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振蕩檢測方法及其裝置的制作方法

文檔序號:5891903閱讀:237來源:國知局
專利名稱:振蕩檢測方法及其裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種檢測方法及其裝置,特別是涉及一種利用振蕩的動態(tài)變化進(jìn)行品質(zhì)檢測的振蕩檢測方法及其裝置。
背景技術(shù)
如圖1所示,現(xiàn)有的電解電容器9包括一陽極鋁箔板91、一陰極鋁箔板92,以及一夾設(shè)于該陽極鋁箔板91及該陰極鋁箔板92間的電解質(zhì)93,陽極鋁箔板91通常被電解氧化,在表面產(chǎn)生一層微米(μm)級三氧化二鋁薄膜的介電層94。電解質(zhì)93則吸納飽含乙二醇、丙三醇、硼和氨水等所組成的糊狀電解液,間隔設(shè)置于陽極鋁箔板91及陰極鋁箔板92間;此種電解電容器9的優(yōu)勢在于具有較小的體積及較大的電容量。
在制作過程中,需切割夾成三明治狀的陽極鋁箔板91、電解質(zhì)93、及陰極鋁箔板92,因此無可避免地將產(chǎn)生微小的鋁質(zhì)碎屑(圖未示),部分碎屑將會殘留于卷妥的電解電容器9內(nèi)。由于三氧化二鋁介電層94極薄,一旦部份碎屑具有尖銳棱角,將會劃破或刺穿介電層94,更由于碎屑大小、尖銳程度、所在位置均不固定,而導(dǎo)致該電解電容器9陰陽極間形成情況差異甚遠(yuǎn)的各式短路現(xiàn)象,造成電容值程度不一的劣化,嚴(yán)重威脅出品電容器的穩(wěn)定性,這種問題在電容器被安裝于電路板后,將更嚴(yán)重地導(dǎo)致終端電子產(chǎn)品原設(shè)計(jì)功效無法順利達(dá)成。
最令技術(shù)人員頭疼的問題在于若碎屑對介電層94造成的傷害較為細(xì)微,在電解電容器9被通入電流后,陽極鋁箔板91介電層94破損處將會在表面自然生成更薄的三氧化二鋁膜。也就是說,當(dāng)對該電解電容器9通入電壓夠高的電流進(jìn)行測量時(shí),將因介電層94破損處自然生成較薄的三氧化二鋁薄膜,自動地完成該介電層94破損處的修補(bǔ),而無法確認(rèn)檢查出該電解電容器9先前所發(fā)生的短路;然而,由于當(dāng)初破壞該介電層94的碎屑仍位于極具威脅的鄰近位置,該電解電容器9一旦被搖晃或擠壓,碎屑將再度傷害介電層94破損處,重現(xiàn)該短路現(xiàn)象。此種若有若無、時(shí)隱時(shí)現(xiàn)的短路現(xiàn)象,一般稱為『假性短路』。
此種因隱藏有結(jié)構(gòu)瑕疵所造成的物理特性不穩(wěn)定,不但使得該電解電容器9不定時(shí)地發(fā)生假性短路,也不定期地自動于施加足夠電能一段時(shí)間后消失,相當(dāng)難在電解電容器9出廠時(shí)檢測出來。雖然依照目前技術(shù)水準(zhǔn),此類無法剔退的不穩(wěn)定不良品只占整體出貨量600ppm(約萬分之六),但正因?yàn)槠潆y于被檢出,往往可以蒙混通過各電路板廠、終端組裝廠的驗(yàn)收;縱算是在組裝于電子產(chǎn)品后,消費(fèi)者發(fā)現(xiàn)電子產(chǎn)品性能不穩(wěn)定而送廠維修,也相當(dāng)難以通過靜態(tài)的檢測發(fā)現(xiàn)。不但讓消費(fèi)者抱怨買到的終端產(chǎn)品品質(zhì),也讓面對客戶的維修工程師不知從何下手。
如何順利檢驗(yàn)出這類依照目前檢驗(yàn)?zāi)J酵耆珶o法被剔除淘汰的問題電容器,即成為制造廠商的莫大期盼。相較于目前市面上的日本廠商產(chǎn)品,其只將不穩(wěn)定的不良品比率降低至300ppm(每一百萬顆成品中,有三百顆不穩(wěn)定產(chǎn)品),其單顆電容器市價(jià)即比國產(chǎn)品高出一倍,猶能廣受下游廠商歡迎,可見此問題的嚴(yán)重性。
更進(jìn)一步地,一般的電子設(shè)備在制作過程中,因懸浮的灰塵附著,或本身材料結(jié)合的缺陷等諸多不確定因素,同樣會導(dǎo)致各種電子組件發(fā)生類似假性短路的不穩(wěn)定現(xiàn)象,由于這類「瞬時(shí)失能」通常是導(dǎo)因于細(xì)微缺陷,較難由一般成品管常用的靜態(tài)檢測方法篩檢,因此造成各零件供貨商與設(shè)備組裝廠間的糾紛與困擾;更難解決的是,所有這類「瞬時(shí)失能」一旦影響電子裝置穩(wěn)定性,都將損及消費(fèi)者權(quán)益,且送廠維修也相當(dāng)難確實(shí)檢出故障原因而加以解決,同時(shí)造成制造廠商的名譽(yù)損失。

發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目的在提供一種在振蕩期間檢測電子產(chǎn)品及組件瞬時(shí)失能的振蕩檢測方法。
本發(fā)明的另一目的在提供一種以自然振蕩頻率的嚴(yán)苛考驗(yàn),排除具有隱性結(jié)構(gòu)瑕疵的產(chǎn)品及組件的振蕩檢測方法。
本發(fā)明的再一目的在提供一種檢測電解電容器假性短路的振蕩檢測方法。
本發(fā)明的又一目的在提供一種檢測背光板發(fā)光特性的振蕩檢測方法。
本發(fā)明的更一目的在提供一種在振蕩期間檢測電子產(chǎn)品及組件瞬時(shí)失能的振蕩檢測裝置。
本發(fā)明的又另一目的在提供一種以自然振蕩頻率的嚴(yán)苛考驗(yàn),排除具有隱性結(jié)構(gòu)瑕疵的產(chǎn)品及組件的振蕩檢測裝置。
本發(fā)明的又再一目的在提供一種檢測電解電容器假性短路的振蕩檢測裝置。
本發(fā)明的又更一目的在提供一種檢測背光板發(fā)光特性的振蕩檢測裝置。
本發(fā)明振蕩檢測方法是用以檢驗(yàn)一待測組件的特性,其特征在于該方法包含下列步驟a)以至少一振動頻率振蕩該待測組件;b)在該待測組件振蕩過程中,測量該待測組件的一物理參數(shù);及c)判斷該物理參數(shù)是否在一預(yù)設(shè)范圍內(nèi)。
而依上述方法所設(shè)計(jì)并用以檢測該待測組件的該物理參數(shù)是否在該預(yù)定范圍內(nèi)的振蕩檢測裝置,則包括一振蕩該待測組件的振動器,以及一測量該物理參數(shù)的測量器;其特征在于該振蕩檢測裝置還包含一控制該振動器以至少一振動頻率振蕩該待測組件并控制該測量器在該待測組件被振蕩期間測量該物理參數(shù)的控制器。

下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明圖1是一般電解電容器的一部分剖面示意圖,說明該電解電容器的基本構(gòu)造;圖2是本發(fā)明振蕩檢測方法及其裝置的第一較佳實(shí)施例的一示意圖,說明該振蕩檢測裝置的系統(tǒng)架構(gòu);圖3是該第一較佳實(shí)施例的一流程圖;圖4是該第一較佳實(shí)施例的一示意圖,說明振動頻率與測量頻率彼此相異;圖5是本發(fā)明振蕩檢測方法及其裝置的第二較佳實(shí)施例的一平面圖,說明一背光板的多個(gè)位置點(diǎn)關(guān)系;圖6是該第二較佳實(shí)施例的一示意圖,說明該振蕩檢測裝置的系統(tǒng)架構(gòu);及圖7是該第二較佳實(shí)施例的一流程圖。
具體實(shí)施方式在提出詳細(xì)說明前,要注意的是,以下敘述中,類似的組件是以相同的編號來表示。
如圖2所示,本發(fā)明振蕩檢測方法及振蕩檢測裝置1的第一較佳實(shí)施例,是使用于檢測一待測組件8的一物理參數(shù)是否位于一預(yù)定范圍內(nèi)。在本實(shí)施例中,該待測組件8為一47μF的電解電容器81,該物理參數(shù)為該電解電容器81的漏電流值,而該預(yù)定范圍則是設(shè)定為小于或等于20μA。
該振蕩檢測裝置1包括一振蕩該待測組件8的振動器2、一測量該物理參數(shù)的測量器3、一控制該振動器2與該測量器3的控制器4,以及一接收與判斷該物理參數(shù)是否在該預(yù)設(shè)范圍內(nèi)的分析儀5。
該振動器2具有一基座21、一可活動地設(shè)置于該基座21上的振動座22,以及一與該振動座22相連接的驅(qū)動模塊(圖未示)。在本實(shí)施例中,該驅(qū)動模塊為一固接于該振動座22上的振動馬達(dá)。該測量器3為一與該待測組件8電性連接的電氣特性檢測儀器,在本實(shí)施例中,該測量器3能通過施加一電壓于該電解電容器81并進(jìn)行該電解電容器81的漏電流值測量。
該控制器4包括一控制該振動器2以復(fù)數(shù)相異振動頻率振蕩該待測組件8的振蕩控制單元41,以及一控制該測量器3以復(fù)數(shù)相異測量頻率測量該待測組件的物理參數(shù)的測量控制單元42,從而使該測量器3能在該待測組件8被振蕩期間測量該物理參數(shù)。在本實(shí)施例中,該控制器4包括一可編程的微處理單元(圖未示)及一儲存有這些振動頻率及這些測量頻率信息的數(shù)據(jù)庫(圖未示)。
該分析儀5包括一從該測量器3接收該物理參數(shù)的接收單元5 1、一比較該物理參數(shù)與該預(yù)設(shè)范圍的比較單元52,以及一輸出該比較單元52的比較結(jié)果的輸出單元53。在本實(shí)施例中,該比較單元52為一具有儲存媒體的微電腦,而該輸出單元53則包含一顯示器(圖未示)及一打印機(jī)(圖未示)。因此,該分析儀5能在接收該測量器3測量所得的該物理參數(shù)后,比較該物理參數(shù)與該預(yù)設(shè)范圍,以判斷該物理參數(shù)是否于該預(yù)設(shè)范圍內(nèi),并將比較判斷結(jié)果以該顯示器或打印機(jī)輸出。
以下便通過上述的振蕩檢測裝置1及該待測組件8,說明本發(fā)明的振蕩檢測方法,如圖3所示,該振蕩檢測方法包含下列步驟步驟100,預(yù)設(shè)這些振動頻率,在本實(shí)施例中,這些振動頻率是依序預(yù)設(shè)于該數(shù)據(jù)庫中,且通常至少包含該待測組件8所具有的自然振動頻率。
步驟102,以這些振動頻率中的一振動頻率振蕩該待測組件8。在本實(shí)施例中是由該微處理單元依程序設(shè)定選取該數(shù)據(jù)庫中這些振動頻率中的一控制該振動座22振動,并借以帶動該待測組件8振蕩。
步驟104,在該待測組件8振蕩過程中,測量該待測組件8的該物理參數(shù),在此步驟中是以該測量器3測量該振蕩中的待測組件8的該物理參數(shù)。該測量器3可以在該待測組件8振蕩過程中只進(jìn)行一次測量,當(dāng)然也可以進(jìn)行多次測量。在本實(shí)施例中,為求能測得該電解電容器81在不同振動相位(位置與角度)的漏電流值,所以該測量器3是以一與該振動頻率不同的測量頻率測量該電解電容器81的漏電流值。如圖4所示,該振動頻率的數(shù)值與該測量頻率的數(shù)值的最大公因子為1,以避免因該振動頻率與該測量頻率互為因子或倍數(shù)時(shí),發(fā)生測量結(jié)果集中于相同或特定振動相位的狀況。
步驟106,判斷該物理參數(shù)是否在該預(yù)設(shè)范圍內(nèi),在此步驟中,是由該比較單元52比較該物理參數(shù)與該預(yù)設(shè)范圍,借以判斷測量所得的物理參數(shù)是否位于該預(yù)設(shè)范圍內(nèi);并由該輸出單元53輸出對應(yīng)于該物理參數(shù)與該預(yù)設(shè)范圍的比較結(jié)果的一信號,借以提供警示與紀(jì)錄。
步驟108,若步驟106中的該物理參數(shù)并未在該預(yù)設(shè)范圍內(nèi),也就是測量出如短路或斷路等的異常狀況時(shí),即表示該待測組件8不符合設(shè)計(jì)需求,因此便能篩檢出不良品。
步驟110,若步驟106中的該物理參數(shù)字在該預(yù)設(shè)范圍內(nèi),則再以這些振動頻率中另一振動頻率振蕩該待測組件8。此步驟雖非本發(fā)明振蕩檢測方法的必要步驟,但由于為檢測出該待測組件8于不同環(huán)境下的狀況,因此以多種振動頻率進(jìn)行該待測組件8的檢測,將能更仔細(xì)地篩選出不良品。例如在本實(shí)施例中,該電解電容器81若存有硬質(zhì)碎屑,則其可能會在特定的振動頻率下產(chǎn)生移位,導(dǎo)致該電解電容器81在特定的振動頻率振蕩時(shí),才發(fā)生短路等異?,F(xiàn)象步驟112,重復(fù)步驟104至步驟110,直到該待測組件8經(jīng)所有這些振動頻率振蕩過后,便進(jìn)行下一步驟。
步驟114,該待測組件8通過本發(fā)明的振蕩檢測。
在上述步驟102及步驟110中,該振動器2施加的這些振動頻率順序已預(yù)先在步驟100中設(shè)定于該控制器4中,其并不需要特定順序的安排,均能實(shí)施本發(fā)明的振蕩檢測方法。但一般而言,測試時(shí)優(yōu)先進(jìn)行的振動頻率,通常是該待測組件8的自然振動頻率、該待測組件8將應(yīng)用的工作環(huán)境(如飛機(jī)與車輛)所可能出現(xiàn)的環(huán)境振動頻率,以及鄰近該自然振動頻率與該環(huán)境振動頻率的振動頻率。當(dāng)然,若該待測組件8的特性與其結(jié)構(gòu)方向有關(guān),則也能對振動的方向加以控制與改變,其與上述控制與改變該振動頻率一樣,同屬于本發(fā)明振蕩檢測方法的實(shí)施方式與應(yīng)用。
由于以往在進(jìn)行該電解電容器81的檢測時(shí),會先進(jìn)行該電解電容器81的極性檢測,所以若該電解電容器81在制作過程中,殘留其中的碎屑已劃破或刺穿該電解電容器81的介電層(圖未示),往往會在進(jìn)行上述極性檢測時(shí),因通電使得該電解電容器81的電板(圖未示)表面自然生成三氧化二鋁膜,使得在進(jìn)行如漏電流或電容值等的品質(zhì)檢測時(shí),無法檢查出此隱性結(jié)構(gòu)瑕疵所造成的『假性短路』。因此,依據(jù)上述的振蕩檢測方法及振蕩檢測裝置1,在該電解電容器81受振蕩的過程中進(jìn)行檢測,將能輕易地檢測出該會再度破壞該電解電容器81設(shè)計(jì)功能的隱性結(jié)構(gòu)瑕疵,使得無論是在該電解電容器81出廠時(shí)的品質(zhì)管制,或于使用后檢修,均能借有本發(fā)明的振蕩檢測方法及其裝置進(jìn)行檢測,輕易地發(fā)現(xiàn)該電解電容器81的隱性結(jié)構(gòu)瑕疵,而篩選出不良的瑕疵品。
當(dāng)然,該待測組件8并非限定是電解電容器81,其也可以是電阻、電感,以及晶體管等其它電子組件,甚至于以半導(dǎo)體制程所制作出的芯片也能依本發(fā)明振蕩檢測方法及其裝置進(jìn)行檢測,借以檢測出無法以靜態(tài)檢測出的隱性結(jié)構(gòu)瑕疵。
此外,本發(fā)明更能應(yīng)用于光學(xué)組件的檢測,例如一般鍍設(shè)有多層鍍膜的背光板,若這些鍍膜間存在有間隙,除將導(dǎo)致該背光板的效果與品質(zhì)大打折扣外,更有可能影響該背光板的使用壽限,然而,這些光學(xué)上的隱性結(jié)構(gòu)瑕疵同樣難以由以往靜態(tài)的檢測篩選出。
因此,本發(fā)明振蕩檢測方法及其裝置的第二較佳實(shí)施例,便是應(yīng)用于檢測一光學(xué)組件的隱性結(jié)構(gòu)瑕疵,如圖5及圖6所示,在本實(shí)施例中,該待測組件8為一具有復(fù)數(shù)位置點(diǎn)83并鍍設(shè)有多層鍍膜的背光板82,而測量的物理參數(shù)則為該背光板82上這些位置點(diǎn)83其中的一待測位置點(diǎn)83’不同入射角的折射光線強(qiáng)度,檢測的預(yù)定范圍則為鄰近該待測位置點(diǎn)83’的其它位置點(diǎn)83”折射光線的平均強(qiáng)度正負(fù)5%;當(dāng)然,此預(yù)定范圍能依實(shí)際需求變化調(diào)整。
與上述第一較佳實(shí)施例大致相同地,在本實(shí)施例中,該振蕩檢測裝置1同樣包括一振蕩該背光板82的振動器2、一測量該物理參數(shù)的測量器3、一控制該振動器2與該測量器3的控制器4,以及一接收與判斷該物理參數(shù)是否在該預(yù)設(shè)范圍內(nèi)的分析儀5。
該振動器2具有一基座21、一可轉(zhuǎn)動地設(shè)置于該基座21上的振動座22,以及一與該振動座22相連接的驅(qū)動模塊23。在本實(shí)施例中,該驅(qū)動模塊23為一可驅(qū)動該振動座22相對于該基座21以不同扭轉(zhuǎn)角度間擺動的偏心馬達(dá)。該測量器3包含一照射該背光板82的光源31,以及一與該基座21相對固定的感光單元32,該感光單元32能感測經(jīng)由該背光板82折射的光線,并轉(zhuǎn)換成以電子信號表示的灰階。在本實(shí)施例中,該感光單元32為一電荷耦合組件(CCD),但并非以此為限,能進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換的感光組件,均能應(yīng)用于本發(fā)明中。
該控制器4包括一控制該振動器2以一振動頻率扭轉(zhuǎn)擺蕩該背光板82的振蕩控制單元41,以及一控制該測量器3以復(fù)數(shù)相異測量頻率測量該待測組件的物理參數(shù)的測量控制單元42,借以使該測量器3能在該待測組件8被振蕩期間測量該物理參數(shù)。
該分析儀5包括一從該測量器3接收該物理參數(shù)的接收單元51、一比較該物理參數(shù)與該預(yù)設(shè)范圍的比較單元52,以及一輸出該比較單元52的比較結(jié)果的輸出單元53。在本實(shí)施例中,該分析儀5能在接收該測量器3測量所得的該背光板82所有位置點(diǎn)83的灰階,并計(jì)算出鄰近該待測位置點(diǎn)83’的其它位置點(diǎn)83”的平均灰階,以得到該以上述平均灰階正負(fù)5%為限制條件的預(yù)設(shè)范圍;再比較該待測位置點(diǎn)83’的灰階與該預(yù)設(shè)范圍,以判斷該待測位置點(diǎn)83’的灰階是否位于該預(yù)設(shè)范圍內(nèi),并將比較判斷結(jié)果以該輸出單元53輸出。
以下說明應(yīng)用本發(fā)明的振蕩檢測方法,檢測該背光板82的方法,如圖7所示,該方法包含下列步驟步驟200,預(yù)設(shè)一振動頻率。
步驟202,以該振動頻率扭動擺蕩該背光板82;在本實(shí)施例中是由該振蕩控制單元41控制該振動座22振動,并借以帶動該背光板82相對于該感光單元32擺蕩。
步驟204,在該背光板82扭轉(zhuǎn)擺蕩過程中,測量該背光板82上這些位置點(diǎn)83的折射光線強(qiáng)度,在本實(shí)施例中,該測量器3是以復(fù)數(shù)相異于該振動頻率的測量頻率測量各該位置點(diǎn)83的折射光線強(qiáng)度,在本實(shí)施例中,該振動頻率的數(shù)值與該測量頻率的數(shù)值的最大公因子為1,以避免因該振動頻率與該測量頻率互為因子或倍數(shù)時(shí),造成測量相同振動相位(位置與角度)的狀況。
步驟206,判斷該背光板82的各該位置點(diǎn)83折射光線的強(qiáng)度是否于該預(yù)設(shè)范圍內(nèi),在此步驟中,該分析儀5依據(jù)步驟204中測量所得的該背光板82所有位置點(diǎn)83的灰階,計(jì)算出鄰近該待測位置點(diǎn)83’的其它位置點(diǎn)83”的平均灰階,以得到該預(yù)設(shè)范圍;再由該比較單元52比較該待測位置點(diǎn)83’的灰階與該預(yù)設(shè)范圍,以判斷該待測位置點(diǎn)83’的灰階是否位于該預(yù)設(shè)范圍內(nèi),并由該輸出單元53將比較判斷結(jié)果以一信號輸出,借以提供警示與紀(jì)錄。
步驟208,完成本發(fā)明的振蕩檢測。
在上述步驟202中,該振動器2施加于該背光板82的扭準(zhǔn)擺蕩的方向當(dāng)然也能加以控制與改變,借以檢測出該背光板82上具有方向性的隱性結(jié)構(gòu)瑕疵。由于該背光板82的這些鍍膜間存在有間隙,則將會在該背光板82轉(zhuǎn)動至一定角度時(shí),產(chǎn)生建設(shè)性或破壞性干涉,因此通過相對固定的該感光單元32,便能將該背光板82的隱性結(jié)構(gòu)瑕疵篩選出。
權(quán)利要求
1.一種振蕩檢測方法,用以檢驗(yàn)一待測組件的特性,其特征在于該方法包括下列步驟a)以至少一振動頻率振蕩該待測組件;b)在該待測組件振蕩過程中,測量該待測組件的一物理參數(shù);及c)判斷該物理參數(shù)是否在一預(yù)設(shè)范圍內(nèi)。
2.如權(quán)利要求1所述的振蕩檢測方法,其特征在于該步驟c)包含下列步驟c-1)比較該物理參數(shù)與該預(yù)設(shè)范圍;及c-2)輸出對應(yīng)于該物理參數(shù)與該預(yù)設(shè)范圍的比較結(jié)果的一信號。
3.如權(quán)利要求1所述的振蕩檢測方法,其特征在于該步驟a)包含下列步驟a-1)預(yù)設(shè)多個(gè)振動頻率;及a-2)以這些振動頻率中的一振動頻率振蕩該待測組件。
4.如權(quán)利要求3所述的振蕩檢測方法,其特征在于該方法還包含在步驟c)后的下列步驟d)若該物理參數(shù)在該預(yù)設(shè)范圍內(nèi),則以這些振動頻率中另一振動頻率振蕩該待測組件;及e)重復(fù)步驟b)至步驟d)。
5.如權(quán)利要求1所述的振蕩檢測方法,其特征在于該振動頻率為該待測組件的自然振動頻率。
6.如權(quán)利要求1所述的振蕩檢測方法,其特征在于該步驟b)是以一與該振動頻率不同的測量頻率測量該物理參數(shù)。
7.如權(quán)利要求6所述的振蕩檢測方法,其特征在于該振動頻率的數(shù)值與該測量頻率的數(shù)值的最大公因子為1。
8.如權(quán)利要求1所述的振蕩檢測方法,其特征在于該待測組件為一電容器,而該物理參數(shù)為該電容器的漏電流值。
9.如權(quán)利要求1所述的振蕩檢測方法,其特征在于該待測物為一背光板,而該物理參數(shù)為該背光板上一位置點(diǎn)不同入射角的折射光線強(qiáng)度。
10.一種振蕩檢測裝置,用以檢測一待測組件的一物理參數(shù)是否在一預(yù)定范圍內(nèi),該振蕩檢測裝置包括一振蕩該待測組件的振動器,以及一測量該物理參數(shù)的測量器;其特征在于該振蕩檢測裝置還包含一控制器,用于控制該振動器以至少一振動頻率振蕩該待測組件并控制該測量器在該待測組件被振蕩期間測量該物理參數(shù)。
11.如權(quán)利要求10所述的振蕩檢測裝置,其特征在于該控制器包括一控制該振動器以該振動頻率振蕩該待測組件的振蕩控制單元,以及一控制該測量器以一測量頻率測量該物理參數(shù)的測量控制單元。
12.如權(quán)利要求11所述的振蕩檢測裝置,其特征在于該測量頻率與該振動頻率不同。
13.如權(quán)利要求10所述的振蕩檢測裝置,其特征在于該振蕩檢測裝置還包括一接收該測量器測量所得的該物理參數(shù)并判斷該物理參數(shù)是否在該預(yù)設(shè)范圍內(nèi)的分析儀。
14.如權(quán)利要求13所述的振蕩檢測裝置,其特征在于該分析儀包括一由該測量器接收該物理參數(shù)的接收單元、一比較該物理參數(shù)與該預(yù)設(shè)范圍的比較單元,以及一輸出該比較單元的比較結(jié)果的輸出單元。
15.如權(quán)利要求10所述的振蕩檢測裝置,其特征在于該振動器具有一基座、一可活動地設(shè)置于該基座上的振動座,以及一與該振動座相連接的驅(qū)動模塊。
16.如權(quán)利要求10所述的振蕩檢測裝置,其特征在于該測量器與該待測組件電性連接。
17.如權(quán)利要求10所述的振蕩檢測裝置,其特征在于該測量器包含一照射該待測組件的光源,以及一接收該待測組件的折射光線的感光單元。
全文摘要
一種振蕩檢測方法及其裝置,用以檢驗(yàn)一待測組件的特性,該檢測方法首先是以至少一振動頻率振蕩該待測組件,并在該待測組件振蕩過程中,測量該待測組件的一物理參數(shù);而后判斷該物理參數(shù)是否于一預(yù)設(shè)范圍內(nèi)。依該檢測方法所設(shè)計(jì)的振蕩檢測裝置,則包括一振蕩該待測組件的振動器,以及一測量該物理參數(shù)的測量器;其特征在于該振蕩檢測裝置還包含一控制該振動器以至少一振動頻率振蕩該待測組件并控制該測量器于該待測組件被振蕩期間測量該物理參數(shù)的控制器。
文檔編號G01N27/00GK1590996SQ0315668
公開日2005年3月9日 申請日期2003年9月5日 優(yōu)先權(quán)日2003年9月5日
發(fā)明者莊嘉明 申請人:致茂電子股份有限公司
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