專利名稱：用于操作在正常工作期間保持恒定的邏輯值的掃描測(cè)試系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電集成電路測(cè)試領(lǐng)域。更具體而言，本發(fā)明涉及在掃描操作期間對(duì)邏輯值的操作有促進(jìn)作用的一種系統(tǒng)和方法，這些邏輯值在正常工作期間保持恒定。
背景技術(shù)：
電子系統(tǒng)和電路已經(jīng)對(duì)現(xiàn)代社會(huì)的進(jìn)步做出了巨大的貢獻(xiàn)，并且已經(jīng)被用于大量應(yīng)用中以實(shí)現(xiàn)有利的結(jié)果。大量的電子技術(shù)已經(jīng)在商業(yè)、科學(xué)、教育和娛樂的大部分領(lǐng)域里的分析和傳遞數(shù)據(jù)、思想和趨勢(shì)中促進(jìn)了生產(chǎn)率的提高和成本的降低，這些技術(shù)諸如數(shù)字計(jì)算機(jī)、計(jì)算器、音頻設(shè)備、視頻設(shè)備和電話系統(tǒng)。通常要對(duì)電子系統(tǒng)的元器件和設(shè)備進(jìn)行測(cè)試以確保電子系統(tǒng)為了實(shí)現(xiàn)預(yù)期的結(jié)果而正常運(yùn)轉(zhuǎn)。數(shù)字電子系統(tǒng)測(cè)試過程通常涉及到對(duì)施加給電子系統(tǒng)的元器件或設(shè)備的邏輯值的操作。數(shù)字電子系統(tǒng)常常包括在正常工作期間依賴于特定邏輯值的邏輯門。對(duì)一般恒定的邏輯值的操作通常提供較高的測(cè)試靈活性，但往往非常難以操作恒定的邏輯值。
在片上系統(tǒng)(SOC)設(shè)計(jì)中所包括的通用集成電路(IC)的復(fù)雜性已經(jīng)有了顯著地提高，并且內(nèi)裝自測(cè)試(BIST)診斷能力對(duì)于有效的電路測(cè)試、調(diào)試和維護(hù)是必需的?，F(xiàn)代BIST技術(shù)通常包括在IC中插入一個(gè)掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)。復(fù)雜電子系統(tǒng)和電路的掃描測(cè)試通常包括對(duì)用以刺激電路的某些方面(例如功能邏輯部件)的測(cè)試向量的應(yīng)用和對(duì)來自電路的結(jié)果輸出的觀察。通常，掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)包括掃描測(cè)試鏈(scan testchain)，而掃描測(cè)試鏈包括耦合在一起的掃描測(cè)試部件或設(shè)備(例如掃描測(cè)試單元)。掃描測(cè)試元件把測(cè)試向量傳遞給IC的部件并和用來執(zhí)行IC的非測(cè)試或正常工作的功能邏輯相互作用。通常，掃描測(cè)試單元被設(shè)計(jì)用來掃描或變換掃描測(cè)試信息(例如測(cè)試向量)經(jīng)掃描測(cè)試鏈到電路中的適當(dāng)位置，捕獲掃描測(cè)試信息，然后通過掃描測(cè)試單元變換信息輸出。
通常希望有大的掃描測(cè)試覆蓋，測(cè)試覆蓋越大，掃描測(cè)試系統(tǒng)和方法探測(cè)故障的能力就越強(qiáng)。邊界掃描測(cè)試是包括在典型的BIST方案中的一種非常通用的掃描測(cè)試方法。國際電氣與電子工程(IEEE)標(biāo)準(zhǔn)1149.1(也稱作聯(lián)合任務(wù)行動(dòng)小組(JTAG))邊界掃描適應(yīng)結(jié)構(gòu)是最流行的邊界掃描測(cè)試方案之一。擁有內(nèi)部掃描測(cè)試能力以提供更大的掃描測(cè)試覆蓋也是很重要的。
通常，借助依賴于特定邏輯值的邏輯門的掃描測(cè)試是相對(duì)有限的。依賴于特定邏輯值的傳統(tǒng)邏輯門輸入通常不允許其中由測(cè)試程序操作受約的輸入的所期望的測(cè)試活動(dòng)。它還可以中斷連接到它的其它邏輯部件的掃描測(cè)試。
發(fā)明概述所需要的是一種系統(tǒng)和方法，它促進(jìn)對(duì)依賴于邏輯門的輸入的邏輯值的掃描測(cè)試操作并確保門輸入所依賴的邏輯值在正常工作期間保持恒定。應(yīng)該支持帶有ATPG工具的集成電路部件的掃描測(cè)試，并且該系統(tǒng)和方法應(yīng)該適應(yīng)對(duì)現(xiàn)有掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)的利用。
本發(fā)明是一種系統(tǒng)和方法，它促進(jìn)對(duì)組合邏輯(例如邏輯門)的邏輯值輸入的掃描測(cè)試操作并確保組合邏輯輸入所依賴的邏輯值v在正常工作期間保持恒定。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，支持帶有ATPG工具的集成電路部件的掃描測(cè)試，并且該系統(tǒng)和方法適應(yīng)對(duì)現(xiàn)有的掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)的利用。在一種實(shí)施方案中本發(fā)明是一個(gè)恒定邏輯值操作掃描測(cè)試鏈，它包括組合電路、恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路和掃描測(cè)試元件。組合電路在正常模式期間執(zhí)行函數(shù)運(yùn)算。恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路提供在正常工作期間保持恒定并在掃描測(cè)試工作期間根據(jù)掃描測(cè)試輸入信息而改變的邏輯值輸出。掃描測(cè)試元件把測(cè)試向量傳遞給功能部件并和用來執(zhí)行正常工作的功能邏輯相互作用。在本發(fā)明的一種示例性實(shí)現(xiàn)方式中，組合電路是一個(gè)邏輯門，而且恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路的邏輯值輸出被耦合到該邏輯門的輸入。該邏輯門的邏輯值輸入在正常工作期間保持恒定，并在掃描測(cè)試工作期間根據(jù)掃描測(cè)試輸入信息對(duì)其進(jìn)行操作。
附圖簡(jiǎn)述

圖1是包括依賴于特定邏輯輸入值的邏輯門在內(nèi)的傳統(tǒng)IC的框圖。
圖2是本發(fā)明的一種實(shí)施方案，即恒定邏輯值操作掃描測(cè)試鏈的框圖示例。
圖3是本發(fā)明的一種實(shí)施方案，即恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路的框圖。
圖4是包括在本發(fā)明邏輯值產(chǎn)生電路的一種實(shí)施方案中的邏輯值產(chǎn)生電路的框圖。
圖5是說明本發(fā)明掃描測(cè)試可控受約(tied)門輸入系統(tǒng)的一種圖6是說明提供對(duì)邏輯值的粒度控制的本發(fā)明掃描測(cè)試可控受約門輸入系統(tǒng)的一種實(shí)施方案的框圖。
發(fā)明詳述下面將詳細(xì)論述本發(fā)明，即用于操縱在正常工作期間保持恒定的邏輯值的掃描測(cè)試系統(tǒng)和方法的優(yōu)選實(shí)施方案，其實(shí)例在附圖中得以說明。雖然將結(jié)合優(yōu)選實(shí)施方案描述本發(fā)明，但應(yīng)明白它們并不意在將本發(fā)明僅局限于這些實(shí)施方案。恰恰相反，本發(fā)明意在覆蓋可以包括在由所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明的范圍之內(nèi)的可替換對(duì)象、修改和等效方案。此外，在下面對(duì)本發(fā)明的詳細(xì)描述中，為了提供對(duì)本發(fā)明的充分理解將闡明許多特定細(xì)節(jié)。然而，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，顯然在沒有這些特定細(xì)節(jié)的情況下也可以實(shí)踐本發(fā)明。在其它實(shí)例中，沒有詳細(xì)描述眾所周知的方法、過程、部件和電路以不至于不必要地模糊當(dāng)前發(fā)明的各方面。
本發(fā)明的一種實(shí)施方案包括一種恒定邏輯值掃描測(cè)試操作系統(tǒng)和方法。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，恒定邏輯值掃描測(cè)試操作系統(tǒng)和方法與常規(guī)掃描測(cè)試方法相兼容。在測(cè)試工作期間恒定邏輯值掃描測(cè)試操作系統(tǒng)和方法允許對(duì)依賴于組合邏輯輸入的邏輯值輸出進(jìn)行操作。在正常工作期間恒定邏輯值掃描測(cè)試操作系統(tǒng)和方法提供恒定的邏輯值輸出。在本發(fā)明的一種示例性實(shí)現(xiàn)方式中，恒定邏輯值掃描測(cè)試操作系統(tǒng)和方法被以這樣的方式進(jìn)行配置即與一種ATPG工具所熟悉的并且易于由ATPG工具訪問的掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)兼容。
圖1是傳統(tǒng)IC 100的框圖，它是包括依賴于特定邏輯輸入值的邏輯門的傳統(tǒng)IC的一個(gè)實(shí)例。設(shè)計(jì)電路塊130、140、140和170分別包括邏輯門電路181到184，每個(gè)邏輯門電路包括一個(gè)或多個(gè)邏輯電路門。例如，設(shè)計(jì)電路塊130包括與門190。門輸入192和門輸出193被耦合到設(shè)計(jì)電路塊130中的其它門上(未示出)。門輸入191依賴于邏輯0值來源110。掃描測(cè)試輸入端口121和掃描測(cè)試輸出端口122通過掃描測(cè)試鏈128連接到掃描測(cè)試觸發(fā)器131、132；141、142；151、152；171、172上，這些觸發(fā)器分別被包括在設(shè)計(jì)電路塊130、140、150和170中。包括在邏輯門電路181到184中的邏輯門的門輸入依賴于邏輯0值來源110或邏輯1值來源115，而且在掃描測(cè)試期間不被掃描測(cè)試向量所操作。
圖2是本發(fā)明的一種實(shí)施方案，恒定邏輯值操作掃描測(cè)試鏈200的框圖說明。恒定邏輯值操作掃描測(cè)試鏈200包括恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路221、掃描測(cè)試元件225和掃描測(cè)試元件227。恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路221被耦合到掃描測(cè)試元件225，而掃描測(cè)試元件225又耦合到掃描測(cè)試元件227。恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路221提供在正常工作期間保持恒定而在掃描測(cè)試工作期間根據(jù)掃描測(cè)試輸入信息(例如掃描測(cè)試向量)而變化的邏輯值輸出，例如邏輯值輸出233或235。掃描測(cè)試元件225和227把測(cè)試向量，例如掃描測(cè)試輸入信號(hào)215傳遞給IC(未示出)的功能部件并和用來執(zhí)行IC的非測(cè)試或正常工作的功能邏輯相互作用。例如，掃描測(cè)試元件225和227包括掃描測(cè)試單元，它們通過掃描測(cè)試鏈掃描或變換掃描測(cè)試信息(例如測(cè)試向量)到正常功能電路，捕獲掃描測(cè)試信息，然后變換信息輸出，例如掃描測(cè)試輸出信號(hào)217。
在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，掃描測(cè)試模式信號(hào)210控制恒定邏輯值操作掃描測(cè)試鏈200的部件以正常功能模式或掃描測(cè)試模式進(jìn)行工作。當(dāng)掃描測(cè)試模式信號(hào)210控制恒定邏輯值操作掃描測(cè)試鏈200的部件以正常工作模式進(jìn)行工作時(shí)，恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路221以恒定的邏輯值維持一個(gè)邏輯值輸出，例如邏輯值輸出233或邏輯值輸出235。當(dāng)掃描測(cè)試模式信號(hào)210控制恒定邏輯值操作掃描測(cè)試鏈200的部件以掃描測(cè)試模式進(jìn)行操作時(shí)，恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路221根據(jù)掃描測(cè)試輸入信號(hào)215操作邏輯值輸出。
在本發(fā)明的一種示例性實(shí)現(xiàn)方式中，恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路221維持或操作邏輯值輸出233和邏輯值輸出235。當(dāng)掃描測(cè)試輸入信號(hào)215是邏輯0時(shí)，恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路221操作邏輯值輸出233變?yōu)檫壿?值，而邏輯值輸出235變?yōu)檫壿?值。當(dāng)掃描測(cè)試輸入信號(hào)215是邏輯1值時(shí)，恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路221操作邏輯值輸出233變?yōu)檫壿?值，而邏輯值輸出235變?yōu)檫壿?值。當(dāng)以正常功能模式工作時(shí)，恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路221在邏輯值輸出233和邏輯值輸出235上提供不變的恒定的邏輯值，而不管掃描測(cè)試輸入信號(hào)215的值。邏輯值輸出233和邏輯值輸出235被耦合到正常功能組合邏輯電路(例如，未示出的邏輯門電路)的輸入。
圖3是本發(fā)明的一種實(shí)施方案，恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路300的框圖。恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路300包括掃描觸發(fā)器(scanflop)301、邏輯值產(chǎn)生電路302、掃描測(cè)試模式輸入303、掃描測(cè)試輸入304、掃描測(cè)試輸出305、邏輯值輸出307和邏輯值輸出308。掃描觸發(fā)器301被耦合到掃描測(cè)試輸入304、掃描測(cè)試輸出305和邏輯值產(chǎn)生電路302，而邏輯值產(chǎn)生電路302被耦合到掃描測(cè)試模式輸入303、邏輯值輸出307和邏輯值輸出308。掃描觸發(fā)器301存儲(chǔ)由掃描測(cè)試輸入304傳遞的掃描測(cè)試輸入邏輯值。掃描測(cè)試輸出305傳遞來自掃描觸發(fā)器301的掃描測(cè)試輸出信號(hào)。邏輯值產(chǎn)生電路302確保在邏輯值輸出307和308上傳遞的邏輯值在正常工作模式期間保持恒定，并根據(jù)存儲(chǔ)在掃描觸發(fā)器301中的掃描測(cè)試輸入邏輯值在掃描測(cè)試工作模式期間提供對(duì)邏輯值的操作。掃描測(cè)試模式輸入303傳遞掃描測(cè)試模式信號(hào)，該信號(hào)控制邏輯值產(chǎn)生電路302何時(shí)以掃描測(cè)試工作模式工作、何時(shí)以正常工作模式工作。邏輯值輸出307和308傳遞耦合到(比如，依賴于)其它設(shè)備(未示出)的邏輯值。
掃描測(cè)試模式信號(hào)303作為恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路300的控制信號(hào)工作。掃描測(cè)試模式信號(hào)303在掃描測(cè)試操作期間被認(rèn)定(例如，邏輯1)。當(dāng)掃描測(cè)試模式信號(hào)303被認(rèn)定時(shí)，第一個(gè)邏輯值輸出和第二個(gè)邏輯值由存儲(chǔ)在掃描觸發(fā)器301中的邏輯值控制。當(dāng)掃描測(cè)試模式信號(hào)303是非認(rèn)定時(shí)，存儲(chǔ)在掃描觸發(fā)器301中的邏輯值不影響第一邏輯值輸出和第二邏輯值輸出。在本發(fā)明的一種示例性實(shí)現(xiàn)方式中，在正常工作期間第一邏輯值輸出是恒定的邏輯0值，第二邏輯值輸出是恒定的邏輯1值，與存儲(chǔ)在掃描觸發(fā)器301中的邏輯值無關(guān)。在掃描測(cè)試工作期間，如果存儲(chǔ)在掃描觸發(fā)器301中的邏輯值是邏輯0值，那么第一邏輯值輸出是邏輯0值，而第二邏輯值是邏輯1。當(dāng)測(cè)試模式信號(hào)303被認(rèn)定時(shí)(例如，在掃描測(cè)試工作期間)，如果存儲(chǔ)在掃描觸發(fā)器301中的邏輯值是邏輯1，那么第一邏輯值輸出是邏輯1值，而第二邏輯值是邏輯0值。
圖4是邏輯值產(chǎn)生電路302的一種實(shí)施方案，即邏輯值產(chǎn)生電路400的框圖。邏輯值產(chǎn)生電路400包括與門421、非門422和或門423。掃描觸發(fā)器301耦合到與門421，而與門421耦合到非門422和或門323。當(dāng)掃描測(cè)試模式信號(hào)303沒有被認(rèn)定時(shí)(例如邏輯0值)，與門421在邏輯值輸出307上提供恒定的第一邏輯值(例如，邏輯0)，而與存儲(chǔ)在掃描觸發(fā)器301中的邏輯值無關(guān)。在掃描測(cè)試操作期間(例如，當(dāng)掃描測(cè)試模式信號(hào)303被認(rèn)定時(shí))，與門421按照掃描觸發(fā)器301的輸出改變邏輯值輸出307上的邏輯值。當(dāng)掃描測(cè)試模式信號(hào)303沒有被認(rèn)定時(shí)，或門423在邏輯值輸出308上提供恒定的第二個(gè)邏輯值(例如，邏輯1)，而與存儲(chǔ)在掃描觸發(fā)器301中的邏輯值無關(guān)。在掃描測(cè)試操作期間或門423根據(jù)掃描觸發(fā)器301的輸出改變邏輯值輸出307上的邏輯值。非門422確保第二邏輯值是第一邏輯值的反相。
圖5是本發(fā)明的一種實(shí)施方案，即掃描測(cè)試可控受約門輸入系統(tǒng)500的框圖。傳統(tǒng)IC 500包括設(shè)計(jì)電路塊530、設(shè)計(jì)電路塊540、設(shè)計(jì)電路塊550、設(shè)計(jì)電路塊570和恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路510。恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路510耦合到設(shè)計(jì)電路塊530、設(shè)計(jì)電路塊540、設(shè)計(jì)電路塊550和設(shè)計(jì)電路塊570。設(shè)計(jì)電路塊530到570分別包括邏輯門電路581到584，這些邏輯門電路都包括一個(gè)或多個(gè)邏輯電路門。例如，邏輯門電路581包括與門590。門輸入592和門輸出593耦合到設(shè)計(jì)電路塊530中的其它門(未示出)上。門輸入591依賴于恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路510。
在本發(fā)明的一種示例性實(shí)現(xiàn)方式中，設(shè)計(jì)電路塊530到570中的每一個(gè)都包括有諸如包含在掃描測(cè)試鏈528中的掃描測(cè)試觸發(fā)器的掃描測(cè)試元件。例如設(shè)計(jì)電路塊530包括掃描測(cè)試觸發(fā)器(scan flipflop)531和532，設(shè)計(jì)電路塊540包括掃描測(cè)試觸發(fā)器541和542，設(shè)計(jì)電路塊550包括掃描測(cè)試觸發(fā)器551和552，設(shè)計(jì)電路塊570包括掃描測(cè)試觸發(fā)器571和572。掃描測(cè)試觸發(fā)器耦合到設(shè)計(jì)電路塊的其它部件(未示出)上，在掃描測(cè)試工作期間執(zhí)行掃描測(cè)試捕獲和變換，在正常工作期間執(zhí)行寄存器功能。包括在邏輯門電路581到584中的邏輯門的門輸入依賴于恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路510，并且在正常工作期間保持恒定，在測(cè)試工作期間由測(cè)試掃描向量在掃描測(cè)試輸出測(cè)試模式信號(hào)525的控制下根據(jù)掃描測(cè)試輸入信號(hào)521進(jìn)行操作。這些門的值可由掃描測(cè)度輸出信號(hào)522推出。
圖6是本發(fā)明的一種實(shí)施方案，即掃描測(cè)試可控受約門輸入系統(tǒng)600的框圖。掃描測(cè)試可控受約門輸入系統(tǒng)600類似于掃描測(cè)試可控受約門輸入系統(tǒng)500，但掃描測(cè)試可控受約門輸入系統(tǒng)600在對(duì)受約邏輯值的操作中提供了更大的粒度。掃描測(cè)試可控制受約門輸入系統(tǒng)600包括設(shè)計(jì)電路塊630、設(shè)計(jì)電路塊640、設(shè)計(jì)電路塊650和設(shè)計(jì)電路塊670。與掃描測(cè)試可控制受約門輸入系統(tǒng)500類似，設(shè)計(jì)電路塊630到670分別包括從681到684的一個(gè)邏輯門電路，每個(gè)邏輯門電路包括一個(gè)或多個(gè)邏輯電路門。另外，設(shè)計(jì)電路塊630到670分別包括恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路611到614。
與掃描測(cè)試可控制受約門輸入系統(tǒng)500類似，設(shè)計(jì)電路塊630到670包括有掃描測(cè)試元件，諸如包含在掃描測(cè)試鏈628之中的掃描測(cè)試觸發(fā)器(例如，掃描觸發(fā)器631、632、651、652、641、642、671、672)。這些掃描測(cè)試觸發(fā)器被耦合到設(shè)計(jì)電路塊的其它部件(未示出)上并在掃描測(cè)試工作期間執(zhí)行掃描測(cè)試捕獲和變換，在正常工作期間執(zhí)行寄存器功能。掃描測(cè)試操作電路611到614包含在掃描測(cè)試鏈628中。例如，掃描測(cè)試操作電路611耦合到掃描觸發(fā)器631和633，掃描測(cè)試操作電路613耦合到掃描觸發(fā)器651和653，掃描測(cè)試操作電路612耦合到掃描觸發(fā)器641和643，掃描測(cè)試操作電路614耦合到掃描觸發(fā)器671和673。掃描測(cè)試輸入信號(hào)621通過掃描測(cè)試鏈628耦合到設(shè)計(jì)電路塊630到670。
掃描測(cè)試操作電路611到614在對(duì)受約邏輯值的操作中提供了更大的粒度。掃描測(cè)試操作電路611到614被耦合到被包括在設(shè)計(jì)電路塊630、640、650和670中的邏輯門的門輸入上。例如，掃描測(cè)試操作電路611耦合到邏輯門電路681，掃描測(cè)試操作電路613耦合到邏輯門電路683，掃描測(cè)試操作電路614耦合到邏輯門電路684，掃描測(cè)試操作電路612耦合到邏輯門電路682。在正常工作期間掃描測(cè)試操作電路611到614分別向邏輯門電路681到684提供恒定的邏輯值。在掃描測(cè)試工作期間掃描測(cè)試操作電路611到614操作它們分別提供給邏輯門電路681到684的邏輯值。這是在掃描測(cè)試模式信號(hào)625的控制下發(fā)生的。像在門輸入系統(tǒng)500中一樣，根據(jù)掃描測(cè)試輸入信號(hào)621對(duì)邏輯值進(jìn)行操作并通過掃描測(cè)試輸出信號(hào)622輸出。
恒定邏輯可被描述為如下值掃描測(cè)試操作方法，這也是本發(fā)明的一種實(shí)施方案。恒定邏輯值掃描測(cè)試操作方法與常規(guī)的掃描測(cè)試方法兼容。在測(cè)試操作期間，恒定邏輯值掃描測(cè)試操作方法允許對(duì)依賴于組合邏輯輸入的邏輯值輸出進(jìn)行操作。在正常工作期間恒定邏輯值掃描測(cè)試操作方法提供恒定的邏輯值輸出。
第一步，控制耦合到組合邏輯的掃描測(cè)試元件以正常功能模式工作。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中利用掃描測(cè)試模式信號(hào)來控制掃描測(cè)試元件以正常功能模式操作。在恒定邏輯值掃描測(cè)試操作方法的一種示例性實(shí)現(xiàn)方式中，掃描測(cè)試元件是一個(gè)恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路(例如，恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路221)。
第二步，給組合邏輯的輸入提供邏輯值并在正常工作期間保持其恒定。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，該邏輯值被提供給了邏輯門的輸入。
在第三步中使連接到組合邏輯的掃描測(cè)試元件進(jìn)入掃描測(cè)試操作模式。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，根據(jù)測(cè)試模式指令信號(hào)使掃描測(cè)試元件進(jìn)入掃描測(cè)試模式。
第四步，在測(cè)試工作期間操作提供給組合邏輯輸入的邏輯值。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，根據(jù)掃描測(cè)試輸入信號(hào)對(duì)提供給組合邏輯(例如一個(gè)門)的輸入的邏輯值進(jìn)行操作。在本發(fā)明的一種示例性實(shí)現(xiàn)方式中，在測(cè)試操作期間利用對(duì)門的邏輯值輸入的操作來促進(jìn)對(duì)依賴于邏輯值的邏輯門的輸入的控制。
因而，本發(fā)明是一種系統(tǒng)和方法，它能促進(jìn)對(duì)組合邏輯(例如，一個(gè)邏輯門)的邏輯值輸入的掃描測(cè)試操作并確保組合邏輯輸入所依賴的邏輯值v在正常工作期間保持恒定。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，支持帶有ATPG工具的集成電路部件的掃描測(cè)試，而且該系統(tǒng)和方法還容許對(duì)現(xiàn)有的掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)的使用。
為了說明和描述起見已經(jīng)給出了對(duì)本發(fā)明的特定實(shí)施方案的以上描述。他們并不意在毫無遺漏的或者并不意在把本發(fā)明局限于所公開的精確形式上，而且顯而易見，按照以上講授很多更改和變體都是可能的。選擇并描述這些實(shí)施方案是為了最好地解釋本發(fā)明的原理和它的實(shí)際應(yīng)用，并由此使本領(lǐng)域的技術(shù)人員更好地利用本發(fā)明以及適用于特定用途設(shè)想的具有不同修改的不同實(shí)施方案。本發(fā)明的范圍由此在所附權(quán)利要求及其等價(jià)內(nèi)容限定。
權(quán)利要求
1.一種恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路，包括掃描觸發(fā)器(301)，適于存儲(chǔ)掃描測(cè)試輸入邏輯值；耦合到所述掃描觸發(fā)器的掃描測(cè)試輸入(304)，所述掃描測(cè)試輸入適于傳遞掃描測(cè)試輸入信號(hào)；耦合到所述掃描觸發(fā)器的掃描測(cè)試輸出(305)，所述掃描測(cè)試輸出適于傳遞掃描測(cè)試輸出信號(hào)；耦合到所述掃描觸發(fā)器的邏輯值產(chǎn)生電路(302)，所述邏輯值產(chǎn)生電路適于確保邏輯值在正常工作模式期間保持恒定，并在掃描測(cè)試工作模式期間根據(jù)所述掃描觸發(fā)器中存儲(chǔ)的所述掃描測(cè)試輸入邏輯值提供對(duì)所述邏輯值的操作；耦合到所述邏輯值產(chǎn)生電路的掃描測(cè)試模式輸入(303)，所述掃描測(cè)試模式輸入適于傳遞掃描測(cè)試模式信號(hào)，該信號(hào)控制所述邏輯值產(chǎn)生電路何時(shí)以掃描測(cè)試模式工作和何時(shí)以正常工作模式工作；以及耦合到所述邏輯值產(chǎn)生電路的邏輯值輸出(307)，所述邏輯輸出適于傳遞所述邏輯值。
2.權(quán)利要求1的恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路，包括耦合到所述邏輯值產(chǎn)生電路的多個(gè)邏輯值輸出(307和308)。
3.權(quán)利要求2的恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路，其中所述邏輯值產(chǎn)生電路包括與門(421)，適于在不以掃描測(cè)試模式工作時(shí)在第一邏輯值輸出上提供恒定的第一邏輯值而與存儲(chǔ)在所述掃描觸發(fā)器中的邏輯值無關(guān)，并且在掃描測(cè)試工作期間根據(jù)所述掃描觸發(fā)器的輸出改變所述第一值輸出上的邏輯值；耦合到所述與門的或門(423)，所述或門適于在以掃描測(cè)試模式工作時(shí)在第二邏輯值輸出上提供恒定的第二邏輯值而與存儲(chǔ)在所述掃描觸發(fā)器中的邏輯值無關(guān)，并在掃描測(cè)試工作期間根據(jù)所述掃描觸發(fā)器的輸出改變所述第二邏輯值輸出上的第二邏輯值；以及非門(422)，適于確保所述第二邏輯值是所述第一邏輯值的反相。
4.權(quán)利要求1的恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路，其中，在所述掃描測(cè)試模式信號(hào)(525)被認(rèn)定時(shí)所述邏輯值產(chǎn)生電路以掃描測(cè)試模式工作。
5.權(quán)利要求1的恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路，其中，所述邏輯值輸出被耦合到正常工作組合電路(530)的輸入。
6.權(quán)利要求1的恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路，其中，所述邏輯值輸出被耦合到邏輯門(581)的輸入。
7.一種恒定邏輯值操作掃描測(cè)試鏈，包括組合電路(530)，適于在正常模式期間執(zhí)行函數(shù)運(yùn)算；耦合到所述組合電路的恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路(221)，所述恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路適于提供在正常工作期間保持恒定并在掃描測(cè)試工作期間根據(jù)掃描測(cè)試輸入信息改變的邏輯值輸出；以及耦合到所述恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路的掃描測(cè)試元件(225)，所述掃描測(cè)試元件適于傳遞測(cè)試向量給功能部件并和用來執(zhí)行正常工作的功能邏輯相互作用。
8.權(quán)利要求7的恒定邏輯值操作掃描測(cè)試鏈，其中，掃描測(cè)試模式信號(hào)(210)控制所述恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路和所述掃描測(cè)試元件以掃描測(cè)試模式或正常工作模式工作。
9.權(quán)利要求7的恒定邏輯值操作掃描測(cè)試鏈，其中，所述恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路如權(quán)利要求1所限定的。
10.一種恒定邏輯值掃描測(cè)試操作方法，包括下列步驟控制耦合到組合邏輯(530)的掃描測(cè)試元件(510)以正常功能模式工作；提供邏輯值(511)給所述組合邏輯的輸入；在正常工作期間保持所述邏輯值恒定；使耦合到所述組合邏輯的所述掃描測(cè)試元件進(jìn)入掃描測(cè)試工作模式；以及在測(cè)試工作期間操作提供給所述組合邏輯的輸入的所述邏輯值。
11.權(quán)利要求10的恒定邏輯值掃描測(cè)試操作方法，進(jìn)一步包括下列步驟，利用掃描測(cè)試模式信號(hào)(525)來控制所述掃描測(cè)試元件以正常功能模式或掃描測(cè)試模式工作。
12.權(quán)利要求10的恒定邏輯值掃描測(cè)試操作方法，其中，所述掃描測(cè)試元件是一種恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路(510)。
13.權(quán)利要求10的恒定邏輯值掃描測(cè)試操作方法，其中，所述邏輯值被提供給邏輯門(581)的輸入。
14.權(quán)利要求10的恒定邏輯值掃描測(cè)試操作方法，其中，提供給所述組合邏輯的所述輸入的所述邏輯值根據(jù)掃描測(cè)試輸入信號(hào)(521)進(jìn)行操作。
15.權(quán)利要求10的恒定邏輯值掃描測(cè)試操作方法，進(jìn)一步包括下列步驟，在測(cè)試工作期間利用所述邏輯值輸入來促進(jìn)對(duì)邏輯門(581)的一個(gè)輸入的控制。
全文摘要
本發(fā)明是一種系統(tǒng)和方法，由在正常工作期間保持邏輯值恒定并在掃描測(cè)試工作期間促進(jìn)對(duì)邏輯值的操作。在一種實(shí)施方案中本發(fā)明是一種恒定邏輯值操作掃描測(cè)試鏈，它包括組合電路、恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路和掃描測(cè)試元件。組合電路在正常工作期間執(zhí)行函數(shù)運(yùn)算。恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路提供在正常工作期間保持恒定并在掃描測(cè)試操作期間根據(jù)掃描測(cè)試輸入信息而改變的邏輯值輸出。掃描測(cè)試元件傳遞測(cè)試向量給功能部件并和用來執(zhí)行正常工作的功能邏輯相互作用。在本發(fā)明的一種示例性實(shí)現(xiàn)方式中，組合電路是一個(gè)邏輯門，而且恒定邏輯值掃描測(cè)試操作電路的邏輯值輸出被耦合到該邏輯門的輸入。該邏輯門的邏輯值輸入在正常工作期間保持恒定，并且在掃描測(cè)試操作期間根據(jù)掃描測(cè)試輸入信息對(duì)其進(jìn)行操作。
文檔編號(hào)G01R31/28GK1717589SQ01804472
公開日2006年1月4日 申請(qǐng)日期2001年10月2日 優(yōu)先權(quán)日2000年10月2日
發(fā)明者R·塞蒂爾 申請(qǐng)人:皇家菲利浦電子有限公司