專利名稱：用于變壓器測(cè)試的自動(dòng)測(cè)試序列編輯器和引擎的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明總體上說涉及變壓器測(cè)試，更為確切地說，涉及用于變壓器測(cè)試的自動(dòng)測(cè)試裝備。
背景技術(shù)：
變壓器的測(cè)試是由它們的制造商和電力公司來進(jìn)行的。測(cè)試可包括極性、相位關(guān)系、鐵芯損耗、負(fù)載損耗和變壓比。不過，并沒有一個(gè)通用的測(cè)試程式供所有測(cè)試儀器來遵守。測(cè)試儀器使用的是不同的標(biāo)準(zhǔn)，并且有時(shí)候變壓器制造商使用的是它們自己定制的測(cè)試序列。經(jīng)常情況是，用戶要求制造商遵從一定的測(cè)試序列，并且對(duì)于許多不同的用戶，在每一個(gè)訂單之后改變測(cè)試序列對(duì)于制造商的變壓器測(cè)試公司來說并不是一件容易的事。而且，不同的系統(tǒng)一般需要實(shí)施不同的測(cè)試。
自動(dòng)測(cè)試儀器根據(jù)具有預(yù)定測(cè)試指令序列的測(cè)試程序來測(cè)試變壓器。換句話說，測(cè)試程序執(zhí)行固定的測(cè)試指令序列，這些測(cè)試指令無法編輯，或者非常難以編輯。例如，如果測(cè)試程序選擇了一個(gè)變壓器測(cè)試，該測(cè)試經(jīng)過編程，在一定的參數(shù)下，首先運(yùn)行繞組電阻測(cè)試，然后運(yùn)行電壓比測(cè)試，然后每一次選擇了該變壓器測(cè)試，則首先執(zhí)行繞組電阻測(cè)試，并且接著執(zhí)行電壓比測(cè)試。這樣，測(cè)試指令序列的安排結(jié)果是，定義繞組電阻測(cè)試的測(cè)試指令序列列在定義電壓比測(cè)試的測(cè)試指令序列的前面列出。帶有固定序列測(cè)試指令的測(cè)試程序的缺點(diǎn)是，用戶沒有進(jìn)行編輯或創(chuàng)建特定序列以優(yōu)化變壓器測(cè)試程序的靈活性。
因此，需要帶有序列編輯器以編輯或創(chuàng)建定制的測(cè)試程序的自動(dòng)變壓器測(cè)試儀器，以及能夠?qū)嵤┒喾N測(cè)試和測(cè)試序列的測(cè)試引擎。進(jìn)而，需要有一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)，能夠在不需要不同的控制器或系統(tǒng)的情況下執(zhí)行多個(gè)測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目標(biāo)是提出用于變壓器測(cè)試的一種變壓器測(cè)試序列編輯器，它能夠使測(cè)試儀器以任何測(cè)試參數(shù)來實(shí)施任何測(cè)試序列，無論是標(biāo)準(zhǔn)的還是定制的測(cè)試。還提出了變壓器測(cè)試序列引擎，它能夠使測(cè)試儀器執(zhí)行使用測(cè)試序列編輯器創(chuàng)建的測(cè)試和監(jiān)視測(cè)試結(jié)果。自動(dòng)測(cè)試序列編輯器和引擎允許變壓器測(cè)試儀器以任何順序來編輯測(cè)試序列。測(cè)試儀器還能夠修改任何或所有測(cè)試參數(shù)。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用于測(cè)試變壓器的系統(tǒng)包括處理器，包括變壓器測(cè)試引擎，用于執(zhí)行變壓器測(cè)試序列；控制器，耦聯(lián)到處理器，以輸出控制命令；切換器，在控制器和變壓器之間耦聯(lián)，以響應(yīng)控制命令，將功率切換到控制器；以及測(cè)量系統(tǒng)，在變壓器和處理器之間耦聯(lián)，以接收來自變壓器的測(cè)量值，并且將測(cè)量值提供給處理器。
根據(jù)本發(fā)明的各方面，將存儲(chǔ)設(shè)備耦聯(lián)到處理器，用于存儲(chǔ)變壓器的規(guī)格。存儲(chǔ)設(shè)備還可以存儲(chǔ)變壓器測(cè)試序列。
根據(jù)本發(fā)明進(jìn)一步的各方面，測(cè)試序列編輯器能夠定制變壓器測(cè)試序列。
本發(fā)明另一實(shí)施例的目標(biāo)是提出一種用于測(cè)試變壓器的方法，該方法包括將變壓器連接到包括變壓器測(cè)試引擎的處理器；將定制的變壓器測(cè)試序列加載到處理器；以及與變壓器測(cè)試引擎一起執(zhí)行定制的變壓器測(cè)試序列。
根據(jù)本發(fā)明的各方面，將執(zhí)行的結(jié)果與變壓器的規(guī)格一起提供給處理器。通過響應(yīng)執(zhí)行結(jié)果和變壓器的規(guī)格，來判斷變壓器是否通過測(cè)試。
本發(fā)明進(jìn)一步的實(shí)施例的目標(biāo)是提出一種用于創(chuàng)建或編輯定制的變壓器測(cè)試程序的方法，包括從多個(gè)變壓器測(cè)試指令中選擇至少一個(gè)測(cè)試指令或者之前存在的測(cè)試指令序列；為每個(gè)所選測(cè)試指令或者之前存在的測(cè)試指令序列提供至少一個(gè)相關(guān)參數(shù)；以及定義每個(gè)測(cè)試指令的執(zhí)行順序。
根據(jù)本發(fā)明的各方面，存儲(chǔ)了每個(gè)測(cè)試指令的執(zhí)行順序，并且根據(jù)順序執(zhí)行測(cè)試指令。根據(jù)該順序來生成變壓器測(cè)試序列。
下面通過結(jié)合附圖來對(duì)本發(fā)明的前述和其他各方面進(jìn)行詳細(xì)講述，將會(huì)使它更容易理解。


圖1為根據(jù)本發(fā)明用于測(cè)試變壓器的示例系統(tǒng)的框圖；圖2為根據(jù)本發(fā)明的示例處理器的框圖；圖3為根據(jù)本發(fā)明用于創(chuàng)建或編輯定制的變壓器測(cè)試程序的示例方法的流程圖；圖4為根據(jù)本發(fā)明的帶有示例變壓器測(cè)試程序的示例變壓器測(cè)試序列編輯器的屏幕快照；圖5為根據(jù)本發(fā)明的示例應(yīng)用測(cè)試設(shè)置屏幕快照；圖6為根據(jù)本發(fā)明的示例感應(yīng)過壓測(cè)試設(shè)置屏幕快照；圖7為根據(jù)本發(fā)明的示例負(fù)載測(cè)試設(shè)置屏幕快照；圖8為根據(jù)本發(fā)明的示例磁化電流測(cè)試設(shè)置屏幕快照；圖9為根據(jù)本發(fā)明的示例絕緣電阻測(cè)定器(megger)測(cè)試設(shè)置屏幕快照；圖10為根據(jù)本發(fā)明的示例非負(fù)載測(cè)試設(shè)置屏幕快照；圖11為根據(jù)本發(fā)明的示例比率測(cè)試設(shè)置屏幕快照；
圖12為根據(jù)本發(fā)明的示例電阻測(cè)試設(shè)置屏幕快照；以及圖13為根據(jù)本發(fā)明的示例測(cè)試引擎屏幕快照。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明涉及用于變壓器測(cè)試的一種變壓器測(cè)試序列編輯器，它能夠使測(cè)試儀器以任何測(cè)試參數(shù)來實(shí)施任何測(cè)試序列，無論是標(biāo)準(zhǔn)的還是定制的測(cè)試。本發(fā)明還提出了變壓器測(cè)試序列引擎，它能夠使測(cè)試儀器執(zhí)行由測(cè)試序列編輯器創(chuàng)建的測(cè)試和監(jiān)視測(cè)試結(jié)果。自動(dòng)測(cè)試序列編輯器和引擎允許變壓器測(cè)試儀器以任何順序來編輯測(cè)試序列。測(cè)試儀器還能夠修改任何或所有測(cè)試參數(shù)。例如，在通過使用圖形用戶界面來創(chuàng)建測(cè)試序列之后，測(cè)試儀器能夠?qū)⑿蛄斜４嫫饋怼?br> 圖1為根據(jù)本發(fā)明用于測(cè)試變壓器的示例系統(tǒng)的框圖。值得一提的是，本發(fā)明還可以用于測(cè)試其他類型的電子設(shè)備。變壓器測(cè)試系統(tǒng)100包括處理器110，存儲(chǔ)設(shè)備115、120，控制器130，切換器140，以及測(cè)量系統(tǒng)150。接受測(cè)試的變壓器200置于切換器140和測(cè)量系統(tǒng)150之間。將切換器140耦聯(lián)到電源145，并且在測(cè)試期間為變壓器200提供電源。經(jīng)由總線190將存儲(chǔ)設(shè)備115、120，控制器130，以及測(cè)量系統(tǒng)150耦聯(lián)到處理器110。在一個(gè)實(shí)施例中，處理器110為帶有由Intel公司制造的奔騰處理器的IBM兼容個(gè)人計(jì)算機(jī)，并且總線150為通用接口總線。
如圖2所示，處理器110優(yōu)選地包括CPU 111，經(jīng)由數(shù)據(jù)總線117耦聯(lián)到輸入/輸出設(shè)備112、存儲(chǔ)設(shè)備113以及顯示器114。輸入/輸出設(shè)備112包括諸如鍵盤或鼠標(biāo)等字母數(shù)字型輸入/輸出設(shè)備，以及諸如模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器和數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器等實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)型輸入/輸出設(shè)備。存儲(chǔ)設(shè)備113包括隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)、只讀存儲(chǔ)器(ROM)以及諸如磁盤驅(qū)動(dòng)器等大規(guī)模存儲(chǔ)設(shè)備。顯示設(shè)備114可為，例如計(jì)算機(jī)終端或監(jiān)視器。數(shù)字總線117用于CPU和存儲(chǔ)器或外圍設(shè)備之間的通訊。
根據(jù)本發(fā)明，處理器110包括測(cè)試序列編輯器，它通過鍵入輸入指令，能夠允許用戶定制具有測(cè)試指令序列的變壓器測(cè)試程序。
存儲(chǔ)設(shè)備115、120可以為RAM、ROM或者諸如磁盤驅(qū)動(dòng)器等大規(guī)模存儲(chǔ)設(shè)備，并且可以是獨(dú)立的或駐留在同一存儲(chǔ)設(shè)備中。優(yōu)選情況下，存儲(chǔ)設(shè)備115包括變壓器規(guī)格，并且存儲(chǔ)設(shè)備120接收和存儲(chǔ)變壓器測(cè)試的結(jié)果，該結(jié)果能夠用于進(jìn)一步的研究和分析。
切換器140由控制器130來控制，用于將電源145輸出的電提供給接受測(cè)試的變壓器200。測(cè)量系統(tǒng)150接收來自變壓器200的測(cè)量值，并且將測(cè)量值提供給處理器110。處理器110處理測(cè)量值，并將結(jié)果(多個(gè)結(jié)果)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)設(shè)備120中或其他地方。
經(jīng)由處理器110中的測(cè)試序列編輯器來創(chuàng)建或編輯來自單個(gè)測(cè)試指令或其他之前存在的測(cè)試指令序列的新測(cè)試指令序列，從而定制了變壓器測(cè)試程序。測(cè)試指令序列包括以預(yù)定順序執(zhí)行的測(cè)試指令。用戶能夠創(chuàng)建用于測(cè)試變壓器的序列，這些序列或作為單獨(dú)的測(cè)試序列，或作為大的測(cè)試序列的一部分，并且存儲(chǔ)起來以備后用。因此，單個(gè)測(cè)試指令與之前存在的測(cè)試指令序列一起，作為組成模塊，以創(chuàng)建或編輯變壓器測(cè)試程序。換句話說，新測(cè)試指令序列本身可以作為測(cè)試程序來運(yùn)行，或者可以用作為其他測(cè)試程序的組成模塊。因此，序列編輯器提供根據(jù)現(xiàn)有測(cè)試指令和之前存在的測(cè)試指令序列的組合來創(chuàng)建新測(cè)試指令序列的靈活性。值得注意的是，測(cè)試指令包括由處理器執(zhí)行的指令，或用于控制測(cè)試系統(tǒng)的硬件的一些方面，或用于處理數(shù)據(jù)。
在用戶經(jīng)由輸入/輸出設(shè)備112選擇期望的測(cè)試指令或之前存在的測(cè)試指令序列以及相關(guān)的參數(shù)來創(chuàng)建或編輯測(cè)試程序之后，測(cè)試程序作為文件存儲(chǔ)在存儲(chǔ)設(shè)備113中或其他地方。
在組成測(cè)試序列中使用的測(cè)試指令包括但并不局限于繞組電阻測(cè)試、電壓比測(cè)試、磁化電流測(cè)試、負(fù)載測(cè)試以及感應(yīng)過壓測(cè)試。下面來講述其他測(cè)試。為執(zhí)行這些指令而設(shè)定的參數(shù)包括但并不局限于測(cè)試電壓、測(cè)試持續(xù)時(shí)間、斜坡分布以及溫度范圍，這些在下面有進(jìn)一步講述。
圖3為根據(jù)本發(fā)明用于創(chuàng)建或編輯定制的變壓器測(cè)試程序的示例方法的流程圖。在步驟300，將指令輸入到處理器中，以創(chuàng)建或編輯測(cè)試程序。更為確切地說，用戶經(jīng)由用戶界面輸入指令到處理器110中，以選擇測(cè)試指令或之前存在的測(cè)試指令序列。此時(shí)，例如，用戶經(jīng)由圖形用戶界面鍵入指令或?qū)ο螅瑥亩斎牖蜻x擇要執(zhí)行的測(cè)試項(xiàng)。用戶可以準(zhǔn)備新測(cè)試，或者使用以前選擇、鍵入和/或存儲(chǔ)的測(cè)試。
接下來，在步驟310，用戶鍵入要在測(cè)試執(zhí)行過程中使用的測(cè)試參數(shù)(諸如測(cè)試電壓、測(cè)試持續(xù)時(shí)間、斜坡分布以及溫度范圍)。使用的可編程測(cè)試設(shè)備處于計(jì)算機(jī)控制之下，以設(shè)定用于任何特定測(cè)試條件的期望的參數(shù)和條件，以及記錄期望的測(cè)量值。此時(shí)，測(cè)試將按照鍵入到測(cè)試程序中的順序來執(zhí)行。該順序是可以改變的，例如，在下述的步驟330中。
在步驟320中，判定是否將用戶期望選擇的其他測(cè)試包含在測(cè)試序列中。如果包含，則處理返回到步驟300，直到用戶鍵入了所有的期望測(cè)試和參數(shù)。用戶繼續(xù)選擇和定義他所希望集成到變壓器測(cè)試程序中的其他測(cè)試指令和/或之前存在的序列的執(zhí)行順序。
在用戶完成期望的測(cè)試和參數(shù)的輸入后，在可選步驟330中，用戶可以再定義在測(cè)試程序范圍內(nèi)所選的測(cè)試的執(zhí)行順序(也就是說，為其中要執(zhí)行所選測(cè)試的序列進(jìn)行再次排序)。換句話說，用戶指定與測(cè)試程序中的其他測(cè)試或之前存在的測(cè)試指令序列有關(guān)的所選測(cè)試或之前存在的測(cè)試指令序列應(yīng)該在何時(shí)執(zhí)行。照這樣，序列編輯器允許用戶將那些最可能引發(fā)故障的測(cè)試指令或之前存在的測(cè)試指令序列指定在那些不太可能引發(fā)故障的其他測(cè)試指令或之前存在的測(cè)試指令序列之前來執(zhí)行。
此時(shí)，用戶創(chuàng)建了可執(zhí)行的定制變壓器測(cè)試程序。然后在步驟400中，測(cè)試程序可以經(jīng)由測(cè)試引擎來執(zhí)行，以判定變壓器是否通過或不通過定制的測(cè)試程序。
測(cè)試指令可以用任何計(jì)算機(jī)語言來實(shí)現(xiàn)。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試指令是通過使用National Instruments公司開發(fā)的LabVIEW軟件來實(shí)現(xiàn)的。
圖4為根據(jù)本發(fā)明的帶有示例變壓器測(cè)試程序，示例變壓器測(cè)試序列編輯器的屏幕快照。測(cè)試序列405包括各種帶有參數(shù)并具有特定執(zhí)行順序的測(cè)試。圖示的參數(shù)包括TV(測(cè)試電壓)，Tr(參考溫度)，TM(溫度最大值)，Tm(溫度最小值)，M1、M2、M3(測(cè)量值1、2和3)，Tp(檔)，TC(測(cè)試電流)，TD(測(cè)試持續(xù)時(shí)間)，AT(自動(dòng))，R1、R2(坡度上升)和Cr(校正)。
命令410包括“New sequence(新的序列)”，允許用戶輸入新的測(cè)試序列；“Open sequence(打開序列)”，允許用戶打開之前存儲(chǔ)的序列和列表；以及“Save sequence(存儲(chǔ)序列)”，允許用戶存儲(chǔ)測(cè)試的格式。在選擇了“存儲(chǔ)序列”命令后，用戶通過“打開序列”命令來選擇該測(cè)試格式，可以在其他變壓器上或在其他測(cè)試序列內(nèi)啟動(dòng)同一測(cè)試。
測(cè)試配置420為用戶提供了選擇途徑。通過選擇測(cè)試名稱，可以將測(cè)試包括在序列中，用于編輯和執(zhí)行。
根據(jù)圖4，要執(zhí)行的第一項(xiàng)測(cè)試為比率測(cè)試，其最高溫度參數(shù)為40℃，最低溫度參數(shù)為10℃，并帶有檔1。圖中還示出了順序上緊鄰比率測(cè)試的其他待執(zhí)行的測(cè)試(和參數(shù))。在執(zhí)行各個(gè)測(cè)試之后，系統(tǒng)可以判定變壓器是否通過，或者將變壓器分類成特定等級(jí)或性能級(jí)別。
示例應(yīng)用測(cè)試設(shè)置屏幕快照如圖5所示。應(yīng)用測(cè)試檢驗(yàn)磁場(chǎng)的絕緣性。將高的AC電壓應(yīng)用于套管和地線之間。高電壓或低電壓都是可用的。可以在序列編輯器屏幕上選擇要使用的一個(gè)選擇，在該屏幕上用戶可以選擇使用高電壓還是低電壓。
關(guān)于圖5，標(biāo)稱BIL是指套管的基本絕緣級(jí)別。通過將套管的基本絕緣級(jí)別乘以用戶提供的因數(shù)，得到測(cè)試電壓，其中因數(shù)的鍵入可以經(jīng)由諸如鍵盤等輸入設(shè)備或在測(cè)試設(shè)置屏幕上進(jìn)行選擇來進(jìn)行。
關(guān)于測(cè)試持續(xù)時(shí)間，用戶可以輸入測(cè)試持續(xù)的時(shí)間量。測(cè)試持續(xù)時(shí)間在斜坡分布500上是由幅度為100％的水平線515來表示的。
斜坡分布500表現(xiàn)為曲線的形式。幅度在0％到約90％之間的第一基本線性線段505為Ramp Up1速度。曲線的斜率很陡，這表示相對(duì)較小的時(shí)間間隔內(nèi)就會(huì)有上升，而且是快速上升。當(dāng)曲線的幅度達(dá)到約90％時(shí)，速度就下降了。第二曲線510的斜率不太陡，這表示在一個(gè)相對(duì)較長的時(shí)間間隔內(nèi)的上升。一旦曲線的幅度達(dá)到100％，坡度上升的速度將變成零，測(cè)試在這段時(shí)間內(nèi)得到執(zhí)行。水平線515表示測(cè)試的持續(xù)時(shí)間。一旦測(cè)試結(jié)束，坡度就以最大速度開始下降，它在曲線上是通過負(fù)斜率520來表示的。最后，曲線的幅度到達(dá)0％，從而結(jié)束了特定的測(cè)試。
Ramp Up1為測(cè)試性能幅度上升的速度(％/sec)。優(yōu)選的范圍在0％/sec到約25％/sec之間，并且可由用戶來選擇。速度可以一直持續(xù)到曲線達(dá)到所需幅度的約90％。
Ramp Up2是啟動(dòng)測(cè)試的速度，幅度從約90％上升到測(cè)試開始時(shí)的約100％。Ramp Up2的范圍優(yōu)選情況下要比Ramp Up1的范圍小，以保證緩慢啟動(dòng)測(cè)試。
溫度Max是指測(cè)試運(yùn)行時(shí)的最高溫度，溫度Min是指測(cè)試運(yùn)行時(shí)所期望的最低溫度。用戶可以經(jīng)由圖形用戶界面或者通過鍵入數(shù)值來設(shè)定期望的溫度范圍。
示例感應(yīng)測(cè)試設(shè)置屏幕快照如圖6所示。感應(yīng)測(cè)試檢驗(yàn)變壓器的絕緣性。這里，用戶優(yōu)選地使用2倍電壓，同時(shí)也使用2倍的頻率。如果不使用2倍頻率，則磁場(chǎng)將會(huì)太大，從而損壞變壓器，因此為了保持低磁場(chǎng)，在使用2倍電壓時(shí)，優(yōu)選情況下至少也要使用2倍頻率。
測(cè)試電壓是通過用戶選擇的常數(shù)乘以額定的電壓而得到的。將該數(shù)字乘以變壓器的額定電壓，以得到期望的測(cè)試電壓。
測(cè)試持續(xù)時(shí)間是以周數(shù)來測(cè)量，在優(yōu)選情況下周數(shù)的范圍在約5200和9200之間。用戶可進(jìn)行選擇，并且可經(jīng)由例如旋鈕、滾動(dòng)條或者通過在旋鈕下面的方框中鍵入數(shù)值來進(jìn)行輸入。
在應(yīng)用測(cè)試中，Ramp Up2與Ramp Up1類似。電壓以用戶指定的速率增加。Ramp Up1是在電壓上升到所需電壓的約90％時(shí)的速度。Ramp Up2是在電壓從約90％一直上升到期望測(cè)試電壓的過程中的速度。Ramp Up2的速度優(yōu)選地要比Ramp Up1的速度慢，以保證緩慢而準(zhǔn)確地到達(dá)高電壓。這也是由用戶來設(shè)定的。
測(cè)試操作中的最高和最低溫度優(yōu)選地由用戶來設(shè)定。如果溫度低于最低溫度，或者高于最高溫度，則測(cè)試將不會(huì)執(zhí)行。
示例負(fù)載測(cè)試設(shè)置屏幕快照如圖7所示。負(fù)載測(cè)試設(shè)置測(cè)量由電流產(chǎn)生的負(fù)載損耗。低電壓側(cè)處于短路狀態(tài)，并且高電壓側(cè)電壓升高，達(dá)到額定電流。然后測(cè)量功率，以得到負(fù)載損耗量。
用戶可以選擇在不是額定電流，而是標(biāo)稱電流的百分比之下執(zhí)行測(cè)試。用戶可以選擇標(biāo)稱電流的期望百分比。
穩(wěn)定性范圍是指測(cè)試電流的百分比。用于執(zhí)行測(cè)試的電流優(yōu)選地要比較穩(wěn)定。用戶能夠選擇測(cè)試電流的期望百分比，以使測(cè)試保持穩(wěn)定。
標(biāo)稱檔是指在電壓為測(cè)試電壓本身時(shí)的檔。用戶可以選擇檔，其中每個(gè)檔表示測(cè)試電壓的一定百分比，因此用戶可以根據(jù)期望的電壓來選擇檔。例如，如果將檔設(shè)定為2.5％，則電壓將是測(cè)試電壓的2.5％。如果要測(cè)試整個(gè)繞組，則要選擇最高檔。
Tref是用戶可選的參考溫度，以便能夠?qū)⒇?fù)載損耗中的溫度與之進(jìn)行比較。最高和最低溫度是指測(cè)試能夠運(yùn)行的溫度范圍的端點(diǎn)。這些溫度都是用戶可選的。
示例磁化電流測(cè)試設(shè)置屏幕快照如圖8所示。為了消磁，將高電壓應(yīng)用到變壓器的高側(cè)。低側(cè)為非短路電路。磁化電流測(cè)試用于通過將高電壓應(yīng)用于變壓器的高側(cè)而達(dá)到對(duì)鐵芯消磁。
用戶可以通過選擇電壓，例如通過移動(dòng)旋鈕、滾動(dòng)滾動(dòng)條或者鍵入所要求的值，來選擇應(yīng)用于變壓器高側(cè)的電壓。在這種情況下，應(yīng)用于高側(cè)的電壓一般是380V，但是也提供了一個(gè)范圍。穩(wěn)定性范圍是指測(cè)試電壓的百分比，并且是用戶可選的。
示例絕緣電阻測(cè)定器測(cè)試設(shè)置屏幕快照如圖9所示。絕緣電阻測(cè)定器測(cè)試是具有相對(duì)較低的應(yīng)用DC電壓的絕緣測(cè)試。用戶得到作為電阻值的結(jié)果。測(cè)試電壓可以由用戶來設(shè)定，并且在套管和地面之間使用的是相對(duì)較低的DC電壓。用戶可以選擇期望的電壓，例如通過移動(dòng)旋鈕、或滾動(dòng)滾動(dòng)條，或鍵入電壓值?？紤]到測(cè)試持續(xù)時(shí)間，用戶優(yōu)選地可以在0至約300秒之間選擇測(cè)試的時(shí)間長度。
在用戶期望的任何時(shí)間點(diǎn)都可以進(jìn)行電阻測(cè)量。極化指數(shù)是用戶通過將例如60秒時(shí)的電阻值除以例如15秒時(shí)的電阻值而得到的。用戶選擇用于測(cè)量電阻的時(shí)間值以及極化指數(shù)，極化指數(shù)雖然是可選的，但要根據(jù)用戶的時(shí)間輸入來確定。
用于測(cè)量電阻的時(shí)間可以通過滾動(dòng)條或其他輸入設(shè)備來設(shè)定。用戶可以根據(jù)期望添加多個(gè)時(shí)間。測(cè)試進(jìn)行時(shí)的最高和最低溫度也可以由用戶來設(shè)定。
示例無負(fù)載測(cè)試設(shè)置屏幕快照如圖10所示。非負(fù)載損耗是磁場(chǎng)中的功率，也稱為鐵耗。將功率應(yīng)用于低電壓側(cè)，以便磁場(chǎng)正常作用，然后測(cè)得功率。
這里測(cè)試電壓是指標(biāo)稱電壓的百分比。用戶可以選擇期望使用的標(biāo)稱電壓百分比。百分比的范圍在約70％至約110％之間。
穩(wěn)定性范圍是用戶可選的，并且指的是測(cè)試電壓的百分比，大小從約1.0至約5.0之間。如果在“correct”(校正)旁邊的方框上打勾，則用戶能夠設(shè)定他自己的溫度參考值。另一方面，如果不對(duì)該方框打勾，則Tref將變成灰色，并且參考溫度會(huì)自動(dòng)設(shè)定，因此用戶無法對(duì)其進(jìn)行設(shè)定。Tref是用戶依照的參考溫度，以便在整個(gè)測(cè)試過程中使變量保持不變。該溫度可以與非負(fù)載損耗相比較。
優(yōu)選情況下，測(cè)試運(yùn)行的最高和最低溫度是用戶可選的。只要在整個(gè)測(cè)試過程中溫度處于最高和最低溫度之間，測(cè)試就可以進(jìn)行。
示例比率測(cè)試設(shè)置屏幕快照如圖11所示。比率測(cè)試測(cè)試根據(jù)各檔被固定的比率。例如，如果將檔1設(shè)定為5％并且用戶選擇檔1，則比率增加5％。測(cè)試過的檔顯示是用戶所鍵入的檔，并且這些檔將接受測(cè)試。
刪除按鈕刪除任何已添加的冗余檔。這可以通過例如高亮顯示冗余檔并且點(diǎn)擊刪除按鈕而做到。如果在方框“all”(全選)上打勾，則會(huì)選擇所有的檔，并且用戶不能進(jìn)行添加或刪除。
最高和最低溫度是測(cè)試溫度的兩個(gè)極限。如果測(cè)試溫度超過最高值，或者低于最低值，則測(cè)試不能進(jìn)行。用戶可以設(shè)定期望的最高和最低溫度。
示例電阻測(cè)試設(shè)置屏幕快照如圖12所示。電阻測(cè)試測(cè)量變壓器的三個(gè)相連的繞組，以判定它們是否具有相同的電阻值。可以設(shè)定額定電流的百分比。用戶可選的測(cè)試電流在額定電流值的約1％至約10％之間。
Tref是指溫度可以與之相比的參考溫度，以使變量保持不變。它是能夠?qū)﹄娮柽M(jìn)行比較的溫度。用戶可以根據(jù)期望設(shè)定該溫度。
待測(cè)試的檔得到顯示。可以對(duì)任何檔使用IEC標(biāo)準(zhǔn)。如果用戶對(duì)IEC方框打勾，則將根據(jù)IEC標(biāo)準(zhǔn)來執(zhí)行測(cè)試。
在創(chuàng)建變壓器測(cè)試序列之后，用戶或測(cè)試儀器可以通過使用測(cè)試序列引擎來打開測(cè)試序列，并且運(yùn)行它。測(cè)試序列引擎按照測(cè)試序列來執(zhí)行測(cè)試，并且提供測(cè)試結(jié)果的含義以及諸如出錯(cuò)消息和測(cè)試狀態(tài)等任何系統(tǒng)消息的顯示。圖13是根據(jù)本發(fā)明的示例測(cè)試引擎屏幕快照。
引擎按照各測(cè)試在測(cè)試序列中的順序和測(cè)試參數(shù)來執(zhí)行所有的測(cè)試。引擎與諸如電源和測(cè)量?jī)x器等測(cè)試裝備進(jìn)行通訊。它還加載了來自數(shù)據(jù)庫(例如，圖1中的存儲(chǔ)器115)的變壓器規(guī)格和通過/不通過的標(biāo)準(zhǔn)。在優(yōu)選情況下，引擎判定每一個(gè)測(cè)試的通過/不通過的標(biāo)準(zhǔn)，并且判定整個(gè)測(cè)試序列的測(cè)試結(jié)果。
測(cè)試序列引擎還可以在雙重和三重電壓變壓器情況下運(yùn)行。它能夠容納多達(dá)六個(gè)高電壓和低電壓的組合。測(cè)試序列引擎允許測(cè)試儀器使用詳細(xì)子屏幕來監(jiān)控測(cè)試序列的進(jìn)程和測(cè)試結(jié)果。測(cè)試儀器還可以監(jiān)控硬件狀態(tài)和硬件的相關(guān)錯(cuò)誤。測(cè)試序列引擎進(jìn)一步地可以使操作者關(guān)閉某些測(cè)試。如果測(cè)試儀器決定跳過測(cè)試序列中的某些測(cè)試時(shí)，則這一功能就非常有用，而不需要通過使用測(cè)試序列編輯器來修改測(cè)試序列。
所選測(cè)試指令或之前存在的測(cè)試指令序列可以從諸如位于CPU111中的存儲(chǔ)設(shè)備115或存儲(chǔ)器113等存儲(chǔ)設(shè)備中檢索到。CPU111還可以從存儲(chǔ)設(shè)備115檢索到變壓器的規(guī)格。CPU111通過連續(xù)地執(zhí)行測(cè)試程序中的每個(gè)測(cè)試指令來執(zhí)行測(cè)試程序，從序列中的第一測(cè)試指令開始，到序列中的最后一個(gè)測(cè)試指令結(jié)束。測(cè)試指令的序列可由數(shù)據(jù)流或測(cè)試指令列表來表示。在執(zhí)行測(cè)試程序時(shí)，CPU111產(chǎn)生的測(cè)試結(jié)果通常用于表示變壓器是否通過測(cè)試程序。根據(jù)數(shù)據(jù)庫參數(shù)或標(biāo)準(zhǔn)，來決定接受測(cè)試的變壓器通過/不通過。測(cè)試結(jié)果顯示在顯示設(shè)備114上。
如果在測(cè)試序列中某個(gè)測(cè)試沒有通過，則測(cè)試序列將通過由監(jiān)控測(cè)試的操作員手動(dòng)操作退出，或者通過在這種情況下將程序的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)編寫為退出而由系統(tǒng)自動(dòng)退出。測(cè)試引擎跟蹤之前測(cè)試的單元。之前的測(cè)試結(jié)果可以從存儲(chǔ)設(shè)備120獲得，或者可以將該結(jié)果存儲(chǔ)在任何地方。
優(yōu)選情況下，操作員可以取消測(cè)試，即使這些測(cè)試是測(cè)試序列中的一部分。在對(duì)變壓器進(jìn)行重新測(cè)試時(shí)需要這樣做，而有些測(cè)試不需要這樣做。
有些變壓器具有多達(dá)3個(gè)高電壓側(cè)和多達(dá)2個(gè)低電壓側(cè)。在理想情況下，測(cè)試引擎將這些單元處理成六個(gè)孤立的單元，以進(jìn)行所有的組合。優(yōu)選情況下，系統(tǒng)跟蹤它們的每一個(gè)通過/不通過狀態(tài)。分配給一個(gè)組合的測(cè)試序列可以不同于分配給其他組合的測(cè)試序列。
用戶可以通過選擇期望測(cè)試指令和/或之前存在的測(cè)試指令序列，然后通過用戶界面輸入命令到處理器110中來定義所選的每個(gè)測(cè)試指令的執(zhí)行順序，來定制測(cè)試程序。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，用戶可以通過由Microsoft公司開發(fā)的Windows 2000圖形用戶界面來與處理器進(jìn)行交互。不過，本發(fā)明還可以通過使用諸如Windows NT和Mac O/S等其他操作系統(tǒng)來實(shí)現(xiàn)。因此，通過使用諸如鍵盤或鼠標(biāo)等輸入/輸出設(shè)備，用戶可選擇測(cè)試指令或者期望的測(cè)試指令序列。用戶還可以通過將每個(gè)所選的測(cè)試指令置于由測(cè)試指令流或列表來表示的序列中的正確位置上，來定義執(zhí)行的順序。因此，處理器連續(xù)地執(zhí)行每個(gè)測(cè)試指令，從列表或指令流中的第一個(gè)測(cè)試指令開始，到列表或指令流中的最后一個(gè)測(cè)試指令結(jié)束。
通過讓用戶經(jīng)由用戶界面來定制測(cè)試程序，用戶具有根據(jù)其特定需要來優(yōu)化每個(gè)測(cè)試程序的靈活性。例如，如果用戶認(rèn)為減少變壓器的測(cè)試時(shí)間是有利的，則他/她可以通過定制測(cè)試程序來執(zhí)行那些最可能首先導(dǎo)致不通過的測(cè)試指令或測(cè)試指令的子序列。
用戶可以執(zhí)行的測(cè)試要么控制硬件的一些方面，要么處理數(shù)據(jù)。例如，在測(cè)試程序中用戶指定絕緣電阻測(cè)定器測(cè)試子序列，則處理器110將一系列命令發(fā)送給控制器130，以對(duì)變壓器運(yùn)行絕緣電阻測(cè)定器測(cè)試。在執(zhí)行每個(gè)序列時(shí)，在序列的執(zhí)行過程中每個(gè)測(cè)試指令要么讓硬件執(zhí)行一些功能，要么處理數(shù)據(jù)。
關(guān)于如圖13所示的引擎，“CT”指的是當(dāng)前的變壓器檔，并且“PT”指的是潛在檔，這兩種檔都是用戶可選的?！癝tep up tap”(上升檔)是變壓器的當(dāng)前位置。圖中還提供了“Output mode”(輸出模式)。
在實(shí)施例中，在切換網(wǎng)絡(luò)中有三個(gè)選項(xiàng)卡，以及五個(gè)檔。在這一實(shí)施例中，對(duì)于每一個(gè)選項(xiàng)卡，切換網(wǎng)絡(luò)處于五個(gè)位置之一的位置上，并且該位置顯示在選項(xiàng)卡標(biāo)號(hào)下面的區(qū)域中。
絕緣電阻測(cè)定器的開關(guān)向用戶表明絕緣電阻測(cè)定器是否開啟、關(guān)閉或者發(fā)生錯(cuò)誤?！癡isual disconnect”(可視斷開)指示器指示電源是否啟動(dòng)。如果“Shorting switch”(短路開關(guān))處于開啟狀態(tài)，則變壓器的低側(cè)發(fā)生短路。
電阻H開關(guān)是位于電阻開關(guān)高端的電阻，并且它指示電阻H開關(guān)是否無效。電阻L開關(guān)是位于電阻開關(guān)低側(cè)的電阻，并且它指示電阻L開關(guān)是否無效。
圖中還提供了用于指示電源的輸出是否加電的指示器。另外，還提供了用于指示緊急電路是否被激活的指示器。
如果有錯(cuò)誤發(fā)生，則優(yōu)選地要激活指示器，理想情況下要將解釋顯示在文本框中。例如，如果瓦特計(jì)不響應(yīng)，則亮紅燈，并且在文本框中將出現(xiàn)語句，將錯(cuò)誤通知給用戶。
在該例子中，有六個(gè)變壓器組合，在高壓側(cè)多達(dá)三個(gè)，在低壓側(cè)多達(dá)兩個(gè)。每個(gè)組合通過測(cè)試序列來運(yùn)行。在圖13中根據(jù)該序列，首先對(duì)組合進(jìn)行比率測(cè)試，然后進(jìn)行電阻測(cè)試，等等，并且最后進(jìn)行絕緣電阻測(cè)定器測(cè)試。當(dāng)測(cè)試序列改變時(shí)，組合的測(cè)試順序也會(huì)改變。
圖中還提供了測(cè)試結(jié)果(例如，在另一個(gè)屏幕上(沒有顯示出來))。對(duì)于應(yīng)用測(cè)試，示出了測(cè)試側(cè)高側(cè)或低側(cè)。同時(shí)還示出了作為測(cè)試電壓的Vt，以及測(cè)試狀態(tài)通過、不通過或者發(fā)生了錯(cuò)誤。這里，用于每個(gè)組合的應(yīng)用測(cè)試示出了接受測(cè)試的變壓器的側(cè)[Side]，測(cè)試電壓[例如，用kV表示的V測(cè)試]，電流[例如，用mA表示的I]，以及用于顯示測(cè)試通過、不通過或者是否發(fā)生了錯(cuò)誤的狀態(tài)。
對(duì)于磁化電流測(cè)試，在Vt下面設(shè)定測(cè)試電壓，電流顯示在I下面，并且向用戶顯示測(cè)試通過、不通過或者是否發(fā)生了錯(cuò)誤等狀態(tài)。
對(duì)于感應(yīng)測(cè)試，示出了測(cè)試電壓[Vt]，給出了電流[I]，并且將測(cè)試的狀態(tài)即通過、不通過或者發(fā)生了錯(cuò)誤等，顯示在狀態(tài)框中。在該實(shí)施例中感應(yīng)測(cè)試概要示出了測(cè)試電壓[V測(cè)試]、電流[I]以及狀態(tài)，這些用來判定測(cè)試是通過、不通過還是發(fā)生了錯(cuò)誤。
對(duì)于絕緣電阻測(cè)定器測(cè)試，用戶可以看到測(cè)試電壓[Vt]，以及相應(yīng)的側(cè)無論是從高到地，從低到地，還是從高到低。對(duì)于每一種情況所顯示的測(cè)試狀態(tài)，可以是通過、不通過、或錯(cuò)誤，如果是發(fā)生了錯(cuò)誤的話。在絕緣電阻測(cè)定器測(cè)試中，用戶將看到持續(xù)時(shí)間，無論連接到低的高和地[HG]，或者為與連接到地的高和低[HL]。圖中還示出了測(cè)試電壓[Vt]和任一側(cè)的狀態(tài)，即指示通過、不通過、還是發(fā)生了錯(cuò)誤。
在圖13中單獨(dú)地示出了損耗測(cè)試，分為非負(fù)載損耗和負(fù)載損耗。當(dāng)組合到達(dá)該測(cè)試時(shí)，它貫穿序列中第一個(gè)表示的測(cè)試。在這種情況下，損耗為負(fù)載損耗，并且在進(jìn)行測(cè)試時(shí)用戶可以看到測(cè)試電壓[Vt]、變壓器阻抗[Imp]，以及用于說明測(cè)試是否通過或者發(fā)生了錯(cuò)誤的狀態(tài)。當(dāng)對(duì)組合進(jìn)行測(cè)試時(shí)，非負(fù)載損耗示出了測(cè)試電壓和狀態(tài)。當(dāng)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，負(fù)載損耗測(cè)試向用戶展示如下信息參考溫度、電壓、三相電流、經(jīng)過校正的功率、功率狀態(tài)、經(jīng)過校正的阻抗，以及阻抗的狀態(tài)。非負(fù)載測(cè)試示出了用戶想要在非負(fù)載損耗測(cè)試中看到的測(cè)量功率，經(jīng)過校正的功率，用于顯示測(cè)試是通過、不通過還是發(fā)生了錯(cuò)誤的功率狀態(tài)。另外，還為用戶展示了電流相位1、2和3，一起顯示還有以百分比表示的電流相位平均值，以及用于顯示測(cè)試是通過、不通過，還是發(fā)生了錯(cuò)誤的電流狀態(tài)。
在對(duì)組合執(zhí)行比率測(cè)試時(shí)，用戶可以看到測(cè)試所處的檔以及相應(yīng)的狀態(tài)。該狀態(tài)告訴用戶測(cè)試是否通過、不通過或者在某個(gè)特定檔上出錯(cuò)。比率測(cè)試示出了檔、三相電流，相位1，相位2和相位3。還示出了比率的各個(gè)相位。測(cè)試不會(huì)同時(shí)經(jīng)歷任何兩個(gè)相位，而是可以一次從一步切換到另一步。展示給用戶的還有相位角，并且示出了相位切換的相對(duì)量，因此這里有三個(gè)相角。
對(duì)于電阻測(cè)試，用戶可觀察到測(cè)試通過哪個(gè)檔來運(yùn)行以及相應(yīng)的狀態(tài)。該狀態(tài)告訴用戶測(cè)試是否通過、不通過或者在某個(gè)特定檔上出錯(cuò)。
圖中還提供了測(cè)試運(yùn)行的溫度。如前所述，用戶設(shè)定序列中測(cè)試的最高和最低溫度。該溫度應(yīng)該位于為每一個(gè)特定測(cè)試所單獨(dú)設(shè)定的最高和最低溫度之間。如果溫度高于最高溫度，或者低于最低溫度，則測(cè)試將不能進(jìn)行。
還提供了系統(tǒng)消息，用于為用戶展示有關(guān)測(cè)試的狀態(tài)，表示錯(cuò)誤以及錯(cuò)誤發(fā)生的時(shí)間。當(dāng)開始進(jìn)行測(cè)試時(shí)顯示該消息，例如當(dāng)要開始進(jìn)行測(cè)試時(shí)，告訴用戶測(cè)試的狀態(tài)，即測(cè)試是否成功地完成了，或者是否發(fā)生了錯(cuò)誤。在理想情況下，還顯示了期望的時(shí)間，以便用戶知道何時(shí)發(fā)生了錯(cuò)誤或者啟動(dòng)測(cè)試，何時(shí)結(jié)束了測(cè)試，或者何時(shí)發(fā)生了錯(cuò)誤?？梢栽诶缌硪黄聊簧?沒有顯示出來)顯示系統(tǒng)消息。
用戶還可以在序列中將測(cè)試選為禁止或使能。如果關(guān)閉了所有的測(cè)試，則即使在測(cè)試序列中存在測(cè)試，也無法進(jìn)行任何測(cè)試。因此，即使測(cè)試顯示在測(cè)試序列中，用戶也能夠?qū)⑷魏螠y(cè)試關(guān)閉，并且禁止它運(yùn)行，從而使測(cè)試無法進(jìn)行。如果打開了所有的測(cè)試，則只有測(cè)試序列中顯示的測(cè)試才可以運(yùn)行。
只要不偏離本發(fā)明的精神和范圍，可以以適當(dāng)?shù)挠?jì)算機(jī)軟件、計(jì)算機(jī)硬件或軟硬件組合的形式來體現(xiàn)。有關(guān)這些硬件和/或軟件進(jìn)一步的細(xì)節(jié)，對(duì)于相關(guān)的技術(shù)人員來說是顯而易見的。因此，沒有必要對(duì)這些硬件和/或軟件做進(jìn)一步的講述。
雖然參照特定的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了圖示和講述，但是本發(fā)明并不局限于所顯示的這些細(xì)節(jié)。相反，只要不偏離本發(fā)明，在權(quán)利要求所述的領(lǐng)域和范圍之內(nèi)可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種具體的修改。
權(quán)利要求
1.一種用于測(cè)試變壓器的系統(tǒng)，包括處理器，包括變壓器測(cè)試引擎，適用于執(zhí)行變壓器測(cè)試序列；控制器，耦聯(lián)到處理器，以輸出控制命令；切換器，耦聯(lián)在控制器和變壓器之間，以響應(yīng)控制命令，將功率切換到控制器；以及測(cè)量系統(tǒng)，耦聯(lián)在變壓器和處理器之間，以接收來自變壓器的測(cè)量值，并且將測(cè)量值提供給處理器。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括耦聯(lián)到處理器的存儲(chǔ)設(shè)備，用于存儲(chǔ)變壓器的規(guī)格。
3.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括用于存儲(chǔ)變壓器測(cè)試序列的存儲(chǔ)設(shè)備。
4.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中處理器進(jìn)一步包括允許定制變壓器測(cè)試序列的測(cè)試序列編輯器。
5.如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括輸入設(shè)備，用于將命令接收到測(cè)試序列編輯器中。
6.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中變壓器測(cè)試序列包括多個(gè)測(cè)試指令和相關(guān)參數(shù)。
7.一種用于測(cè)試變壓器的方法，包括將變壓器連接到包括變壓器測(cè)試引擎的處理器；將定制的變壓器測(cè)試序列加載到處理器；以及與變壓器測(cè)試引擎一起執(zhí)行定制的變壓器測(cè)試序列。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，進(jìn)一步包括將執(zhí)行結(jié)果提供給處理器；將變壓器的規(guī)格提供給處理器；以及通過響應(yīng)結(jié)果和變壓器的規(guī)格，來判斷變壓器是否通過測(cè)試。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，進(jìn)一步包括響應(yīng)于判定步驟而將指示器激活。
10.如權(quán)利要求8所述的方法，進(jìn)一步包括在存儲(chǔ)設(shè)備中存儲(chǔ)結(jié)果。
11.如權(quán)利要求7所述的方法，進(jìn)一步包括在加載之前接收定制的變壓器測(cè)試序列。
12.如權(quán)利要求7所述的方法，其中執(zhí)行定制的測(cè)試指令序列包括以相關(guān)參數(shù)連續(xù)地執(zhí)行多個(gè)測(cè)試指令，直到達(dá)到序列結(jié)尾和收到退出命令中的一個(gè)為止。
13.一種用于創(chuàng)建或編輯定制的變壓器測(cè)試程序的方法，包括從多個(gè)變壓器測(cè)試指令中選擇至少一個(gè)測(cè)試指令或者之前存在的測(cè)試指令序列；為每個(gè)所選的測(cè)試指令或者之前存在的測(cè)試指令序列提供至少一個(gè)相關(guān)參數(shù)；以及定義每個(gè)測(cè)試指令執(zhí)行的順序。
14.如權(quán)利要求13所述的方法，進(jìn)一步包括存儲(chǔ)每個(gè)測(cè)試指令執(zhí)行的順序。
15.如權(quán)利要求13所述的方法，進(jìn)一步包括根據(jù)該順序來執(zhí)行測(cè)試指令。
16.如權(quán)利要求13所述的方法，進(jìn)一步包括接收輸入命令，并且其中響應(yīng)于輸入命令而執(zhí)行選擇步驟。
17.如權(quán)利要求13所述的方法，進(jìn)一步包括基于該順序來產(chǎn)生變壓器測(cè)試序列。
18.一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，它具有計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令，用于執(zhí)行如下步驟從多個(gè)變壓器測(cè)試指令中選擇至少一個(gè)測(cè)試指令或者之前存在的測(cè)試指令序列；為每個(gè)所選的測(cè)試指令或者之前存在的測(cè)試指令序列提供至少一個(gè)相關(guān)參數(shù)；以及定義每個(gè)測(cè)試指令執(zhí)行的順序。
19.如權(quán)利要求18所述的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，進(jìn)一步具有用于存儲(chǔ)每個(gè)測(cè)試指令的執(zhí)行順序的計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令。
20.如權(quán)利要求18所述的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，進(jìn)一步具有用于根據(jù)該順序來執(zhí)行測(cè)試指令的計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令。
21.如權(quán)利要求18所述的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，進(jìn)一步具有用于接收輸入命令的計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令，并且其中響應(yīng)于輸入命令而執(zhí)行選擇步驟。
22.如權(quán)利要求18所述的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，進(jìn)一步具有用于基于該順序來產(chǎn)生變壓器測(cè)試序列的計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令。
23.在計(jì)算機(jī)實(shí)施設(shè)備中具有計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，具有計(jì)算機(jī)可執(zhí)行組件，該計(jì)算機(jī)可執(zhí)行組件包括數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)變壓器測(cè)試序列，該序列包括多個(gè)要通過變壓器測(cè)試引擎在變壓器上執(zhí)行的變壓器測(cè)試；以及處理器，用于讀取變壓器測(cè)試序列和指導(dǎo)變壓器測(cè)試引擎根據(jù)變壓器測(cè)試序列來運(yùn)行。
24.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器進(jìn)一步存儲(chǔ)變壓器的規(guī)格。
25.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中處理器進(jìn)一步接收用于創(chuàng)建和編輯變壓器測(cè)試序列的命令。
26.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中變壓器測(cè)試序列包括多個(gè)測(cè)試指令和相關(guān)參數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明提供了用于創(chuàng)建、編輯或/和執(zhí)行用于測(cè)試變壓器的測(cè)試程序的系統(tǒng)和方法。該系統(tǒng)包括輸入設(shè)備，允許用戶選擇期望的測(cè)試指令和之前存在的測(cè)試指令序列，以創(chuàng)建具有測(cè)試指令序列的測(cè)試程序。處理器通過產(chǎn)生以預(yù)定順序執(zhí)行的命令來執(zhí)行測(cè)試程序。
文檔編號(hào)G01R31/06GK1606697SQ02825715
公開日2005年4月13日 申請(qǐng)日期2002年12月20日 優(yōu)先權(quán)日2001年12月20日
發(fā)明者法迪·阿德爾·哈姆丹 申請(qǐng)人:Abb公司