專利名稱：可旋轉(zhuǎn)式樣品架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種光學(xué)測定儀中用于放置被測樣品器皿的樣品架結(jié)構(gòu)，具體涉及一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架。
背景技術(shù)：
目前，在傳統(tǒng)光學(xué)測定儀中，用于放置被測樣品器皿的樣品架，均采用固定的結(jié)構(gòu)，適用于透射法的光學(xué)測定。近年來出現(xiàn)了一種采用物體表面進(jìn)行光學(xué)測定的方法，這種方法因要求被測物體的表面與儀器光路呈一定角度，采用了一種特殊的樣品器皿。由于特殊樣品器皿加工困難，成本高，因此在使用時存在著明顯的不足。為克服上述不足，有必要提供一種新型的樣品架裝置。

發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的目的就在于克服上述的不足，提供一種既可作常規(guī)透射法測定，又可作物體表面測定的可旋轉(zhuǎn)式樣品架。
本實用新型提供的一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架，其為一種兼容性測試樣品架，所述的樣品架安裝在光學(xué)測定儀的底座上，在所述的樣品架的底部有一個定位孔，所述的定位孔與儀器底座上設(shè)置的定位銷之間相連，其為一個精密的間隙配合，可作順時針或逆時針轉(zhuǎn)動。
本實用新型提供的一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架，其底部應(yīng)有定位孔，所述的定位孔與儀器底座中預(yù)設(shè)的定位銷配合作為旋轉(zhuǎn)中心，可作精密的轉(zhuǎn)動配合。當(dāng)需要常規(guī)透射法測定時，樣品架經(jīng)由螺孔固定在儀器底座的光路中進(jìn)行；當(dāng)需要作為物體表面光學(xué)測定時，樣品架依軸心作旋轉(zhuǎn)并固定在儀器底座上，使樣品架與入射光呈一定的角度，即可對被測樣品器皿中的物質(zhì)進(jìn)行物體表面的光學(xué)測定。
本實用新型提供的一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架中所述的定位孔的位置，一般選擇為透射法測定時激發(fā)光入射樣品架的入射點同發(fā)射光的發(fā)射點的垂直平分線，同用作物體表面測定時旋轉(zhuǎn)角度α后激發(fā)光入射樣品架的入射點同發(fā)射光的發(fā)射點的垂直平分線相交的交匯處。
由此可見，本實用新型對常規(guī)光測儀的樣品架稍作改進(jìn)，把樣品架做成轉(zhuǎn)動式，使二種測試方法能方便地兼容。
本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，成本低廉，易于推廣，具有廣泛的實用價值，具有廣闊的應(yīng)用前景。
下面，結(jié)合附圖和實施例詳細(xì)說明依據(jù)本實用新型提出的具體裝置的細(xì)節(jié)及工作情況。


圖1為本實用新型的示意圖。
圖2為圖1的C向結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3a為本實用新型一種實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3b為本實用新型另一種實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
如附圖1-2所示，本實用新型實施例提供的一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架，其為一種兼容性測試樣品架，所述的樣品架1安裝在光學(xué)測定儀的底座2上，在所述的樣品架1的底部有一個定位孔A，所述的定位孔A與儀器底座2上設(shè)置的定位銷3之間有一個精密的間隙配合，可作順時針或逆時針轉(zhuǎn)動。
本實用新型提供的一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架中所述的定位孔A的位置，一般選擇為透射法測定時激發(fā)光入射樣品架1的入射點B同發(fā)射光的發(fā)射點B′的垂直平分線，同用作物體表面測定時旋轉(zhuǎn)角度α后激發(fā)光入射樣品架1的入射點B′同發(fā)射光的發(fā)射點B″的垂直平分線相交的交匯處A。
常規(guī)測定時，儀器的樣品架1處于光路中如圖1的實線位置，并經(jīng)螺孔a，孔b由螺釘4或通過其他方式固定于儀器的底座2上，激發(fā)光和發(fā)射光的作用點在B′處，可適用透射法進(jìn)行測定。
當(dāng)用作物體表面測定時，所述的樣品架1以A點為旋轉(zhuǎn)中心，可順時針旋轉(zhuǎn)角度α，此時樣品架處于圖1的虛線位置，孔a、孔b在儀器底座2上的位置變?yōu)閍′、b′，再用螺釘4或其他方式定位，固定于儀器底座2上，并確保所述的樣品架1的內(nèi)側(cè)壁的中點洽好落在激發(fā)光和發(fā)射光的交匯點B′上，這樣即可作物體表面的光測定。
由此可見，如圖1所示兩種測試方法的光路作用點均為B′，此時α的角度可在5°～40°或50°～85°內(nèi)設(shè)定，因為當(dāng)接近45°時會產(chǎn)生正反射的光干涉；或當(dāng)接近0°或90°時會產(chǎn)生由樣品架四壁造成的檔光現(xiàn)象。當(dāng)然，所述的A點的位置會隨著設(shè)定的旋轉(zhuǎn)角度α的大小而變動。α角度越小，A點就越遠(yuǎn)離B′點，如附圖3a所示。反之α角度越大，A點就越接近B′點，如附圖3b所示。
另外，所述的A點的選擇還需根據(jù)樣品架1在儀器中的活動空間及是否便于加工和安裝而定。但無論如何，所述的旋轉(zhuǎn)中心A點的設(shè)定位置，應(yīng)落在圖3a、3b所示BB′和B′B″二條中垂線的交匯處A，并根據(jù)光路的結(jié)構(gòu)設(shè)定于圖1的左、右或上、下方。
權(quán)利要求1.一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架，其特征在于所述的樣品架為一種兼容性測試樣品架，所述的樣品架(1)安裝在光學(xué)測定儀的底座(2)上，在所述的樣品架(1)的底部有一個定位孔A，所述的定位孔A與儀器底座(2)上設(shè)置的定位銷(3)之間有一個精密的間隙配合，可作順時針或逆時針轉(zhuǎn)動。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架，其特征在于所述的定位孔A的位置為常規(guī)透射法測定時激發(fā)光入射樣品架(1)的入射點B同發(fā)射光的發(fā)射點B′的垂直平分線，同用作物體表面測定時旋轉(zhuǎn)角度α后激發(fā)光入射樣品架(1)的入射點B′同發(fā)射光的發(fā)射點B″的垂直平分線相交的交匯處A。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架，其特征在于所述的α的角度可在5°～40°或50°～85°內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架，其特征在于所述的所述的A點的位置會隨著旋轉(zhuǎn)角度α的大小而變動；α角度越小，A點就越遠(yuǎn)離B′點，反之α角度越大，A點就越接近B′點。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架，其特征在于所述的樣品架(1)可由螺釘(4)經(jīng)螺孔固定于儀器的底座(2)上。
專利摘要本實用新型涉及一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架。在傳統(tǒng)光學(xué)測定儀中，用于放置被測樣品器皿的樣品架，均采用固定的結(jié)構(gòu)，適用于透射法的光學(xué)測定。為此，本實用新型提供了一種可旋轉(zhuǎn)式樣品架，其為一種兼容性測試樣品架，所述的樣品架(1)安裝在光學(xué)測定儀的底座(2)上，在所述的樣品架(1)的底部有一個定位孔A，所述的定位孔A與儀器底座(2)上設(shè)置的定位銷(3)之間有一個精密的間隙配合，可作順時針或逆時針轉(zhuǎn)動。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，成本低廉，易于推廣，具有廣泛的實用價值，具有廣闊的應(yīng)用前景。
文檔編號G01N21/13GK2663980SQ200320122750
公開日2004年12月15日 申請日期2003年12月23日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月23日
發(fā)明者吳樹恩, 程奕昊 申請人:上海棱光技術(shù)有限公司