專利名稱:室溫下準(zhǔn)正弦功率脈沖驅(qū)動的變流器均流均壓試驗法的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種室溫下準(zhǔn)正弦功率脈沖驅(qū)動的變流器均流均壓試驗法,屬于電力電子裝置技術(shù)領(lǐng)域的一種新型試驗方法。
背景技術(shù):
對變流器均流均壓的試驗,傳統(tǒng)的試驗方法是需要一套大功率試驗電源對被試變流器通電,然后測試各支路電流,再計算均流系數(shù)。這種方法需要一個“增容變壓器——調(diào)壓器——電流變壓器”系統(tǒng),使用的是50Hz正弦工頻交流,電力電子元氣件10ms導(dǎo)通,10ms關(guān)斷。以最普通的晶閘管為例,其“開通時間”也只約有1~4.5μs,因此對于電力電子元件的“開通時間”和“關(guān)斷時間”來說10ms是一個很長的時間。每導(dǎo)通10ms后關(guān)斷的另外的10ms時間內(nèi),晶閘管完全達到穩(wěn)定狀態(tài)。下一個10ms的導(dǎo)通過多長時間來,對于晶閘管本身的“導(dǎo)通”和“關(guān)斷”來說沒有影響。但對于給他提供電流的電源來說影響就很大了,相鄰兩個10ms導(dǎo)通之間的時間長短,決定了為變流器提供電流的電源容量的大小。對于不同的變流器應(yīng)提供不同的時間。所謂的長周期指的是這個時間比較長,而得到較小的電源容量。由于由本申請人提出的“大功率變流裝置綜合智能測試系統(tǒng)”專利申請使用的電源是大功率長周期準(zhǔn)正弦脈沖電源,比傳統(tǒng)電源容量小的多,因此變流器在試驗時的發(fā)熱少。因此,使用大功率長周期準(zhǔn)正弦脈沖電源對變流器試驗,除了元件發(fā)熱少外,其他與使用工頻電源完全相同。顯然變流器的熱狀態(tài)與冷狀態(tài)之間的關(guān)系是使用“大功率變流裝置綜合智能測試系統(tǒng)”的關(guān)鍵問題。本發(fā)明的試驗方法,就是解決了這個問題。
發(fā)明內(nèi)容
針對上述問題,本發(fā)明的目的是利用準(zhǔn)正弦長周期功率脈沖電源,在不同溫度下測試組成大功率變流器的元件溫度特性,并利用這一特性,提出室溫下在準(zhǔn)正弦功率脈沖驅(qū)動的變流器均流均壓試驗法,建立變流器室溫和使用溫度之間并聯(lián)支路均流系數(shù)、橋臂支路串聯(lián)元件均壓系數(shù)之間的對應(yīng)關(guān)系。
本發(fā)明的室溫下準(zhǔn)正弦功率脈沖驅(qū)動的變流器均流均壓試驗法,其特點是,方法步驟為1、把組成某一大功率變流器的元件放到可控穩(wěn)的烘箱內(nèi),通過被測回路中的傳感器測得在實際使用的范圍內(nèi)元件特性參數(shù)并由計算機記錄;2、根據(jù)計算機記錄的參數(shù)繪制正向壓降和溫度變化實用的特性曲線(用擬和的數(shù)學(xué)方程表示);3、分別建立變流器各橋臂均流系數(shù)均壓系數(shù)隨溫度變化特性曲線(用數(shù)學(xué)方程表示);4、用由本申請人申請的“大功率變流裝置綜合智能測試系統(tǒng)”對變流器進行均流均壓試驗;5、建立實用的變流器試驗數(shù)據(jù)特性曲線(用數(shù)學(xué)方程表示);6、根據(jù)變流器各橋臂均流系數(shù)、均壓系數(shù)隨溫度變化特性曲線計算變流器在實用狀態(tài)下的均流系數(shù);7、根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判斷變流器是否合格。
由于本方法是系統(tǒng)的研制著先用準(zhǔn)正弦長周期功率脈沖電源驅(qū)動變流器的“大功率變流裝置綜合智能測試系統(tǒng)”測試變流器元件的溫度特性,而用戶只利用存放在該測試系統(tǒng)此特性,用準(zhǔn)正弦長周期功率脈沖電源來驅(qū)動變流器的“大功率變流裝置綜合智能測試系統(tǒng)”測得的變流器的均流系數(shù)、均壓系數(shù)由系統(tǒng)在室溫測試時自動換算到實際應(yīng)用溫度下的值,并且這個值是有利于變流器的運行的。用本方法,在室溫下試驗不需要將變流器運行到發(fā)熱狀態(tài),省時省電。
圖1為試驗法流程圖;圖2為元件特性參數(shù)測試電路圖;圖3為變流器橋臂均流試驗電路圖;圖4為變流裝置2-6橋臂均流試驗示意圖。
具體實施例方式
方法的步驟如圖1流程圖所示,由于均壓系數(shù)測試與均流系數(shù)測試相似,具體實施以KP600晶閘管均流系數(shù)測試為例結(jié)合附圖作進一步說明1、在實際使用的范圍內(nèi)測試元件特性參數(shù);其測試電路如圖2所示,KP600晶閘管放在控溫烘箱內(nèi),以便控制晶閘管結(jié)溫,在晶閘管回路中置有電流傳感器、正向壓降傳感器,它們分別通過電流信號調(diào)理板和電流信號調(diào)理板和計算機數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連接,通過計算機記錄參數(shù)。
2、建立正向壓降隨溫度變化實用特性曲線根據(jù)上一步計算機記錄的參數(shù),并繪制特性曲線并建立正向壓降和溫度之間的關(guān)系。當(dāng)元件電流為700A正向壓降VF和溫度T之間的關(guān)系是VF=1.2840-1.5625×10-4T-1.200×10-5T2元件電流IF與VF=f(IF)方程如下25℃VF=-0.08433 ln IF+0.09086IF-0.0009204 IF65℃VF=-0.2245 ln IF-0.2230IF+0.0004981 IF3、分別建立變流器各橋臂均流系數(shù)隨溫度變化特性曲線使用KP600晶閘管組成橋臂,元件串聯(lián)后的等效溫度特性是各串聯(lián)元件特性之和為∑VFi=∑(ai+biT+ciT2)=∑(A+BT+CT2)其等效伏安特性為各串聯(lián)元件特性之和∑VFi=∑(di ln IF+eiIF+giIF)=∑(D ln IF+EIF+GIF)4、在室溫下利用長周期脈沖電源作驅(qū)動電源的大功率變流裝置綜合智能測試系統(tǒng)對變流器進行均流試驗;在室溫下利用大功率變流裝置綜合智能測試系統(tǒng)對變流器對圖3電路中的兩支路橋臂進行均流試驗,試驗數(shù)據(jù)由計算機自動采集。當(dāng)變流器橋臂電流保持2000A不變時,在25℃時,IF I=900A,IF II=1100A,均流系數(shù)Kimax=0.935、建立實用的變流器試驗數(shù)據(jù)特性曲線∑VFi=∑(ai+biT+ciT2)=∑(A+BT+CT2)∑VFi=∑(di ln IF+eiIF+giIF)=∑(D ln IF+EIF+GIF)6、計算變流器在實用狀態(tài)下的均流系數(shù)根據(jù)變流器各橋臂均流系數(shù)隨溫度變化特性曲線,可以計算65℃時,當(dāng)變流器橋臂電流保持2000A不變時,IF I=980A,IF II=1020A,均流系數(shù)Kimax=0.98??梢?,隨著溫度的增加,其均流系數(shù)增加。
7、根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判斷變流器是否合格上述計算所的結(jié)果合格(0.98>0.85)綜上所述,可見在室溫下用“大功率變流裝置綜合智能測試系統(tǒng)”所測試的均流系數(shù)值,在實際使用中,當(dāng)元件溫度升高后,其均流系數(shù)值將隨元件溫度特性的作用升高,這對變流器的使用是非常有利的。
應(yīng)用實例試驗電路如圖4所示,在35℃時對某廠生產(chǎn)的變流器的三個橋臂測試的均流系數(shù)試驗值分別為0.95、0.94和0.93,而對應(yīng)實際應(yīng)用的均流系數(shù)分別為0.97、0.96、0.95。可見這種變流器各橋臂的均流系數(shù)由35℃到實際應(yīng)用均增高了0.02。
權(quán)利要求
1.一種室溫下準(zhǔn)正弦功率脈沖驅(qū)動的變流器均流均壓試驗法,其特征在于,方法步驟為(1)把被元件放到可控穩(wěn)的烘箱內(nèi),通過被測回路中的傳感器測得在實際使用的范圍內(nèi)測試元件特性參數(shù)并由計算機記錄;(2)根據(jù)計算機記錄的參數(shù)繪制正向壓降和溫度變化實用的特性曲線;(3)分別建立變流器各橋臂均流系數(shù)均壓系數(shù)隨溫度變化特性曲線;(4)用由本申請人申請的“大功率變流裝置綜合智能測試系統(tǒng)”對變流器進行均流均壓試驗;(5)建立實用的變流器試驗數(shù)據(jù)特性曲線;(6)根據(jù)變流器各橋臂均流系數(shù)、均壓系數(shù)隨溫度變化特性曲線計算變流器在實用狀態(tài)下的均流系數(shù);(7)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判斷變流器合格性。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種室溫下準(zhǔn)正弦功率脈沖驅(qū)動的變流器均流均壓試驗法,其特點是,本方法是依據(jù)正向壓降的溫度變化實用特性曲線和變流器各橋臂均流系數(shù)均壓系數(shù)隨溫度變化特性曲線,用準(zhǔn)正弦長周期功率脈沖電源驅(qū)動變流器的測試系統(tǒng)測得變流器的均流系數(shù)、均壓系數(shù)室溫值,并可以將其折算到實際運行值,而且這個值是有利于變流器的運行的。因此,用本方法,在室溫下試驗不需要將變流器運行到發(fā)熱狀態(tài),省時、省電。
文檔編號G01R31/00GK1480738SQ0314174
公開日2004年3月10日 申請日期2003年7月22日 優(yōu)先權(quán)日2003年7月22日
發(fā)明者楊文煥 申請人:上海理工大學(xué)