專利名稱：用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種支撐裝置，特別涉及一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架。
背景技術：
校準瞬變電磁場的場均勻性時，通常需要應用校準系統(tǒng)來測試多個位置點。校準瞬變電磁場的場均勻性時，不但需要支架支撐和固定測試探頭，而且需要通過支架調節(jié)測試探頭的位置。具體地，校準瞬變電磁場的場均勻性時，通常需要通過調節(jié)支架來改變探頭的高度，甚至需要通過移動支架實現探頭位置的改變?，F有技術中的支架在用于校準瞬變電磁場的場均勻性時非常不便，校準速度緩慢。
目前，非常需要一種用于快速校準瞬變電磁場的場均勻性的新型支架。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是提供一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架。本發(fā)明提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架包括支撐桿、定位環(huán)、旋轉盤、旋鈕和測試桿，所述定位環(huán)設于所述支撐桿的頂端，所述定位環(huán)的內周側設有多個凹槽，所述定位環(huán)的中心設有至少ー個連接鍵，每個所述連接鍵的一端與所述旋鈕固接，每個所述連接鍵的另一端與定位鍵鉸接，所述旋轉盤的ー側設有外徑小于所述定位環(huán)內徑的凸緣，所述凸緣上設有與所述定位鍵配合的缺ロ，所述旋轉盤的設有所述凸緣的一側的中心設有轉軸，所述凸緣穿進所述定位環(huán)，且所述定位鍵能夠穿過所述缺ロ，所述旋鈕安裝于所述轉軸上，且所述旋鈕能夠繞所述轉軸轉動，所述測試桿固接于所述旋轉盤的與所述凸緣相対的ー側，所述測試桿上設有至少ー個探頭固定裝置。優(yōu)選地，所述連接鍵的一端設有第一螺孔，所述旋鈕上設有與所述第一螺孔配合的第二螺孔，所述連接鍵通過所述第一螺孔和所述第二螺孔與所述旋鈕固接。優(yōu)選地，所述連接鍵的另一端設有不帶螺紋的通孔，所述連接鍵通過所述通孔與所述定位鍵鉸接。優(yōu)選地，所述定位環(huán)上設有固定座，所述定位環(huán)通過所述固定座固定于所述支撐桿的頂端。優(yōu)選地，所述支架還包括與支撐桿的底端固接的底座。優(yōu)選地，所述支撐桿的高度可調。 優(yōu)選地，所述測試桿的長度可調。優(yōu)選地，所述探頭固定裝置設于所述測試桿的末端和/或中間。本發(fā)明具有如下有益效果(I)當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)中采用所述支架時，能夠使校準速度明顯加快；(2)所述支架對探頭的位置和角度的調節(jié)精度高；
(3)所述支架制作成本低，使用方便。


圖I為本發(fā)明實施例提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架的示意圖；圖2為本發(fā)明實施例提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架的定位環(huán)2、旋轉盤3和旋鈕4的連接示意圖；圖3為旋鈕4被沿逆時針方向旋轉時定位環(huán)2的俯視圖；圖4為停止旋轉旋鈕4且測試桿5的位置固定時定位環(huán)2的俯視圖。
具體實施例方式下面結合附圖及實施例對本發(fā)明的發(fā)明內容作進ー步的描述。本發(fā)明提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架包括支撐桿I、定位環(huán)2、旋轉盤3、旋鈕4、測試桿5和底座6，如圖I所示。定位環(huán)2設于支撐桿I的頂端。在本實施例中，定位環(huán)2上設有固定座24,定位環(huán)2通過固定座24固定于支撐桿I的頂端。支撐桿I的底端與底座6固接。定位環(huán)2的內周側設有多個凹槽21，定位環(huán)2的中心設有至少ー個連接鍵22，每個連接鍵22的一端與旋鈕4固接，每個連接鍵22的另一端與定位鍵23鉸接，如圖2所示。在本實施例中，定位環(huán)2的中心設有例如對稱分布的四個連接鍵22。在本實施例中，每個連接鍵22的一端設有第一螺孔221，旋鈕4上設有與第一螺孔221配合的第二螺孔41，連接鍵22通過第一螺孔221和第二螺孔41與旋鈕4固接。每個連接鍵22的另一端設有不帶螺紋的通孔222，連接鍵22通過通孔222與定位鍵23鉸接。旋轉盤3的一側設有外徑小于定位環(huán)2內徑的凸緣31，凸緣31上設有與定位鍵23配合的缺ロ32。旋轉盤3的設有凸緣31的ー側的中心設有轉軸33，凸緣31穿進定位環(huán)2，且定位鍵23能夠穿過缺ロ 32，旋鈕4安裝于轉軸33上，且旋鈕4能夠繞轉軸33轉動。測試桿5固接于旋轉盤3的與凸緣31相対的ー側，測試桿5上設有至少ー個探頭固定裝置51。探頭固定裝置51設于測試桿5的末端和/或中間，用于固定探頭。在本實施例中，測試桿5的末端設有例如一個探頭固定裝置51。在本實施例中，支撐桿I的高度例如可調，測試桿5的長度例如可調。如圖3所示，當旋鈕4被沿例如逆時針方向旋轉時,旋鈕4帶動連接鍵22沿逆時針方向轉動，連接鍵22進而帶動定位鍵23從凹槽21內脫出并向靠近定位環(huán)2中心的方向穿過旋轉盤3的缺ロ 32，之后，旋鈕4帶動旋轉盤3沿逆時針方向轉動，旋轉盤3進而帶動測試桿5沿逆時針方向轉動。旋鈕4也可以被沿順時針方向轉動。旋鈕4被沿順時針方向旋轉時的情況與旋鈕4被沿逆時針方向旋轉時的情況類似。當通過旋轉旋鈕4使測試桿5到達測試位置時，停止旋轉旋鈕4，定位鍵23向遠離定位環(huán)2中心的方向穿過旋轉盤3的缺ロ 32進入凹槽21內，且定位鍵23與連接鍵22成一條直線，旋轉盤3的位置被定位鍵23固定，進而使得測試桿5的位置被固定。當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)中采用所述支架時，能夠使校準速度明顯加快。所述支架對探頭的位置和角度的調節(jié)精度高。所述支架制作成本低，使用方便。應當理解，以上借助優(yōu)選實施例對本發(fā)明的技術方案進行的詳細說明是示意性的而非限制性的。本領域的普通技術人員在閱讀本發(fā)明說明書的基礎上可以對各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質脫離本發(fā)明各實施例技術方案的精神和范圍。·
權利要求
1.用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，該支架包括支撐桿(I)、定位環(huán)(2)、旋轉盤(3)、旋鈕(4)和測試桿(5)，所述定位環(huán)(2)設于所述支撐桿(I)的頂端，所述定位環(huán)(2)的內周側設有多個凹槽(21)，所述定位環(huán)(2)的中心設有至少ー個連接鍵(22)，每個所述連接鍵(22)的一端與所述旋鈕(4)固接，每個所述連接鍵(22)的另一端與定位鍵(23)鉸接，所述旋轉盤(3)的一側設有外徑小于所述定位環(huán)(2)內徑的凸緣(31)，所述凸緣(31)上設有與所述定位鍵(23)配合的缺ロ(32)，所述旋轉盤(3)的設有所述凸緣(31)的ー側的中心設有轉軸(33)，所述凸緣(31)穿進所述定位環(huán)(2)，且所述定位鍵(23)能夠穿過所述缺ロ(32)，所述旋鈕(4)安裝于所述轉軸(33)上，且所述旋鈕(4)能夠繞所述轉軸(33)轉動，所述測試桿(5)固接于所述旋轉盤(4)的與所述凸緣(31)相對的ー側，所述測試桿(5)上設有至少ー個探頭固定裝置(51)。
2.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述連接鍵(22)的一端設有第一螺孔(221)，所述旋鈕(4)上設有與所述第一螺孔(221)配合的第二螺孔(41)，所述連接鍵(22)通過所述第一螺孔(221)和所述第二螺孔(41)與所述旋鈕(4)固接。
3.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述連接鍵(22)的另一端設有不帶螺紋的通孔(222)，所述連接鍵(22)通過所述通孔(222)與所述定位鍵(23)鉸接。
4.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述定位環(huán)(2)上設有固定座(24)，所述定位環(huán)(2)通過所述固定座(24)固定于所述支撐桿⑴的頂端。
5.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述支架還包括與支撐桿(I)的底端固接的底座(6)。
6.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述支撐桿(I)的高度可調。
7.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述測試桿(5)的長度可調。
8.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，其特征在于，所述探頭固定裝置(51)設于所述測試桿(5)的末端和/或中間。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型支架，該支架包括支撐桿(1)、定位環(huán)(2)、旋轉盤(3)、旋鈕(4)和測試桿(5)，定位環(huán)(2)設于支撐桿(1)的頂端，定位環(huán)(2)的內周側設有多個凹槽(21)，定位環(huán)(2)的中心設有至少一個連接鍵(22)，每個連接鍵(22)的一端與旋鈕(4)固接，每個連接鍵(22)的另一端與定位鍵(23)鉸接，旋轉盤(3)的一側設有外徑小于定位環(huán)(2)內徑的凸緣(31)，凸緣(31)上設有與定位鍵(23)配合的缺口(32)，旋轉盤(3)的中心設有轉軸(33)，凸緣(31)穿進定位環(huán)(2)，且定位鍵(23)能夠穿過缺口(32)，旋鈕(4)安裝于轉軸(33)上，且旋鈕(4)能夠繞轉軸(33)轉動，測試桿(5)固接于旋轉盤(4)的一側。當校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)中采用所述支架時，能夠使校準速度明顯加快。
文檔編號F16M11/16GK102840429SQ20121030864
公開日2012年12月26日 申請日期2012年8月27日 優(yōu)先權日2012年8月27日
發(fā)明者姚利軍, 沈濤, 黃建領 申請人:北京無線電計量測試研究所