專(zhuān)利名稱(chēng)：鎂犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種鎂犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能測(cè)試儀，屬于腐蝕陰極保護(hù)一犧牲陽(yáng)極試驗(yàn)的技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
犧牲陽(yáng)極法腐蝕技術(shù)因其經(jīng)濟(jì)、無(wú)需管理、無(wú)干擾等優(yōu)點(diǎn)而被廣泛應(yīng)用。犧牲陽(yáng)極的性能是腐蝕控制的關(guān)鍵，也是影響被保護(hù)設(shè)備壽命性能的重要因素。但是目前各廠(chǎng)家對(duì)犧牲陽(yáng)極的性能尤其是電化學(xué)性能的測(cè)試和控制還不夠完善，主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面各犧牲陽(yáng)極生產(chǎn)廠(chǎng)家還沒(méi)有建立一套完整的測(cè)試體系，尤其是犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能方面，僅是采用簡(jiǎn)單的實(shí)驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行不規(guī)范的測(cè)試。使用廠(chǎng)家由于沒(méi)有檢測(cè)手段，無(wú)法確認(rèn)犧牲陽(yáng)極的合格率，無(wú)法對(duì)犧牲陽(yáng)極生產(chǎn)廠(chǎng)家進(jìn)行監(jiān)督。
國(guó)家監(jiān)督部門(mén)尚無(wú)可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)的正規(guī)、簡(jiǎn)單方便、可行有效的測(cè)試儀器和檢測(cè)設(shè)備。
發(fā)明目的本實(shí)用新型的目的是要提供一種鎂犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能測(cè)試儀，它可以對(duì)犧牲陽(yáng)極的電化學(xué)性能進(jìn)行檢驗(yàn)測(cè)試，沿用美國(guó)標(biāo)正ASTMG97-97的測(cè)試方法和相關(guān)規(guī)定，將測(cè)試儀器集成一體，結(jié)合使用數(shù)顯儀表進(jìn)行控制。
鎂犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)是殼體1內(nèi)裝有輔助陰極5和庫(kù)侖計(jì)4，殼體1表面是數(shù)顯表面3和電源開(kāi)關(guān)6以及電位器7和電源指示燈8，殼體1的后部有電源線(xiàn)9，可接220V的電源。殼體1底部襯一層絕緣板10以防止漏電，中間部位又設(shè)置一塊絕緣板11，而使庫(kù)侖計(jì)4定位。
電源板J1的1端接地，3端L線(xiàn)接熔斷器F1，再接變壓器T1的初級(jí)繞組，2端的N線(xiàn)也接T1的初級(jí)繞組，變壓器T1的次級(jí)繞組分別接二極管D11和D12的正極和二極管D9和D10的負(fù)極，二極管D11和D12的負(fù)極和電容C7的正極共同接于芯片N3的4端(型號(hào)為7812)，同時(shí)又接于VDD，二極管D9和D10的正極又與電容C7的負(fù)極相接且接地，同時(shí)又接于芯片N3的6端，電容C8和C9的正極共同接于芯片N3的5端，，同時(shí)又接于電阻R1和可調(diào)電阻RP1后，再接于A1(既鎂棒陽(yáng)極)，而電容C8和C9的負(fù)極互相連接于芯片N3的6端，同時(shí)又接于電流表A后再接鎂棒陽(yáng)極A1和輔助陰極B1及電壓表V，再接參比電極P1。
變壓器T1的次級(jí)繞組又接二極管D3和D4的正極以及二極管D1和D2的負(fù)極，D3和D4的負(fù)極與電容C1的正極共同接于芯片N1的7端，二極管D1和D2的正極與電容C1的負(fù)極連接后又接到芯片N1的9端，同時(shí)又連接電容C3和C2的負(fù)極后再接地，再接到電流表A，電容C3和C2的正極共同接于芯片N1的8端，同時(shí)又接于電流表A。變壓器T1的初級(jí)繞組與變壓器T2的初級(jí)繞組連接T2的次級(jí)繞組，并且連接二極管D8和D9的正極，同時(shí)又接于二極管D5和D6的負(fù)極，D7和D8的負(fù)極連同電容C4的正極接于VDD以及芯片N2的10端，D5和D6的正極共同接于電容C4的負(fù)極，同時(shí)又接于芯片N2的12端，并且連接電容C6和C5的負(fù)極，接地后又接于電壓表V，電容C6和C5的正極共同接于芯片N2的11端后又接±5V并接電壓表V。上述+5V分別作為電壓表V和電流表A的電源。
鎂犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn)是可測(cè)試犧牲陽(yáng)極的電化學(xué)性能，其體積小且安裝極為方便，操作簡(jiǎn)便而測(cè)試精度高，適用于各種犧牲陽(yáng)極的試樣。


圖1.鎂犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能測(cè)試儀示意圖圖2.工作原理圖圖3.電氣原理圖由圖1，殼體1內(nèi)裝有輔助陰極5和庫(kù)侖計(jì)4，殼體1表面是數(shù)顯表面3和電源開(kāi)關(guān)6以及電位器7和電源指示燈8，殼體1底部襯一層絕緣板10以防止漏電，中間部位又設(shè)置一塊絕緣板11，而使庫(kù)侖計(jì)4定位，殼體1的后部有電源線(xiàn)9，可接220V的電源。
由圖2，輔助陰極5內(nèi)裝有鎂電極12和甘汞電極13，輔助陰極5接庫(kù)侖計(jì)C，鎂電極12也接另一庫(kù)侖計(jì)C，兩個(gè)庫(kù)侖計(jì)與電源P連接。甘汞電極13可連接電位計(jì)而用于測(cè)試電位。
由圖3，電源板J1的1端接地，3端L線(xiàn)接熔斷器F1，再接變壓器T1的初級(jí)繞組，2端N線(xiàn)也接F1的初級(jí)繞組，變壓器T1的次級(jí)繞組分別接二極管D11和D12的正極和二極管D9和D10的負(fù)極，二極管D11和D12的負(fù)極和電容C7的正極共同接于芯片N3的4端(型號(hào)為7812)，同時(shí)又接于VDD，二極管D9和D10的正極又與電容C7的負(fù)極相接且接地，同時(shí)又接于芯片N3的6端，電容C8和C9的正極共同接于芯片N3的5端，，同時(shí)又接于電阻R1和可調(diào)電阻RP1后，再接于A1(既鎂棒陽(yáng)極)，而電容C8和C9的負(fù)極互相連接于芯片N3的6端，同時(shí)又接于電流表A后再接鎂棒陽(yáng)極A1和輔助陰極B1及電壓表V，再接參比電極P1。
變壓器T1的次級(jí)繞組又接二極管D3和D4的正極以及二極管D1和D2的負(fù)極，D3和D4的負(fù)極與電容C1的正極共同接于芯片N1的7端，同時(shí)連接VDD，二極管D1和D2的正極與電容C1的負(fù)極連接后又接到芯片N1的9端，同時(shí)又連接電容C3和C2的負(fù)極后再接地，再接到電流表A，電容C3和C2的正極共同接于芯片N1的8端，司時(shí)又接于電流表A。
變壓器T1的初級(jí)繞組與變壓器T2的初級(jí)繞組連接T2的次級(jí)繞組，并且連接二極管D8和D9的正極，同時(shí)又接于二極管D5和D6的負(fù)極，D7和D8的負(fù)極連同電容C4的正極接于VDD以及芯片N2的10端，D5和D6的正極共同接于電容C4的負(fù)極，同時(shí)又接于芯片N2的12端，并且連接電容C6和C5的負(fù)極，接地后又接于電壓表V，電容C6和C5的正極共同接于芯片N2的11端后又接±5V并接電壓表V。上述+5V分別作為電壓表V和電流表A的電源。
具體實(shí)施方式
該實(shí)驗(yàn)裝置主要部件包括外殼1部分，變壓整流裝置(內(nèi)置)和測(cè)試輔助部件，其測(cè)試輔助部件主要由輔助陰極5、庫(kù)侖計(jì)4和連接導(dǎo)線(xiàn)(內(nèi)置)和數(shù)顯儀表2、3共同組成。
將用戶(hù)需要的電解液介質(zhì)填充在輔助陰極5內(nèi)，液面達(dá)到所要求的高度，將要測(cè)試的鎂犧牲陽(yáng)極試樣通過(guò)鎂犧牲陽(yáng)極5的固定裝置在輔助陰極5內(nèi)，將變壓整流裝置內(nèi)置引出的一組內(nèi)置導(dǎo)線(xiàn)中的正極接庫(kù)侖計(jì)4的銅板，負(fù)極接在另一庫(kù)侖計(jì)的銅絲上，將電源線(xiàn)9接入220V交流電源，打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)6電源指示燈8點(diǎn)亮，通過(guò)電位器7調(diào)整電流即可進(jìn)行測(cè)試。
權(quán)利要求1.一種鎂犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能測(cè)試儀，其特征是殼體(1)內(nèi)裝有輔助陰極(5)和庫(kù)侖計(jì)(4)，殼體(1)表面是數(shù)顯表面(3)和電源開(kāi)關(guān)(6)以及電位器(7)和電源指示燈(8)，殼體(1)的后部有電源線(xiàn)(9)，可接220V的電源。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鎂犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能測(cè)試儀，其特征是殼體(1)底部襯一層絕緣板(10)以防止漏電，中間部位又設(shè)置一塊絕緣板(11)，而使庫(kù)侖計(jì)(4)得以定位。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鎂犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能測(cè)試儀，其特征是電源板J1的1端接地，3端L線(xiàn)接熔斷器F1，再接變壓器T1的初級(jí)繞組，2端的N線(xiàn)也接T1的初級(jí)繞組，T1的次級(jí)繞組分別接二極管D11和D12的正極和二極管D9和D10的負(fù)極，二極管D11和D12的負(fù)極和電容C7的正極共同接于芯片N3的4端(型號(hào)為7812)，同時(shí)又接于VDD，二極管D9和D10的正極又與電容C7的負(fù)極相接且接地，同時(shí)又接于芯片N3的6端，電容C8和C9的正極共同接于芯片N3的5端，，同時(shí)又接于電阻R1和可調(diào)電阻RP1后，再接于A1(既鎂棒陽(yáng)極)，而電容C8和C9的負(fù)極互相連接于芯片N3的6端，同時(shí)又接于電流表A后再接鎂棒陽(yáng)極A1和輔助陰極B1及電壓表V，再接參比電極P1。變壓器T1的次級(jí)繞組又接二極管D3和D4的正極以及二極管D1和D2的負(fù)極，D3和D4的負(fù)極與電容C1的正極共同接于芯片N1的7端，二極管D1和D2的正極與電容C1的負(fù)極連接后又接到芯片N1的9端，同時(shí)又連接電容C3和C2的負(fù)極后再接地，再接到電流表A，電容C3和C2的正極共同接于芯片N1的8端，同時(shí)又接于電流表A，變壓器T1的初級(jí)繞組與變壓器T2的初級(jí)繞組連接T2的次級(jí)繞組，并且連接二極管D8和D9的正極，同時(shí)又接于二極管D5和D6的負(fù)極，D7和D8的負(fù)極連同電容C4的正極接于VDD以及芯片N2的10端，D5和D6的正極共同接于電容C4的負(fù)極，同時(shí)又接于芯片N2的12端，并且連接電容C6和C5的負(fù)極，接地后又接于電壓表V，電容C6和C5的正極共同接于芯片N2的11端后又接±5V并接電壓表V。上述+5V分別作為電壓表V和電流表A的電源。
專(zhuān)利摘要一種鎂犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能測(cè)試儀，它由外殼部分和測(cè)量部件組成，其測(cè)量部件主要由輔助陰極和庫(kù)侖計(jì)，連接導(dǎo)線(xiàn)與數(shù)顯儀表組成，殼體1內(nèi)裝有輔助陰極5和庫(kù)侖計(jì)4，殼體1表面是數(shù)顯表面3和電源開(kāi)關(guān)6以及電位器7和電源指示燈8，殼體1的后部有電源線(xiàn)9，可接220V的電源。
文檔編號(hào)G01N27/26GK2681133SQ200420004240
公開(kāi)日2005年2月23日 申請(qǐng)日期2004年2月24日 優(yōu)先權(quán)日2004年2月24日
發(fā)明者黃鳴, 徐志斌, 陳玉銘, 張保國(guó), 渠榮華 申請(qǐng)人:黃鳴