專利名稱：描繪地下儲層中烴類產(chǎn)氣帶的特征的系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一般來說，本發(fā)明涉及描繪地下儲層中烴類產(chǎn)氣帶的特征的系統(tǒng)和方法，確切地說，涉及頁巖氣儲層中凈產(chǎn)帶的識別和分類的方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
“凈產(chǎn)帶”可以用于描繪商業(yè)上關(guān)注的多孔、可滲透的烴類氣儲層的特征?？焖贉?zhǔn)確識別井中的凈產(chǎn)帶、這些凈產(chǎn)帶的分類、這些凈產(chǎn)帶的測繪以及在最佳凈產(chǎn)帶內(nèi)布置水平井眼是天然氣勘探和開發(fā)中的一些最重要任務(wù)。關(guān)于頁巖氣田尤其是這種情況，其中富含有機物帶的識別和分類方法的重要性增加了。在許多情況下，現(xiàn)有方法僅僅適用于已經(jīng)應(yīng)用它們的特定地層，而對新區(qū)域的勘探和開發(fā)不具有一般的實用性。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，描繪地下儲層中烴類產(chǎn)氣帶的特征的計算機實施的方法包括:基于與所述儲層有關(guān)的測井?dāng)?shù)據(jù)確定低硫帶(sweet zone)指標(biāo),基于所述測井?dāng)?shù)據(jù)確定巖石性質(zhì)，根據(jù)所述低硫帶指標(biāo)和所述巖石性質(zhì)導(dǎo)出凈產(chǎn)帶的一個或多個類，以及輸出所述凈產(chǎn)帶以標(biāo)識所述地下儲層內(nèi)的受關(guān)注區(qū)域。通過計算歸一化的中子密度分離和使用所述計算的歸一化的密度分離和測井?dāng)?shù)據(jù)，能夠確定所述低硫帶指標(biāo)。按照所述測井?dāng)?shù)據(jù)確定的所述巖石性質(zhì)可以包括總含水飽和度、吸附氣體飽和度、氣體總量、孔隙度、水力壓裂的傾向、所述總含水飽和度的不確定性等級、所述氣體總量的不確定性等級以及所述孔隙度和氣體總量的基線。所述凈產(chǎn)帶的一個或多個類可以包括基于所述低硫帶指示和所述巖石性質(zhì)描繪其特征的第一類、第二類和第三類凈產(chǎn)帶。在某實施例中，描繪地下儲層中烴類氣體凈產(chǎn)帶的特征的系統(tǒng)包括:用于提供表示所述地下儲層物理特征的數(shù)據(jù)的設(shè)備；計算機處理器，與所述設(shè)備通信并且被配置為接收所述數(shù)據(jù)以及響應(yīng)所述數(shù)據(jù)而執(zhí)行計算機可執(zhí)行代碼，所述計算機可執(zhí)行代碼包括低硫帶指標(biāo)模塊，用于根據(jù)所述數(shù)據(jù)識別潛在的富含有機物帶，巖石性質(zhì)模塊用于根據(jù)所述數(shù)據(jù)計算巖石性質(zhì)，以及凈產(chǎn)帶識別模塊，用于根據(jù)所述低硫帶指標(biāo)和所述巖石性質(zhì)識別凈產(chǎn)帶的一個或多個類。所述系統(tǒng)還包括用戶接口和顯示器。提供以上發(fā)明內(nèi)容部分是為了用簡化的形式引入在以下詳細(xì)說明部分中進(jìn)一步說明的若干選定概念。本發(fā)明內(nèi)容并非試圖標(biāo)識所述權(quán)利要求主題的關(guān)鍵特征或本質(zhì)特征，也并非試圖用于限制所述權(quán)利要求主題的范圍。不僅如此，所述權(quán)利要求主題不限于解決在本公開的任何部分中指出的任何或全部缺點的若干實施方案。


關(guān)于以下說明、待批準(zhǔn)權(quán)利要求書和附圖，本發(fā)明的這些和其他特征將變得更好
理解，其中:圖1是流程圖，展示了根據(jù)本發(fā)明實施例的方法；圖2是流程圖，展示了根據(jù)本發(fā)明實施例確定低硫帶指標(biāo)的步驟；圖3示意地展示了執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明實施例的方法的系統(tǒng)。
具體實施例方式本發(fā)明可以在系統(tǒng)和由計算機執(zhí)行的計算機方法的一般語境中介紹和實施。這樣的計算機可執(zhí)行指令可以包括若干程序、例程、對象、組件、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和計算機軟件技術(shù)，能夠用于執(zhí)行具體的任務(wù)和處理抽象的數(shù)據(jù)類型。本發(fā)明的軟件實施可以以不同的語言編寫，在各種各樣的計算平臺和環(huán)境中應(yīng)用。應(yīng)當(dāng)認(rèn)識到，本發(fā)明的范圍和基本原理不限于任何具體的計算機軟件技術(shù)。不僅如此，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到，使用硬件和軟件配置的任何一種或結(jié)合都可以實踐本發(fā)明，包括但是不限于具有單和/或多計算機處理器的系統(tǒng)、手持設(shè)備、可編程的消費者電子設(shè)備、小型計算機、大型計算機等。本發(fā)明還可以在分布式計算環(huán)境中實施，其中任務(wù)由通過一個或多個數(shù)據(jù)通信網(wǎng)絡(luò)鏈接的服務(wù)器或其他處理設(shè)備執(zhí)行。在分布式計算環(huán)境中，在包括存儲器存儲設(shè)備的本地和遠(yuǎn)程計算機存儲介質(zhì)都可以有程序模塊。同樣，計算機處理器使用的制成品比如⑶、預(yù)錄制磁盤或其他等同設(shè)備，可以包括計算機程序存儲介質(zhì)及其上記錄的程序裝置，用于指揮計算機處理器促進(jìn)本發(fā)明的實施和實踐。這樣的設(shè)備和制成品同樣落入本發(fā)明的實質(zhì)和范圍之內(nèi)?，F(xiàn)在參考附圖，將介紹本發(fā)明的實施例。本發(fā)明能夠以無數(shù)種方式實施，包括例如作為系統(tǒng)(包括計算機處理系統(tǒng))、方法(包括計算機實施的方法)、裝置、計算機可讀介質(zhì)、計算機程序產(chǎn)品、圖形用戶界面、網(wǎng)絡(luò)入口或者有形地固定在計算機可讀存儲器中的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。以下討論了本發(fā)明的幾個實施例。附圖僅僅展示了本發(fā)明的典型實施例，所以不應(yīng)當(dāng)視為對其范圍和廣度的限制。本發(fā)明涉及描繪烴類的產(chǎn)氣帶的特征并且，作為實例而不是限制，能夠被用于評估頁巖層以判斷它們是否有很可能包含顯著量的有機物質(zhì)，從而充當(dāng)烴類資源的良好來源，以及評估允許烴類資源通過井眼采出的巖石性質(zhì)。在頁巖氣儲層中，可以考慮的兩種巖石性質(zhì)要素是巖石的氣體容量和巖石力學(xué)性質(zhì)。描繪地層的特征的一種方法是沿著穿透地層的井眼進(jìn)行特征測量，或者在鉆井操作期間或者在之后，即測井。測井包括許多技術(shù)，例如包括聲波測量、密度測量、電阻率/電導(dǎo)率測量、超聲、NMR、中子、鈾濃度和放射性擴散。這種類型的井眼數(shù)據(jù)常常被用于對直接檢驗的巖心收集進(jìn)行替代或補充。按照慣例，測井的井眼數(shù)據(jù)由解釋人員分析以便評價地下地質(zhì)建造，允許做出關(guān)于井潛力的決策或者確定周圍地質(zhì)區(qū)域性質(zhì)的有關(guān)信息。或者在井眼鉆進(jìn)期間或者之后可以收集井眼數(shù)據(jù)。本發(fā)明人已經(jīng)確定，通過結(jié)合來自各種各樣測井記錄的信息，可以以定量方式識別若干地層或地層的若干部位，它們很可能富含有機物質(zhì)因而很可能提供烴類產(chǎn)出潛力，而不需要人的解釋。另外，本發(fā)明人已經(jīng)確定，有可能把若干富含有機物地層或地層的若干部位分類為第一類凈產(chǎn)帶，使用當(dāng)前的技術(shù)能夠從中采出烴類氣體，或者第二類凈產(chǎn)帶，使用未來的技術(shù)可以從中采出烴類氣體，取決于來自測井記錄的附加信息。地層內(nèi)的附加產(chǎn)層能夠依賴于其鄰近富含有機物帶而被識別和分類。凈產(chǎn)帶的這些類能夠由依賴于特定巖石性質(zhì)的類型而被進(jìn)一步描繪。在這點上，在圖1的流程圖中展示了根據(jù)本發(fā)明的方法100的實例。在步驟10，接收測井?dāng)?shù)據(jù)。在某實施例中，測井?dāng)?shù)據(jù)包括中子、密度、鈾濃度、電阻率和聲波數(shù)據(jù)。在另一個實施例中，鈾濃度被伽馬射線數(shù)據(jù)替代。正如將認(rèn)識到，測井?dāng)?shù)據(jù)可以由各種各樣的測井技術(shù)的任何一種采集，也可以是來自在執(zhí)行本方法的計算機系統(tǒng)中本地或遠(yuǎn)程存儲的現(xiàn)有測井?dāng)?shù)據(jù)。正如能夠認(rèn)識到，存在著許多附加類型的測井?dāng)?shù)據(jù)，它們可能對描繪烴類氣體凈產(chǎn)帶有用，并且以上實例并非意味著限制可以使用的數(shù)據(jù)，或者要求所列出的測井?dāng)?shù)據(jù)類型要使用。從該測井?dāng)?shù)據(jù)，在步驟12確定低硫帶指標(biāo)并在步驟14計算巖石性質(zhì)。這些步驟可以按任何次序或并發(fā)地執(zhí)行，并且對于受關(guān)注具體地層內(nèi)的若干深度帶，或者對于受關(guān)注地層的若干部位內(nèi)的若干深度帶，可以在井眼中的每個深度水平執(zhí)行。步驟14算出的巖石性質(zhì)的實施例包括總含水飽和度、總含水飽和度的不確定性等級、吸附氣體飽和度、氣體總量、地層巖石中氣體總量的基線、氣體總量的不確定性等級、孔隙度以及井眼周圍巖石的水力壓裂傾向。如果井眼周圍地層包含碳酸鹽巖，在步驟14中算出的巖石性質(zhì)還可以包括碳酸鹽巖的孔隙度基線。正如本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠認(rèn)識到，這些巖石性質(zhì)能夠從以下測井記錄或其組合計算:中子、密度、鈾(或在未得到鈾測井記錄時的伽馬射線)、電阻率、元素俘獲譜。在步驟14中算出的基線可以是若干常數(shù)、若干曲線或若干趨勢線，取決于地質(zhì)或井眼條件。在一個實施例中，可以從若干測井記錄的若干部位計算基線。在另一個實施例中，可以從不同井眼的若干測井記錄計算基線。在第三個實施例中，可以從來自模擬地層的已知地質(zhì)數(shù)據(jù)中選擇基線。這些實施例不意味著限制計算基線的方法。在步驟14中算出的水力壓裂的傾向是在井眼中使用水力壓裂技術(shù)能夠如何容易地把巖石壓裂的度量。水力壓裂的這種傾向可以很大，意味著可以容易地把井眼周圍的地層壓裂，或者很小，意味著難以把井眼周圍的地層壓裂。確定水力壓裂的傾向依賴于當(dāng)前的水力壓裂技術(shù)、當(dāng)前的水力壓裂策略以及下面的方程:EZPfrac= ( (2*PR) /( 1-PR) ) * / ( 0.4 3 3 * P b) d z + ( ( 1- ( 2 * P R) /(1-PR)))*/ (0.433*P pf)dz 等式 I關(guān)于等式1，EZPfrae是連同當(dāng)前水力壓裂技術(shù)和策略知識使用的數(shù)字值，以判斷水力壓裂的傾向是大還是小，PR是泊松比，P b是以g/cc為單位的地層體密度，P pf是以g/cc為單位的等效孔隙流體密度或泥漿密度，而Z是以英尺計的真實垂直深度。計算EZPfta。通常在先前已經(jīng)確定具有頁巖氣生產(chǎn)價值的井眼深度區(qū)間上完成。使用低硫帶指標(biāo)和巖石性質(zhì)，在步驟16識別凈產(chǎn)帶的多個類。低硫帶指標(biāo)和算出的巖石性質(zhì)被用于判斷井眼周圍地層的若干部位是否具有烴類氣體源、巖石的氣體容量以及水力壓裂的傾向。在一個實施例中，為了判斷地層的一部分或全部是否可能是潛在的凈產(chǎn)帶(PNP)，可以由以下邏輯進(jìn)行評估:
if (RNR)Oand GC_TG>(GC_TG_NSBSL+GC_TG_UNCL)and PHIT>PHIT_TCSBSL)thenPNP=Ielse PNP=O其中RNR是低硫帶指標(biāo)，GC_TG是氣體總量，GC_TG_UNCL是氣體總量的不確定性等級，GC_TG_NSBSL是地層中巖石的氣體總量的基線，PHIT是孔隙度而PHIT_TCSBSL是碳酸鹽巖的孔隙度基線，如果它們在該地層中存在否則可以設(shè)置為零。在一個實施例中，當(dāng)某地層的一部分或全部已經(jīng)被識別為潛在的凈產(chǎn)帶(PNP=I),那么該層就被劃分為第一類和第二類凈產(chǎn)帶。在頁巖氣儲層中，第一類產(chǎn)氣帶(PNP_C1)可以被定義為可能含有使用當(dāng)前技術(shù)可以采出的烴類氣體的潛在的凈產(chǎn)帶。第二類產(chǎn)氣帶(PNP_C2)可以被定義為可能含有使用未來技術(shù)可以采出的烴類氣體的潛在的凈產(chǎn)帶。在一個實施例中，能夠由以下邏輯定義這些產(chǎn)氣帶類:if (PNP=Iand (1-Swt) >Swt_UNCL and EZPfrac=Iarge) then PNP_Cl=lelse PNP_C1=0if(PNP=Iand PNP_C1=0)then PNP_C2=1其中Swt是總含水飽和度而Swt_UNCL是總含水飽和度的不確定性等級。項(1-Swt)也被定義為吸附氣體飽和度。正如能夠認(rèn)識到，以上邏輯意味著當(dāng)某頁巖層的一部分或全部被識別為低硫帶時，可以把該部分或全部進(jìn)一步分類為或者第一類凈產(chǎn)帶，它具有大的吸附氣體飽和度和大的水力壓裂傾向，意味著將容易使用當(dāng)前技術(shù)生產(chǎn)氣體，或者第二類凈產(chǎn)帶，在將來利用增強技術(shù)它可以為經(jīng)濟(jì)儲層。作為實例而不是限制，第二類凈產(chǎn)帶可以被進(jìn)一步分類為取決于其具體巖石性質(zhì)的類型。在一個實施例中，第二類凈產(chǎn)帶如果其吸附氣體飽和度大于總含水飽和度的不確定性等級可以是類型A (PNP_C2A)，或者如果其水力壓裂傾向大可以是類型B (PNP_C2B),如以下邏輯所示:if (PNP_C2=I and (1-Swt) >Swt_UNCL) then PNP_C2A= I e I sePNP_C2A=0if (PNP_C2=land EZPfrac=Iarge) then PNP_C2B=lelse PNP_C2B=0。在確定從這第二類凈產(chǎn)帶中生產(chǎn)氣體的所需技術(shù)時，這些類型有可能是有用的。以上實施例使用僅僅兩個類用于可能包含烴類氣體的某地層一部分或全部內(nèi)的潛在凈產(chǎn)帶。正如能夠認(rèn)識到，取決于生產(chǎn)烴類氣體的可用技術(shù)，這些分類可以變化并且可以添加其他類。以上實施例不意味著限制對凈產(chǎn)帶的識別和分類。除了被識別為低硫帶的地層的一部分或全部中的凈產(chǎn)帶的若干類之外，對低硫帶之外的潛在凈產(chǎn)帶進(jìn)行分類也可能有益。本領(lǐng)域技術(shù)人員將知曉在低硫帶中產(chǎn)生的烴類氣體可以運移短距離到附近地層中。所以，有可能對不具有肯定的低硫帶指標(biāo)但是在物理上靠近具有肯定的低硫帶指標(biāo)的地層的該部分或全部的另一個凈產(chǎn)帶進(jìn)行分類。在這種情況下，如果所述地層的該部分或全部具有的吸附氣體飽和度大于總含水飽和度的不確定性等級并且它在某個短距離之內(nèi)，在一個實施例中可以是50英尺，就可以將所述地層的該部分或全部分類為另一個凈產(chǎn)帶。在低硫帶指標(biāo)凈產(chǎn)帶被識別為第一類和第二類凈產(chǎn)帶的實施例中，這種凈產(chǎn)帶可以被識別為第三類產(chǎn)氣帶。圖2的流程圖展示了按照圖1的步驟12確定低硫帶指標(biāo)(RNR)的方法200的實施例。在某具體實例中并且不作為限制，對于頁巖地層可以實行這種方法。按照中子和密度測井?dāng)?shù)據(jù)，在步驟20計算視密度孔隙度(PHIT_D)。在這點上，等式2展示了對PHIT_D的計算:PHIT_D=min(max(((PM-pB)/(PM_PF))，0.0)，1.0)等式 2關(guān)于等式2，P M是巖石基質(zhì)的密度(其中基質(zhì)被選擇為方解石基質(zhì)或其他適合的基質(zhì)，取決于頁巖地層的地質(zhì)條件)，P 8是巖石的體密度，而Pf是巖石中流d體密度，流體可以是水。正如將認(rèn)識到，當(dāng)比值(PM-PB)/(PM-PF)為負(fù)時這個等式將產(chǎn)生值0.0，當(dāng)比值大于I時為1.0，而比值在O與I之間時為該比值。也就是，它計算的孔隙度值由O和I限制。下一步，在步驟22，根據(jù)等式3計算視中子孔隙度(PHIT_N):PHIT_N=min (max (((TNPH-TNPM) / (TNPF-TNPM))，0.0)，1.0)等式 3在等式3中，TMPH是巖石的中子孔隙度讀數(shù)。TNPM是基質(zhì)的中子孔隙度而TNPF是流體的中子孔隙度。類似于等式4，對于比值(TNPH-TNPM) / (TNPF-TNPM)在O與I之間的值，這個等式產(chǎn)生的值等于比值，而對于全部其他比值由O和I限制。使用等式2和等式3的結(jié)果，根據(jù)等式4可以計算歸一化的中子-密度分離(VWSH_NDS)(步驟 24):VWSH_NDS=max (min ([ (PHIT_N-PHIT_D) - (PHIT_N-PHIT_D) min] / [ (PHIT_N-PHIT_D)ns-(PHIT_N-PHIT_D)min], 1.0),-1.0)等式 4在等式4中，新引入的量(PHIT_N_PHIT_D)ns是對正常頁巖的中子-密度分離而(PHIT_N-PHIT_D)min是(PHIT_N_PHIT_D)的最小值并且一般等于或非常接近O。在某實施例中，(PHIT_N-PHIT_D)min取為O并且刪除了分子和分母的那部分。這種等式產(chǎn)生的值在_1與I之間，盡管在大多數(shù)情況下該值在O與I之間。在步驟26， 確定若干量中每一個的基線值。對于使用中子、密度、鈾濃度和電阻率數(shù)據(jù)的實施例，對這些的每一個都確定了基線值。對于以伽馬射線數(shù)據(jù)代替鈾濃度數(shù)據(jù)的實施例，確定了伽馬射線測井讀數(shù)的基線值。在步驟28，在先前步驟中確定的若干值用于根據(jù)以下邏輯產(chǎn)生低硫帶指標(biāo)(RNR):if (VWSH_NDS<VWSH_NDS_NSBSL FVBSL and URAN>URAN_NSBSL.FUBSL and RD>RD_NSBSL.FRBSL) then RNR=Ielse RNR=O在步驟28的以上邏輯中，VWSH_NDS_NSBSL是對正常頁巖的歸一化中子-密度分離基線，URAN是鈾濃度、URAN_NSBSL是正常頁巖的基線鈾濃度，RD是電阻率，RD_NSBSL是對正常頁巖的基線電阻率，F(xiàn)VBSL、FUBSL和FRBSL是各自基線的調(diào)整因子。因此，如果歸一化中子-密度分離小于調(diào)整后的基線，并且鈾和電阻率是高于其各自調(diào)整后的基線，那么指標(biāo)取值1，否則它取值O。正如將認(rèn)識到，每種類型的測井記錄的基線可以是常數(shù)，也可以是曲線或趨勢線，取決于地質(zhì)狀況或井眼條件。選擇各自的調(diào)整因子FVBSL、FUBSL和FRBSL，以便降低測量噪聲也降低實際地質(zhì)構(gòu)造中的高頻變化，從而改進(jìn)指標(biāo)的可靠性。在替代步驟28中，對于以伽馬射線測井記錄代替鈾測井記錄的情況，可以使用下面的邏輯:if (VWSH_NDS<VWSH_NDS_NSBSL.FVBSL and GR>GR_NSBSL.FGBSL and RD>RD_NSBSL.FRBSL)then RNR=Ielse RNR=O在步驟28的替代邏輯中新引入的量是GR，它指示伽馬射線數(shù)據(jù)，GR_NSBSL，它是對正常頁巖的伽馬射線基線，以及FGBSL，用于伽馬射線基線的調(diào)整因子。一般來說，選擇調(diào)整因子接近1，并且在某實施例中能夠被限制為在0.5與1.5之間的范圍。在具體實施例中，(FVBSL, FUBSL, FRBSL, FGBSL) = (0.6，.99，.99，.99)。正如將認(rèn)識到，能夠以任何順序執(zhí)行步驟20和22。同樣，在步驟26中進(jìn)行的對每種類型的測井記錄的基線確定，原則上能夠在任何其他計算之前，以及在除步驟28的那些計算(它們依賴于步驟26的結(jié)果)外的所有計算之后進(jìn)行。對兩種先前邏輯語句任一個的估算將返回值I或0，分別指示低硫帶的存在或不存在。然后可以使用該指標(biāo)作為確定深度的基礎(chǔ)以啟動水平鉆井操作，否則指導(dǎo)生產(chǎn)鉆井決策。圖3示意地展示了執(zhí)行本方法的系統(tǒng)300。該系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)存儲設(shè)備即存儲器32?？梢允沟么鎯Φ臄?shù)據(jù)對處理器34可用，比如可編程的通用計算機。處理器34被配置為執(zhí)行低硫帶指標(biāo)模塊以識別潛在的富含有機物帶，執(zhí)行巖石性質(zhì)模塊以計算巖石性質(zhì)，以及執(zhí)行凈產(chǎn)帶識別模塊以識別凈產(chǎn)帶的一個或多個類。處理器34可以包括接口組件比如顯示器36和用戶接口 38，并且用于實施根據(jù)本發(fā)明的實施例的以上介紹的變換。用戶接口既可以用于顯示數(shù)據(jù)和處理后的數(shù)據(jù)產(chǎn)品，又可以用于允許用戶在實施本方法的各方面的選項當(dāng)中選擇。在處理器34上算出的已識別和分類的凈產(chǎn)帶可以顯示在顯示器36上、存儲在數(shù)據(jù)存儲設(shè)備即存儲器32上或者既顯示又存儲。雖然在以上說明書中本發(fā)明已經(jīng)關(guān)于其一定的優(yōu)選實施例進(jìn)行了介紹，并且為了展示目的已經(jīng)闡述了許多細(xì)節(jié)，但是本發(fā)明允許變化并且本文介紹的某些其他細(xì)節(jié)能夠相當(dāng)大地變化而不脫離本發(fā)明的基本原理，對于本領(lǐng)域技術(shù)人員將是顯而易見的。此外應(yīng)當(dāng)認(rèn)識到，本文在任何一個實施例中顯示或介紹的結(jié)構(gòu)特征和方法步驟也都能夠被用在其他實施例中。
權(quán)利要求
1.一種描繪地下儲層中烴類氣體凈產(chǎn)帶的特征的計算機實施的方法，包括: 基于與所述儲層有關(guān)的測井?dāng)?shù)據(jù)確定低硫帶指標(biāo)； 基于所述測井?dāng)?shù)據(jù)確定巖石性質(zhì)； 根據(jù)所述低硫帶指標(biāo)和所述巖石性質(zhì)導(dǎo)出凈產(chǎn)帶的一個或多個類；以及 輸出所述一個或多個凈產(chǎn)帶以標(biāo)識所述地下儲層內(nèi)的受關(guān)注區(qū)域。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，確定所述低硫帶指標(biāo)包括: 計算歸一化的中子密度分離；以及 使用所述歸一化的中子密度分離和所述測井?dāng)?shù)據(jù)確定所述低硫帶指標(biāo)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，確定所述巖石性質(zhì)包括按照所述測井記錄計算總含水飽和度、吸附氣體飽和度、氣體總量、孔隙度以及水力壓裂的傾向。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，進(jìn)一步包括計算所述總含水飽和度的不確定性等級和所述氣體總量的不確定性等級。
5.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，進(jìn)一步包括確定所述地下儲層中存在的碳酸鹽巖的孔隙度基線。
6.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，進(jìn)一步包括確定所述地下儲層中存在巖石的氣體總量基線。
7.根據(jù)權(quán)利要求3 的方法，其中，計算所述水力壓裂的傾向使用了泊松比、地層體密度、等效孔隙流體密度以及真實垂直深度。
8.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，所述凈產(chǎn)帶的一個或多個類包括一個或多個第一類凈產(chǎn)帶。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的方法，其中，所述第一類凈產(chǎn)帶具有:所述低硫帶指標(biāo)大于O，所述氣體總量大于所述巖石的所述氣體總量基線與所述氣體總量的所述不確定性等級之和，所述孔隙度大于所述碳酸鹽巖的所述孔隙度基線，所述吸附氣體飽和度大于所述總含水飽和度的所述不確定性等級，以及所述水力壓裂的傾向大。
10.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，所述凈產(chǎn)帶的一個或多個類包括一個或多個第二類凈產(chǎn)帶。
11.根據(jù)權(quán)利要求10的方法，其中，所述第二類凈產(chǎn)帶具有:所述低硫帶指標(biāo)大于0，所述氣體總量大于所述巖石的所述氣體總量基線與所述氣體總量的所述不確定性等級之和，以及所述孔隙度大于所述碳酸鹽巖的所述孔隙度基線。
12.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，所述凈產(chǎn)帶的一個或多個類包括一個或多個第三類凈產(chǎn)帶。
13.根據(jù)權(quán)利要求12的方法，其中，所述一個或多個第三類凈產(chǎn)帶具有:所述吸附氣體飽和度大于所述總含水飽和度的所述不確定性等級，以及到低硫帶指標(biāo)的小物理距離大于O0
14.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，所述凈產(chǎn)帶的一個或多個類進(jìn)一步由從所述巖石性質(zhì)導(dǎo)出的一個或多個類型描繪。
15.一種描繪地下儲層中烴類凈產(chǎn)帶的特征的系統(tǒng)，包括: 用于提供表示所述地下儲層物理特征的數(shù)據(jù)的設(shè)備； 計算機處理器，與所述設(shè)備通信并且被配置為接收所述數(shù)據(jù)以及響應(yīng)所述數(shù)據(jù)而執(zhí)行計算機可執(zhí)行代碼，所述計算機可執(zhí)行代碼包括: 低硫帶指標(biāo)模塊，用于根據(jù)所述數(shù)據(jù)識別潛在的富含有機物帶； 巖石性質(zhì)模塊，用于根據(jù)所述數(shù)據(jù)計算巖石性質(zhì)；以及 凈產(chǎn)帶識別模塊，用于根據(jù)所述低硫帶指標(biāo)和所述巖石性質(zhì)識別凈產(chǎn)帶的一個或多個類；以及 用戶接口。
16.根據(jù)權(quán)利要求14的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括用于計算所述總含水飽和度的不確定性等級和所述氣體總量的不確定性等級的模塊。
17.根據(jù)權(quán)利要求14的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括用于確定所述地下儲層中存在的碳酸鹽巖的孔隙度基線的模塊。
18.根據(jù)權(quán)利要求14的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括用于確定所述地下儲層中存在的巖石的氣體總量基線的模塊。
19.一種包括計算機可讀介質(zhì)的制成品，在計算機可讀介質(zhì)中包含有計算機可讀程序代碼，所述計算機可讀程序代碼適于被執(zhí)行以實施描繪地下儲層中烴類氣體凈產(chǎn)帶的特征的方法，所述方法包括: 基于與所述儲層有關(guān)的 測井?dāng)?shù)據(jù)確定低硫帶指標(biāo)； 基于所述測井?dāng)?shù)據(jù)確定巖石性質(zhì)； 根據(jù)所述低硫帶指標(biāo)和所述巖石性質(zhì)導(dǎo)出凈產(chǎn)帶的一個或多個類；以及 輸出所述一個或多個類凈產(chǎn)帶以標(biāo)識所述地下儲層內(nèi)的受關(guān)注區(qū)域。
全文摘要
一種描繪地下儲層中烴類氣體凈產(chǎn)帶的特征的系統(tǒng)和計算機實施方法，包括根據(jù)測井?dāng)?shù)據(jù)確定低硫帶指標(biāo)；根據(jù)測井?dāng)?shù)據(jù)確定巖石性質(zhì)；以及根據(jù)所述低硫帶指標(biāo)和巖石性質(zhì)識別凈產(chǎn)帶的一個或多個類。通過計算中子-密度分離和使用所述中子-密度分離和測井?dāng)?shù)據(jù)，可以確定所述低硫帶指標(biāo)。根據(jù)測井?dāng)?shù)據(jù)確定的巖石性質(zhì)可以包括總含水飽和度、吸附氣體飽和度、氣體總量、孔隙度、水力壓裂的傾向、所述總含水飽和度的不確定性等級、所述氣體總量的不確定性等級，以及所述孔隙度和氣體總量的基線。使用低硫帶指標(biāo)和巖石性質(zhì)，能夠識別凈產(chǎn)帶的一個或多個類。
文檔編號E21B49/00GK103180548SQ201180051214
公開日2013年6月26日 申請日期2011年7月15日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月13日
發(fā)明者劉呈冰 申請人:雪佛龍美國公司