本主題大體上涉及渦輪發(fā)動機，且更具體而言，涉及用于燃氣渦輪發(fā)動機的清潔系統和方法。

背景技術：

用于通過某些通路推進飛機的飛機發(fā)動機通常經歷顯著的結垢，因為在飛行、怠速、起飛和降落期間吸入重的環(huán)境顆粒物質。環(huán)境結垢會降低這種飛機發(fā)動機的渦輪構件的性能。例如，一種已知結垢機制是由于吸入礦物灰塵而增加渦輪構件的粗糙度。特別地，這個增加的粗糙度可由于顆粒沖擊形成的微小的坑而導致。后續(xù)，礦物灰塵顆粒積聚在這些坑中且阻擋冷卻通路，因為會在其中形成結垢物質層。在渦輪的下游級中的表面上的高溫導致熱蝕變和積聚的礦物灰塵顆粒的固態(tài)礦物反應，這形成基于氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅(cmas)的反應產物。因此，通常用來清潔渦輪構件的水清洗處理通常不能成功地移除積聚的礦物灰塵和其副反應產物。

這個問題在渦輪構件的內部部分中可被放大。雖然構件的內部部分可容易結垢，但是在組裝好或安裝好運行時，可能實際上不可能到達它們。在運行時執(zhí)行的水清洗處理通常根本不能到達這些部分。為了對渦輪構件的內部部分提供清潔，大部分(如果不是所有的話)發(fā)動機首先必須拆開。此外，單獨的構件必須從其相鄰元件上移除。這個結果通常是費時和昂貴的。

因此，期望進一步改進清潔方法和系統。對渦輪構件的內部部分提供清潔而不需要顯著的拆卸的方法和系統將是有用的。

技術實現要素：

在以下描述中部分地闡述本發(fā)明的各方面和優(yōu)點，或者根據該描述，本發(fā)明的各方面和優(yōu)點可為顯而易見的，或者可通過實踐本發(fā)明來學習本發(fā)明的各方面和優(yōu)點。

根據本公開的一個實施例，提供一種清潔渦輪發(fā)動機的方法。方法可包括通過預先限定的進入端口將清潔試劑引入組裝好的渦輪構件的內壁限定的冷卻腔體。方法可進一步包括將清潔試劑引導到內壁上，以從其上移除異物。方法可進一步包括從冷卻腔體排空清潔試劑。

根據本公開的另一個實施例，提供一種清潔渦輪發(fā)動機的方法。方法可包括將清潔試劑作為試劑流從外部管道分配到組裝好的渦輪構件的內壁限定的冷卻腔體。分配可包括導引清潔試劑通過限定成通過發(fā)動機的殼的第一進入端口。方法可進一步包括使清潔試劑沖刷通過冷卻腔體，以從其上移除異物。方法可進一步包括從冷卻腔體排出清潔試劑。

根據本公開的又一個實施例，提供一種燃氣渦輪發(fā)動機。燃氣渦輪發(fā)動機可包括發(fā)動機殼，其限定徑向進入端口，以選擇性地接收清潔試劑導管。可提供渦輪構件，其包括內壁，內壁限定與發(fā)動機殼的進入端口處于流體連通的冷卻腔體。內壁可進一步限定冷卻孔口，以將流體流從冷卻腔體引導到熱氣流路徑。端口插塞可移除地設置在進入端口中，以選擇性地阻止通過預先限定的進入端口的流體連通。

技術方案1.一種清潔渦輪發(fā)動機的方法，包括：

通過預先限定的進入端口將清潔試劑引入組裝好的渦輪構件的內壁限定的冷卻腔體；

將所述清潔試劑引導到所述內壁上，以從其上移除異物；和

從所述冷卻腔體排空所述清潔試劑。

技術方案2.根據技術方案1所述的方法，其特征在于，引導所述清潔試劑包括使所述清潔試劑沖刷通過所述冷卻腔體的容積。

技術方案3.根據技術方案1所述的方法，其特征在于，所述清潔試劑包括用于溶解所述異物的流體。

技術方案4.根據技術方案1所述的方法，其特征在于，所述清潔試劑包括固體顆粒。

技術方案5.根據技術方案1所述的方法，其特征在于，排空所述清潔試劑包括從所述渦輪構件限定的冷卻孔口將所述清潔試劑排出到所述渦輪發(fā)動機的氣流路徑。

技術方案6.根據技術方案1所述的方法，其特征在于，引入清潔試劑包括導引所述清潔試劑通過與發(fā)動機外殼處于流體連通的導管，所述發(fā)動機外殼包圍所述組裝好的渦輪構件的至少一部分。

技術方案7.根據技術方案6所述的方法，其特征在于，導引所述清潔試劑進一步包括導引所述清潔試劑通過匹配的端口而進入渦輪護罩吊架。

技術方案8.根據技術方案1所述的方法，其特征在于，引入清潔試劑包括抽出設置在所述預先限定的進入端口內的插塞。

技術方案9.根據技術方案1所述的方法，其特征在于，引入清潔試劑包括迫使所述清潔試劑通過圍繞燃燒室的一部分限定的通道而進入組裝好的渦輪翼型件。

技術方案10.一種清潔渦輪發(fā)動機的方法，包括：

將清潔試劑作為試劑流從外部管道分配到組裝好的渦輪構件的內壁限定的冷卻腔體中，這包括導引所述清潔試劑通過限定成通過所述發(fā)動機的殼的第一進入端口；

使所述清潔試劑沖刷通過所述冷卻腔體，以從其上移除異物；和

從所述冷卻腔體排出所述清潔試劑。

技術方案11.根據技術方案10所述的方法，其特征在于，排出包括通過所述渦輪構件限定的冷卻孔口而排出所述清潔試劑。

技術方案12.根據技術方案10所述的方法，其特征在于，排出包括使所述試劑流反向而從所述冷卻腔體進入所述外部管道。

技術方案13.根據技術方案10所述的方法，其特征在于，排出包括引導所述試劑流通過選擇性地塞住的第二進入端口。

技術方案14.根據技術方案10所述的方法，其特征在于，所述清潔試劑包括用于溶解所述異物的流體。

技術方案15.根據技術方案1所述的方法，其特征在于，所述清潔試劑包括固體顆粒。

技術方案16.根據技術方案10所述的方法，其特征在于，使所述清潔試劑沖刷包括用所述清潔試劑基本填充所述冷卻腔體的容積。

技術方案17.根據技術方案10所述的方法，其特征在于，分配清潔試劑包括抽出設置在所述預先限定的進入端口內的插塞。

技術方案18.根據技術方案10所述的方法，其特征在于，分配清潔試劑包括導引所述清潔試劑通過與發(fā)動機外殼處于流體連通的導管，所述發(fā)動機殼包圍所述組裝好的渦輪構件的至少一部分。

技術方案19.一種燃氣渦輪發(fā)動機，包括：

發(fā)動機殼，其限定徑向進入端口，以選擇性地接收清潔試劑導管；

渦輪構件，其包括內壁，所述內壁限定與所述發(fā)動機殼的進入端口處于流體連通的冷卻腔體，所述內壁進一步限定冷卻孔口，以將流體流從所述冷卻腔體引導到所述熱氣流路徑；和

端口插塞，其可移除地設置在所述進入端口中，以選擇性地阻止通過所述預先限定的進入端口的流體連通。

技術方案20.根據技術方案19所述的燃氣渦輪發(fā)動機，其特征在于，所述渦輪構件包括護罩吊架，其限定匹配的端口，其中，所述匹配的端口設置成與所述預先限定的進入端口同軸，以將清潔試劑從所述預先限定的進入端口引導到所述冷卻腔體。

參照以下描述和所附權利要求，本發(fā)明的這些和其它特征、方面和優(yōu)點將變得更好理解。附圖結合在本說明書中且構成說明書的一部分，附圖示出本發(fā)明的實施例，并且和描述共同用來說明本發(fā)明的原理。

附圖說明

針對本領域普通技術人員，在說明書中闡述本發(fā)明的完整和能夠實施的公開，包括其最佳模式，說明書參照了附圖，其中：

圖1提供根據本公開的一個或多個實施例的示例性燃氣渦輪發(fā)動機的橫截面示意圖；

圖2提供根據本公開的一個或多個實施例的示例性燃氣渦輪發(fā)動機的一部分的縱向截面圖；

圖3提供根據本公開的一個或多個實施例的示例性渦輪構件的示意圖；

圖4提供根據本公開的一個或多個實施例的示例性渦輪殼的透視圖；

圖5提供根據本公開的一個或多個實施例的示例性渦輪護罩的透視圖；

圖6提供根據本公開的一個或多個實施例的示例性渦輪構件的橫截面示意圖；

圖7提供根據本公開的一個或多個實施例的示例性渦輪構件的橫截面示意圖；和

圖8提供示出根據本公開的一個或多個實施例的清潔渦輪發(fā)動機的方法的流程圖。

在本說明書和附圖中重復使用參考標號是意圖表示本發(fā)明的相同或類似結構或元件。

部件列表：

10渦輪風扇發(fā)動機

12中心線軸線

14核心渦輪發(fā)動機

16風扇區(qū)段

18外殼

19外殼節(jié)段

20環(huán)形入口

22lp壓縮機

24hp壓縮機

26燃燒區(qū)段

28hp渦輪

30lp渦輪

32排氣噴嘴區(qū)段

34hp軸

36lp軸桿

37減速裝置

38風扇軸桿

40風扇葉片

50機艙

56旁通空氣流通路

57風扇區(qū)段排氣

58一定量的空氣

60機艙入口

62第一部分空氣

64第二部分空氣

65熱氣路徑

66燃燒氣體

68泵

70貯存器

72控制器

74清潔試劑

76渦輪構件

78hp渦輪葉片

80導管

81調節(jié)式渦輪控制閥

82進入端口

84冷卻腔體

86內壁

88冷卻孔口

90護罩吊架

92端口插塞

93環(huán)形座部

94匹配的端口

95外部清潔管道

96渦輪護罩

98花鍵密封件

200方法

210方法步驟

220方法步驟

230方法步驟。

具體實施方式

現在將詳細參照本發(fā)明的實施例，在附圖中示出實施例的一個或多個實例。以闡述本發(fā)明，而非限制本發(fā)明的方式提供各個實例。實際上，對于本領域技術人員將顯而易見的是，在本發(fā)明中可作出各種修改和變型，而不偏移本發(fā)明的范圍或精神。例如，作為一個實施例的一部分示出或描述的特征可用于另一個實施例上，以產生又一個實施例。因而，意圖的是，本發(fā)明覆蓋落在所附權利要求和其等效方案的范圍內的這種修改和變型。

如本文所用，用語“第一”、“第二”和“第三”可互換使用，以區(qū)分一個構件與另一個構件，而不意于表示單獨的構件的位置或重要性。

用語“上游”和“下游”指的是相對于流體路徑中的流體流的相對方向。例如，“上游”表示流體流出的方向，而“下游”則表示流體流到的方向。

本公開提供一種用于清潔燃氣渦輪發(fā)動機構件的內部部分的系統和方法。大體上，清潔試劑可直接提供給渦輪構件的內部部分，然后在例如冷卻空氣流過的通路處離開渦輪構件。

示例性渦輪構件包括但是不限于護罩、葉片、轉子、噴嘴或導葉。此外，構件可由金屬材料制造。如本文所使用，用語“金屬”可表示單種金屬或金屬合金。示例性金屬材料包括但是不限于鎳、鈦、鋁、釩、鉻、鐵、鈷和其合金。備選地，渦輪構件可由非金屬材料制造，包括但不限于陶瓷基質復合物(cmc)、聚合物基質復合物(pmc)以及其它非金屬材料。

現在參照附圖，圖1為可結合本公開的多個實施例的示例性高旁通渦輪風扇類型的發(fā)動機10的示意性橫截面圖，其在本文稱為“渦輪風扇10”。雖然發(fā)動機顯示為渦輪風扇，但是設想到本公開可同樣適用于其它渦輪驅動的發(fā)動機，諸如開式轉子發(fā)動機、渦輪軸發(fā)動機、渦輪螺旋槳發(fā)動機或其它適當的發(fā)動機構造。

如圖1中顯示，渦輪風扇10具有延伸通過其中的縱向或軸向中心線軸線12，其用于參照目的。大體上，渦輪風扇10可包括燃氣渦輪或核心渦輪發(fā)動機14，其設置在風扇區(qū)段16下游。核心渦輪發(fā)動機14可大體上包括基本管狀外殼18，其限定環(huán)形入口20。外殼18可由多個殼或殼節(jié)段19形成。外殼18以連續(xù)流關系包圍具有增壓器或低壓(lp)壓縮機22、高壓(hp)壓縮機24的壓縮機區(qū)段、燃燒區(qū)段或室26、包括高壓(hp)渦輪28、低壓(lp)渦輪30的渦輪區(qū)段和噴氣排氣噴嘴區(qū)段32。

高壓(hp)軸或軸桿34驅動性地將hp渦輪28連接到hp壓縮機24。低壓(lp)軸或軸桿36驅動性地將lp渦輪30連接到lp壓縮機22。lp軸桿36還可連接到風扇區(qū)段16的風扇軸桿或軸38。在特定實施例中，lp軸桿36可直接連接到風扇軸桿38，諸如在直接驅動構造中。在備選的構造中，lp軸桿36可經由減速裝置37連接到風扇軸桿38，諸如在間接驅動或齒輪驅動構造中的減速齒輪箱。這種減速裝置可包括在發(fā)動機10內的任何適當的軸/軸桿之間，如期望或需要的那樣。

在渦輪風扇發(fā)動機10的操作期間，一種量的空氣58通過機艙50和/或風扇區(qū)段16的相關聯的入口60進入渦輪風扇10。隨著該一定量的空氣58穿過風扇葉片40，第一部分空氣如箭頭62所指示被導引或被引導到旁通空氣流通路56中，并且第二部分空氣如箭頭64所指示被導引或被引導到熱氣路徑65中。特別地，第二部分空氣54被引導到lp壓縮機22中。第二部分空氣64的壓力然后隨著其被被引導通過hp壓縮機24和進入燃燒區(qū)段26而升高，在燃燒區(qū)段26處，其與燃料混合且燃燒，以提供燃燒氣體66來驅動渦輪28和30。

燃燒氣體66后續(xù)被引導通過核心渦輪發(fā)動機16的噴氣排氣噴嘴區(qū)段32，以提供推進力。同時，第一部分空氣62的壓力隨著第一部分空氣62被引導通過旁通空氣流通路56而顯著提高，之后其從渦輪風扇10的風扇噴嘴排氣區(qū)段76排出，從而也提供推進力。hp渦輪28、lp渦輪30和噴氣排氣噴嘴區(qū)段32至少部分地限定熱氣路徑65，以便引導燃燒氣體66通過核心渦輪發(fā)動機16。在發(fā)動機10在某些狀況期間操作時，一個或多個異物(例如，基于cmas的物質)可積聚在渦輪發(fā)動機14內的多個點處。

轉到圖2和3，核心渦輪發(fā)動機14的一個或多個部分可構造成接收清潔試劑74。清潔試劑74可例如通過泵68從貯存器70供應，以促進移除和/或溶解有害的異物。如顯示，一些實施例的泵68構造成與貯存器70處于選擇性流體連通。在一些實施例中，發(fā)動機10和泵68之間的連通，以及泵操作(例如，泵啟用、泵速度和/或泵流壓力)受到控制器72的控制，如下面將描述的那樣。

大體上，控制器72可包括離散的處理器和存儲器單元(未顯示)?？蛇x地，控制器72可包括全權數字發(fā)動機控制器(fadec)，或另一種適當的發(fā)動機控制單元。處理器可包括設計和編程為執(zhí)行或導致執(zhí)行本文描述的功能的數字信號處理器(dsp)、專用集成電路(asic)、現場可編程門陣列(fpga)或其它可編程的邏輯裝置、離散的門或晶體管邏輯、離散的硬件構件或其任何組合。處理器還可包括微處理器或前面提到的裝置的組合(例如，dsp和微處理器的組合、多個微處理器、一個或多個微處理器結合dsp芯或任何其它這種構造)。

另外，存儲器裝置可大體上包括存儲器元件，包括但不限于計算機可讀介質(例如，隨機存取存儲器(ram))、計算機可讀非易失性介質(例如，閃存、eeprom、nvram或fram)、緊湊盤只讀存儲器(cd-rom)、磁電光盤(mod)、數字多媒體盤(dvd)和/或其它適當的存儲器元件。存儲器可存儲可由處理器訪問的信息，包括可由處理器執(zhí)行的指令。例如，指令可為軟件或任何指令集，在由處理器執(zhí)行時，其使處理器執(zhí)行操作。對于某些實施例，指令包括軟件包，其構造成使系統操作，例如，以執(zhí)行下面參照圖8所描述的示例性方法(200)。

清潔試劑74的示例性實施例將包括流體(例如，水、除垢劑、凝膠或蒸汽)，以至少部分地溶解異物。一些流體可基于它們溶解或破壞特定異物或特定類型的異物(例如，基于cmas的反應產物)的能力而進行選擇。在另外的或備選的實施例中，清潔試劑74包括固體顆粒，諸如干冰、除垢劑或胡桃殼。固體顆粒可構造成在被散布時類似于流體而流動，但是單獨的顆?？苫緸楣腆w且有適當的磨蝕性，以使特定異物或特定類型的異物從渦輪構件76脫落。在其它另外的或備選的實施例中，清潔試劑74可包括剛性清潔結構或刷，以直接接合或擦洗渦輪構件76。

如圖2和3中顯示，渦輪構件76的一些示例性實施例包括渦輪翼型件，諸如hp渦輪葉片78，其組裝和安裝在核心發(fā)動機14內。但是，另外的或備選的渦輪翼型件可通過離散的導葉或噴嘴實現。在圖2和3的示例性實施例中，hp渦輪葉片78包括為hp渦輪24的一部分(參見圖1)，其設置在hp軸桿34上，與導管80處于流體連通。導管80形成通道，其穿過燃燒區(qū)段26，但是在流體方面將導管80的內通路與熱氣流路徑65隔離開。因此，導管80能夠將流體引導到外殼節(jié)段19和渦輪葉片78的內部部分之間。預先限定的進入端口82限定在外殼節(jié)段19中，以接收這種流體。大體上，冷卻腔體84由渦輪構件76的一個或多個內壁86限定。在另外的或備選的實施例中，一個或多個冷卻孔口88限定成通過內壁86，與熱氣路徑65處于流體連通。

在清潔操作期間，清潔試劑74可通過預先限定的進入端口82分配。清潔試劑74可然后行進通過導管80，之后進入hp渦輪葉片78的冷卻腔體84，如圖3中顯示。在hp渦輪葉片78內，清潔試劑74被引導到內壁86上。位于其上的異物可脫落和/或至少部分地溶解。在一些實施例中，可使流體或固體顆粒清潔試劑74沖刷通過冷卻腔體84?？蛇x地，清潔試劑74可基本填充冷卻腔體84，之后從hp渦輪葉片78排空或排出。如果作為流體排出，清潔試劑74可直接傳送到熱氣路徑65中，在那里，其可從核心發(fā)動機14蒸發(fā)和/或噴出(參見圖1)。在另外的或備選的實施例中，清潔試劑74的流可反向，從而通過其所進入的同一進入端口82排空至少一部分的清潔試劑74。

在某些實施例中，導管80進一步構造成在發(fā)動機操作期間引導冷卻空氣流到hp渦輪葉片78。在一些這種實施例中，調節(jié)式渦輪冷卻(mtc)閥81(參見圖2)被選擇性地設置在進入端口82中，以控制通過其中的冷卻空氣流。例如，mtc閥81可以可選地通過us6,659,711所述的止回閥，或另一種適當的冷卻調節(jié)閥實現。在清潔試劑74分散到導管80中之前，mtc閥81可選擇性地移除，從而容許清潔試劑74穿過構造成接收mtc閥81的進入端口82。

轉到圖4到7，示出另一個示例性實施例渦輪構件76。特別地，圖4示出示例性外殼節(jié)段19，其構造成包圍渦輪護罩吊架90(參見圖5)?？蛇x地，外殼18進一步構造成接收一個或多個端口插塞92。大體上，各個端口插塞92對應于離散的進入端口82且可移除地設置在離散的進入端口82內。如圖6中示出，各個進入端口82沿徑向延伸通過殼18。此外，環(huán)形座部93設置成圍繞進入端口82，以接收端口插塞92。在一些實施例中，端口插塞92經由一個或多個適當的機械裝置(例如，接合螺紋、匹配的凸緣、螺栓和螺母等)選擇性地附連到殼上。端口插塞92可構造成在端口插塞92設置在進入端口82內時與進入端口82重疊且在流體方面隔離進入端口82(即，基本阻止通過其中的流體通路)。雖然關于圖4到7的實施例示出和描述外殼節(jié)段19和端口插塞92，但是要理解，它們可類似地應用于任何另外的或備選的實施例，諸如圖2和3中顯示的那些。

如圖6和7中顯示，一些實施例的護罩吊架90設置在發(fā)動機殼的徑向內側，進一步構造成限定匹配的端口94以及多個冷卻孔口88。在組裝好時，示出的實施例的匹配的端口94可定位成與發(fā)動機殼的進入端口82同軸，而冷卻孔口88被引導向和進入熱氣流路徑65。渦輪護罩96被護罩吊架90接收且固定到其上，以與護罩吊架90的內壁86限定冷卻腔體84。冷卻孔口88限定成與冷卻腔體84處于流體連通。因此，流體可容易傳送在熱氣路徑65和冷卻腔體84之間。可選地，渦輪護罩96的實施例還限定一個或多個花鍵密封件98，從而容許冷卻腔體84和熱氣路徑65之間的有限的流體連通。

如上面論述，在設置成通過進入端口82和/或匹配的端口94時，端口插塞92可選擇性地阻止通過其中的流體連通(參見圖6)。但是，端口插塞92也可選擇性地移除，以允許進入端口82和冷卻腔體84之間的流體連通(參見圖7)。在這種實施例中，進入端口82和匹配的端口94因而構造成接收清潔試劑74?？蛇x地，清潔試劑74包括從外部清潔試劑管道95分配到冷卻腔體84中的流體或固體顆粒。在清潔操作期間，可使清潔試劑74沖刷通過冷卻腔體84，直接接觸內壁86。異物可由于接觸清潔試劑74而被溶解或脫落。此外，在某些清潔操作期間，清潔試劑74可基本填充冷卻腔體84的容積。

一旦被沖刷通過冷卻腔體84，清潔試劑74可從其中排空。在一些實施例中，清潔試劑74可從冷卻孔口88和/或花鍵密封件98排出。排出的流體可直接傳送到熱氣路徑65中，在那里，其可從核心發(fā)動機14蒸發(fā)和/或噴出(參見圖1)。在另外的或備選的實施例中，清潔試劑74可進入一個進入端口82而從另一個排空。在其它另外的或備選的實施例中，清潔試劑74的流可反向，從而通過其所進入的同一進入端口82排空至少一部分的清潔試劑74。

在可選的實施例中，清潔試劑可反復地沖刷通過冷卻腔體或以脈沖的方式通過冷卻腔體。例如，冷卻腔體可沖刷通過腔體，且在清潔試劑再次沖刷通過腔體之前至少部分地排出。在某些實施例中，流體的輸送可以對應于泵送壓力的變化的波或脈沖的方式提供。

圖8描繪了根據本公開的實例實施例的實例方法(200)的流程圖。方法(200)可例如由控制器執(zhí)行。圖8描繪了以特定順序執(zhí)行的步驟，其用于示出和論述目的。使用本文提供的公開內容的本領域普通技術人員將理解，本文公開的任何方法的步驟可修改、調節(jié)、重新安排、省略或以多種方式擴展，而不偏離本公開的范圍。

在(210)處，方法包括通過預先限定的進入端口將清潔試劑引入組裝好的渦輪構件的內壁限定的冷卻腔體。清潔試劑可包括流體、固體顆粒、或剛性清潔結構或刷，如上面所描述。例如，清潔試劑可包括固體顆?；蛴糜谌芙饫鋮s腔體內的異物的流體?？蛇x地，清潔試劑可作為清潔試劑流進行分配。在一些實施例中，(210)包括導引清潔試劑通過限定成通過發(fā)動機的殼的第一進入端口。例如，導管可設置成至少部分地通過與其處于流體連通的發(fā)動機外殼。在一些另外的實施例中，清潔試劑可通過匹配的端口分配到渦輪護罩吊架中。在另外的或備選的實施例中，清潔試劑可被迫通過圍繞燃燒室的部分而限定的通道，之后進入組裝好的渦輪葉片。可選地，(210)可包括首先移除或抽出設置在預先限定的進入端口內的插塞。

在(220)處，方法包括將清潔試劑引導到冷卻腔體的內壁上。在一些實施例中，(220)包括使清潔試劑沖刷通過冷卻腔體或其容積?？蛇x地，沖刷可包括基本填充冷卻腔體的容積。在某些實施例中，沖刷可包括使清潔試劑以脈動的方式通過冷卻腔體。在接合異物時，清潔試劑可溶解異物或使異物脫落，如上面所描述。

此外，在(230)處，方法(200)包括從冷卻腔體排空清潔試劑。在其中清潔試劑包括流體或固體顆粒的一些實施例中，排空包括從冷卻腔體排出清潔試劑。例如，清潔試劑可通過渦輪構件限定的冷卻孔口排出。另外或備選的，清潔試劑可被引導通過選擇性地塞住的第二進入端口。在可選的實施例中，排出包括使試劑流反向，使得清潔試劑從冷卻腔體流回到分配清潔試劑的外部管道。

本書面描述使用示例來公開本發(fā)明，包括最佳模式，并且還使本領域任何技術人員能夠實踐本發(fā)明，包括制造和使用任何裝置或系統，以及實行任何結合的方法。本發(fā)明的可取得專利的范圍由權利要求限定，并且可包括本領域技術人員想到的其它示例。如果這樣的其它示例包括不異于權利要求的字面語言的結構要素，或者如果它們包括與權利要求的字面語言無實質性差異的等效結構要素，則它們意于處在權利要求的范圍之內。