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帶檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置及遙控檢驗(yàn)系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):5965677閱讀:143來源:國(guó)知局
專利名稱:帶檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置及遙控檢驗(yàn)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電路基板的檢驗(yàn)技術(shù),尤其涉及能有效地實(shí)行檢驗(yàn)動(dòng)作時(shí)的信號(hào)狀態(tài)的監(jiān)控的檢驗(yàn)裝置及遙控檢驗(yàn)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
作為電路基板檢驗(yàn)裝置(circuit board inspection)的以往技術(shù),可以列舉例如特開2001-235505(以下簡(jiǎn)記為“專利文獻(xiàn)1”),特開平1-100474(以下簡(jiǎn)記為“專利文獻(xiàn)2”)等公報(bào)中所記載的技術(shù)。
在專利文獻(xiàn)1的技術(shù)中,將合格品電路基板的實(shí)際測(cè)定值預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器等中作為標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù),對(duì)作為檢驗(yàn)對(duì)象的電路基板進(jìn)行測(cè)定,將所得到的測(cè)定值與上述存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)順序比較,判定電路基板是否合格。
在專利文獻(xiàn)2的技術(shù)中,公開了以下檢驗(yàn)技術(shù)通過數(shù)據(jù)檢測(cè)手段進(jìn)行數(shù)字式檢測(cè),從合格品電路基板得到標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)答圖樣數(shù)據(jù),從作為檢驗(yàn)對(duì)象的電路基板得到應(yīng)答圖樣數(shù)據(jù)。
但是,在上述專利文獻(xiàn)1或2的技術(shù)中,僅僅根據(jù)比較結(jié)果輸出電路基板是否合格的判定結(jié)果,比較中使用的信號(hào)處于什么樣的狀態(tài),不能監(jiān)控。
再有,當(dāng)在專利文獻(xiàn)1的技術(shù)中,為了確認(rèn)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的合格品電路基板的實(shí)際測(cè)定值是否正常時(shí),或在專利文獻(xiàn)2的技術(shù)中,為了確認(rèn)從合格品電路基板得到的標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)答圖樣數(shù)據(jù)是否正常時(shí),實(shí)際上需要預(yù)先監(jiān)視各信號(hào)值。
以往,為了特定電路基板的不良處或監(jiān)控信號(hào)狀態(tài),必須使用示波器或邏輯分析器等,通過觀測(cè)波形,或確認(rèn)邏輯值,確認(rèn)時(shí)間進(jìn)行判斷,觀測(cè)點(diǎn)多,尤其,由于連接觀測(cè)探測(cè)器,容量負(fù)荷導(dǎo)致波形變化,成為與實(shí)際設(shè)備環(huán)境不同的波形狀態(tài),對(duì)于判定本來狀態(tài)的合格與否帶來很大困難。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明就是為解決上述先有技術(shù)所存在的問題而提出來的,本發(fā)明的目的在于,提供具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置及遙控檢驗(yàn)系統(tǒng),其能克服上述先有技術(shù)中存在的容量負(fù)荷導(dǎo)致波形變化、成為與實(shí)際設(shè)備環(huán)境不同的波形狀態(tài)的問題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提出以下方案(1)一種具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置,其特征在于,包括接口部,控制與外部裝置連接;基板檢驗(yàn)部,從上述外部裝置經(jīng)上述接口部輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),將該檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過外部輸出端向被檢驗(yàn)基板輸出,從上述被檢驗(yàn)基板輸出與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),再經(jīng)外部輸入端輸入,上述基板檢驗(yàn)部根據(jù)該處理后數(shù)據(jù)判定該被檢驗(yàn)基板是否合格;監(jiān)控部,取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸出端之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸入端之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)上述接口部,向上述外部裝置輸出。
(2)在上述(1)的檢驗(yàn)裝置中,設(shè)有計(jì)數(shù)部,從上述監(jiān)控部取出所定計(jì)數(shù)值的監(jiān)控用信號(hào),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出。
(3)一種具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置,其特征在于,包括接口部,控制與外部裝置連接;基板檢驗(yàn)部,從上述外部裝置經(jīng)上述接口部輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),將該檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過外部輸出端向被檢驗(yàn)基板輸出,從上述被檢驗(yàn)基板輸出與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),再經(jīng)外部輸入端輸入,上述基板檢驗(yàn)部根據(jù)該處理后數(shù)據(jù)判定該被檢驗(yàn)基板是否合格;監(jiān)控部,取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸出端之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸入端之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào);計(jì)數(shù)部,從上述監(jiān)控部取出所定計(jì)數(shù)值的監(jiān)控用信號(hào),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出。
(4)在上述(2)或(3)的檢驗(yàn)裝置中,其特征在于,上述計(jì)數(shù)部設(shè)有兩個(gè)或兩個(gè)以上。
(5)在上述(1)的檢驗(yàn)裝置中,其特征在于,設(shè)有第一計(jì)數(shù)部,對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的高電平信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出;第二計(jì)數(shù)部,對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的低電平信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出。
(6)一種具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置,其特征在于,包括接口部,控制與外部裝置連接;基板檢驗(yàn)部,從上述外部裝置經(jīng)上述接口部輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),將該檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過外部輸出端向被檢驗(yàn)基板輸出,從上述被檢驗(yàn)基板輸出與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),再經(jīng)外部輸入端輸入,上述基板檢驗(yàn)部根據(jù)該處理后數(shù)據(jù)判定該被檢驗(yàn)基板是否合格;監(jiān)控部,取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸出端之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸入端之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào);第一計(jì)數(shù)部,對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的高電平信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出;第二計(jì)數(shù)部,對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的低電平信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出。
(7)在上述(1)-(6)中任一個(gè)的檢驗(yàn)裝置中,其特征在于設(shè)有存儲(chǔ)裝置,在上述接口部的前段存儲(chǔ)通過接口部向外部裝置輸出的監(jiān)控用信號(hào);將上述監(jiān)控信號(hào)匯總所定量,從上述存儲(chǔ)裝置,通過接口部向外部裝置輸出上述匯總的監(jiān)控用信號(hào)。
(8)在上述(1)-(7)中任一個(gè)的檢驗(yàn)裝置中,其特征在于,上述接口部包括連接裝置,其包含PCI,ISA,PC卡中至少一種規(guī)格標(biāo)準(zhǔn),用于與作為上述外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)連接。
(9)一種基板檢驗(yàn)方法,其特征在于,包括以下步驟基板檢驗(yàn)部接收從外部裝置經(jīng)接口部輸入的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù);將該檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)向被檢驗(yàn)基板輸出,從上述被檢驗(yàn)基板輸出與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),再輸入上述基板檢驗(yàn)部,根據(jù)該處理后數(shù)據(jù)判定該被檢驗(yàn)基板是否合格;監(jiān)控部取入上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)和處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào);將上述監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)上述接口部,向上述外部裝置輸出。
(10)一種遙控檢驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,包括上述(1)-(8)中任一個(gè)所述的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置,與外部裝置相連接;外部裝置,除了與上述檢驗(yàn)裝置相連接之外,與網(wǎng)絡(luò)相連接;上述網(wǎng)絡(luò)上的終端裝置,通過網(wǎng)絡(luò)接收上述檢驗(yàn)裝置通過上述外部裝置傳送的輸出結(jié)果,進(jìn)行監(jiān)控。
按照本發(fā)明的帶檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置及遙控檢驗(yàn)系統(tǒng),不需要設(shè)置觀測(cè)探測(cè)器,能監(jiān)控與實(shí)機(jī)環(huán)境相同的電路基板的信號(hào)。


圖1是涉及本發(fā)明的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置的第一構(gòu)成例的方框圖;圖2是涉及本發(fā)明的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置的第二構(gòu)成例的方框圖;圖3是涉及本發(fā)明的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置的第三構(gòu)成例的方框圖;圖4是涉及本發(fā)明的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置的第四構(gòu)成例的方框圖;圖5是涉及本發(fā)明的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置的第五構(gòu)成例的方框圖;
圖6是涉及本發(fā)明的遙控檢驗(yàn)系統(tǒng)構(gòu)成例的方框圖。
具體實(shí)施例方式
下面,參照

本發(fā)明的較佳實(shí)施例。
圖1是涉及本發(fā)明的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置或檢查裝置的第一構(gòu)成例的方框圖,本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置10由接口部1,基板檢驗(yàn)?zāi)K部2,監(jiān)控部(圖中記載為“緩沖選擇部”)5構(gòu)成。
上述接口部1在本實(shí)施例中記載為“PCI I/F”(peripheral componentinterconnect I/F),其是按照PCI規(guī)程的接口連接器,也可以使用按照其他規(guī)程例如ISA(internet security and acceleration),PCMCIA(personalcomputer memory card international association,以下簡(jiǎn)記為“PC卡”)等的接口連接器。其控制與個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC)等外部裝置(沒有圖示)的連接。從外部裝置(PC)通過上述接口部1輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)(test data),上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2將上述輸入的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過信號(hào)線6a經(jīng)外部輸出端(圖中記載為“信號(hào)輸出部”)3朝被檢驗(yàn)基板輸出,并從該被檢驗(yàn)基板經(jīng)外部輸入端(圖中記載為“信號(hào)輸入部”)4及信號(hào)線6b向上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2輸入與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2根據(jù)該處理后數(shù)據(jù),判定該被檢驗(yàn)基板是否合格。上述監(jiān)控部5實(shí)行取入信號(hào)并向外部裝置發(fā)送的動(dòng)作,具體地說,通過信號(hào)線7a取入上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸出端3之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),通過信號(hào)線7b取入上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸入端4之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)信號(hào)線8a通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出,因此,能根據(jù)外部裝置側(cè)要求進(jìn)行兩種信號(hào)狀態(tài)監(jiān)控。上述監(jiān)控部5即緩沖選擇部(buffer selector)設(shè)有緩沖存儲(chǔ)器,能蓄存某容量份數(shù)據(jù),利用FIFO原理,即使外部裝置側(cè)要求延遲也能對(duì)應(yīng)。
通過這種構(gòu)成,在本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置10中,在上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸出端3之間的信號(hào)線6a上,從上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2輸出到外部輸出端3的信號(hào)狀態(tài)按原樣由上述監(jiān)控部5讀入,通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。
并且,在該個(gè)人計(jì)算機(jī)中,用軟件處理各信號(hào)狀態(tài),可視地表示在例如顯示裝置的畫面上。通過這種表示,用戶即檢驗(yàn)員能確認(rèn)從該個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出并經(jīng)上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2向被檢驗(yàn)基板輸出的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)是否正常。
在上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2檢測(cè)為不合格品,檢驗(yàn)結(jié)果從上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2通過上述接口部1返回,當(dāng)取得上述檢驗(yàn)結(jié)果時(shí),在上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸入端4之間的信號(hào)線6b上,從外部輸入端4輸入到上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2的信號(hào)狀態(tài)按原樣由上述監(jiān)控部5讀入,通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。同樣,在該個(gè)人計(jì)算機(jī)中,上述信號(hào)狀態(tài)能可視地表示在例如顯示裝置的畫面上,用戶能容易地確認(rèn)詳細(xì)的不合格內(nèi)容。
即使在例如上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸出端3或外部輸入端4之間,發(fā)生基板檢驗(yàn)?zāi)K部2側(cè)動(dòng)作停止場(chǎng)合,在上述監(jiān)控部5也能讀入外部輸出端3側(cè)或外部輸入端4側(cè)的信號(hào),通過上述接口部1,向個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出,因此,在該個(gè)人計(jì)算機(jī)中,能監(jiān)控上述信號(hào)狀態(tài)。
這樣,按照本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置10,在停止?fàn)顟B(tài)下能監(jiān)控必要的信號(hào)信息。且不使用觀測(cè)探測(cè)器,能監(jiān)控與實(shí)際設(shè)備環(huán)境相同的電路基板的信號(hào)。并且,由于沒有必要連接觀測(cè)探測(cè)器,不會(huì)因容量負(fù)荷引起波形變化。
圖2是涉及本發(fā)明的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置的第二構(gòu)成例的方框圖,本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置20由接口部(圖中記載為“PCI I/F”)1,基板檢驗(yàn)?zāi)K部2,監(jiān)控部(圖中記載為“緩沖選擇部”)5,計(jì)數(shù)部26構(gòu)成。上述接口部1按照PCI,ISA,PC卡等標(biāo)準(zhǔn),控制與個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC)等外部裝置(沒有圖示)的連接。從外部裝置(PC)通過上述接口部1輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2將上述輸入的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過信號(hào)線6a經(jīng)外部輸出端(圖中記載為“信號(hào)輸出部”)3朝被檢驗(yàn)基板輸出,并從該被檢驗(yàn)基板經(jīng)外部輸入端(圖中記載為“信號(hào)輸入部”)4及信號(hào)線6b向上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2輸入與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2根據(jù)該處理后數(shù)據(jù),判定該被檢驗(yàn)基板是否合格。上述監(jiān)控部5通過信號(hào)線7a取入上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸出端3之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),通過信號(hào)線7b取入上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸入端4之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)信號(hào)線8a通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。上述計(jì)數(shù)部26通過信號(hào)線9a從監(jiān)控部5取出各所定計(jì)數(shù)值的監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)信號(hào)線9b通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。
這樣,本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置20是在圖1所示檢驗(yàn)裝置10中新增設(shè)計(jì)數(shù)部26構(gòu)成。
通過這種構(gòu)成,在本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置20中,在上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸出端3之間的信號(hào)線6a上,從上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2輸出到外部輸出端3的信號(hào)狀態(tài)按原樣由上述監(jiān)控部5讀入,通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。而在監(jiān)控部5與接口部1之間新設(shè)計(jì)數(shù)部26,由上述監(jiān)控部5讀入的信號(hào),能控制為按每所定計(jì)數(shù)份讀取,能區(qū)別由上述監(jiān)控部5讀入的信號(hào)是靜信號(hào)還是動(dòng)信號(hào),上述所謂“靜信號(hào)”是指信號(hào)輸出部或信號(hào)輸入部的信號(hào)狀態(tài)固定為“1”(高電平)或“0”(低電平)的狀態(tài),上述所謂“動(dòng)信號(hào)”是指信號(hào)輸出部或信號(hào)輸入部的信號(hào)狀態(tài)變動(dòng)為“1”/“0”的狀態(tài)。
這樣,按照本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置20,與圖1所示檢驗(yàn)裝置10相同,在停止?fàn)顟B(tài)下能監(jiān)控必要的信號(hào)信息,且不使用觀測(cè)探測(cè)器,能監(jiān)控與實(shí)際設(shè)備環(huán)境相同的電路基板的信號(hào),由于沒有必要連接觀測(cè)探測(cè)器,不會(huì)因容量負(fù)荷引起波形變化。并且,由于設(shè)有計(jì)數(shù)部26,能判斷由上述監(jiān)控部5讀入的信號(hào)是反復(fù)發(fā)生的信號(hào)還是靜信號(hào),能加快實(shí)現(xiàn)解析對(duì)應(yīng)方法。例如,若是“靜信號(hào)”,可以預(yù)測(cè)是意外停機(jī)等故障,能采取對(duì)應(yīng)方法。
圖3是涉及本發(fā)明的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置的第三構(gòu)成例的方框圖,本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置30由接口部(圖中記載為“PCI I/F”)1,基板檢驗(yàn)?zāi)K部2,監(jiān)控部(圖中記載為“緩沖選擇部”)5,至少兩個(gè)計(jì)數(shù)部36a,36b構(gòu)成。上述接口部1按照PCI,ISA,PC卡等標(biāo)準(zhǔn),控制與個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC)等外部裝置(沒有圖示)的連接。從外部裝置(PC)通過上述接口部1輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2將上述輸入的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過信號(hào)線6a經(jīng)外部輸出端(圖中記載為“信號(hào)輸出部”)3朝被檢驗(yàn)基板輸出,并從該被檢驗(yàn)基板經(jīng)外部輸入端(圖中記載為“信號(hào)輸入部”)4及信號(hào)線6b向上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2輸入與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2根據(jù)該處理后數(shù)據(jù),判定該被檢驗(yàn)基板是否合格。上述監(jiān)控部5通過信號(hào)線7a取入上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸出端3之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),通過信號(hào)線7b取入上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸入端4之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)信號(hào)線8a通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。上述至少兩個(gè)計(jì)數(shù)部36a,36b分別通過信號(hào)線39a,39b從監(jiān)控部5取出各所定計(jì)數(shù)值的監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)信號(hào)線39c,39d通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。
這樣,本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置30是在圖1所示檢驗(yàn)裝置10中新增設(shè)至少兩個(gè)計(jì)數(shù)部36a,36b構(gòu)成。
通過這種構(gòu)成,在本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置30中,在上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸出端3之間的信號(hào)線6a上,從上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2輸出到外部輸出端3的信號(hào)狀態(tài)按原樣由上述監(jiān)控部5讀入,通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。而在監(jiān)控部5與接口部1之間新設(shè)至少兩個(gè)計(jì)數(shù)部36a,36b,在本實(shí)施例中,上述計(jì)數(shù)部36a,36b具有相同結(jié)構(gòu),能監(jiān)控及閂鎖若干信號(hào),能在個(gè)人計(jì)算機(jī)側(cè)測(cè)定由上述監(jiān)控部5讀入的信號(hào)的延遲。
這樣,按照本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置30,與圖1所示檢驗(yàn)裝置10相同,在停止?fàn)顟B(tài)下能監(jiān)控必要的信號(hào)信息,且不使用觀測(cè)探測(cè)器,能監(jiān)控與實(shí)際設(shè)備環(huán)境相同的電路基板的信號(hào),由于沒有必要連接觀測(cè)探測(cè)器,不會(huì)因容量負(fù)荷引起波形變化。并且,由于設(shè)有至少兩個(gè)計(jì)數(shù)部36a,36b,能測(cè)定由上述監(jiān)控部5讀入的信號(hào)的延遲。
圖4是涉及本發(fā)明的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置的第四構(gòu)成例的方框圖,本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置40由接口部(圖中記載為“PCI I/F”)1,基板檢驗(yàn)?zāi)K部2,監(jiān)控部(圖中記載為“緩沖選擇部”)5,第一計(jì)數(shù)部(圖中記載為“計(jì)數(shù)部”)46a,第二計(jì)數(shù)部(圖中記載為“計(jì)數(shù)部”)46b構(gòu)成。上述接口部1按照PCI,ISA,PC卡等標(biāo)準(zhǔn),控制與個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC)等外部裝置(沒有圖示)的連接。從外部裝置(PC)通過上述接口部1輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2將上述輸入的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過信號(hào)線6a經(jīng)外部輸出端(圖中記載為“信號(hào)輸出部”)3朝被檢驗(yàn)基板輸出,并從該被檢驗(yàn)基板經(jīng)外部輸入端(圖中記載為“信號(hào)輸入部”)4及信號(hào)線6b向上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2輸入與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2根據(jù)該處理后數(shù)據(jù),判定該被檢驗(yàn)基板是否合格。上述監(jiān)控部5通過信號(hào)線7a取入上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸出端3之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),通過信號(hào)線7b取入上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸入端4之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)信號(hào)線8a通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。上述第一計(jì)數(shù)部46a通過信號(hào)線49a對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部5輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的高電平(“1”)的信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),經(jīng)信號(hào)線49c通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出;上述第二計(jì)數(shù)部46b通過信號(hào)線49b對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部5輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的低電平(“0”)的信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),經(jīng)信號(hào)線49d通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。
這樣,本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置40是在圖1所示檢驗(yàn)裝置10中新增設(shè)第一計(jì)數(shù)部46a和第二計(jì)數(shù)部46b構(gòu)成。
通過這種構(gòu)成,在本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置40中,在上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸出端3之間的信號(hào)線6a上,從上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2輸出到外部輸出端3的信號(hào)狀態(tài)按原樣由上述監(jiān)控部5讀入,通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。而在監(jiān)控部5與接口部1之間新設(shè)第一計(jì)數(shù)部46a和第二計(jì)數(shù)部46b,能讀取由上述監(jiān)控部5讀入信號(hào)成為高電平“1”時(shí)的計(jì)數(shù)時(shí)間以及成為低電平“0”時(shí)的計(jì)數(shù)時(shí)間,能在個(gè)人計(jì)算機(jī)側(cè)測(cè)定由上述監(jiān)控部5讀入的信號(hào)的占空系數(shù)(duty)。
這樣,按照本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置40,與圖1所示檢驗(yàn)裝置10相同,在停止?fàn)顟B(tài)下能監(jiān)控必要的信號(hào)信息,且不使用觀測(cè)探測(cè)器,能監(jiān)控與實(shí)際設(shè)備環(huán)境相同的電路基板的信號(hào),由于沒有必要連接觀測(cè)探測(cè)器,不會(huì)因容量負(fù)荷引起波形變化。并且,由于設(shè)有第一計(jì)數(shù)部46a和第二計(jì)數(shù)部46b,能測(cè)定由上述監(jiān)控部5讀入的信號(hào)的占空系數(shù)(“1”的時(shí)間和“0”的時(shí)間)。另外,通過第一計(jì)數(shù)部46a和第二計(jì)數(shù)部46b,能監(jiān)控復(fù)數(shù)信號(hào)。
圖5是涉及本發(fā)明的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置的第五構(gòu)成例的方框圖,本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置50由接口部(圖中記載為“PCI I/F”)1,基板檢驗(yàn)?zāi)K部2,監(jiān)控部(圖中記載為“緩沖選擇部”)5,第一計(jì)數(shù)部(圖中記載為“計(jì)數(shù)部”)46a,第二計(jì)數(shù)部(圖中記載為“計(jì)數(shù)部”)46b,存儲(chǔ)部57構(gòu)成。上述接口部1按照PCI,ISA,PC卡等標(biāo)準(zhǔn),控制與個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC)等外部裝置(沒有圖示)的連接。從外部裝置(PC)通過上述接口部1輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2將上述輸入的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過信號(hào)線6a經(jīng)外部輸出端(圖中記載為“信號(hào)輸出部”)3朝被檢驗(yàn)基板輸出,并從該被檢驗(yàn)基板經(jīng)外部輸入端(圖中記載為“信號(hào)輸入部”)4及信號(hào)線6b向上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2輸入與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2根據(jù)該處理后數(shù)據(jù),判定該被檢驗(yàn)基板是否合格。上述監(jiān)控部5通過信號(hào)線7a取入上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸出端3之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),通過信號(hào)線7b取入上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸入端4之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)信號(hào)線59c,存儲(chǔ)部57,信號(hào)線59d,通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。上述第一計(jì)數(shù)部46a通過信號(hào)線49a對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部5輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的高電平(“1”)的信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),經(jīng)信號(hào)線59a,存儲(chǔ)部57,信號(hào)線59d,通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出;上述第二計(jì)數(shù)部46b通過信號(hào)線49b對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部5輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的低電平(“0”)的信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),經(jīng)信號(hào)線59b,存儲(chǔ)部57,信號(hào)線59d,通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。上述存儲(chǔ)部57用于在接口部1前段存儲(chǔ)通過上述接口部1向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出的監(jiān)控用信號(hào)。
在本例中,上述第一計(jì)數(shù)部46a及第二計(jì)數(shù)部46b設(shè)在監(jiān)控部5與接口部1之間,上述存儲(chǔ)部57存儲(chǔ)上述第一計(jì)數(shù)部46a及第二計(jì)數(shù)部46b的輸出,通過這種構(gòu)成,在本例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置50中,在存儲(chǔ)部57匯總所定量,將監(jiān)控用信號(hào)通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。
例如,在上述存儲(chǔ)部57,將來自第一計(jì)數(shù)部46a及第二計(jì)數(shù)部46b的信號(hào)按時(shí)鐘脈沖取樣,將上述取樣的所定量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在先進(jìn)先出緩沖存儲(chǔ)器(First In First Out,以下簡(jiǎn)記為“FIFO”)。當(dāng)所定量數(shù)據(jù)是例如64位(現(xiàn)狀的存儲(chǔ)器的線位數(shù))時(shí),上述存儲(chǔ)部57匯總64位份的數(shù)據(jù),存入FIFO存儲(chǔ)器一線,反復(fù)上述動(dòng)作。進(jìn)而,當(dāng)存儲(chǔ)在FIFO存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)的線達(dá)到所定量(burst),上述存儲(chǔ)部57向外部裝置發(fā)送要求,以便寫入上述取樣數(shù)據(jù),以預(yù)先設(shè)定時(shí)間反復(fù)上述動(dòng)作。
這樣,本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置50是在圖4所示檢驗(yàn)裝置40中新增設(shè)存儲(chǔ)部57構(gòu)成。
通過這種構(gòu)成,在本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置50中,在上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2與外部輸出端3之間的信號(hào)線6a上,從上述基板檢驗(yàn)?zāi)K部2輸出到外部輸出端3的信號(hào)狀態(tài)按原樣由上述監(jiān)控部5讀入,通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。而在監(jiān)控部5與接口部1之間設(shè)有第一計(jì)數(shù)部46a和第二計(jì)數(shù)部46b,能讀取由上述監(jiān)控部5讀入信號(hào)成為高電平“1”時(shí)的計(jì)數(shù)時(shí)間以及成為低電平“0”時(shí)的計(jì)數(shù)時(shí)間,能在個(gè)人計(jì)算機(jī)側(cè)測(cè)定由上述監(jiān)控部5讀入的信號(hào)的占空系數(shù)。且在監(jiān)控部5與第一計(jì)數(shù)部46a,第二計(jì)數(shù)部46b之間設(shè)有存儲(chǔ)部57,能將來自上述監(jiān)控部5,第一計(jì)數(shù)部46a,第二計(jì)數(shù)部46b的數(shù)據(jù)匯總到所定量,通過上述接口部1,向作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)輸出。
這樣,按照本實(shí)施例的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置50,與圖1所示檢驗(yàn)裝置10相同,在停止?fàn)顟B(tài)下能監(jiān)控必要的信號(hào)信息,且不使用觀測(cè)探測(cè)器,能監(jiān)控與實(shí)際設(shè)備環(huán)境相同的電路基板的信號(hào),由于沒有必要連接觀測(cè)探測(cè)器,不會(huì)因容量負(fù)荷引起波形變化。并且,由于設(shè)有第一計(jì)數(shù)部46a和第二計(jì)數(shù)部46b,能測(cè)定由上述監(jiān)控部5讀入的信號(hào)的占空系數(shù)(“1”的時(shí)間和“0”的時(shí)間)。另外,通過第一計(jì)數(shù)部46a和第二計(jì)數(shù)部46b,能監(jiān)控復(fù)數(shù)信號(hào)。此外,由于設(shè)有存儲(chǔ)部57,能在個(gè)人計(jì)算機(jī)側(cè)的畫面上以時(shí)間軸表示存儲(chǔ)在存儲(chǔ)部57中的內(nèi)容(監(jiān)控部5讀入的信號(hào)狀態(tài)),能實(shí)現(xiàn)信號(hào)線的監(jiān)控功能,即邏輯追蹤(logic tracer)功能。
圖6是涉及本發(fā)明的遙控檢驗(yàn)系統(tǒng)構(gòu)成例的方框圖,在本實(shí)施例的遙控檢驗(yàn)系統(tǒng)中,作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)與網(wǎng)絡(luò)相連接,在該網(wǎng)絡(luò)上的終端裝置接收上述圖1-圖5的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置10,20,30,40,50中任一個(gè)的輸出結(jié)果,進(jìn)行監(jiān)控。
即,本實(shí)施例的遙控檢驗(yàn)系統(tǒng)由具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置(圖中記載為“檢驗(yàn)裝置”)60,個(gè)人計(jì)算機(jī)(圖中記載為“PC”)601,個(gè)人計(jì)算機(jī)(圖中記載為“遙控PC”)603構(gòu)成。上述檢驗(yàn)裝置60至少由上述圖1-圖5的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置10,20,30,40,50中某個(gè)構(gòu)成,對(duì)被檢驗(yàn)基板62進(jìn)行檢驗(yàn)。上述個(gè)人計(jì)算機(jī)601通過PCI,ISA,PC卡,無(wú)線LAN接口裝置,紅外線接口裝置等與上述檢驗(yàn)裝置60相連接,上述個(gè)人計(jì)算機(jī)603通過局部區(qū)域網(wǎng)(local area network,以下簡(jiǎn)記為“LAN”)或WAN等網(wǎng)絡(luò)602與上述個(gè)人計(jì)算機(jī)601相連接。
通過這種結(jié)構(gòu),在本實(shí)施例的遙控檢驗(yàn)系統(tǒng)中,例如,個(gè)人計(jì)算機(jī)603設(shè)置在檢驗(yàn)中心等,個(gè)人計(jì)算機(jī)601設(shè)置在制造工廠,可以從上述個(gè)人計(jì)算機(jī)603通過網(wǎng)絡(luò)602向上述個(gè)人計(jì)算機(jī)601發(fā)送被檢驗(yàn)基板62的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)文件,從上述個(gè)人計(jì)算機(jī)601向上述檢驗(yàn)裝置60下載該檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),通過上述檢驗(yàn)裝置60對(duì)被檢驗(yàn)基板62實(shí)行檢驗(yàn)。
再有,可以從上述個(gè)人計(jì)算機(jī)601通過網(wǎng)絡(luò)602向上述個(gè)人計(jì)算機(jī)603發(fā)送上述檢驗(yàn)裝置60的監(jiān)控結(jié)果數(shù)據(jù),在檢驗(yàn)中心可以用遙控器監(jiān)控檢驗(yàn)裝置60對(duì)被檢驗(yàn)基板62的檢驗(yàn)狀態(tài)。
上面參照

了本發(fā)明的實(shí)施例,但本發(fā)明并不局限于上述實(shí)施例。在本發(fā)明技術(shù)思想范圍內(nèi)可以作種種變更,它們都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
例如,在圖5例中,是在圖4所示檢驗(yàn)裝置40中新增設(shè)存儲(chǔ)部57構(gòu)成,但是,本發(fā)明并不局限于此,也可以在圖1所示檢驗(yàn)裝置10或圖2所示檢驗(yàn)裝置20中增設(shè)存儲(chǔ)部57構(gòu)成。
再有,在圖2-圖4所示檢驗(yàn)裝置20,30,40中,設(shè)有直接連接接口部1和監(jiān)控部5的信號(hào)線,但是,本發(fā)明并不局限于此,也可以不設(shè)該信號(hào)線。并且,也可以將這種構(gòu)成的檢驗(yàn)裝置作為圖6所示遙控檢驗(yàn)系統(tǒng)中的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置60使用。
再有,在圖1-圖5所示檢驗(yàn)裝置10,20,30,40,50中,通過PCI,ISA,PC卡等標(biāo)準(zhǔn)的接口部1與作為外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)連接,但是,本發(fā)明并不局限于此,也可以使用具有無(wú)線功能的接口,與無(wú)線LAN上的個(gè)人計(jì)算機(jī)連接。
權(quán)利要求
1.一種具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置,其特征在于,包括接口部,控制與外部裝置連接;基板檢驗(yàn)部,從上述外部裝置經(jīng)上述接口部輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),將該檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過外部輸出端向被檢驗(yàn)基板輸出,從上述被檢驗(yàn)基板輸出與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),再經(jīng)外部輸入端輸入,上述基板檢驗(yàn)部根據(jù)該處理后數(shù)據(jù)判定該被檢驗(yàn)基板是否合格;監(jiān)控部,取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸出端之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸入端之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)上述接口部,向上述外部裝置輸出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的檢驗(yàn)裝置,其特征在于,設(shè)有計(jì)數(shù)部,從上述監(jiān)控部取出所定計(jì)數(shù)值的監(jiān)控用信號(hào),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出。
3.一種具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置,其特征在于,包括接口部,控制與外部裝置連接;基板檢驗(yàn)部,從上述外部裝置經(jīng)上述接口部輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),將該檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過外部輸出端向被檢驗(yàn)基板輸出,從上述被檢驗(yàn)基板輸出與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),再經(jīng)外部輸入端輸入,上述基板檢驗(yàn)部根據(jù)該處理后數(shù)據(jù)判定該被檢驗(yàn)基板是否合格;監(jiān)控部,取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸出端之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸入端之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào);計(jì)數(shù)部,從上述監(jiān)控部取出所定計(jì)數(shù)值的監(jiān)控用信號(hào),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3中所述的檢驗(yàn)裝置,其特征在于,上述計(jì)數(shù)部設(shè)有兩個(gè)或兩個(gè)以上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的檢驗(yàn)裝置,其特征在于,設(shè)有第一計(jì)數(shù)部,對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的高電平信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出;第二計(jì)數(shù)部,對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的低電平信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出。
6.一種具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置,其特征在于,包括接口部,控制與外部裝置連接;基板檢驗(yàn)部,從上述外部裝置經(jīng)上述接口部輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),將該檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過外部輸出端向被檢驗(yàn)基板輸出,從上述被檢驗(yàn)基板輸出與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),再經(jīng)外部輸入端輸入,上述基板檢驗(yàn)部根據(jù)該處理后數(shù)據(jù)判定該被檢驗(yàn)基板是否合格;監(jiān)控部,取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸出端之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),取入上述基板檢驗(yàn)部與外部輸入端之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào);第一計(jì)數(shù)部,對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的高電平信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出;第二計(jì)數(shù)部,對(duì)所定時(shí)間中從監(jiān)控部輸出的監(jiān)控用信號(hào)內(nèi)的低電平信號(hào)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),通過上述接口部,向上述外部裝置輸出。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-6中任一個(gè)所述的檢驗(yàn)裝置,其特征在于設(shè)有存儲(chǔ)裝置,在上述接口部的前段存儲(chǔ)通過接口部向外部裝置輸出的監(jiān)控用信號(hào);將上述監(jiān)控信號(hào)匯總所定量,從上述存儲(chǔ)裝置,通過接口部向外部裝置輸出上述匯總的監(jiān)控用信號(hào)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7中任一個(gè)所述的檢驗(yàn)裝置,其特征在于,上述接口部包括連接裝置,其包含PCI,ISA,PC卡中至少一種規(guī)格標(biāo)準(zhǔn),用于與作為上述外部裝置的個(gè)人計(jì)算機(jī)連接。
9.一種基板檢驗(yàn)方法,其特征在于,包括以下步驟基板檢驗(yàn)部接收從外部裝置經(jīng)接口部輸入的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù);將該檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)向被檢驗(yàn)基板輸出,從上述被檢驗(yàn)基板輸出與上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),再輸入上述基板檢驗(yàn)部,根據(jù)該處理后數(shù)據(jù)判定該被檢驗(yàn)基板是否合格;監(jiān)控部取入上述檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)和處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào);將上述監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)上述接口部,向上述外部裝置輸出。
10.一種遙控檢驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,包括上述權(quán)利要求1-8中任一個(gè)所述的具有檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置,與外部裝置相連接;外部裝置,除了與上述檢驗(yàn)裝置相連接之外,與網(wǎng)絡(luò)相連接;上述網(wǎng)絡(luò)上的終端裝置,通過網(wǎng)絡(luò)接收上述檢驗(yàn)裝置通過上述外部裝置傳送的輸出結(jié)果,進(jìn)行監(jiān)控。
全文摘要
本發(fā)明涉及帶檢驗(yàn)信號(hào)監(jiān)控功能的檢驗(yàn)裝置及遙控檢驗(yàn)系統(tǒng)。檢驗(yàn)裝置10包括接口部1,按照PCI,ISA,PC卡等標(biāo)準(zhǔn),控制與外部裝置的連接;基板檢驗(yàn)部2,從外部裝置經(jīng)接口部1輸入檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),將該檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)通過外部輸出端3向被檢驗(yàn)基板輸出,從被檢驗(yàn)基板輸出與檢驗(yàn)用數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的處理后數(shù)據(jù),再經(jīng)外部輸入端4輸入,根據(jù)該處理后數(shù)據(jù)判定該被檢驗(yàn)基板是否合格;監(jiān)控部5,取入基板檢驗(yàn)部2與外部輸出端3之間傳送的檢驗(yàn)用數(shù)據(jù),取入基板檢驗(yàn)部2與外部輸入端4之間傳送的處理后數(shù)據(jù),作為監(jiān)控用信號(hào),經(jīng)接口部1向外部裝置輸出。按照本檢驗(yàn)裝置,不需要設(shè)置觀測(cè)探測(cè)器,能監(jiān)控與實(shí)機(jī)環(huán)境相同的電路基板的信號(hào)。
文檔編號(hào)G01R31/28GK1605882SQ200410085249
公開日2005年4月13日 申請(qǐng)日期2004年10月9日 優(yōu)先權(quán)日2003年10月9日
發(fā)明者小泉幾夫 申請(qǐng)人:株式會(huì)社理光
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