專利名稱：物體表面凸凹程度測量儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種物體表面凸凹程度的測量儀器，能夠測量不同弧度(包括0弧度平面)的物體表面上某一部位偏離該物體表面正?；《鹊耐拱汲潭?，可以通過測量儀上的電子數(shù)字顯示屏讀取具體的偏離凸凹值，測量精度為0.01mm。
背景技術(shù)：
目前，測量物體表面凸凹程度的方法有很多，儀器也有很多種，但是大多都是要想測量準確方法就比較復雜，要想測量方法簡單誤差就較大，并且大多精準的儀器價格都較高，不易應(yīng)用到日常工作中。因此，缺少一個方法簡單、價格便宜、數(shù)據(jù)準確的測量儀器。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決測量方法、儀器價格和準確程度三者的矛盾，本實用新型提供了一種測量儀，該測量儀不僅造價低，重要的是簡單易用，便于攜帶，而且測量結(jié)果準確。使用該測量儀可以測量不同弧度物體表面(球面、凹面、平面)上某個部位相對于該物體表面正常參考弧度的凸凹值，直接通過顯示屏讀取數(shù)據(jù)。
本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是在固定支架上設(shè)兩個觸點，在滑動支架上設(shè)一個觸點，加上測量探針針尖，共設(shè)置了四個距離均等的測量觸點。測量時，在固定支架和滑動支架上三個觸點確定了一個參考面(弧面或平面)后，推動測量探針緊貼被測部位，若電子位移檢測儀的讀書為0，說明被測部位與參考面處于同一個弧面或平面上，若電電子位移檢測儀的讀數(shù)有正負之分，正數(shù)表示被測點比參照弧度凸出的程度，負數(shù)表示被測點比參照弧度凹進的程度。該物體表面凸凹程度測量儀的測量精度與所采用的電子位移檢測儀的精度有關(guān)，可以精確到0.01mm。
本實用新型的有益效果是在測量物體表面某點凸凹程度的時候，簡單、快捷，準確。
以下結(jié)合附圖
和實施例對本實用新型進一步說明。
附圖是本實用新型的整體構(gòu)造主視圖。
圖中1.固定支架，2.滑動支架，3.測量探針，4.電子位移檢測儀，5.測量觸點，6.測量觸點，7.測量觸點，8.測量觸點。
具體實施方式
在附圖中，滑動支架(2)裝設(shè)在固定支架(1)上，并可以相對固定支架(1)上下滑動；電子位移檢測儀(4)固定在滑動支架(2)上，不能移動；測量探針(3)裝設(shè)在電子位移檢測儀(4)上，并可以相對電子位移檢測儀(4)上下滑動，其滑動量可以在電子位移檢測儀的屏幕上顯示出來。該物體表面凸凹程度測量儀的四個測量觸點(5)(6)(7)(8)在初始狀態(tài)時處于同一直線，且距離均等，利用四點的相互移動可以測量物體的凸面、凹面以及平面上某一部分相對于正常表面凸出或凹下的程度。測量儀的大小尺寸和測量范圍可以根據(jù)實際應(yīng)用領(lǐng)域的需要而定。
權(quán)利要求1.一種物體表面凸凹程度測量儀，由固定支架、滑動支架、測量探針和電子位移檢測儀四部分組成，在固定支架上設(shè)置了兩個觸點，在滑動支架上設(shè)置一個觸點，加上測量探針共設(shè)置了四個距離均等的測量觸點，其特征是在固定支架和滑動支架上三個觸點確定了一個參考弧面或平面后，用測量探針接觸被測部位，在電子位移檢測儀上讀出測量結(jié)果。
專利摘要一種能夠測量不同弧度(包括0弧度平面)的物體表面上某一點與該物體表面正?；《绕x程度的電子數(shù)顯測量儀。它由固定支架、滑動支架、測量探針和電子位移檢測儀四部分組成。它是在由固定支架上的兩個觸點、滑動支架上一個觸點共三點確定了被測物體的正常表面參照弧度后，通過移動測量探針接觸被測部位，從而在電子位移檢測儀上讀出該測量點偏離正常參考弧度的凸凹值。
文檔編號G01B7/02GK2754059SQ200420091418
公開日2006年1月25日 申請日期2004年9月10日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月10日
發(fā)明者邵新喜 申請人:邵勇