專利名稱：薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試裝置，尤其涉及一種用于吸附鍵帽的吸盤。
背景技術(shù)：
薄型鍵盤包括鍵板和鍵帽，在鍵板上設(shè)置有電路結(jié)構(gòu)及按鍵，鍵帽通常通過四角的卡扣結(jié)構(gòu)卡合在鍵板上、并位于相應(yīng)的按鍵上方；由于薄型鍵盤的結(jié)構(gòu)限制，卡扣結(jié)構(gòu)較為微小，因此容易出現(xiàn)卡扣不良，比如未卡合上、卡扣力度不足等，反應(yīng)在鍵盤的整體結(jié)構(gòu)上即鍵帽不齊平、鍵帽脫落、按鍵不順滑等。為了降低甚至避免鍵帽的卡扣不良，需要在鍵帽安裝在鍵板上后，對鍵帽進(jìn)行拉拔力測試，即使用一定大小的垂直于鍵板的力向外拉鍵帽，鍵帽四角的卡扣結(jié)構(gòu)卡依然卡扣良好則表示鍵帽卡扣良好?，F(xiàn)在對鍵帽進(jìn)行拉拔力測試主要有兩種方式一是通過人工使用手指一個(gè)一個(gè)地拽拉鍵帽對鍵帽進(jìn)行拉拔力測試，由于是人工檢測，而鍵盤上的鍵帽數(shù)量較多，因此容易出現(xiàn)漏檢情況，另外人工也難以保證對每個(gè)鍵帽施加的力恒定；二是通過真空泵配合吸盤吸附鍵帽表面對鍵帽施加一定的拉力進(jìn)行拉拔力測試，這種檢測方式使用電氣化控制能夠避免漏檢的情況，另外對鍵帽施加的力也能夠保持很定，但是現(xiàn)在使用的吸盤均為圓形吸盤，而鍵帽為方形結(jié)構(gòu)，因此鍵帽被吸附的表面就十分有限(最大范圍為以鍵帽短邊長度為外徑的圓環(huán)形區(qū)域)，并且鍵帽的測試力著力范圍在鍵帽表面被圓形吸盤吸附的圓環(huán)形區(qū)域，而鍵帽的卡扣點(diǎn)卻在其四角，因此鍵帽的測試就不夠真實(shí)。

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明目的為了克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，本發(fā)明提供一種薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，能夠增大鍵帽在進(jìn)行拉拔力測試時(shí)的被吸附表面積，同時(shí)能夠提高鍵帽測試的真實(shí)性。技術(shù)方案為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，該吸盤包括一體成型的固定部分和吸附部分，所述吸附部分為中間凹陷的矩形盤結(jié)構(gòu)，所述固定部分上設(shè)置有連通吸附部分的中間凹陷處的抽氣孔。上述結(jié)構(gòu)的吸盤，使用方法與一般的吸盤相同，首先將吸盤罩在鍵帽的表面上，然后通過抽氣孔抽取掉吸附部分中間凹陷處的空氣，這樣由于大氣壓強(qiáng)的作用，使得吸附部分與鍵帽吸合，拉拔吸盤就相當(dāng)于拉拔鍵帽，這樣就可以進(jìn)行鍵帽進(jìn)行拉拔力測試。與現(xiàn)有的圓形吸盤不同的是，當(dāng)本案的吸盤吸附在鍵帽上時(shí)，鍵帽被吸附的表面近似為一個(gè)矩形環(huán)，一方面，由于鍵帽的表面也為矩形，因此通過設(shè)計(jì)吸盤吸附部分的長度和寬度就可以實(shí)現(xiàn)增大鍵帽被吸附表面的目的，另一方面，鍵帽的測試力著力范圍在鍵帽表面被吸附的矩形環(huán)區(qū)域，而鍵帽的卡扣點(diǎn)在其四角，因此能夠更真實(shí)地對鍵帽進(jìn)行拉拔力測試。該吸盤也可以用于進(jìn)行薄型鍵盤的鍵帽彈力測試。
優(yōu)選的，所述吸附部分的邊緣四個(gè)角部采用圓角過渡，這樣能夠更有利于吸附的快速密閉性。所述吸附部分可以為適配正方形鍵帽的正方形盤結(jié)構(gòu)，以最大限度地增加鍵帽被吸附的表面，一般鍵盤的字母鍵、數(shù)字鍵使用的鍵帽為正方形鍵帽，我們稱該類吸盤為正方形結(jié)構(gòu)吸盤。所述吸附部分可以為適配長方形鍵帽的長方形盤結(jié)構(gòu)，以最大限度地增加鍵帽被吸附的表面，一般鍵盤的功能鍵使用的鍵帽為長方形鍵帽，我們稱該類吸盤為長方形結(jié)構(gòu)吸盤。優(yōu)選的，所述吸附部分的邊緣一周向內(nèi)Imm處的肉厚為O. 2^0. 3_，實(shí)驗(yàn)證明這對吸附的密閉性更有利。優(yōu)選的，所述抽氣孔為倒扣的梯形結(jié)構(gòu)，以方便金屬件的安裝，比如同時(shí)對吸附施加拉拔力的抽氣頭的安裝等。有益效果本發(fā)明提供的薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，能夠增大鍵帽在進(jìn)行拉拔力測試時(shí)的被吸附表面積，同時(shí)能夠提高鍵帽測試的真實(shí)性。


圖1為正方形結(jié)構(gòu)吸盤的立體結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為正方形結(jié)構(gòu)吸盤的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為正方形結(jié)構(gòu)吸盤的側(cè)視結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為正方形結(jié)構(gòu)吸盤的正視結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為長方形結(jié)構(gòu)吸盤的立體結(jié)構(gòu)示意圖；圖6為長方形結(jié)構(gòu)吸盤的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；圖7為長方形結(jié)構(gòu)吸盤的A-A向剖視圖；圖8為長方形結(jié)構(gòu)吸盤的側(cè)視結(jié)構(gòu)示意圖；圖9為長方形結(jié)構(gòu)吸盤的正視結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作更進(jìn)一步的說明。薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，該吸盤包括一體成型的固定部分I和吸附部分2，所述吸附部分2為中間凹陷的矩形盤結(jié)構(gòu)，所述固定部分I上設(shè)置有連通吸附部分2的中間凹陷處的抽氣孔3，所述抽氣孔3為倒扣的梯形結(jié)構(gòu)；所述吸附部分2的邊緣四個(gè)角部采用圓角過渡，且吸附部分2的邊緣一周向內(nèi)Imm處的肉厚為O. 2^0. 3mm ;為保證吸附均勻，最好設(shè)計(jì)該吸盤結(jié)構(gòu)為在任一橫截面均勻前后對稱且左右對稱的結(jié)構(gòu)。如圖1到圖4所示為正方形結(jié)構(gòu)吸盤的示意圖，所述吸附部分2為適配正方形鍵帽的正方形盤結(jié)構(gòu)，如圖所示，該案的固定部分I為正方形，抽氣孔3可以為圓柱形，也可以為方形。如圖5到圖9所示為正方形結(jié)構(gòu)吸盤的示意圖，所述吸附部分2為適配長方形鍵帽的長方形盤結(jié)構(gòu)，如圖所示，該案的固定部分I近似為長方形，為了增大抽氣孔3內(nèi)的容積，使得配件能夠插入到抽氣孔3內(nèi)并正常工作，設(shè)計(jì)固定部分I的寬度方向增加了凸起。
以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，其特征在于該吸盤包括一體成型的固定部分(1)和吸附部分(2)，所述吸附部分(2)為中間凹陷的矩形盤結(jié)構(gòu)，所述固定部分(1)上設(shè)置有連通吸附部分(2)的中間凹陷處的抽氣孔(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，其特征在于所述吸附部分(2)的邊緣四個(gè)角部采用圓角過渡。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，其特征在于所述吸附部分(2)為適配正方形鍵帽的正方形盤結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，其特征在于所述吸附部分(2)為適配長方形鍵帽的長方形盤結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，其特征在于所述吸附部分(2)的邊緣一周向內(nèi)Imm處的肉厚為O. 2 O. 3mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，其特征在于所述抽氣孔(3)為倒扣的梯形結(jié)構(gòu)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，該吸盤包括一體成型的固定部分和吸附部分，所述吸附部分為中間凹陷的矩形盤結(jié)構(gòu)，所述固定部分上設(shè)置有連通吸附部分的中間凹陷處的抽氣孔。本發(fā)明提供的薄型鍵盤的鍵帽拉拔力測試用吸盤，能夠增大鍵帽在進(jìn)行拉拔力測試時(shí)的被吸附表面積，同時(shí)能夠提高鍵帽測試的真實(shí)性。
文檔編號F16B47/00GK103062205SQ20131000790
公開日2013年4月24日 申請日期2013年1月9日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月9日
發(fā)明者劉利剛 申請人:昆山鴻志犀自動(dòng)化機(jī)電設(shè)備有限公司