技術編號：6084088
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種供數(shù)據(jù)壓縮之用的方法和設備，更具體來講但非必須排它地來講，本發(fā)明涉及這樣一種方法和設備，其用于減少供測試諸如集成電路芯片等等之類的邏輯產(chǎn)品之用的測試數(shù)據(jù)的量或壓縮該測試數(shù)據(jù)從而節(jié)省計算機存儲器、盤存儲器的量以及節(jié)省測試這種產(chǎn)品所需的時間。背景技術 每個制造的集成電路(IC)都必須徹底地進行測試以便在將其運往訂戶那里之前找出制造缺陷。測試IC的常規(guī)方法包括利用ATPG(自動測試圖案生成)工具自動生成測試圖案，并且利用ATE(自動測試設備)將這些...
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