專利名稱：串行器件的改進(jìn)型環(huán)回檢測的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于電子器件的自動檢測設(shè)備，特別的，涉及包括串行通信端口的電子器件的自動檢測。
背景技術(shù)：
隨著電子器件越來越復(fù)雜，需要更多的導(dǎo)線來進(jìn)行不同器件之間的連接。因此，電路板的布線和設(shè)計(jì)變得更加復(fù)雜。串行通信端口可以緩解這種復(fù)雜性，因?yàn)樗鼈兛梢允蛊骷帽炔⑿衅骷俚木€路進(jìn)行通信。串行端口僅利用兩條線進(jìn)行通信，一條用于發(fā)射數(shù)據(jù)，一條用于接收數(shù)據(jù)。這些線可為單端(即，一個(gè)信號以地信號為參考)或差動(即，兩個(gè)互補(bǔ)的信號，每個(gè)都不是地信號)。為了以與并行端口可比的速率發(fā)射數(shù)據(jù)，串行端口需要以比并行端口更快的速度進(jìn)行操作。現(xiàn)代的串行端口以達(dá)到幾千兆赫茲(GHz)的數(shù)據(jù)率進(jìn)行操作。
串行端口特別需要自動檢測設(shè)備(“ATE”)。例如，串行端口通常同時(shí)發(fā)射和接收數(shù)據(jù)。為了徹底的檢測串行端口，該檢測器自身應(yīng)當(dāng)可以同時(shí)發(fā)射和接收數(shù)據(jù)。串行端口還可以不同的速率發(fā)射和接收數(shù)據(jù)，這意味著檢測器應(yīng)當(dāng)以不同的速率工作?？赡茏铒@著的是串行端口可以以非常高的速率操作，該速率大大的快于傳統(tǒng)檢測器的針電子器件的操作。
廣義的說，用于檢測串行端口的技術(shù)可分為三類全功能的數(shù)字檢測，算法檢測和環(huán)回檢測。全功能數(shù)字檢測使用復(fù)雜的、基于圖案的裝置來產(chǎn)生串行激勵和監(jiān)測串行響應(yīng)。這些裝置通常以高速操作，對于檢測大多數(shù)串行端口足夠快，而且可對信號的時(shí)序和他們的幅度進(jìn)行大量的控制。雖然他們很靈活和有效，但全功能數(shù)字裝置太過昂貴，且需要很長的研發(fā)時(shí)間。全功能數(shù)字檢測裝置的例子包括Boston，MA，Teradyne，Inc.，研制的GazelleTM和超速串行針TM。
算法檢測比全功能數(shù)字檢測便宜。算法檢測包括根據(jù)多種預(yù)定算法中的任意一種，產(chǎn)生串行位流，并監(jiān)測串行響應(yīng)，以確保他們匹配該串行激勵的預(yù)期響應(yīng)?？筛鶕?jù)多種算法圖案，例如偽隨機(jī)圖案、跨步圖案(在多個(gè)“0”的區(qū)域中移動一個(gè)“1”)、或者位圖案等等來安排激勵。雖然算法檢測比全功能檢測便宜，但仍然并不完善。例如，算法檢測通常不能控制發(fā)射到串行端口的單個(gè)邊沿的布局。因?yàn)樗褂糜邢薜膸追N圖案，因此算法檢測也不能檢獨(dú)立器件的特定電路。
環(huán)回檢測是最簡單，同時(shí)也可能是最常用的檢測串行端口的方法。環(huán)回檢測包括將串行端口的發(fā)射線(TX)與其自身的接收線(RX)連接。然后該裝置發(fā)射一已知圖案的串行數(shù)據(jù)。一旦該數(shù)據(jù)被發(fā)射，該檢測器監(jiān)視該裝置的低速針以判斷檢測通過或失敗，該低速針的狀態(tài)基于TX和RX線的正確操作。
該環(huán)回檢測非常方便。該串行端口的檢測連接僅需要一條將發(fā)射線與接收線連接的導(dǎo)線即可。該檢測器不需發(fā)射串行數(shù)據(jù)或接收串行數(shù)據(jù)。但是，我們認(rèn)識到這種方便是以完善性作為代價(jià)的。由于串行端口接收數(shù)據(jù)和發(fā)射數(shù)據(jù)的速率相同，因此環(huán)回檢測不需要單獨(dú)地檢測串行端口的發(fā)射線和接收線是否可以以不同速率操作。這樣該檢測器不能檢測器件的同步電路中的內(nèi)部缺點(diǎn)。我們還應(yīng)當(dāng)認(rèn)識到由于該檢測器不直接產(chǎn)生串行位流，因此檢測器不能檢測串行端口對于誤差輸入信號的容差。這些包括具有幅度錯誤、失真和定時(shí)抖動的輸入信號。該檢測器不能直接測量串行端口的輸出信號，以確保它們具有正確的幅度和時(shí)序特征。
但是，環(huán)回檢測的方便性還是提供了可以實(shí)現(xiàn)低成本檢測串行端口的保證?，F(xiàn)在所需要的就是在不顯著增加環(huán)回檢測成本的情況下，提高它的靈活性和測試有效范圍。
發(fā)明概述根據(jù)上面的背景技術(shù)，本發(fā)明的一個(gè)目的是全面且相對低成本地檢測串行端口。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的以及其它目的和優(yōu)點(diǎn)，采用一改進(jìn)的環(huán)回技術(shù)來檢測串行端口。該技術(shù)包括一接收器和發(fā)射器，他們每個(gè)都具有輸入端和輸出端。該接收器在它的輸入端接收到串行端口的TX線傳來的檢測信號。該發(fā)射器利用它的輸出端向串行端口的RX線提供一檢測信號。該接收器的輸出端與發(fā)射器的輸入端耦合，以穩(wěn)定環(huán)回連接。
根據(jù)一個(gè)變化，接收器的輸入端可與一參數(shù)測量電路耦合，用于估算串行端口的TX線的穩(wěn)定狀態(tài)特征。發(fā)射器的輸出端可與該參數(shù)測量電路耦合，用于估算串行端口的TX線的穩(wěn)定狀態(tài)特征。
根據(jù)另一個(gè)變化，接收器的輸出端可與一時(shí)間測量電路耦合，用于測量在串行端口的TX線產(chǎn)生的檢測信號的時(shí)序特征。
根據(jù)另一個(gè)變化，在接收器的輸出端和發(fā)射器的輸入端之間插入一時(shí)間失真電路，用于在檢測信號被輸入串行端口的RX線之前，向該檢測信號提供預(yù)定的時(shí)序失真。
根據(jù)另一變化，在接收器的輸出端和發(fā)射器的輸入端之間插入一選擇器，用于在接收器的輸出端和一直接輸入端之間進(jìn)行選擇，其中該直接輸入端提供一預(yù)定的串行位流，該位流不同于接收器接收到的檢測信號。


本發(fā)明的其它目的、優(yōu)點(diǎn)和新穎特征都將從下面的說明書和附圖中變得明顯，其中圖1示出背景技術(shù)中的傳統(tǒng)檢測器結(jié)構(gòu)；圖2示出根據(jù)本發(fā)明的一用于檢測串行通信端口的改進(jìn)的環(huán)回裝置；圖3示出利用圖2所示的裝置檢測串行通信端口的流程圖。
實(shí)施例的詳細(xì)描述傳統(tǒng)的檢測器結(jié)構(gòu)圖1示出用于自動檢測系統(tǒng)或“檢測器”的傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)100的高度簡化視圖，其中可使用本發(fā)明。一主機(jī)110利用多種電子硬件來運(yùn)行用于檢測一被檢測的器件(“DUT”)142的程序。該硬件通常包括數(shù)字裝置124、模擬裝置126和電源128。
該電子硬件通過多條線130和它們各自的接點(diǎn)140與DUT142連接。該接點(diǎn)140通常包括從檢測器延伸出的彈簧針。這些針可以是單端或同軸的。該DUT被置于一器件接口板，或“DIB”上。該DIB通常包括導(dǎo)電襯墊，這些襯墊排列的圖案與從該檢測器延伸出的彈簧針的圖案相匹配。這些針與襯墊接觸從而在檢測器和DUT142之間形成連接。
該數(shù)字裝置124通常包括，例如時(shí)鐘發(fā)生器、串行檢測裝置、并行檢測裝置。該模擬裝置126通常包括，例如一個(gè)或多個(gè)用于測量電路節(jié)點(diǎn)的DC特性的參數(shù)測量單元，和一個(gè)或多個(gè)用于測量電路節(jié)點(diǎn)的時(shí)序特征的計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器。他們還可包括多個(gè)其它用于產(chǎn)生和分析用于檢測該DUT142的波形的裝置。通過一控制總線120，該主機(jī)110與電子硬件通信并控制該電子硬件，用于根據(jù)檢測程序的指令檢測該DUT142。
電路布局和操作圖2示出根據(jù)本發(fā)明用于執(zhí)行串行端口的改進(jìn)環(huán)回檢測的裝置200。該裝置最好為一數(shù)字裝置，并與其它數(shù)字裝置124一起處于檢測器100內(nèi)。
如圖2所示，該裝置200包括一接收器258。該接收器258通過接點(diǎn)240與DUT242的TX線耦合。
該裝置200還包括一發(fā)射器272。該發(fā)射器272通過其它接點(diǎn)240與DUT242的RX線耦合。如下所述，該接收器258的輸出端可與發(fā)射器272的輸入端耦合，從而對DUT242進(jìn)行環(huán)回檢測。
在最佳實(shí)施例中，該接收器258包括一差動放大器260，用于從DUT242接收一差動信號。該差動放大器將TX線提供的差動輸入轉(zhuǎn)換為單端信號。比較器262和264將該單端信號分別與可設(shè)計(jì)的極限電壓VOD-H和VOD-L比較，以確定該單端信號是否超過該極限值。電阻254和256(通常為50歐姆)接在差動放大器260的輸入端，從而分別提供終端電壓VTERM-H和VTERM-L。該終端電壓最好可編程。
差動放大器260與比較器262和264的結(jié)合得到一差動比較器，即該比較器根據(jù)TX處的差動輸入電壓超過一個(gè)或多個(gè)預(yù)定極限值，進(jìn)行轉(zhuǎn)換。通過提供兩個(gè)比較器262和264，每當(dāng)該差動輸入信號(在TX處)超過兩個(gè)極限值中的任一個(gè)，裝置200可產(chǎn)生一邊沿。這個(gè)特征可被用于，例如校驗(yàn)一器件的上升時(shí)間和下降時(shí)間規(guī)格，這在利用傳統(tǒng)環(huán)回檢測時(shí)通常是不可能的。該特征還可用于校驗(yàn)該器件的輸出電平是否符合具體要求，這在利用傳統(tǒng)環(huán)回檢測時(shí)通常也是不可能的?；蛘?，也可以只使用一個(gè)比較器，相應(yīng)的具有較少的功能。
作為另一變化，可提供另一組比較器來檢查該TX線提供的信號的共模分量，以確保它符合DUT的具體要求。這些比較器還可用于檢測故意施加的共模信號，通常是“速差式信號法”信號。另外，可提供另一組比較器來獨(dú)立地檢查TX線提供的差動信號的每一側(cè)，以確保每一側(cè)都分別符合該DUT的要求。
在最佳實(shí)施例中，該發(fā)射器272為一差動驅(qū)動器，它提供互補(bǔ)輸出信號，這些信號在高電壓和低電壓電平之間變化。這些高和低電平，分別標(biāo)記為VID-H和VID-L，都可編程以檢測RX線對具有不同電壓電平的輸入信號的容差。電阻274和276端接發(fā)射器272產(chǎn)生的信號。
傳統(tǒng)的環(huán)回檢測不能測量串行端口的TX線中的抖動。為了克服這個(gè)限制，差動比較器的輸出端與一時(shí)間測量電路，例如一計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器266耦合。該計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器266可測量TX線中的抖動。它還可獨(dú)立地測量它的頻率和其它特性。
該差動比較器的輸出也與一時(shí)間失真電路268耦合。根據(jù)特定的因素，在將TX線提供的信號環(huán)回至TX線之前，該時(shí)間失真電路268選擇性的在該信號中引入時(shí)序失真。在一種模式下，該時(shí)間失真電路268可向RX線中引入抖動。通過在RX線中加入抖動并監(jiān)視該器件的響應(yīng)(即，它是否正確的接收到TX線提供的數(shù)據(jù))，可以獨(dú)立地檢測RX線對抖動的容差。
根據(jù)最佳實(shí)施例，該時(shí)間失真電路268包括一選擇器、一轉(zhuǎn)換速率被限制的電路，和一高速比較器。該選擇器選擇比較器262和264中的一個(gè)的輸出作為該轉(zhuǎn)換率被限制的電路的輸入，該轉(zhuǎn)換率被限制的電路將被選擇輸入端的邊沿轉(zhuǎn)換為一斜坡。將該斜坡輸入高速比較器的第一輸入端，將一極限信號輸入第二輸入端。為了引入抖動，在極限信號上疊加一特定量的電壓噪聲。該比較器將該電壓噪聲轉(zhuǎn)換為計(jì)時(shí)噪聲或抖動。
還可采用其它類型的時(shí)間失真。例如，通過改變極限電壓的DC值，可以使被選擇的比較器輸出端提供的輸入信號相移。通過疊加周期波形，可對該輸入信號進(jìn)行相調(diào)制。通過提供一穩(wěn)定的極限電壓，該輸入信號可基本不失真的通過。
該裝置200還包括一選擇器270。該選擇器270在主機(jī)110的控制下操作。它的輸出端與時(shí)間失真電路268的輸出或直接輸入290提供的信號耦合。如果選擇器通過時(shí)間失真電路268的輸出，則建立了環(huán)回結(jié)構(gòu)。但是，如果通過了直接輸入290提供的信號，則該環(huán)回連接被破壞，可利用直接輸入信號驅(qū)動該發(fā)射器272。
該直接輸入290傳送一串行位流，該位流不同于DUT242的TX線產(chǎn)生的位流。該直接輸入290包括與TX線發(fā)射的不同的數(shù)據(jù)流，并可以不同于TX線的位率進(jìn)行操作。在最佳實(shí)施例中，該直接輸入290提供了一種簡單的1和0的算法圖案，例如，偽隨機(jī)圖案或交替的“1010”圖案，該算法圖案可以以可變的時(shí)鐘率產(chǎn)生。通過以不同的速度提供不同于TX線產(chǎn)生的數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)，該直接輸入290填滿了環(huán)回檢測有效區(qū)域中的有效間隙---它可使串行端口的RX線獨(dú)立于TX線被檢測。
圖2所示的裝置200還包括一參數(shù)測量電路，例如參數(shù)測量單元(PMU)282。該P(yáng)MU282與DUT242的TX和TX線耦合，用于對這些線執(zhí)行參數(shù)測量。如本領(lǐng)域技術(shù)人員所公知，PMU是用于強(qiáng)制電壓、強(qiáng)制電流、測量電壓、測量電流的內(nèi)部電路。他們用于測量器件的穩(wěn)定狀態(tài)特征，例如漏電流、阻抗、輸出電流和依從電壓。提供PMU將這些功能集成在裝置200中，并進(jìn)一步提高了測量能力。
該裝置200最好包括開關(guān)、例如繼電器250、252、278和280。為了執(zhí)行參數(shù)檢測，打開繼電器，該P(yáng)MU作用該TX和RX線。由于該裝置200與該DUT 242去耦，因此可以消除裝置200的負(fù)載效應(yīng)。
為了執(zhí)行串行檢測，繼電器250、252、278和280閉合。在最佳實(shí)施例中，該RMU282通過電感282、284、286和288與RX和TX線耦合。該電感可避免需要提供單獨(dú)的開關(guān)來連接和斷開PMU。該電感對高速串行位流可相當(dāng)于開路，對DV參數(shù)信號可相當(dāng)于短路。
除了PMU282和相關(guān)電感，該裝置200最好包括與高速信號通道連接的高速電子器件。該電路可利用一個(gè)或多個(gè)特定用途集成電路(ASIC)來實(shí)現(xiàn)，具有高速分立元件或它們的結(jié)合。由于該裝置是用于已經(jīng)包括有檢測裝置的ATE系統(tǒng)中，因此如果在檢測系統(tǒng)中的其它地方已經(jīng)有了檢測裝置，則裝置200中不需再重復(fù)了。例如，由Teradyne，Inc.制造的檢測器通常包括一獨(dú)立的計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器和一獨(dú)立的PMU。因此它們也包括可用于創(chuàng)建用于直接輸入290的信號源的時(shí)鐘發(fā)生器和其它并行數(shù)字裝置。這些裝置可與裝置200結(jié)合使用，從而避免了由于在裝置200中重復(fù)安裝它們而導(dǎo)致的成本增加。
檢測方法圖3為一流程圖，示出利用裝置200對串行端口執(zhí)行的檢測過程。如圖所示，可以執(zhí)行多種檢測，他們執(zhí)行的順序并不要求。
在步驟310，主機(jī)110指示裝置200測量DC參數(shù)。該步驟需要在保持裝置200的其它部分?jǐn)嗦返那闆r下，打開繼電器250、252、278和280并通過電感282、284、286和288檢測TX和RX線。當(dāng)參數(shù)測量結(jié)束時(shí)(或就在串行檢測開始之前)繼電器250、252、278和280閉合。
在步驟312，主機(jī)110激勵DUT242來發(fā)射串行數(shù)據(jù)。隨后，DUT242在TX線上產(chǎn)生串行位流。該串行位流傳播到差動放大器260，然后到達(dá)比較器262和264。在步驟314，計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器266測量比較器262和264產(chǎn)生的信號。如上所述，測量可包括TX線上的信號的抖動、頻率或其它特性。
在步驟316，主機(jī)110讀出計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器266的測量結(jié)果，判斷測量的特征是否在特定范圍內(nèi)。
除了利用計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器266測量TXT線的特征，執(zhí)行改進(jìn)的環(huán)回檢測。在步驟318，將比較器262和264中的一個(gè)提供的信號輸入時(shí)間失真電路268。根據(jù)特定的因素，將該信號預(yù)先失真并通過發(fā)射器272反饋回RX線。在步驟324中，主機(jī)110查詢DUT242以確定在RX線上接收到的串行位流是否匹配在TX線上發(fā)射的串行位流?；谠擁憫?yīng)，決定檢測通過或失敗。
另外，可將比較器262和264的極限電平編程為對TX線的DUT幅度要求的極限。像以前一樣監(jiān)視該DUT。一有效信號只發(fā)射到RX線，如果DUT符合對于TX線的幅度要求，則DUT通過。類似的，可將發(fā)射器272的輸出電平編程為對RX線的DUT幅度要求的極限。監(jiān)視該DUT。只有當(dāng)DUT符合對于RX線的幅度要求時(shí)，DUT才通過。除了依靠DUT242以提供激勵，還可通過直接輸入290提供獨(dú)立的激勵。在步驟320，主機(jī)110控制選擇器270中斷環(huán)回信號，而不是通過直接輸入290的信號。產(chǎn)生一算法圖案。在步驟322中，將該算法圖案提供到DUT的RX線。在步驟324中，主機(jī)110查詢DUT242以校驗(yàn)該DUT接收到正確的數(shù)據(jù)。
上面描述的該改進(jìn)的環(huán)回技術(shù)并不昂貴且具有靈活性。資源例如計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器和PMU已經(jīng)包括在大多數(shù)檢測系統(tǒng)中，因此該改進(jìn)的環(huán)回裝置可以很小或不花代價(jià)就將它們的功能合并過來。可獨(dú)立檢測串行端口的TX和RX線的幅度誤差和抖動。利用該直接輸入290，可提供算法圖案來以不同頻率和與TX線不同的數(shù)據(jù)檢測RX線，從而可真正獨(dú)立的檢測RX和TX線。
變化上面描述了一個(gè)實(shí)施例，可以實(shí)現(xiàn)多種變化實(shí)施例。
如上所述，該計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器和PMU為遠(yuǎn)程裝置。但是，它們也可本地提供。在稍微增加成本的情況下，可將該計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器和PMU集成在裝置200中，從而提供一更加整套的裝置。
該改進(jìn)的環(huán)回裝置200作為位于一個(gè)或多個(gè)檢測器裝置中的裝置進(jìn)行描述。但是，它的位置可以改變?；蛘?，該裝置可置于DUT旁的器件接口板上，或可與這些位置分離。根據(jù)另一變化，該裝置200可位于一獨(dú)立的裝置中，該裝置與主機(jī)通過獨(dú)立總線，例如IEEE-488總線或VXI總線進(jìn)行通信。
上面描述了一單獨(dú)的、改進(jìn)的環(huán)回電路200?？蛇x的，可將多個(gè)電路200放在一起來檢測多個(gè)串行端口。該計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器和PMU可在不同電路之間轉(zhuǎn)換，或可提供多個(gè)計(jì)時(shí)器/計(jì)數(shù)器和PMU。
上述的裝置200可進(jìn)行廣泛的檢測。例如，差動比較器的輸出可與數(shù)據(jù)采集裝置(未示出)和并行數(shù)字裝置耦合。這些裝置可處理差動比較器提供的信號，來進(jìn)行其它檢測，例如提取在DUT242產(chǎn)生的串行位流中的被編碼的數(shù)據(jù)。該提取出的數(shù)據(jù)可，例如用于通過直接輸入來初始化DUT，以便于下次的檢測。
如上所述，該P(yáng)MU282通過電感與TX和RX線連接。還可使用繼電器或其它開關(guān)，假設(shè)它們完全阻斷了高頻串行位流。
上述的例子使用了差動接收器和差動發(fā)射器來進(jìn)行被檢測器件的差動RX和TX線之間的通信。但這不是必需。為了檢測單端串行端口，可以使用一單端接收器和一單端發(fā)射器?；蛘?，可使用上述的差動接收器和發(fā)射器，將接收器的一個(gè)輸入端保持為一恒定電壓，發(fā)射器的一輸出端保持開路。
申請人已經(jīng)將這些變化或改變以及其它的變化和改變都進(jìn)行了考慮，它們都落入本發(fā)明的范圍內(nèi)。因此應(yīng)當(dāng)理解，前面的說明都是示例性的，本發(fā)明僅由附加權(quán)利要求的精神和范圍來限定。
權(quán)利要求
1.一用于在一自動檢測系統(tǒng)中檢測串行端口的電路，包括一具有一輸入端和一輸出端的接收器，用于從串行端口的TX線接收一檢測信號；一具有一輸入端和一輸出端的發(fā)射器，用于向串行端口的RX線發(fā)射一檢測信號，其中發(fā)射器的輸入端與接收器的輸出端耦合以建立一環(huán)回連接；和一參數(shù)測量電路，與接收器的輸入端耦合，用于評估串行端口的TX線的穩(wěn)定狀態(tài)特征。
2.如權(quán)利要求1所述的電路，其中該參數(shù)測量電路還與發(fā)射器的輸出端耦合，用于評估串行端口的RX線的穩(wěn)定狀態(tài)特征。
3.如權(quán)利要求1所述的電路，其中還包括一與接收器的輸出端耦合的時(shí)間測量電路，用于測量接收器接收到的測量信號的時(shí)序特征。
4.如權(quán)利要求1所述的電路，其中還包括一時(shí)間失真電路，該電路位于接收器的輸出端和發(fā)射器的輸入端之間，用于在提供到串行端口的RX線的檢測信號中引入預(yù)定的時(shí)序失真。
5.如權(quán)利要求1所述的電路，其中還包括一選擇器，位于接收器的輸出端和發(fā)射器的輸入端之間，用于在接收器的輸出端和直接輸入之間選擇，其中該直接輸入提供一預(yù)定串行位流，該位流不同于接收器接收到的檢測信號。
6.如權(quán)利要求1所述的電路，其中該接收器包括一差動比較器，該差動比較器具有第一和第二可編程極限。
7.如權(quán)利要求1所述的電路，其中該發(fā)射器包括一差動驅(qū)動器，該差動驅(qū)動器具有低一和第二可編程電平。
8.一自動檢測系統(tǒng)中用于檢測串行端口的電路，包括一具有一輸入端和一輸出端的接收器，用于從串行端口的TX線接收一檢測信號；一具有一輸入端和一輸出端的發(fā)射器，用于向串行端口的RX線發(fā)射一檢測信號，其中發(fā)射器的輸入端與接收器的輸出端耦合以建立一環(huán)回連接；和一時(shí)間失真電路，該電路位于接收器的輸出端和發(fā)射器的輸入端之間，用于在提供到串行端口的RX線的檢測信號中引入預(yù)定的時(shí)序失真。
9.如權(quán)利要求8所述的電路，還包括一與接收器的輸出端耦合的時(shí)間測量電路，用于測量接收器接收到的測量信號的時(shí)序特征。
10.一自動檢測系統(tǒng)中用于檢測串行端口的電路，包括一具有一輸入端和一輸出端的接收器，用于從串行端口的TX線接收一檢測信號；一具有一輸入端和一輸出端的發(fā)射器，用于向串行端口的RX線發(fā)射一檢測信號，其中發(fā)射器的輸入端與接收器的輸出端耦合以建立一環(huán)回連接；其中該接收器具有至少一個(gè)可編程的輸入極限，該發(fā)射器具有至少一個(gè)可編程的輸出電平。
11.如權(quán)利要求10所述的電路，其中該接收器包括一差動比較器，該發(fā)射器包括一差動驅(qū)動器。
12.一種在自動檢測系統(tǒng)中檢測處于檢測的器件的串行端口的方法，包括(A) 評估串行端口的TX線和RX線中的至少一個(gè)的穩(wěn)定狀態(tài)特征；(B) 使處于檢測的器件產(chǎn)生一串行位流；(C) 從處于檢測的器件的串行端口的TX線接收該串行位流；(D) 將接收到的串行位流和直接輸入中的一個(gè)發(fā)射到處于檢測的器件的串行端口的RX線；和(E) 監(jiān)視該處于檢測的器件以判定由處于檢測的器件接收到的串行位流是否與希望的串行位流匹配。
13.如權(quán)利要求12所述的方法，還包括在步驟D中向處于檢測的器件發(fā)射檢測信號之前，在步驟C中向接收到的檢測信號中引入預(yù)定的時(shí)序失真。
14.如權(quán)利要求13所述的方法，其中預(yù)定的時(shí)序失真包括抖動。
15.如權(quán)利要求12所述的方法，還包括利用一時(shí)間測量電路測量在步驟B中接收到的檢測信號的至少一個(gè)時(shí)序特征。
16.如權(quán)利要求12所述的方法，其中在步驟C中利用具有至少一個(gè)輸入極限的比較器接收到該串行位流，該方法還包括對該至少一個(gè)極限編程以檢測處于檢測的器件是否產(chǎn)生有效輸出電平。
17.如權(quán)利要求12所述的方法，其中發(fā)射步驟D包括對發(fā)射的信號的電平編程以判斷處于檢測的器件是否對應(yīng)于處于編程后的電平的輸入。
18.如權(quán)利要求12所述的方法，其中直接輸入包括不同于在步驟C中接收到的串行位流的算法輸入。
19.如權(quán)利要求18所述的方法，其中該算法輸入包括1和0的偽隨機(jī)序列和1和0的重復(fù)序列中的至少一個(gè)。
20.如權(quán)利要求12所述的方法，其中該直接輸入傳送一串行位流，該位流的頻率不同于TX線的串行位流的頻率。
全文摘要
一用于經(jīng)濟(jì)且全面地檢測串行端口的裝置包括一接收器和一發(fā)射器。該接收器可與串行端口的TX線耦合用于接收一串行位流。該發(fā)射器可與串行端口的RX線耦合用于產(chǎn)生一串行位流。該接收器與發(fā)射器耦合，從而在串行端口的TX和RX線之間建立一環(huán)回連接。在接收器和發(fā)射器之間插入一時(shí)間失真電路和一選擇器。該時(shí)間失真電路加入預(yù)定量的時(shí)序失真以檢測串行端口。該選擇器在接收器和直接輸入之間進(jìn)行選擇，它提供一算法檢測信號。該算法檢測信號與接收器接收到的輸入串行位流不同，從而可單獨(dú)的檢測TX和RX線。
文檔編號G01R31/28GK1500246SQ01821524
公開日2004年5月26日 申請日期2001年12月3日 優(yōu)先權(quán)日2000年12月29日
發(fā)明者邁克爾·C·帕尼斯, 布拉德福德·B·羅賓斯, 福德 B 羅賓斯, 邁克爾 C 帕尼斯 申請人:泰拉丁公司