專利名稱：允許在自然輻射環(huán)境中使用可編程元件的設備的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種允許在自然輻射環(huán)境中使用可編程元件的設備。本發(fā)明尤其被應 用于FPGA (現(xiàn)場可編程門陣列)類型的元件。
背景技術：
本輻射源與太陽銀河系輻射有關。輻射流根據(jù)海拔高度和緯度，受例如構成障礙 和過濾器的磁層、大氣層和范艾倫輻射環(huán)的作用而改變。該輻射在空間中和高海拔高度上 主要包含重離子和質子，并且在大氣層中，中子占主導。在海洋中，中子流大約比海拔10千米處的少300倍。然而，即便在地表上，有關該 輻射的問題，被稱為“SEE”(Single Event Effet單粒子效應的縮寫)，出于組成元件日益 融合的原因，在幾個系統(tǒng)中已被驗證。這一問題很可能在即將到來的幾年中變成一個挑戰(zhàn)。與輻射有關的單粒子效應對應于由單粒子通過而觸發(fā)的現(xiàn)象。在這些效應中，將 已知的瞬變?nèi)毕莼蜍涘e誤區(qū)別命名為，“SEU”(Single Event Upset單粒子翻轉的縮寫)， 它在于在不改變電子元件的情況下，在高能量粒子作用下，該電子元件提供的信息被非期 望地改變。與重離子相比，中子不直接釋放它們的能量。它們需要與硅發(fā)生作用以生成二級 離子。所有離子在硅中釋放電荷并在該電子元件中產(chǎn)生一個SEE。要求機載計算機所具有的計算集成化和強大能力，強迫要求復雜元件如FPGA、 CPLD(復雜可編程門器件的縮寫)和ASIC(專用集成電路的縮寫)的使用。FPGA在電子學中應用非常廣泛，因為它提供一個非常有利的資源/成本比例。 FPGA技術根據(jù)以下三種類型被分類一反熔絲，一閃存(flash)，和一基于RAM(隨機存取存儲器的縮寫)。當前，為了緩解自然輻射環(huán)境中被稱為SEU(單粒子翻轉事件的縮寫)的宇宙中子 影響的問題，提到的前兩項技術經(jīng)常被使用，由于其容錯性。為了預防自然輻射在電子技術中的影響，其中一種解決方案是使用反熔絲或閃存 技術的FPGA元件。這些元件，得益于它們的技術和光電元件光刻，它們對“位翻轉”具有非 常強的魯棒性，并且，其結果是不需要任何保護。然而它們的缺陷包括一如反熔絲的某些技術不允許元件重編程；然而，隨情況進展，有必要開焊和更換 元件；一沒有幾個供應商因此差異管理存在困難；一由于技術原因，其性能表現(xiàn)，尤其是頻率方面，是有限的；一由于技術原因，所推薦的矩陣是有限的；一工具缺乏新意，因為它們擁有較少的用戶因此擁有較少的校正器(調試器)。
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基于RAM類型的FPGA，由于它的技術，非常高效，提供大量邏輯矩陣和(根據(jù)要 求)現(xiàn)場重編程。為此，它顯著用于工業(yè)中。然而，它具有對“位翻轉”，換而言之二進制單 元或位數(shù)值變化，非常敏感這一缺陷，這目前使得它在輻射環(huán)境中的使用變得困難。文件US 7 036 059描述一個配備冗余邏輯函數(shù)和在這些邏輯函數(shù)之一中探測錯 誤的裝置的可編程元件。然而，邏輯函數(shù)冗余造成可編程元件的復雜性和高成本。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在消除這些缺陷。為此，根據(jù)第一方面，本發(fā)明旨在一種允許在輻射環(huán)境中使用可編程元件的設備， 包括一探測所述可編程元件中由于輻射造成的錯誤的裝置，一在探測錯誤時阻塞所述元件的至少一個輸出的裝置以及一校正所述錯誤的裝置。得益于這種設備，可獲得能夠使用基于RAM類型的FPGA元件的容錯(Fau 11 Tolerant)架構。事實上，上面簡要敘述的裝置，允許探測可編程元件上的危害的影響，并且 在有危害的情況下，允許在錯誤被校正期間，禁止將信息散發(fā)到該元件外部。本發(fā)明可尤其應用在如航空、空間、核能、汽車、醫(yī)藥或鐵道系統(tǒng)等關鍵電子系統(tǒng) 中。根據(jù)特定特征，本發(fā)明目的的設備，如上簡述，包括對保存在所述元件中的數(shù)據(jù)進 行雙重存儲的裝置。因此，在使用一個存儲器來保護數(shù)據(jù)的情況下，通過在存儲器中雙重保 護數(shù)據(jù)，能夠迅速恢復穩(wěn)定的運行狀態(tài)。根據(jù)特定特征，錯誤探測裝置比較至少兩個數(shù)據(jù)存儲。因此，該錯誤探測裝置包含 再次讀取元件存儲器內(nèi)容并且與參考內(nèi)容進行比較的裝置。這個再次讀取以及這一比較已 知為“回讀(Readback) ”。根據(jù)特定特征，阻塞裝置適于阻塞所述元件實現(xiàn)的邏輯函數(shù)的數(shù)字輸出。事實上， 這些是在這些輸出上發(fā)射的、在元件上位翻轉的情況下可能會被干擾的信號。 根據(jù)特定特征，錯誤探測裝置包含冗余數(shù)據(jù)驗證裝置。根據(jù)特定特征，錯誤校正裝置使用冗余數(shù)據(jù)。這些冗余數(shù)據(jù)允許校驗每一數(shù)據(jù)塊中可編程元件保存的數(shù)據(jù)的完整性。每一個數(shù) 據(jù)塊都被關聯(lián)有一個被稱為“校驗碼”，例如CRC碼(Cyclic Redundancy Check循環(huán)冗余碼 校驗的縮寫)的校驗模塊。根據(jù)特定特征，錯誤校正裝置適于執(zhí)行元件的完全重新配置。注意到，F(xiàn)PGA的完 全重新配置可利用其參考矩陣被執(zhí)行。這是為了校正探測出的錯誤并且初始化元件。FPGA 的輸出數(shù)據(jù)則僅在對應于探測延時(d6lai)和系統(tǒng)重啟延時的一段期間內(nèi)還保持錯誤。根據(jù)特定特征，錯誤校正裝置適于執(zhí)行元件的部分重新配置。這個部分重新配置 對應于已經(jīng)探測出錯誤的矩陣的局部校正。這一重新配置不要求初始化系統(tǒng)。在校正之后， FPGA恢復正常運行。根據(jù)特定特征，阻塞裝置包含在緩沖存儲器中保存由該元件和/或連接在該元件 與該緩沖存儲器之間的幾個元件生成的數(shù)據(jù)的裝置。在這個緩沖存儲器中的保存已知名為“緩沖(Bufferisation)，，。根據(jù)特定特征，保存裝置擁有大于或等于錯誤探測裝置探測錯誤最大延時的等待 時間。因此，沒有任何錯誤數(shù)據(jù)從該設備輸出。根據(jù)特定特征，本發(fā)明目的的設備，如上簡述，包含錯誤連續(xù)性探測裝置，以及元 件存儲區(qū)域的去活(c^sactivation)裝置，它適于在這種探測出錯誤連續(xù)性的情況下，禁 止使用包含連續(xù)錯誤的存儲區(qū)域。因此禁止一部分無法修復、損壞的存儲器的使用。根據(jù)特定特征，本發(fā)明目的的設備，如上簡述，包含錯誤連續(xù)性探測裝置和在探測 到錯誤連續(xù)性的情況下的錯誤探測裝置去活裝置。因此避免安裝了該元件的系統(tǒng)的阻塞。根據(jù)特定特征，本發(fā)明目的的設備，如上簡述，包含診斷裝置，它適于計數(shù)由錯誤 探測裝置探測出的錯誤。這樣一種診斷裝置已知被稱為“BITE”。根據(jù)第二方面，本發(fā)明針對一種允許在輻射環(huán)境中使用可編程元件的方法，它包 含一在所述可編程元件中探測由于輻射造成的錯誤的步驟，一在錯誤探測時阻塞至少一個所述元件輸出的步驟，以及一校正所述錯誤的步驟。根據(jù)第三方面，本發(fā)明針對一種允許在輻射環(huán)境中使用實現(xiàn)了至少一個邏輯函數(shù) 的可編程元件的設備，它包括-通過使用在至少一個保存由至少一個所述邏輯函數(shù)使用的數(shù)據(jù)的備份的參考存 儲空間中保存的數(shù)據(jù)，在保存確實用于實現(xiàn)設備的每一個所述邏輯函數(shù)的數(shù)據(jù)的工作存儲 空間中探測錯誤的裝置，-阻塞所述元件的至少一個邏輯函數(shù)的至少一個輸出的裝置，在該輸出上，由所述 邏輯函數(shù)使用的數(shù)據(jù)中的錯誤被所述探測裝置探測出，和-校正在所述工作空間中探測出的每一個錯誤的裝置。根據(jù)特定特征，該阻塞裝置包含在緩沖存儲器中保存由該元件和/或由連接在該 元件和緩沖存儲器之間元件生成的數(shù)據(jù)的裝置。根據(jù)特定特征，該保存裝置擁有一段大于或等于錯誤探測裝置探測錯誤最大延時 的等待時間。根據(jù)特定特征，本發(fā)明目的的設備，如上簡述，包含錯誤連續(xù)性探測裝置和適于在 這樣探測出錯誤連續(xù)性的情況下，禁止使用包含連續(xù)錯誤的存儲區(qū)域的元件存儲區(qū)域去活
直ο根據(jù)特定特征，本發(fā)明目的的設備，如上簡述，包含錯誤連續(xù)性探測裝置，和在這 樣錯誤連續(xù)性探測的情況下，錯誤探測裝置的去活裝置。根據(jù)特定特征，錯誤連續(xù)性探測裝置包含適于計數(shù)錯誤探測裝置探測出的錯誤的 診斷裝置。根據(jù)特定特征，可編程元件不能讀取參考存儲空間。根據(jù)特定特征，本發(fā)明目的的設備，如上簡述，包含適于在未探測出錯誤的一個待 保護數(shù)據(jù)完整讀取周期之后對調工作存儲空間和參考存儲空間的對調裝置。根據(jù)特定特征，本發(fā)明的目標設備，如上簡述，包含一個適于在工作存儲空間中探 測出錯誤之后對調工作存儲空間和參考存儲空間的對調裝置。
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本發(fā)明第一和第三方面的目的設備的特定特征也分別是本發(fā)明第三和第一方面 的目的設備的特定特征。根據(jù)第四方面，本發(fā)明針對一種允許在輻射環(huán)境下使用實現(xiàn)至少一個邏輯函數(shù)的 可編程元件的方法，它包括-通過使用保存在至少一個保存由至少一個所述邏輯函數(shù)使用的數(shù)據(jù)的備份的參 考存儲空間中的數(shù)據(jù)，在存儲確實用于實現(xiàn)設備的每一個所述邏輯函數(shù)的數(shù)據(jù)的工作存儲 空間中探測錯誤的步驟，-阻塞所述元件的至少每一個邏輯函數(shù)的至少一個輸出的步驟，該輸出上，由所述 邏輯函數(shù)使用的數(shù)據(jù)中的錯誤在所述探測步驟中被探測出，以及-校正在所述工作空間中被探測出的每一個錯誤的步驟。根據(jù)第五方面，本發(fā)明旨在一種信息系統(tǒng)中可加載的計算機程序，所述程序包含 允許實施，如上簡述，在第一和第三方面中任一個方面所述的本發(fā)明目的的方法的指令。本發(fā)明第二至第五方面的目的方法、設備和計算機程序的優(yōu)勢、目的和特征與本 發(fā)明第一方面的目的設備的相似，如上簡述，它們不在此贅述。


本發(fā)明的其他優(yōu)勢、目的和特征將在以下結合附圖以非限制性實施例給出的描述 中清晰地顯出，其中一圖1，以示意圖形式，表示本發(fā)明目的的設備的一種具體實施方式
并且—圖2，以邏輯圖形式，表示在本發(fā)明目的的方法的一種具體實施方式
中實施的各步驟。
具體實施例方式如在圖1中觀察到，在本發(fā)明目的的設備的一種具體實施方式
下，可編程元件105 具有數(shù)據(jù)輸入110和數(shù)據(jù)輸出115，數(shù)據(jù)輸出115連接到具有數(shù)據(jù)輸出125的緩存。錯誤探 測和校正裝置130通過鏈接135被連接到元件105、緩存120和存儲器140，該存儲器本身 連接到元件105?？删幊淘?05，在所描述和表示的實施方式下，是基于RAM類型的FPGA，F(xiàn)PGA元 件的配置矩陣是來自RAM，換而言之易失存儲器技術的。元件105實現(xiàn)在電子或信息系統(tǒng) (未表示出)中已知類型的邏輯函數(shù)。這一元件105可具有由于元件105的輻射環(huán)境而造 成的二進制值改變或“位翻轉”的這些已改變的資源。數(shù)據(jù)輸入110表示元件105的邏輯函數(shù)數(shù)字輸入。數(shù)據(jù)輸出115表示元件105的 邏輯函數(shù)數(shù)字輸出。這些輸出，在由于元件105的輻射環(huán)境而造成的二進制值改變，或“位 翻轉”的情況下，可能被干擾。錯誤探測和校正裝置130適于在由于元件105的輻射環(huán)境而造成的二進制值改變 之后，探測元件105中突如其來的錯誤。這一錯誤探測和校正裝置130可利用，例如一重讀元件105的內(nèi)容并與存儲器140中保存的參考矩陣比較，如上所述 (“Readback” 回讀)，—或者由包含冗余數(shù)據(jù)的校驗碼，例如循環(huán)冗余碼CRC相對于它們參考的數(shù)據(jù)塊，的驗證。事實上，F(xiàn)PGA元件105上的SEU可能造成一個功能錯誤，而這一錯誤可能擴散到 輸出115和/或數(shù)據(jù)存儲器140上。為了減輕存儲器140中的數(shù)據(jù)變異問題，將其存儲空間分割成N個部分，一個工作 空間和N-I個參考空間。元件105無法接入?yún)⒖伎臻g，它因此只能“污染”存儲器140的工 作空間。錯誤探測和校正裝置130允許在FPGA元件105中探測錯誤、通過鏈接135和緩沖 區(qū)120阻塞輸出，并且管理元件140的工作和參考空間。一個受污染的工作空間暫時不被 激活，隨后可能重新變成一個參考空間(當，在校正錯誤后，在這一空間中再沒有連續(xù)和永 久錯誤時)。在每一個參考空間中，每一個待保護數(shù)據(jù)被一次寫入而探測和校正裝置130讀取 工作空間的每一個數(shù)值并且當它與對應的參考值不同時判定它是錯誤的。注意到，若能夠， 在連續(xù)周期中，容忍“η”個數(shù)量的單位錯誤或“位翻轉”，實現(xiàn)每一個二進制數(shù)據(jù)大于或等于 “η+l”個數(shù)量的備份。在元件105中待保護數(shù)據(jù)的一個完全讀周期之后，未探測出錯誤的情況下，將其 中邏輯函數(shù)所用的數(shù)據(jù)已被讀取的工作空間，與待保護數(shù)據(jù)的復制件已被保存其中的參考 空間之一，對調。同樣地，在工作空間中探測出錯誤后，將一個參考空間切換成工作空間。在各種變型中，探測和校正裝置用已知方式使用校驗碼以探測并且，在必要時，校 正錯誤數(shù)值。在這兩種情況下，在探測錯誤的時刻和校正錯誤的時刻，鏈接135傳送禁止讀取 緩存120的信號?？勺⒁獾?，探測和校正裝置130也能夠，基于存儲在存儲器140中的數(shù)據(jù)，對由于 原件105的矩陣的一部分或全部重新配置而被探測出的每個錯誤執(zhí)行校正。在完全重新配置的情況下，元件105的重新編程利用其參考矩陣進行。這是為了 校正錯誤并重新初始化系統(tǒng)。元件105的輸出數(shù)據(jù)則在一個對應于錯誤探測延時和系統(tǒng)重 啟延時總和的最大時段期間保持錯誤。在部分重新配置的情況下，在錯誤被探測出的區(qū)域，執(zhí)行矩陣的局部校正。這一重 新配置不要求系統(tǒng)的重新初始化。在校正之后，元件105恢復正常運行。元件105的輸出 數(shù)據(jù)則在一個對應于錯誤探測延時和局部校正延時總和的最大時段期間保持錯誤。緩存120允許在有限時長保存，或“緩沖存儲”，由元件105或由連接在緩存120和 元件105之間的元件生成的數(shù)據(jù)。優(yōu)選地是，數(shù)據(jù)在存儲器120中的存儲時長或等待時間， 大于或等于探測裝置130探測錯誤的最大延時。優(yōu)選地是，錯誤探測和校正裝置130適于探測元件105的配置矩陣區(qū)域是否具有 一個被更改(翻轉)的二進制數(shù)值。在這樣一種探測情況下，探測裝置能夠禁止這一存儲 區(qū)的使用，換而言之去活這一存儲區(qū)，或者能夠去活錯誤探測。在這兩種情況下，它涉及開 禁(d6bloquer)系統(tǒng)的運行。優(yōu)選地是，錯誤探測和校正裝置130適于計數(shù)錯誤并向SEU提供特別診斷(BITE)。雖然，在上述的本發(fā)明目的的設備的一種具體實施方式
的描述中，同一裝置130 同時實現(xiàn)以下功能
一探測可編程元件105中由于輻射造成的錯誤，一在探測出錯誤時，控制(controle )元件105的至少一個輸出的阻塞，并且一校正每一個探測出的錯誤，一校驗元件105的完全和部分重新配置，一探測錯誤的連續(xù)性，一在探測出錯誤連續(xù)性時，去活元件存儲區(qū)域以禁止使用包含連續(xù)錯誤的存儲區(qū) 域一在探測出錯誤連續(xù)性時，去活錯誤探測裝置，并且一在計數(shù)探測出的錯誤的同時進行診斷，這些功能在其他實施方式中能夠由多個裝置來實現(xiàn)。如在圖2上所見，為了實施本發(fā)明目的的方法的一種具體實施方式
，首先，以已知 的方式，執(zhí)行一個系統(tǒng)配置和啟動的步驟205。注意錯誤探測和/或校正是否使用至少一個 參考空間。從步驟205開始且當任何寫入待保護數(shù)據(jù)作時，在一個參考空間中執(zhí)行每一份復制。隨后，在步驟210期間，對元件105保存的待保護數(shù)據(jù)執(zhí)行一個驗證循環(huán)。在步驟 215期間，確定是否探測出至少一個錯誤。若無，進行到步驟210。若已探測出一個錯誤，在 步驟220期間，對來自元件105的數(shù)據(jù)輸出進行阻塞，這里通過阻塞對緩存120存儲的數(shù)據(jù) 的讀取。隨后，在步驟225期間，確定完全重新配置是否，根據(jù)由錯誤探測和校正裝置130 實施的錯誤校正模式，將被執(zhí)行。若是，返回到步驟205。若不是，在步驟230期間，例如通 過使用至少一個存儲在參考空間或一個部分重新配置中的參考值，執(zhí)行錯誤校正。隨后，在 步驟235期間，開禁在步驟220中被阻塞的輸出。該系統(tǒng)則重新運行。在步驟240期間，確定至少一個待保護二進制數(shù)據(jù)的持續(xù)損壞是否被察看到。若 不是，返回到步驟210。若是，在步驟245期間，著手開禁系統(tǒng)。例如，禁止使用包含連續(xù)錯 誤的數(shù)據(jù)的存儲區(qū)域或停止驗證該元件的內(nèi)容。因此，探測錯誤連續(xù)性并且去活元件的存 儲區(qū)域，以禁止包含至少一個連續(xù)錯誤的存儲區(qū)域的使用。因此禁止一部分無法修復的損 壞存儲器的使用。在變型中，當一個錯誤的連續(xù)性探測阻塞時，去活錯誤探測。如在閱讀上述描述時所理解的那樣，本發(fā)明的實施允許實現(xiàn)一個容錯并且使用對 輻射敏感的元件的電路架構，例如基于RAM的FPGA。
權利要求
1.一種允許在輻射環(huán)境中使用實現(xiàn)至少一個邏輯函數(shù)的可編程元件(10 的設備，其 特征在于包括通過使用在至少一個保存由至少一個所述邏輯函數(shù)使用的數(shù)據(jù)的備份的參考存儲空 間中保存的數(shù)據(jù)，在保存確實用于實現(xiàn)設備的每一個所述邏輯函數(shù)的數(shù)據(jù)的工作存儲空間 中探測錯誤的探測裝置(130)，阻塞所述元件的至少一個邏輯函數(shù)的至少一個輸出(125)的阻塞裝置(130，135， 120)，在該輸出上，由所述邏輯函數(shù)使用的數(shù)據(jù)中的錯誤被所述探測裝置探測出，和校正在所述工作空間中探測出的每一個錯誤的裝置(130，140)。
2.根據(jù)權利要求1所述的設備，其特征在于阻塞裝置(130，135，120)包括在緩沖存儲 器(120)中保存由所述元件和/或由連接在所述元件和所述緩沖存儲器之間的元件生成的 數(shù)據(jù)的保存裝置。
3.根據(jù)權利要求2所述的設備，其特征在于保存裝置具有大于或等于錯誤探測裝置探 測錯誤的最大延時的等待時間。
4.根據(jù)權利要求1至3中任一項所述的設備，其特征在于包括錯誤連續(xù)性探測裝置 (130)和元件存儲區(qū)域去活裝置(105)，去活裝置能夠在這種探測出錯誤連續(xù)性的情況下， 禁止使用包含連續(xù)錯誤的存儲區(qū)域。
5.根據(jù)權利要求1至4中任一項所述的設備，其特征在于它包括錯誤連續(xù)性探測裝置 (130)和在探測到錯誤連續(xù)性的情況下的錯誤探測裝置去活裝置(130)。
6.根據(jù)權利要求4或5所述的設備，其特征在于所述錯誤連續(xù)性探測裝置(130)包括 能夠計數(shù)由錯誤探測裝置探測出的錯誤的診斷裝置(130)。
7.根據(jù)權利要求1至6中任一項所述的設備，其特征在于可編程元件(10 不能訪問 參考存儲空間。
8.根據(jù)權利要求1至7中任一項所述的設備，其特征在于包括能夠在一個待保護數(shù)據(jù) 的未探測出錯誤的完整讀取周期之后對調工作存儲空間和參考存儲空間的對調裝置。
9.根據(jù)權利要求1至8中任一項所述的設備，其特征在于包括能夠在工作存儲空間中 探測出錯誤之后對調工作存儲空間和參考存儲空間的對調裝置。
10.一種允許在輻射環(huán)境中使用實現(xiàn)至少一個邏輯函數(shù)的可編程元件的方法，其特征 在于包括通過使用保存在至少一個保存由至少一個所述邏輯函數(shù)使用的數(shù)據(jù)的備份的參考存 儲空間中的數(shù)據(jù)，在存儲確實用于實現(xiàn)設備的每一個所述邏輯函數(shù)的數(shù)據(jù)的工作存儲空間 中探測錯誤的步驟010，215)，阻塞所述元件的至少每一個邏輯函數(shù)的至少一個輸出(125)的阻塞步驟020)，該輸 出上，由所述邏輯函數(shù)使用的數(shù)據(jù)中的錯誤在所述探測步驟中被探測出，以及校正在所述工作空間中被探測出的每一個錯誤的步驟(225，230)。
11.根據(jù)權利要求10所述的方法，其特征在于，在阻塞步驟(220)期間，在緩沖存儲器 (120)中保存由所述元件和/或由連接在所述元件和所述緩沖存儲器之間的元件生成的數(shù) 據(jù)。
12.根據(jù)權利要求10或11所述的方法，其特征在于包括探測錯誤連續(xù)性的步驟，和對于錯誤連續(xù)性探測的至少一部分，禁止使用包含連續(xù)錯誤的存儲區(qū)域的元件存儲區(qū) 域去活步驟(105)。
13.根據(jù)權利要求10至12中任一項所述的方法，其特征在于包括 探測錯誤連續(xù)性的步驟，和對于錯誤連續(xù)性探測的至少一部分，根據(jù)所探測出的錯誤的數(shù)量，去活錯誤探測裝置 的步驟。
14.根據(jù)權利要求10至13中任一項所述的方法，其特征在于包括在未探測出錯誤的待 保護數(shù)據(jù)完整讀取周期之后，對調工作存儲空間和參考存儲空間的步驟。
15.根據(jù)權利要求10至14中任一項所述的方法，其特征在于包括在工作存儲空間中探 測出錯誤之后，對調工作存儲空間和參考存儲空間的步驟。
全文摘要
一種允許使用在輻射環(huán)境中實現(xiàn)至少一個邏輯函數(shù)的可編程元件(105)的設備，其特征在于包括通過使用在至少一個保存由至少一個所述邏輯函數(shù)使用的數(shù)據(jù)的備份的參考存儲空間中保存的數(shù)據(jù)，在保存確實用于實現(xiàn)設備的每一個所述邏輯函數(shù)的數(shù)據(jù)的工作存儲空間中探測錯誤的裝置(130)，阻塞所述元件的至少一個邏輯函數(shù)的至少一個輸出的裝置(130，135，120)，在該輸出上，由所述邏輯函數(shù)使用的數(shù)據(jù)中的錯誤被所述探測裝置探測出，和校正在所述工作空間中探測出的每一個錯誤的裝置(130，140)。
文檔編號G06F11/10GK102084342SQ200980108969
公開日2011年6月1日 申請日期2009年3月12日 優(yōu)先權日2008年3月14日
發(fā)明者B·格里蒙邦特, S·哈左 申請人:空中客車運營公司