢量數(shù)據(jù)，通過(guò)根據(jù)其各自的重復(fù)值重復(fù)已合并矢量一次或多次來(lái)重構(gòu)測(cè)試矢量數(shù)據(jù)，將所述被重構(gòu)的測(cè)試矢量數(shù)據(jù)施加到所述邏輯產(chǎn)品的輸入上，以及獲得產(chǎn)生的輸出數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，進(jìn)一步包括下列步驟根據(jù)權(quán)利要求1至4中任何一項(xiàng)來(lái)壓縮輸出數(shù)據(jù)。
8.一種用于壓縮數(shù)據(jù)的設(shè)備，所述數(shù)據(jù)包括至少兩個(gè)連續(xù)矢量的序列，其中一個(gè)矢量包括一位或多位，所述設(shè)備的特征在于i)用于比較兩個(gè)或兩個(gè)以上數(shù)據(jù)連續(xù)矢量中的對(duì)應(yīng)位以判斷它們是否相容的裝置；和ii)用于合并其中的所有對(duì)應(yīng)位都相容的所述兩個(gè)或兩個(gè)以上矢量以創(chuàng)建代表所述兩個(gè)或兩個(gè)以上矢量的單個(gè)矢量的裝置；其中假如兩個(gè)位不具有明確不相容的值或相對(duì)的值，則所述兩個(gè)位的相容。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述數(shù)據(jù)包括供測(cè)試邏輯產(chǎn)品之用的測(cè)試矢量數(shù)據(jù)，并且所述設(shè)備包括用于生成或接收原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的裝置，所述原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)包括兩個(gè)或兩個(gè)以上矢量的序列，其中一個(gè)矢量包含一位或者多位，包括″關(guān)注″位和″非關(guān)注″位。
10.一種用于測(cè)試邏輯產(chǎn)品的設(shè)備，其包括用于生成原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的裝置、根據(jù)權(quán)利要求9所述的用于壓縮原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的設(shè)備、用于根據(jù)所述壓縮數(shù)據(jù)來(lái)重構(gòu)測(cè)試數(shù)據(jù)的裝置、用于將所重構(gòu)的數(shù)據(jù)施加到所述邏輯產(chǎn)品的輸入上的裝置、和用于獲得所得到的輸出數(shù)據(jù)的裝置。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的設(shè)備，其中對(duì)于包括小于n個(gè)矢量的序列的測(cè)試矢量數(shù)據(jù)而言所述非關(guān)注位是隨機(jī)填充的，而對(duì)于包括大于或等于n個(gè)相容矢量的序列的測(cè)試矢量數(shù)據(jù)而言所述非關(guān)注位是通過(guò)合并相容矢量來(lái)填充的。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的設(shè)備，包括根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其用于壓縮所述輸出數(shù)據(jù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求10至12中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中所述用于生成原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的裝置包括自動(dòng)測(cè)試圖案生成(ATPG)工具。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的設(shè)備，包括用于在對(duì)測(cè)試圖案進(jìn)行壓縮之前對(duì)其進(jìn)行重排的裝置。
15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的設(shè)備，包括用于以供測(cè)試邏輯產(chǎn)品之用的數(shù)據(jù)集的形式存儲(chǔ)已合并數(shù)據(jù)序列的裝置。
16.一種電子數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，在其上存儲(chǔ)有借助于根據(jù)權(quán)利要求15所述的設(shè)備創(chuàng)建的數(shù)據(jù)集。
全文摘要
一種用于壓縮供測(cè)試邏輯產(chǎn)品之用的測(cè)試矢量數(shù)據(jù)的方法和設(shè)備，其中原始測(cè)試矢量數(shù)據(jù)是以兩個(gè)或兩個(gè)以上包含″關(guān)注″位和″非關(guān)注″位的序列的形式來(lái)生成的。然后，通過(guò)比較兩個(gè)或兩個(gè)以上后續(xù)矢量的對(duì)應(yīng)位并且如果發(fā)現(xiàn)兩個(gè)或兩個(gè)以上矢量的所有對(duì)應(yīng)位是相容的則將兩個(gè)或兩個(gè)以上矢量合并成代表其的單個(gè)矢量來(lái)壓縮該測(cè)試矢量數(shù)據(jù)。如果它們不具有明確不相容的值或相對(duì)的值，則兩個(gè)位相容。
文檔編號(hào)G01R31/319GK1781030SQ200480011579
公開日2006年5月31日 申請(qǐng)日期2004年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2003年4月29日
發(fā)明者H·P·E·弗蘭肯, H·D·L·霍爾曼 申請(qǐng)人:皇家飛利浦電子股份有限公司